1、現象、問題描述:
板在環境試驗低溫存儲后(機框下電,-40°存儲24h,恢復到常溫25°,在25°條件下保持2h)上電,發現有4塊單板未正常啟動。監控單板電源,發現所有問題單板的5V電源異常(測試值為2.6V),而3V3、3V3_STBY、5V_STBY等電壓輸出正常;過了20分鐘后(未對問題單板進行插拔),問題單板都恢復正常。
下圖中5V異常,Q44沒有充分導通。
我們在低溫實驗之后,一直沒有找到規律。在實驗室復現的時候,噴上液氮模擬低溫,總覺得這個現象,時有時無。很難琢磨。后來郁悶至極,跟同事討論說:你覺不覺得跟天氣有關?天氣不好的時候,就容易出現這個現象?
情急之下,用手指抹了一下口水涂抹在三極管封裝表面。然后噴上液氮,問題復現了。
一個奇怪的跟天氣有關電路:
2、關鍵過程、根本原因分析:
圖1 ?5V&3V3控制電路
分析過程:
單板故障時,5V_STBY輸出正常,而5V輸出只有2.6V,分析圖1電路的MOS管Q44(15060203)可知,此時該MOS管的Vgs小于導通閥值Vgs(th)(查看器件手冊,低溫下Vgs(th)大概為2.3V,見圖2),處于未完全導通狀態。要使5V輸出正常,則Q44的G點電壓Vg(即VEN_5V_3V3)必須大于7.3V(5V+2.3V);反之,單板出現故障時,VEN_5V_3V3 <7.3V。
圖1,3V3和5V輸出的MOS管G點使用同一個信號EN_5V_3V3來控制。單板發生故障時,3V3輸出正常,因此Q1的Vgs>2.3V;VEN_5V_3V3>5.6V(3V3+2.3V)。
根據上面的分析可知,由于VEN_5V_3V3處于5.6V~7.3V之間,導致單板5V輸出異常,3V輸出正常。以下對VEN_5V_3V3輸出降低的原因進行分析,圖3為分析過程。
圖2 MOS管Q44(15060203)Vgs曲線圖
圖3VEN_5V_3V3輸出降低原因分析過程
2.1 排除Q15(15050026)三極管處于放大區
理論分析:
當單板啟動時,SLP_S3會輸出3V3電平,此時Q14的ib=(3.3-0.7)/2K=1.3mA;按三極管處于放大區時hFE=100計算,ic=100*1.3mA=130mA,已經超過了ic的飽和電流1.2mA(12V/10K),因此,Q15的B點電壓應接近于0V,三極管應該處于關閉狀態,不可能處于放大區。而根據三極管的溫度特性(見圖4),溫度越低,三極管開啟電壓閥值越高,更不容易開啟。因此,理論分析,此時三極管Q15不是處于放大區。
實測結果:
單板故障復現時,實測Q15的B點電壓只有12mV,因此,三極管Q15不可能處于放大區。
圖4 三極管Q15(15050026)Ic電流曲線圖
2.2 排除三極管Q15的CE漏電流或MOS管Q1、Q44的GS漏電流導致
?
?
查看MOS管(15060203)數據手冊可知,MOS管的GS漏電流最大只有100nA(見圖5)。
圖5 MOS管(15060203)GS漏電流
查看三極管Q15(15050026)的CE漏電流最大為100nA(見圖6)。
圖6 三極管Q15(15060203)CE漏電流
從上可知,三極管Q15的CE漏電流或MOS管Q1、Q44的GS漏電流,最多使VEN_5V_3V3的電壓下降3mV(100nA*3*10K),所以也不是故障產生的根因。
2.3 確認漏電流往三極管Q15方向流
?
?
單板故障時,R382上有大概0.5mA(5V/10K)的電流流過,流往的方向只有兩個:I1或I2方向,如圖7所示。通過下面操作來確認漏電流流向。
操作方式如下:
1、用液氮對Q15降溫操作,故障復現,VEN_5V_3V3逐漸降低時,檢測到的電流I2逐漸增大,而電流I1始終為0。
2、用液氮對Q1、Q44降溫操作,多次降溫,未發現VEN_5V_3V3輸出降低。檢測到的I1 、I2電流都為0。
由此可以知道,三極管對低溫敏感,造成單板故障。且單板故障時,R382上的電流都是往三極管Q15上流的。
圖7 I1 、I2電流檢測
2.4 分析三極管Q15產生漏電流的原因
1、懷疑三極管Q15上拉的電壓(12V)過高;
2、三極管封裝封裝雜質;
3、懷疑是三極管本身的特性造成,改用相同封裝的MOS管代替。
造成單板故障是三極管Q15在低溫下引起,且R382上產生的電流都是流向Q15。因此為排查其他因素的影響,對單板上的電路做如圖8處理:斷開后級的Q1和Q44(去掉100歐姆電阻);將Q15B點的直接拉地。
2.4.1排除三極管Q15上拉的電壓(12V)過高;
為了驗證該問題是否是Q15的C點上拉電壓過高引起,因此將上拉電壓從12V改為5V,用液氮對Q15進行降溫處理。
圖8 上拉電壓更換為5V
結果:VEN_5V_3V3仍然會出現下降,因此,可以排除三極管Q15上拉的電壓過高因素
2.4.2排除三極管封裝雜質因素
此前其他產品線出現過MOS管器件內部污染導致漏電流超標的問題,但此類問題屬于批次問題。將Q15更換為不同批次和不同廠家的三極管(15050026)進行測試,發現現象依然存在。因此,排查三極管封裝雜質因素。
2.4.3懷疑三極管自身特性造成
其他單板類似電路在Q15處用MOS管(相同封裝)代替,因此,懷疑是否是三極管自身的特性引起,于是用相同封裝的MOS進行代替,并進行液氮降溫測試。
圖9 將Q15更換為同封裝的MOS管
故障仍然存在,VEN_5V_3V3在低溫下,從5V開始跌落,最低跌落到2V以下,且保持時間超過15分鐘以上。排除三極管自身特性造成。
圖10 VEN_5V_3V3 在低溫下下降到1.44V
2.4.4確認是SOT23封裝的三極管和MOS管在低溫下阻抗減小導致
測試故障單板上MOS管Q15的DS阻值,發現只有7K;而單板正常時測試到的DS阻值為41K,因此懷疑是低溫導致SOT23封裝的MOS管DS阻值、三極管CE的阻抗變小,和上拉的10K電阻產生分壓,導致輸出VEN_5V_3V3降低。
為驗證在低溫下SOT23封裝的MOS管DS阻抗、三極管CE阻抗會變小,取多個三極管、MOS管器件(SOT23封裝,未焊在板上),用液氮進行降溫,測試三極管CE、MOS管DS的阻抗。
降溫前,測試到的阻抗為無窮大(100M歐以上);降溫后,測試到的阻抗會降低,測試到的最小阻抗只有10K。
因此,可以確認是SOT23封裝的三極管和MOS管在低溫下阻抗減小,和上拉的10K電阻產生分壓,導致輸出VEN_5V_3V3降低。
廠家已承認有這種問題,在低溫、高濕度的環境下,SOT23封裝的三極管和MOS管的阻抗會減小。
3 結論、解決方案及效果:
結論:在低溫、高濕度情況下,SOT23這類小封裝的三極管(或者MOS管)會呈現低阻抗特征,和上拉的10K電阻產生分壓,導致VEN_5V_3V3輸出變低。當三極管Q15的CE阻抗降低到小于14K時,由于分壓,VEN_5V_3V3輸出會小于7V,使5VMOS管的Vgs電壓小于MOS管的導通要求,導致5V輸出變低。
圖13 ?5V輸出變低過程
解決方案:
減小Q15三極管C點的上拉電阻,改為1K。減小封裝在低溫高濕的情況下,樓電流,影響輸出端電壓。
改為1K之后,Q15完全導通時電流比較大。要注意電阻的封裝、額定功率。
4、經驗總結、預防措施和規范建議
SOT23封裝的MOS管、三極管在低溫+高濕度的條件下,三極管的RCE、MOS管的RDS呈現低阻抗特征,如果選用此類器件來控制開關/使能信號,建議上拉的電阻不要太大,保證輸出電壓滿足后級開啟要求,同時需要注意上拉電阻的降額要求。
審核編輯:黃飛
?
評論
查看更多