在之前的文章中,我們調(diào)查了PAM4信號(hào)的基本屬性。現(xiàn)在,我們將研究PAM4在現(xiàn)實(shí)世界中找到應(yīng)用程序的一些方式,以及這些應(yīng)用程序可能的測試和測量設(shè)置。
最簡單的應(yīng)用程序,如圖1中的頂部所示,將從一個(gè)芯片發(fā)送到另一個(gè)芯片的電調(diào)制PAM4信號(hào)。這通常是PC內(nèi)板鏈接。
圖1PAM4使用的高級(jí)視圖案例
PAM4的另一個(gè)用例是從芯片向線性光學(xué)調(diào)制器發(fā)送電信號(hào)(參見圖,左中)。調(diào)制器將電信號(hào)電平改變?yōu)橛杉す馄鳟a(chǎn)生的光強(qiáng)度水平或亮度水平。電子PAM4信號(hào)已轉(zhuǎn)換為光學(xué)PAM4信號(hào)。
通過線性光學(xué)調(diào)制器將電子PAM4轉(zhuǎn)換為光學(xué)PAM4通常存在于數(shù)據(jù)中心,其中大量數(shù)據(jù)從一個(gè)服務(wù)器或一個(gè)建筑物傳輸?shù)搅硪粋€(gè)。思科,谷歌和Facebook等公司可能會(huì)以這種方式使用PAM4。
第三種情況涉及兩個(gè)電子PAM4信號(hào)(參見圖,左下角)。兩個(gè)PAM4信號(hào)輸入到相干光調(diào)制器,而不是饋送到將電平轉(zhuǎn)換為光亮度水平的線性光調(diào)制器,相干光調(diào)制器將兩個(gè)信號(hào)轉(zhuǎn)換為被調(diào)制的光信號(hào)的幅度和相位。再次參考圖的左下角,我們看到兩個(gè)電子PAM4信號(hào)作為相干光調(diào)制器的輸入。這是具有四個(gè)潛在電平的兩個(gè)信號(hào),導(dǎo)致這兩個(gè)信號(hào)的16種可能組合。這為我們提供了一個(gè)連貫的16-QAM信號(hào),可以應(yīng)用于下一代長距離光通信。
測試解決方案
那么映射到的測試設(shè)置是什么?這三個(gè)應(yīng)用配置文件?對于從芯片到芯片的電子PAM4信號(hào)的第一種情況,測試設(shè)置將包括示波器(圖中的鏈路用1表示由該設(shè)置服務(wù))。通常,這些芯片將安裝在帶有高速同軸連接器的評(píng)估板上。因此,發(fā)射器芯片的輸出可以直接饋入示波器的輸入,而不是饋入接收器芯片。相同的設(shè)置將用作PAM4電信號(hào),用作線性和相干光調(diào)制器的輸入。
下一個(gè)測試解決方案包括帶光/電(O/E)轉(zhuǎn)換器(如Teledyne LeCroy的OE695G)的示波器,它將光強(qiáng)度級(jí)別轉(zhuǎn)換為電壓電平,或與線性光調(diào)制器相反。對于那些對圖中所示的中間應(yīng)用示例中的線性光學(xué)調(diào)制器的輸出側(cè)感興趣的人來說,這種設(shè)置非常有效。
最后,對于16-QAM,長距離信號(hào)在相干光調(diào)制器的輸出,選擇的測試設(shè)置將是與相干光接收器串聯(lián)的示波器(例如Teledyne LeCroy的光調(diào)制分析器)。在這里,兩個(gè)信號(hào)被編碼成一個(gè)光流,以調(diào)制幅度和相位。
下一次,我們將看看與PAM4編碼相關(guān)的測試挑戰(zhàn)。
-
PCB打樣
+關(guān)注
關(guān)注
17文章
2970瀏覽量
22035 -
華強(qiáng)PCB
+關(guān)注
關(guān)注
8文章
1831瀏覽量
28103 -
pam4
+關(guān)注
關(guān)注
2文章
37瀏覽量
14513 -
華強(qiáng)pcb線路板打樣
+關(guān)注
關(guān)注
5文章
14629瀏覽量
43398
發(fā)布評(píng)論請先 登錄
相關(guān)推薦
泰克53GBd PAM4電測試方案亮相OFC2022

PAM4設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)及其對測試的啟示
一分鐘了解下一代數(shù)據(jù)中心高速信號(hào)互聯(lián)技術(shù) PAM4
400G AOC產(chǎn)品的核心技術(shù)PAM4和DSP
基于PAM4調(diào)制的400G光模塊解析
100G DWDM光模塊中的PAM4與相干技術(shù)
本周推薦:關(guān)于200G PAM4光模塊(推薦分享)
問答專欄丨PAM4常見問題解答
泰克助力實(shí)現(xiàn)400G PAM4電接口自動(dòng)化測試

5G商用承載先行,50G PAM4白皮書發(fā)布
PAM4信號(hào)的一些測試和測量方面的挑戰(zhàn)

評(píng)論