今天的關(guān)鍵瓶頸設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)并不是設(shè)計(jì)芯片系統(tǒng)的復(fù)雜性，也不是設(shè)計(jì)時(shí)間短，而是設(shè)計(jì)的驗(yàn)證。

驗(yàn)證設(shè)計(jì)在整個(gè)過程中的功能是否正確設(shè)計(jì)流程是一種資源匱乏。一個(gè)設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)估計(jì)其CPU周期的90％用于模擬。對(duì)50％-70％的人力資源進(jìn)行驗(yàn)證的估計(jì)是常見的。只會(huì)變得更糟 - 驗(yàn)證復(fù)雜性隨著設(shè)計(jì)規(guī)模的增加呈指數(shù)增長(zhǎng)。除非驗(yàn)證瓶頸得到解決，否則未來電子系統(tǒng)的成本將會(huì)上漲。

解決問題需要新的軟件工具和/或方法，就像過去一樣。例如，當(dāng)物理設(shè)計(jì)成為瓶頸時(shí)，開發(fā)了自動(dòng)布局和路徑工具來取代布局編輯器。當(dāng)designentry成為問題時(shí)，開發(fā)了綜合工具，以便為每個(gè)設(shè)計(jì)師提供更多的功能。然而，驗(yàn)證仍然是一項(xiàng)手動(dòng)任務(wù)。這對(duì)于具有數(shù)千門的設(shè)計(jì)是可以接受的，但是對(duì)于當(dāng)今復(fù)雜的，數(shù)百萬(wàn)門的設(shè)計(jì)來說，手動(dòng)驗(yàn)證是非常有限的，這些設(shè)計(jì)太大而且復(fù)雜，無(wú)法在合理的數(shù)量?jī)?nèi)完全檢查時(shí)間。

公司正在努力解決這個(gè)問題，并投入大量資金投入人力和技術(shù)解決方案。此外，芯片上系統(tǒng)（SoC）將其自身的驗(yàn)證問題融入其中。 SoC工程師面臨的一些問題涉及外部開發(fā)的知識(shí)產(chǎn)權(quán)（IP）的集成和驗(yàn)證以及硬件與其嵌入式軟件之間的交互。隨著越來越多的設(shè)計(jì)包括外部開發(fā)的IP，公司將如何整合和驗(yàn)證這些模塊作為其整個(gè)系統(tǒng)的一部分？而且，隨著更多的片上系統(tǒng)設(shè)計(jì)包括處理器，公司將如何解決硬件和嵌入式軟件之間復(fù)雜的相互依賴性？很明顯，驗(yàn)證將繼續(xù)成為一個(gè)嚴(yán)重的問題，需要重新考慮驗(yàn)證方法。

工程團(tuán)隊(duì)必須采用新的驗(yàn)證方法，才能具有競(jìng)爭(zhēng)力。由于芯片中出現(xiàn)意外情況而錯(cuò)過市場(chǎng)窗口可能是災(zāi)難性的。想象一下，個(gè)人計(jì)算機(jī)制造商不得不重新設(shè)計(jì)芯片并延遲其PC的運(yùn)輸，因?yàn)橹钡皆O(shè)計(jì)周期的后期才發(fā)現(xiàn)一個(gè)嚴(yán)重的錯(cuò)誤。

驗(yàn)證不完整或不充分是設(shè)計(jì)失敗和產(chǎn)品被迫的原因想念他們的市場(chǎng)窗口。但它不一定是這樣。復(fù)雜的芯片，系統(tǒng)和SoCdesigns迫使我們重新考慮我們的驗(yàn)證方法。我們不得不更新和改善我們的環(huán)境。

解決這個(gè)瓶頸包括在設(shè)計(jì)流程中更早地移動(dòng)驗(yàn)證，以便盡可能少地保持當(dāng)前流量的自動(dòng)化手動(dòng)任務(wù)。

一般來說，定義和討論驗(yàn)證是值得的。驗(yàn)證的良好工作定義是“證明設(shè)計(jì)符合您的要求。”具體來說，工程師根據(jù)設(shè)計(jì)編寫測(cè)試并檢查它是如何對(duì)這些測(cè)試做出反應(yīng)的。但是，由于當(dāng)今設(shè)計(jì)的復(fù)雜性，工程師如何知道設(shè)計(jì)已經(jīng)過全面測(cè)試，發(fā)現(xiàn)了所有的錯(cuò)誤？他們?cè)趺粗浪麄冇袦y(cè)試了芯片的每一種可能用途？一種常見的方法是繼續(xù)手動(dòng)編寫新測(cè)試并運(yùn)行模擬直到工程師停止發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤，但這個(gè)過程很快就變得不可能了。

更好的方法是自動(dòng)化驗(yàn)證過程。自動(dòng)生成功能測(cè)試，數(shù)據(jù)，時(shí)間檢查和功能覆蓋分析有助于工程師發(fā)現(xiàn)他們沒有想到的錯(cuò)誤 - 通常由目標(biāo)系統(tǒng)的規(guī)范和/或意外使用中的模糊引起的錯(cuò)誤。并且適當(dāng)?shù)母采w率指標(biāo)可以快速指出設(shè)計(jì)的哪些部分尚未經(jīng)過測(cè)試。這些指標(biāo)非常重要，因?yàn)樗鼈兲峁┝蓑?yàn)證進(jìn)度和驗(yàn)證效率的視圖。

驗(yàn)證已成為電子設(shè)計(jì)中最關(guān)鍵的瓶頸。它必須立即解決，否則成本合計(jì)的電子系統(tǒng)將會(huì)飆升。這只能通過自動(dòng)化驗(yàn)證過程來實(shí)現(xiàn)。自動(dòng)化將對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行更全面的測(cè)試，從而創(chuàng)建更高質(zhì)量的產(chǎn)品，并且它可以比目前使用的任何手動(dòng)過程更快地實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)。