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電子發(fā)燒友網(wǎng)>EDA/IC設(shè)計(jì)>IC測(cè)試常見(jiàn)問(wèn)答

IC測(cè)試常見(jiàn)問(wèn)答

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2017-01-12 12:51:090

基于RF IC測(cè)試技巧及方案

本文檔中內(nèi)容介紹了基于RF IC測(cè)試技巧及方案,包含了電路圖及實(shí)例。
2017-09-12 16:40:4620

IC測(cè)試原理與ATE測(cè)試向量的生成

集成電路測(cè)試IC測(cè)試)主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開(kāi),保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展,其規(guī)模越來(lái)越大,對(duì)電路的質(zhì)量與可靠性要求進(jìn)一步提高,集成電路的測(cè)試方法也變得
2017-10-20 09:57:4370

深度解讀基于ATE的IC測(cè)試技術(shù)

IC測(cè)試中,電壓的測(cè)試是所有測(cè)試參數(shù)中最為常見(jiàn)的一種參數(shù),尤其是模擬芯片的測(cè)試,電壓測(cè)試更顯常見(jiàn)及重要,如:LDO、LED驅(qū)動(dòng)、音頻功放、運(yùn)放、馬達(dá)驅(qū)動(dòng)等很多類型的模擬芯片都含有電壓參數(shù)的測(cè)試,而且都是其主要性能參數(shù)。
2017-10-27 15:48:1217918

模擬IC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的直流參數(shù)測(cè)試單元

集成電路(Integrated Circuit,IC測(cè)試技術(shù)是集成電路產(chǎn)業(yè)中不可或缺的重要組成部分,而測(cè)試設(shè)備是IC測(cè)試技術(shù)的一種重要工具。模擬IC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是一款針對(duì)模擬IC直流參數(shù)和交流參數(shù)
2017-11-15 16:27:5215

PROTEL應(yīng)用程序的使用常見(jiàn)問(wèn)題及解答

本文檔的主要內(nèi)容詳細(xì)介紹的是PROTEL應(yīng)用常見(jiàn)問(wèn)題及問(wèn)答集。
2019-10-29 17:49:180

淺談易用性測(cè)試及GUI常見(jiàn)測(cè)試要求

淺談易用性測(cè)試及GUI常見(jiàn)測(cè)試要求
2020-06-29 10:15:112504

數(shù)據(jù)測(cè)試:UI測(cè)試常見(jiàn)BUG

數(shù)據(jù)測(cè)試:UI測(cè)試常見(jiàn)BUG
2020-06-29 10:17:462263

電源設(shè)計(jì)經(jīng)典問(wèn)答

關(guān)于電源設(shè)計(jì)的經(jīng)典問(wèn)答
2021-03-18 13:45:247

常見(jiàn)IC封裝技術(shù)與檢測(cè)內(nèi)容

常見(jiàn)IC封裝技術(shù)與檢測(cè)內(nèi)容介紹。
2021-04-08 14:22:2435

IC常見(jiàn)的封裝形式包括哪些

IC芯片是把許多微電子元器件形成的集成電路放在一塊塑基上做成的一塊芯片,是一種微型電子器件,那么IC常見(jiàn)的封裝形式包括哪些?下面小編來(lái)帶大家了解一下吧。 一般IC常見(jiàn)的封裝材料有塑料、陶瓷、玻璃
2021-09-20 17:08:0024832

Citespace軟件操作問(wèn)答

Citespace軟件操作問(wèn)答(開(kāi)關(guān)電源技術(shù)趨勢(shì))-Citespace軟件操作問(wèn)答,有需要的可以參考!
2021-09-15 13:45:567

新能源知識(shí)問(wèn)答

新能源知識(shí)問(wèn)答(開(kāi)關(guān)電源技術(shù)的節(jié)能意義)-新能源知識(shí)問(wèn)答? ? ? ? ? ? ? ? ?
2021-09-23 15:00:0314

IC芯片的常見(jiàn)種類及主要用途

IC芯片的常見(jiàn)種類有哪些,主要用途是什么?
2022-01-18 11:55:5717225

納米軟件科普:一些關(guān)于S參數(shù)常見(jiàn)問(wèn)題的問(wèn)答

網(wǎng)絡(luò)分析儀常用被用來(lái)測(cè)試器件的S參數(shù),本篇文章納米軟件Namisoft小編將為大家整理一些關(guān)于S參數(shù)的常見(jiàn)問(wèn)題問(wèn)答,下面一起來(lái)看看吧。
2023-02-02 10:49:02926

ADC/DAC設(shè)計(jì)經(jīng)典問(wèn)答

本文章是關(guān)于ADC/DAC設(shè)計(jì)經(jīng)典問(wèn)答,涵蓋時(shí)鐘占空比、共模電壓、增益誤差、微分相位誤差、互調(diào)失真等常見(jiàn)問(wèn)題。
2023-02-09 14:48:45535

如何用T3Ster測(cè)試IC的熱特性

近期不少客戶咨詢,如何測(cè)試封裝IC類樣品的熱特性,以及結(jié)溫與封裝熱阻的測(cè)量。在本文中,將結(jié)合集成電路熱測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和載板設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)向大家介紹如何用T3Ster瞬態(tài)熱阻測(cè)試測(cè)試IC產(chǎn)品的熱特性。
2023-04-03 15:46:273361

PCBA測(cè)試常見(jiàn)ICT測(cè)試方法

以及元器件焊接等故障問(wèn)題。能夠定量地對(duì)電阻、電容、電感、晶振等器件進(jìn)行測(cè)量,對(duì)二極管、三極管、光藕、變壓器、繼電器、運(yùn)算放大器、電源模塊等進(jìn)行功能測(cè)試,對(duì)中小規(guī)模的集成電路進(jìn)行功能測(cè)試,如所有74系列、Memory 類、常用驅(qū)動(dòng)類、交換類等IC。 PCBA測(cè)試常見(jiàn)ICT測(cè)
2023-05-09 09:25:082173

CATIA操作經(jīng)典技巧問(wèn)答

CATIA操作經(jīng)典技巧問(wèn)答
2023-05-17 14:06:20399

一文帶你了解IC測(cè)試座的用途

IC測(cè)試座是一種常用于集成電路測(cè)試的工具,它可以通過(guò)將芯片插入座子中進(jìn)行信號(hào)傳輸、功能測(cè)試、參數(shù)測(cè)試等多項(xiàng)檢測(cè)。IC測(cè)試座的主要用途包括以下幾個(gè)方面:
2023-06-02 14:23:36518

特瑞仕 | 線性穩(wěn)壓IC網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)問(wèn)答集錦,請(qǐng)查收~

特瑞仕 | 線性穩(wěn)壓IC網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)問(wèn)答集錦,請(qǐng)查收~ 【問(wèn)答】 Q 我想讓電源打開(kāi)時(shí)電壓呈線性上升,想了解軟啟動(dòng)電路。 A 有些情況下,線性穩(wěn)壓IC后面的負(fù)載電容(CL)容量很大,希望緩慢啟動(dòng)以避
2023-06-17 22:12:49149

ic測(cè)試座是芯片測(cè)試必不可少的專用測(cè)試工具

IC測(cè)試座是一種專門(mén)用于測(cè)試集成電路(IC)的工具,也被稱為IC插座或者IC測(cè)試夾。
2023-06-19 15:07:23576

IC常見(jiàn)的封裝形式大全(圖),快收藏

IC常見(jiàn)的封裝形式大全(圖),快收藏北京漢通達(dá)科技主要業(yè)務(wù)為給國(guó)內(nèi)用戶提供通用的、先進(jìn)國(guó)外測(cè)試測(cè)量設(shè)備和整體解決方案,產(chǎn)品包括多種總線形式(臺(tái)式/GPIB、VXI、PXI/PXIe、PCI/PCIe
2023-03-28 17:44:39931

集成電路IC芯片的三大測(cè)試環(huán)節(jié)

集成電路(Integrated Circuit,簡(jiǎn)稱IC)芯片的三大測(cè)試環(huán)節(jié)包括前端測(cè)試、中間測(cè)試和后端測(cè)試
2023-06-26 14:30:05895

IC測(cè)試座testSocket產(chǎn)品結(jié)構(gòu)及特點(diǎn)!

IC測(cè)試座是一種用于測(cè)試集成電路(IC)和其他電子元件的工具,它將元件安裝在座上,可以用來(lái)連接電源和測(cè)試設(shè)備,并將測(cè)試結(jié)果反饋給用戶。
2023-06-29 13:50:05541

帶你了解IC測(cè)試座及探針作用!

芯片測(cè)試座又稱:IC Socket 、 IC 測(cè)試座、IC插座。
2023-07-08 15:13:181447

IC測(cè)試座你了解多少?

IC測(cè)試用于驗(yàn)證IC是否能完成設(shè)計(jì)所預(yù)期的工作或功能。功能測(cè)試是數(shù)字電路測(cè)試的根本,它模擬IC的實(shí)際工作狀態(tài),輸入一系列有序或隨機(jī)組合的測(cè)試圖形,以電路規(guī)定的速率作用于被測(cè)器件,再在電路輸出端檢測(cè)
2023-07-10 15:13:33425

問(wèn)答對(duì)話文本數(shù)據(jù):解鎖智能問(wèn)答的未來(lái)

在日常生活中,我們經(jīng)常面臨各種問(wèn)題和需求,而智能問(wèn)答系統(tǒng)作為一種人機(jī)交互工具,為我們提供了便捷的問(wèn)題解答和信息獲取方式。而問(wèn)答對(duì)話文本數(shù)據(jù)作為推動(dòng)智能問(wèn)答系統(tǒng)發(fā)展的關(guān)鍵資源,扮演著重要角色。 問(wèn)答
2023-07-13 14:19:16282

IC測(cè)試座的重要性

它的主要作用是將待測(cè)的IC芯片插入其中,與測(cè)試儀器連接,進(jìn)行信號(hào)測(cè)試、功耗測(cè)試、溫度測(cè)試等多項(xiàng)測(cè)試
2023-07-18 14:21:09313

芯片測(cè)試座在IC芯片測(cè)試中的作用

IC芯片測(cè)試中,芯片測(cè)試座起著至關(guān)重要的作用。它是連接芯片和測(cè)試設(shè)備的關(guān)鍵橋梁,為芯片提供測(cè)試所需的電流和信號(hào)。
2023-07-25 14:02:50632

NVIDIA 知乎精彩問(wèn)答甄選 | 查看 NVIDIA Omniverse 相關(guān)精彩問(wèn)答

NVIDIA 帶來(lái)知乎精彩問(wèn)答甄選系列,將為您精選知乎上有關(guān) NVIDIA 產(chǎn)品的精彩問(wèn)答。 本期為問(wèn)答甄選第十期 ——? 查看?NVIDIA Omniverse 相關(guān)精彩問(wèn)題 以下三個(gè)知乎甄選問(wèn)答
2023-08-01 19:55:01314

常見(jiàn)IC封裝大全(建議收藏)

常見(jiàn)IC封裝形式大全 ———— / END / ———— 審核編輯 黃宇 ?
2023-08-22 22:48:511099

ic封裝測(cè)試是做什么?ic封測(cè)是什么意思?芯片封測(cè)是什么?

ic封裝測(cè)試是做什么?ic封測(cè)是什么意思?芯片封測(cè)是什么? IC封裝測(cè)試是指對(duì)芯片進(jìn)行封裝前、封裝過(guò)程中、封裝后的各種測(cè)試和質(zhì)量控制措施,以確保芯片的可靠性、穩(wěn)定性和耐用性。IC封裝測(cè)試是整個(gè)半導(dǎo)體
2023-08-24 10:41:532161

IC測(cè)試的分類介紹

集成電路(Integrated Circuit,IC)是現(xiàn)代電子設(shè)備的核心組件之一,而為了確保IC的質(zhì)量和性能,需要進(jìn)行各種測(cè)試IC測(cè)試是一個(gè)多層次、復(fù)雜而關(guān)鍵的過(guò)程,旨在檢測(cè)和驗(yàn)證IC是否符合設(shè)計(jì)規(guī)格。本文將介紹IC測(cè)試的分類,涵蓋了各種類型的測(cè)試,以及其在半導(dǎo)體制造和電子設(shè)備領(lǐng)域中的重要性。
2023-10-20 09:00:231294

ic測(cè)試是什么意思

IC測(cè)試原理 IC 測(cè)試是指依據(jù)被測(cè)器件(DUT)特點(diǎn)和功能,給DUT提供測(cè)試激勵(lì)(X),通過(guò)測(cè)量DUT 輸出響應(yīng)(Y)與期望輸出做比較,從而判斷DUT是否符合格。圖1所示為IC測(cè)試的基本原理模型
2023-10-30 11:16:58845

IC芯片測(cè)試基本原理是什么?

IC芯片測(cè)試基本原理是什么? IC芯片測(cè)試是指對(duì)集成電路芯片進(jìn)行功能、可靠性等方面的驗(yàn)證和測(cè)試,以確保其正常工作和達(dá)到設(shè)計(jì)要求。IC芯片測(cè)試的基本原理是通過(guò)引入測(cè)試信號(hào),檢測(cè)和分析芯片的響應(yīng),以判斷
2023-11-09 09:18:37903

半導(dǎo)體IC測(cè)試解決方案測(cè)試的指標(biāo)包含哪些?

半導(dǎo)體IC測(cè)試解決方案測(cè)試的指標(biāo)包含哪些? 半導(dǎo)體IC測(cè)試解決方案的指標(biāo)可以根據(jù)不同的需求和應(yīng)用來(lái)確定。下面將詳細(xì)介紹一些常見(jiàn)測(cè)試指標(biāo)。 1. 電氣性能測(cè)試指標(biāo): 電氣性能測(cè)試是半導(dǎo)體IC測(cè)試
2023-11-09 09:24:20421

關(guān)于光伏的常見(jiàn)問(wèn)答

2023年已經(jīng)結(jié)束,感謝大家在這一年里對(duì)小固的支持,很多朋友在后臺(tái)提問(wèn),小固精選了2023年大家的非常見(jiàn)問(wèn)題及其解決辦法供大家參考。此外,常見(jiàn)問(wèn)答可以點(diǎn)擊查看《愛(ài)問(wèn)小固 | 光伏電站常見(jiàn)30問(wèn)》,希望能對(duì)大家有所幫助。
2024-01-05 11:42:491051

電池常見(jiàn)測(cè)試項(xiàng)目有哪些?

常見(jiàn)的電池測(cè)試項(xiàng)目有容量測(cè)試、電壓檢測(cè)、內(nèi)阻測(cè)試、充放電測(cè)試、充電速度測(cè)試、循壞壽命測(cè)試、安全性檢測(cè)、環(huán)境適應(yīng)性檢測(cè)等。電池檢測(cè)是電池在設(shè)計(jì)與生產(chǎn)過(guò)程中的關(guān)鍵環(huán)節(jié),以把控電池質(zhì)量和性能,檢測(cè)電池是否合格,從而優(yōu)化設(shè)計(jì),確保電子產(chǎn)品穩(wěn)定運(yùn)行。
2024-01-17 16:24:20930

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