據麥姆斯咨詢報道,近日,半導體測試系統與探針卡知名廠商思達科技宣布推出牡羊座Aries Optima MEMS探針卡,這是全球首款應用在大量制造的微間距大電流MEMS垂直探針卡。Aries Optima是MEMS探針卡技術的最新巔峰,不僅制訂新標準,滿足了晶圓級測試的新需求,且進而促使思達科技成為MEMS探針卡技術的市場領導供應商。
Aries Optima全球首款應用在大量制造的微間距大電流MEMS垂直探針卡
十多年來,思達科技致力在開發以及部署高價值的垂直探針技術,研發了一套系統和方法,以快速適應市場興起的需求。思達科技在過去20年間定期推出新產品,滿足不斷變化、各方面的市場需求,持續實現對于半導體測試行業的承諾,包括增進測試效率、降低測試成本,以及測試精度的優化、達成最佳市場價值等等。
Aries Optima系列的MEMS垂直探針卡,設計方面除了滿足不斷發展的大電流需求外,探針間距也降至45um,可將投資回報率最大化且減少支出,具有更高的價值。思達擁有批量生產的MEMS探針,負載力為550mA,適用于標準應用;在汽車和高功率方面,則可達700mA、最高至150攝氏度。
根據半導體市調機構VLSI的報告,受惠于景氣回溫,其5G拓展、IT基礎建設等,推升芯片需求持續成長。這些市場因素驅動MEMS技術更加重視生產效率、減少測試時間與成本,市場占有率也正逐漸提高。相較于傳統的Cobra探針,AriesOptima系列穩定的DC和泄漏電流表現,非常適合應用在RF、AP、高功率等等的測試。
思達科技執行長劉俊良博士表示:“Aries Optima探針卡是全球第一張微間距MEMS垂直探針卡,支持大電流測試,同時減少客戶的測試頻率、時間、人力成本等,是下一個世代半導體測試的最佳選擇。”
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原文標題:全球首款量產型微間距大電流MEMS垂直探針卡發布
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