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22nm工藝下如何實現高效率低壓大電流輸出

模擬混合信號設計驗證 ? 來源:未知 ? 作者:劉勇 ? 2019-07-31 14:17 ? 次閱讀
ISSCC“IEEE InternationalSolid-State Circuits Conference”的縮寫,是世界學術界和企業界公認的集成電路設計領域最高級別會議,被認為是集成電路設計領域的世界奧林匹克大會2019年的ISSCC會議已與2019217-21日在美國加州舊金山市舉行,ISSCC2019總共錄用了193篇論文,其中中國區創紀錄地中了18篇,繼去年首次超過日本后,今年首次超過中國***地區,亞太區僅次于韓國。今年中國區在ISSCC上的突破也從側面反映了國內集成電路這幾年的蓬勃發展。

得益于這兩年資本市場和政策對集成電路產業的發展,今年的ISSCC也格外引人關注,最近陸陸續續在網上看到了一些大牛對于ISSCC2019上各個領域細分文章的解讀,其中包括了PLLPAADDACPU architecture等等,但對于ISSCC上占比很高的一個領域DCDC電源類,卻始終沒有看到大神出來解讀,可能是電源太基礎太底層,不能向AI, 5G, 人工智能這些風口靠攏,但是也正因為基礎,每個系統都需要電源供電,所以才更多樣化的需求,正好最近囫圇吞棗地看完了這部分的slides,試著基于自己的理解做個總結,希望能起到拋磚引玉的效果。

INTEL的文章

這篇文章的主要特色是在22nm工藝下實現了高效率低壓大電流的輸出(峰值效率達到了93.8%),通過多級多相位的架構選擇,提高了開關頻率,從而提高了load-transient的響應速度,并減小了電感面積,同時采用片上集成電容電感縮減了供電模塊所占面積。

先進工藝下能量傳輸所面臨的挑戰也是在如下幾個方面進行的Trade-off : efficiency <-> size <-> transient response。這篇文章所采用的flyingcapacitor multiple converters結構,通過以下特點使DCDC的幾個主要特性參數得到了優化:

1.利用flying cap,在傳統BUCK的基礎上加入兩個FLYING開關電容,構成了混合型開拓撲(Hybird topology),并采用三相PWM控制,減少功率傳輸路徑上單個MOS FET的壓降,從而使用低壓器件完成高壓傳輸,低壓器件也節約了power MOS的面積,減小了Rdson,減小了功率管柵端的寄生電容,提高了效率;

2.兩個FLYING電容,三相PWM控制,SW端就有0, 1/3, 2/3, 1這四種電平的可能性,即三相四電平變換器;

3.4電平傳輸進一步降低了每個功率管的耐壓需求,電路中將每個管子上分擔的輸入電壓除以三,分擔了每個管子上的壓降;

4.6個開關管需要三個相位差為120°的,相同驅動能力的驅動信號,等效開關頻率提高至之前的3倍,因此可以有效地減小所需要的電感;

三組PWM驅動和兩個FLYING電容的結構選擇,使得功率級開關管有多種驅動控制的組合來獲得更寬的輸出電壓范圍。上面左圖為占空比D<1/3的條件下,6個phase階段開關管M1~M6的導通狀態,由上圖可得,電感左側SW端的電壓為0~1/3VIN的方波,SW開關頻率為控制開關頻率的3倍。右圖為1/3

仔細分析開關導通過程中開關管分擔的壓降,因為電容上電壓不能突變,所以要實現上圖的效果,需要保證電容Cx1上的電壓為2/3Vin,Cx2上電壓為1/3VIN,不知你們有沒有疑惑,剛開始看的時候我其實很納悶這個值是怎么來的,帶著這個疑惑往下看,就會恍然大悟,這里會涉及多相位開關架構的一個關鍵技術—FLYING電容的預充電。當由下圖可得在該方案中,開關switch之前,通過在VBUS上電過程中對其檢測,系統對電容Cx1和Cx2進行了預充電,并且Cx1上電壓為2/3VIN, Cx2上電壓為1/3VIN。當VIN<1/3*5V時,同時對兩個FLYING電容充電,當1/3*5V

結合上面兩圖試著解讀一下該方案變換器的整體架構,數字部分是基于FPGA的數字控制,個人推測應該是因為預研和驗證采用FPGA比較方便,驗證成功之后應該會將控制部分集成進芯片。其控制思路為,ADC采樣VOUT和VIN計算出當前占空比,再與目標占空比進行比較,如果小于目標占空比,則增大當前占空比d,然后通過DAC轉換去調制DLL的延時,從而生成相位差固定三路驅動的PWM波形,該波形經過level-shift轉換后去驅動開關管SW1~SW6。

該文章的測試結果可得,其在3A時效率達到了93.8%,得益于高頻和高環路帶寬,0-6A的瞬態響應達到了Vpp=150mV。總結下這種三相位控制的混合拓撲結構,從這篇文章來看,優勢是頻率更高,因此瞬態響應和紋波更好,同時用低壓管耐高壓,減小了rds_on,從而提高了效率。同時頻率的提高減小了所需的電感值,該文章采用FCCSP的方案集成了Die、電感、片外電容,進一步減小了模塊在PCB上的面積,提高了集成度。

最后想總結一下該方案在電路設計時可能會遇到難點,歡迎大家補充:

1.三相位PWM控制信號的產生,DLL環路對三相信號鎖頻和鎖相的設計;

2.控制信號轉為疊管柵端驅動信號的設計,驅動電平轉換的處理以及時序關系設計;

3. FLYING電容預充電時功率管耐壓處理和時序關系設計;

4.高集成度封裝和散熱之間的trade-off;

5. 占空比變化時不同控制模式切換的過渡處理。

UCSD的文章

第二篇來自UCSD大學,他們的思路是通過變形的CUK converter架構實現高密度的功率集成。即將傳統BUCK變換器的輸出電感分成兩個放在了輸入端,這樣做有如下優勢:

1.將電感放在輸入端,利用電感電流不能突變的原理,可以實現輸入電流連續,這樣在開關頻率比較高,功率比較大的時候可以減小輸入濾波器的設計難度,減小片外輸入電容的取值和面積;

2.對于BUCK變換器來說,輸入電流小于輸出端電流,因此相比于輸出電流,輸入電流流過同樣的電感上時由寄生DCR產生的功耗更小;

3.這種架構所實現的BUCK變換器在EMI特性、功率密度和效率方面都優于傳統的變換器,另外,右二的圖也說明,相比于傳統BUCK,這種變換器把電感放在輸入端,這樣PCB上就只剩下輸入濾波、PMIC輸出負載這三部分,PCB的布局方面會更有優勢。

下面結合上圖的原理圖介紹一下這種架構的工作原理,圖中,M1和M2為主功率管,在驅動相位φ1期間,M1的gate端為VOUT+VIN,M2的gate端為VOUT,M1導通,M2截止,輸入電壓將電容CIN兩端電壓充至VIN,CBOOT2兩端的電壓被充至VOUT-VIN,使其可以在φ2驅動M2導通;在φ2期間,M1的gate端為VOUT,M2的gate端為VOUT-VIN,M1截止,M2導通,輸入電容CIN的上極板電壓VX1的電位為VOUT+VIN,因此會將電容CBOOT1上電壓充至VOUT+VIN,使其可以在φ1驅動M1導通。

但從這一頁的原理圖來說,個人認為有如下難點:

1.高端驅動和低端驅動的電源軌都不固定,需要特別去考慮和設計驅動信號的電平轉換;

2.用VIN-VOUT驅動源端為VOUT的PMOS管,就決定了其占空比不能太大,文章采用的0.18um工藝,文章后面的summary里面總結可以在VIN=1.8V的條件下輸入0.5V~1.5V,這一點我持懷疑態度,除非在電路中做了特殊的設計;

3.驅動電路中需要大量的隔離器件,因此在LAYOUT的時候要慎重考慮latch upnoise方面的影響。

總體而言,這篇文章是本次ISSCC會議上DC-DC session里極具創新的一篇文章,不同于INTEL那篇,這篇文章在0.18um的工藝下實現,同時給出了功率管驅動耐壓和驅動電平轉換的解決方案,并且也從工業界的應用角度考慮了將BUCK的輸出電感拆分成兩個放在輸入端對于PMU整體面積和效率產生的影響和對比。相比于今年來比較火的10mA~100mA功率段的SC converter,這篇文章給出了大電流下(2.5A)高功率密度集成的PMU解決方案,未來應該會有很廣闊的應用市場。

ADI的文章

第三篇想介紹的是來自ADI的一篇文章。近幾年來,隨著汽車充電器和移動電源的市場越來越大,BUCK-BOOST架構的升降壓電源在業界應用變得很火。

傳統的四開關Buck-Boost電路,Vo=Vin*D/(1-D),輸出電壓的極性與輸入電壓相同。如下圖,

如上圖所示,Q1和Q3同時工作,Q2和Q4同時工作,并且兩組MOS交替導通。對于這種控制方式,在CCM情況下我們可以得到公式:

VIN×D=VOUT ×(1-D

這個電壓轉換比和我們常見的buck-boost是一樣的,這種控制方式的優點是控制方式簡單,沒有模態切換。但是缺點是,四個管子都在一直工作,損耗大,共模噪音也大。

ADI的這篇文章就是針對傳統BUCK-BOOST四個開關管輪流導通共模噪聲大的痛點,提出了更優的控制方式和模式切換方案。

其思路就是當Vin>>Vout的時候,SC管常關,SD管常開,把這個拓撲當純粹的BUCK來用,當Vin<時SC管常開,SD管常關,就當做單純的BOOST來用。但是當從buck過渡到中間模態,再過渡到boost的時候,如何做到無縫切換?這幾個問題,后來成為各家IC公司,大開腦洞,爭奪知識產權的戰場。

本文的思路是,在VIN>>VOUT,即BUCK工作模式下,當VOUT逐漸升高,占空比逐漸增大至80%時,VIN≥VOUT,開關管SC和SD不再常開或者常關,其也會導通從而切換至BOOST/BUCK模式,即前半周期為BOOST模式,后半周期為BUCK模式。同理,在VIN<0.2時,芯片工作在BOOST模式下,當占空比D逐漸減小,使VIN≤VOUT時,SA和SB不再常開或者常閉,而是在一個周期內輪流導通一次,即前半周期為BUCK,后半周期為BOOST模式,達到BUCK/BOOST的效果。

不知道大家有沒有這樣的疑問?在占空比比較接近時芯片還是工作在BUCK-BOOST模式,那么是不是在這種條件下,共模噪聲的問題就不會有很大改善?這個問題我是這么理解的,如果全程在BUCK-BOOST模式下,四個開關管SA/SC,SB/SD輪流導通,那么電感兩端在整個周期內的都有VIN/VOUT的電壓差,會產生較大的dv/dt干擾,如果采用這篇文章所提的控制模式,那么芯片控制方式在BUCK和BOOST之間切換,其EMI特性與單獨的BUCK芯片或BOOST芯片接近,產生的EMI干擾會遠遠小于BUCK-BOOST的工作模式。

小結

本次會議DC-DCconverters部分收錄了8篇文章,總體的發展趨勢是向著高效率,高能量密度的方向,各路大神對于新的拓撲架構進行了的多樣化探索。特別可以看出,對于大功率的應用,混合型(Hybrid)拓撲在效率方面更具有優勢,而對于中小型功率(Io=10mA~100mA)的需求,SC Converter因為其高能量密度(PD)的特點,得到了學術界的火熱探索。個人認為,之后DC-DC Converter領域內,不會再像之前那樣,被電壓模/電流模拓撲一統天下,而是會根據應用的不同,在架構方面出現百花爭艷的局面,之前的DC-DC 在trade-off設計時可能做到沒有短板就行了,而之后的設計,更多的是在此基礎上對個別進行極限的挑戰。比如低噪聲、低EMI、高效率、高能量密度、快速瞬態響應、高PSRR等待,每一個性能可能都需要從架構上做優化。這里面的挑戰和樂趣可能會顛覆很多人對于DC-DC Converter門檻低、架構固化、新的挑戰少的觀點。所以,不管在企業做產品還是在高校做學術研究,還是有很多東西可以做的。

因為最近太懶工作太忙,將這8篇囫圇吞棗地過了一遍之后,挑了自己覺得比較精彩的三篇做個簡單分享,其中可能有很多不妥或者考慮不夠深入之處,歡迎各位同仁拍磚過來一起探討。

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原文標題:ISSCC2019 DC-DC converter淺析

文章出處:【微信號:yaliDV,微信公眾號:模擬混合信號設計驗證】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

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