全球測試設備廠愛德萬測試 （Advantest） 宣佈推出專為晶圓所開發的全新多視角量測掃描式電子顯微鏡 （MVM-SEM） 系統E3310，這套系統可在各種晶圓上量測精細接腳間距圖樣，以Adv
2012-11-22 09:13:59
1457 掃描電子顯微鏡（SEM）已廣泛用于材料表征、計量和過程控制的研究和先進制造中，我們在對半導體材料和結構進行觀測時，常常會遇到充電效應，本文討論了與樣品充電相關的一些問題以及減輕其影響的方法。
2023-12-29 15:57:12462 
掃描電子顯微鏡SEM北軟檢測芯片分析掃描電子顯微鏡SEM分析原理：用電子技術檢測高能電子束與樣品作用時產生二次電子、背散射電子、吸收電子、X射線等并放大成象譜圖的表示方法：背散射象、二次電子象、吸收
2020-02-05 15:15:16
[size=13.3333px]掃描電子顯微鏡sem技術探討北軟檢測失效分析實驗室 趙工掃描電子顯微鏡SEM分析原理：用電子技術檢測高能電子束與樣品作用時產生二次電子、背散射電子、吸收電子、X射線等
2020-02-06 13:13:24
掃描電子顯微鏡的工作原理是什么？有什么優點？
2021-10-28 06:39:54
掃描式電子顯微鏡 (SEM)掃描式電子顯微鏡，又掃描電鏡（Scanning Electron Microscope, SEM）主要是利用微小聚焦的電子束(Electron Beam)進行樣品表面掃描
2018-08-31 15:53:31
掃描隧道顯微鏡掃描儀數據表
2019-10-11 14:05:55
）、X-Ray檢測，缺陷切割觀察系統（FIB系統）等檢測試驗。實現對智能產品質量的評估及分析，為智能裝備產品的芯片、嵌入式軟件以及應用提供質量保證。
2020-02-06 13:09:57
`顯微鏡放大倍數是怎么得出來的很多實驗室都在使用顯微鏡，但對顯微鏡的相關專業知識并不了解，只是知道怎么去操作，但對于一些基本常識可能都不怎么清楚，那么今天我們就來講講有關顯微鏡的放大倍率是如何計算
2020-04-26 14:57:38
物鏡是顯微鏡最重要的光學部件，利用光線使被檢物體第一次成象，因而直接關系和影響成象的質量和各項光學技術參數，是衡量一臺顯微鏡質量的首要標準。
2019-09-29 10:22:32
顯微鏡成像原理圖我知道目鏡的作用相當于放大鏡,但放大鏡成的像是物相同側而顯微鏡當中的物鏡將物體放大后,所成的像應在顯微鏡管內.如果目鏡的原理和放大鏡一樣,那它的像豈不是朝人眼反方向放大(物相同側
2019-07-24 08:18:44
電子顯微術(Electron Microscopy,EM)電子顯微術可分為靜態式和掃描式。靜態式包括穿透式、反射式電鏡及低能電子顯微鏡等。掃描式包括二次電子顯微鏡和歐杰電子顯微鏡等。2.1 反射式
2009-03-10 09:09:08
有沒有電子顯微鏡維護維修人員？
2012-09-17 16:31:38
最近搞了一個電子顯微鏡，渣渣。放大倍數為500倍，看不了什么細菌哈。但是還是可以看見一些人眼所不及的東西。我拿出來給大家分享下，你們說想看什么東西的顯微效果，我這里只要有的話，我就盡量滿足。拍了之后
2016-06-02 13:35:52
%，15Hz達到99.7%。隔振性能緊跟一個理想的無阻尼單自由度（自由度）系統，直到大約10赫茲，并在具有較高頻率共振傳遞率曲線中達到一定的水平。電子顯微鏡隔振臺/減震臺/防震臺應用：生物/神經系統科學：電子
2018-09-02 16:35:11
雙筒顯微鏡已成為過去！Aven Cyclops 單筒數字顯微鏡 (243-1349-ND) 具有 1080p HDMI 輸出，使技術人員可以在自己的監視器上輕松地對標志、焊點和 PCB 進行光學檢查
2018-10-31 15:48:05
掃描電子顯微鏡(SEM)和能量色散X射線光譜儀(EDS)系統。SEM和EDS的集成得到了進一步發展，Live Map（實時地圖）功能可以實時顯示觀測視場角的元素分布圖。新的“實時3D”功能當進行SEM
2021-11-09 17:45:04
所制造的，因此，其所能提供的最佳分辨率，大約等于其使用光源的波長（~1?m）。1940 掃描電子顯微鏡（SEM）為了改良傳統的光學顯微鏡的不足，于1940 年左右發展出掃描電子顯微鏡（SEM），利用
2009-03-10 09:51:51
;quot; v8 {: H. N; w: z+ x8 V' O# C% 8 j1.1.6掃描電子顯微鏡及附件·掃描電子顯微鏡（ SEM ）·電子束感生電流（ EBIC ）·電荷感應電
2015-05-28 16:06:54
激光共聚焦顯微鏡原理是由LED光源發出的光束經過一個多孔盤和物鏡后，聚焦到樣品表面。之后光束經樣品表面反射回測量系統。再次通過MPD上的針孔時，反射光將只保留聚焦的光點。最后，光束經分光片反射后在
2023-08-22 15:19:49
最近花了一個多月的時間在做Tia電路，用在公司自研的掃描電子顯微鏡上，后來才知道這個原來有一個專業的術語叫做——二次電子探測器，具體是什么東西呢，下面我為自己最近的心得做一下記錄，也希望為后來的伙伴
2021-07-29 07:49:43
的現象，找出失效原因的失效分析檢測服務，主要包括點針工作站（Probe Station）、反應離子刻蝕（RIE）、微漏電偵測系統（EMMI）、X-Ray檢測，缺陷切割觀察系統（FIB系統）等檢測試驗。實現對智能產品質量的評估及分析，為智能裝備產品的芯片、嵌入式軟件以及應用提供質量保證。`
2019-12-27 12:55:47
體視顯微鏡—上海應捷體視顯微鏡是一種具有正像立體感地目視儀器，被廣泛地應用于動物學、植物學、昆蟲學、組織學、礦物學、考古學、地質學和皮膚病學等的研究和解剖工具。 2. 作
2009-07-07 09:33:07
能分辨的相鄰兩點的最小間距來表示。20世紀70年代，透射式電子顯微鏡的分辨率約為0.3納米(人眼的分辨本領約為0.1毫米)?，F在電子顯微鏡最大放大倍率超過300萬倍，而光學顯微鏡的最大放大倍率約為
2017-05-31 16:39:21
應用之范圍更擴大。如CAFM導電式原子力顯微鏡（Conductive Atomic Force Microscopy, CAFM）和SCM掃描式電容顯微鏡（Scanning Capacitance Microscopy, SCM)。
2018-11-13 09:48:43
先進電子顯微鏡成像技術揭露垂直共振腔面射雷射的制程細節
2021-02-22 07:36:15
、Decap芯片開封2、IC芯片電路修改3、Cross-section截面分析4、Probing Pad for Test探針測試鍵生長5、FIB透射電鏡樣品制備6、SEM（掃描式電子顯微鏡)
2013-12-18 15:38:33
很多實驗室都在使用顯微鏡，但對顯微鏡的相關專業知識并不了解，只是知道怎么去操作，但對于一些基本常識可能都不怎么清楚，那么今天我們就來講講有關顯微鏡的放大倍率是如何計算的？ 也許有人會說這不是很簡單
2020-02-11 09:57:12
IM系列工具顯微鏡能方便地讀取千分表頭示值，測量工件的孔徑、孔距等尺寸以及角度、使用任選的目鏡組還能檢驗螺紋以及齒輪形狀等。設計非常緊湊、重量輕、最適合設置在加工現場受到限制的場所。
2019-10-30 09:02:20
微光顯微鏡EMMI可廣泛應用于偵測各種芯片組件缺陷所產生的漏電流，包括閘極氧化層缺陷、靜電放電破壞、閂鎖效應、漏電、接面漏電 、順向偏壓及在飽和區域操作的晶體管，可藉由EMMI定位，找熱點或找亮點)位置，進而得知缺陷原因，宜特實驗室可幫助后續做進一步的失效分析。
2019-03-05 17:03:08
完全由計算機控制的場發射掃描電子顯微鏡，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的光學性能，清晰的數字化圖像,成熟、用戶界面友好的操作軟件等特點。基于Windows?平臺的操作軟件提供了簡易的電鏡操作
2019-05-17 10:50:32
了掃描隧道顯微鏡，可以拍攝表面單個原子圖像，它速度至少比現有顯微鏡的速度快100倍。掃描隧道顯微鏡可以使用量子穿越隧道或電子通過隧道穿越障礙的能力，測量針型探測器和一個傳導表面之間的距離。 科研人員通過增加一
2013-06-19 17:22:54
攝像頭圖傳做維修用電子顯微鏡http://www.dt830.com/forum.php?mod=viewthread&tid=3909(出處: 儀表愛好者)`
2020-02-18 16:23:18
原子力顯微鏡在顆粒表征中的應用 - 應用簡報
2019-11-05 10:31:07
方便、直觀、檢定效率高,適用于電子工業生產線的檢驗、印刷線路板的檢定、印刷電路組件中出現的焊接缺陷（印刷錯位、塌邊等）的檢定、單板PC的檢定、真空熒光顯示屏VFD 的檢定等等，落射式檢測顯微鏡將實物
2009-07-07 09:36:14
砷化鎵銦微光顯微鏡(InGaAs)與微光顯微鏡(EMMI)其偵測原理相同，都是用來偵測故障點定位，尋找亮點、熱點(Hot Spot)的工具，其原理都是偵測電子-電洞結合與熱載子所激發出的光子。差別
2018-10-24 11:20:30
共聚焦顯微鏡在我國是80年代后期才發展起來的，盡管時日還尚短，但應用范圍卻已經非常廣泛。共聚焦顯微鏡在熒光顯微鏡的基礎上添加了激光掃描裝置，使用紫外光或激光激發熒光探針獲取細胞內部或組織內部結構
2014-04-03 11:47:05
穿透式電子顯微鏡TEM穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron microscopy, TEM)主要是一種使用高能量電子束讓超薄的樣品成像，影像分辨率可達0.1奈米的原子等級
2018-08-21 10:23:10
的三維空間影像。立體感強，成像清晰和寬闊，又具有長工作距離，并是適用范圍非常廣泛的常規顯微鏡。操作方便、直觀、檢定效率高，適用于電子工業生產線的檢驗、印刷線路板的檢定、印刷電路組件中出現的焊接缺陷(印刷
2009-07-07 09:35:25
`掃描電子顯微鏡是介于透鏡和光鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，其優點在于可直接利用樣品材料表面的物理特性進行微觀成像，掃描電子顯微鏡具有較高的放大倍數且放大倍數連續可調，高分辨率；大景深，二次電子成像
2017-12-06 09:45:42
` 設備型號：Zeiss Auriga Compact 聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)耦合成為FIB-SEM雙束系統后，通過結合相應的氣體沉積裝置，納米操縱儀，各種探測器及可控的樣品
2020-01-16 22:02:26
在20世紀70年代起出現了國產的連續變倍體視顯微鏡，由于明顯優于間隔變倍類型的體視顯微鏡，從此在體視顯微鏡領域占據了主導地位。連續變倍體視顯微鏡有兩種基本形式：一是有一組主物鏡中間像平面平行于物鏡
2020-04-16 08:27:24
, Substrate…)閘氧Pin Hole(配合SEM掃描)FinFET制程SEM電子顯微鏡 (型號: HITACHI SU8220 )較小制程或微小異常檢視二次電子掃描FinFET制程之立體
2018-08-21 09:44:22
)，掃描電子顯微鏡(SEM)，透射電子顯微鏡(SEM)、VC定位技術。一、無損失效分析技術1.外觀檢查，主要憑借肉眼檢查是否有明顯缺陷，如塑脂封裝是否開裂，芯片引腳是否接觸良好。X射線檢查是利用X射線的透視
2020-05-18 14:25:44
熒光顯微鏡上海應捷儀器有限公司是集光學儀器、儀器配件、及計算機圖像處理軟件和顯微鏡測量軟件等的研發、生產、銷售、服務為一體的企業。擁有光機電領域技術與產品的成套開發的豐富經驗
2009-07-07 09:31:08
按細分的原理不同，讀數顯微鏡通常分為直讀式、標線移動式和影象移動式3種。
2019-10-22 09:12:09
連續變倍體視顯微鏡性能可靠，操作簡單，使用方便，且外形美觀，不僅可作教學示范，生物解剖，作觀察分析，并且具有很高的分辨率及大視場范圍的清晰度，因此還可作電子工業和精密機械工業零件裝配和檢驗，農業上的種子檢查等。
2019-10-10 09:12:51
分析,對圖象進行編輯、輸出、存儲、管理等功能。體視顯微鏡適用于微米級實效分析、斷口檢測、電子工業生產線的檢驗、印刷線路板的檢定、印刷電路組件中出現的焊接缺陷(印刷錯位、塌邊等)的檢定、單板PC的檢定、及所有
2016-08-31 10:23:21
的提高，熔深分析系統各個行業對焊接質量的要求也越來越高。產業升級迫在眉睫，焊接熔深分析儀而焊接質量的檢測對機械制造行業的產業升級至關重要，針對這種情況，上海也鴻光學開發了針對行業標準測量焊接熔深的顯微鏡
2011-04-01 10:09:30
的顯微鏡（HB5282 結構鋼和不銹鋼電阻點焊和縫焊質量檢驗，HB5276熔深檢測顯微鏡鋁合金電阻點焊和縫焊質量檢驗）焊接質量檢測的系統，焊接熔深顯微鏡該系統配備樣品焊點切割，預磨，拋光，化學處理單元，熔深
2011-04-11 11:47:35
的萌生及發展、電子組裝件的可靠性等有十分重要的影響。應用范圍：PCBA、PCB、FPC等。測試步驟：對樣品進行切割、鑲嵌、研磨、拋光、微蝕后，表面鍍鉑金，按照標準作業流程放入掃描電子顯微鏡樣品室中
2020-02-25 16:02:25
、管理等功能。宜特FIB（芯片線路修補改正）部門的金相顯微鏡主要反映構成材料的相和組織組成物、晶粒（亦包括可能存在的亞晶）、非金屬夾雜物乃至某些晶體缺陷（例如位錯）的數量、形貌、大小、分布、取向、空間排布狀態等。`
2019-04-26 15:31:07
數字全息記錄中各個元件的相對位置 數字全息顯微鏡采用目前流行的電子顯微鏡的結構形式。主要由四部分組成：光學系統、光機系統、微機和控制系統。光學系統是數字全息顯微鏡的基礎部件，主要包括光源、透鏡
2017-11-07 10:30:40
電子顯微原理與技術【教學內容】1.透射和掃描電子顯微鏡的構造與成像原理2.透射和掃描電鏡圖像的成像過程3.透射和掃描電鏡主要性能4.表面復型技術5.透射和掃
2009-03-06 11:44:18
0 VT6000系列高清工業電子顯微鏡是一款用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。它是以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D
2023-02-03 11:13:55
微細，橫向分辨率更高。 VT6000系列激光共聚焦掃描顯微鏡以轉盤共聚焦光學系統為基礎，結合高穩定性結構設計和3D重建算法，共同組成測量系統，儀器測量精度
2023-02-07 11:18:25
電子顯微鏡基本知識(英文版-All you wanted to know about):Nobody knows for certain whoinvented the microscope.
2009-12-25 16:09:070 共焦顯微鏡系統所展現的放大圖像細節要高于常規的光學顯微鏡。VT6000共聚焦激光顯微鏡技術以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，在
2023-09-28 09:19:04
透射電子顯微鏡的結構與成像原理透射電子顯微鏡是以波長極短的電子束作為照明源，用電磁透鏡聚焦成像的一種高分辨率、高放大倍數的電子光學儀器。
2009-03-06 22:20:1211735 
掃描電子顯微鏡原理和應用2.4.1 掃描電鏡的特點與光學顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點： (一) 能夠直接觀察樣品表面的結構，樣品的尺寸可大
2009-03-06 22:23:305127 電子顯微術(Electron Microscopy,EM)
電子顯微術可分為靜態式和掃描式。靜態式包括穿透式、反射式電鏡及低能電子顯微鏡等。掃描式包
2009-03-10 09:02:582506 20世紀80年代中期,在數字化電子顯微鏡商品化之前,模擬式電鏡發展到了相當高的水平,很多操作被先轉換成指令,通過接口電路與單板機的識別處理后,發出控制指令,由各種功能電路來實現
2011-04-09 11:21:5464 全球測試設備廠愛德萬測試 （Advantest） 宣佈推出專為晶圓所開發的全新多視角量測掃描式電子顯微鏡 （MVM-SEM） 系統E3310，這套系統可在各種晶圓上量測精細接腳間距圖樣，以Advantes
2012-11-22 09:45:551522 “比如，在材料科學領域，它是非?；A的科研儀器，毫不夸張地說，材料領域70%—80%的文章都要用到掃描電鏡提供的信息?！敝袊茖W院上海硅酸鹽所研究員、中國電子顯微鏡學會掃描電鏡專業委員會副主任
2018-08-10 17:38:142038 
/神經系統科學：??電子生理測量??熒光染料成像??膜片鉗技術??TIRFM全內反射熒光顯微鏡電子顯微鏡（電鏡）：??SEM:掃描電子顯微鏡??TEM:透射電子顯微鏡??STEM:掃描透射電子顯微鏡
2018-08-28 11:29:504929 本文主要介紹了半導體測試設備，分別有橢偏儀/四探針/熱波系統/相干探測顯微鏡/光學顯微鏡以及掃描電子顯微鏡。
2018-09-25 17:44:5216616 本視頻主要介紹了半導體測試設備，分別有橢偏儀、四探針、熱波系統、相干探測顯微鏡、光學顯微鏡以及掃描電子顯微鏡。
2018-11-02 16:39:0925351 中國科學院電工研究所聯合中國計量科學研究院、國家納米科學中心共同構建了國內首臺可溯源計量型掃描電子顯微鏡，實現了微納米器件及標準物質的納米精度計量功能以及對樣品納米結構掃描成像的量值溯源，可有效減少電子束掃描成像過程中放大倍率波動和掃描線圈非線性特征在納米尺度測量中產生的誤差。
2019-06-26 16:33:384272 透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope，簡稱TEM），可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。要想
2020-12-03 15:37:2536844 透射電子顯微鏡中主要有三種光闌：光闌。在雙系統中，該光闌裝在第二下方。作用：限制照明孔徑角。
2020-12-04 13:39:1011555 電子發燒友網為你提供透射電子顯微鏡成像原理資料下載的電子資料下載，更有其他相關的電路圖、源代碼、課件教程、中文資料、英文資料、參考設計、用戶指南、解決方案等資料，希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2021-03-31 08:48:5323 TEM（Transmission Electron Microscope， 透射電子顯微鏡） 具有較高的分辨率是半導體失效分析領域最常用的儀器之一，其以高能電子束作為光源，用電磁場作透鏡，將經過加速
2021-06-21 09:42:417788 TEM（Transmission Electron Microscope， 透射電子顯微鏡） 具有較高的分辨率是半導體失效分析領域最常用的儀器之一，其以高能電子束作為光源，用電磁場作透鏡，將經過加速
2021-09-18 10:49:167640 No.1 引言 ? 掃描電子顯微鏡的簡稱為掃描電鏡，英文縮寫為SEM 。它利用細聚焦的電子束，轟擊樣品表面，通過電子與樣品相互作用產生的二次電子、背散射電子等，對樣品表面或斷口形貌進行觀察和分析
2022-08-18 08:50:392725 掃描電子顯微鏡（SEM Scanning Electron Microscope）是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段，在光電技術中起到重要作用。
2022-08-22 11:49:273075 為了支持半導體制造商的自動化需求，先進的電子顯微鏡正在集成人工智能功能，以提供更快的數據生成時間并提高人力和工具資源的生產效率。
2023-05-05 17:17:25500 透射電子顯微鏡TEM 透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope，簡稱TEM)，可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構，這些結構稱為亞顯微
2023-05-31 09:20:40782 
場發射掃描電鏡SEM5000SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場發射掃描電子顯微鏡。先進的鏡筒設計，高壓隧道技術（SuperTunnel）、低像差無漏磁物鏡設計，實現了低電壓高分辨率成像，同時
2023-04-12 11:38:30572 
蔡司熱場掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠對各種材質的導電和不導電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結構進行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附件可以實現樣品表面微觀區域內的成分和織構分析
2023-07-26 10:48:06650 
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, TEM）是一種用于觀察樣品內部結構的高分辨率顯微鏡。它利用電子束穿透樣品并形成投影圖像，然后通過對該圖像進行解釋
2023-08-01 10:02:152345 蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對于材料科學、電子、地質、物理、化工、農醫、公安、食品和輕工等領域的科學研究，人們總是關心微觀形態、晶體結構和化學組成與宏觀物理或化學性質之間的關系。光學顯微系統
2023-08-08 15:50:351419 。對于此類場景，常規掃描電鏡效率嚴重不足，為解決客戶痛點，國儀量子于近日推出一款專為大規模成像而生的新產品——高速掃描電子顯微鏡HEM6000?！备咚?b class="flag-6" style="color: red">掃描電子顯微
2023-08-09 08:29:23453 ，為電池研發提供有價值的數據。然而，受可見光波長的限制，它的觀察范圍有限，而電子顯微鏡很好地解決了這一問題 1931年問世的電子顯微鏡，利用電子束將物體放大300萬倍，達到奈米分辨率。由于電子顯微鏡的分辨率更高，在電池研發
2023-08-22 13:41:06323 
如今，不僅有能放大幾千倍的光學顯微鏡，也有能放大幾十萬倍的電子顯微鏡，讓我們對生物體的生命活動規律有了更深入的了解。普通中學生物教學大綱中規定的實驗絕大部分都是利用顯微鏡來完成的，因此顯微鏡的性能是觀察好實驗的關鍵。
2023-11-07 15:23:26797 掃描電子顯微鏡是一種全自動的、非破壞性的顯微分析系統，可針對無機材料和部分有機材料，迅速提供在統計學上可靠且可重復的礦物學、巖相學和冶金學數據，在采礦業，可用于礦產勘查、礦石表征和選礦工藝優化
2023-11-21 13:02:19460 掃描電子顯微鏡是一種全自動的、非破壞性的顯微分析系統，可針對無機材料和部分有機材料，迅速提供在統計學上可靠且可重復的礦物學、巖相學和冶金學數據，在采礦業，可用于礦產勘查、礦石表征和選礦工藝優化
2023-11-21 13:16:41235 
本文介紹了一種飛米級電子顯微鏡的原理，未來這種技術有望用于探測遠離穩定谷的核。
2023-12-13 15:59:12227 
? ? ? ?掃描電子顯微鏡能夠以極高的分辨率觀察樣品表面的形貌和結構，是材料相關工作者和學者研究的有力工具之一。其應用范圍非常廣泛，甚至可以延伸到生物、醫療和工業領域。本文將對掃描電子顯微鏡
2023-12-19 15:31:37509 
數字顯微鏡Smartzoom5和SEM掃描電子顯微鏡的解決方案。圖a、b顯示的是無涂層的鉆頭的切削刃口情況，圖c、d顯示的是金剛石涂層鉆頭的脫落情況；圖a、c使用
2024-01-08 15:12:5298 
由于電子在空氣中行進的速度很慢，所以必須由真空系統保持電鏡的真空度，否則，空氣中的分子會阻撓電子束的發射而不能成像。用兩種類型的真空泵串連起來獲得電子顯微鏡鏡筒中的真空，當電子顯微鏡啟動時，第一
2024-01-09 11:18:33165 掃描電子顯微鏡是金屬科研工作中應用最廣泛的“神器”?？梢哉f，幾乎每一個研究生都把自己最重要的科研經歷花在了身上。今天的我們就來介紹一下掃描電鏡的原理和應用。 電子顯微鏡利用電子產生圖像，類似于光學
2024-01-17 09:39:56146 掃描電鏡按構造和用處可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發射式電子顯微鏡等。 掃描電鏡常用于察看那些用普通顯微鏡所不能分辨的纖細物質構造，次要用于察看固體外表的形貌，也能與
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