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中國(guó)本土廠商在GaN晶圓廠建設(shè)的腳步不斷提速

lC49_半導(dǎo)體 ? 來源:半導(dǎo)體行業(yè)觀察 ? 作者:瘋狂的芯片 ? 2021-06-23 15:09 ? 次閱讀

目前,在高功率與高頻應(yīng)用領(lǐng)域,氮化鎵(GaN)越來越受到重視,無論是國(guó)際大廠,如Qorvo英飛凌NXP、Cree、日本住友等,還是中國(guó)本土產(chǎn)商,如三安光電、海特高新(海威華芯)、蘇州能訊和英諾賽科等,都在這方面不斷加大投入力度,以求占得市場(chǎng)先機(jī)。

最近,中國(guó)本土廠商在GaN晶圓廠建設(shè)的腳步不斷提速,例如,就在上周,英諾賽科(蘇州)半導(dǎo)體有限公司宣布其8英寸硅基氮化鎵芯片生產(chǎn)線一期第一階段產(chǎn)能擴(kuò)展建設(shè)項(xiàng)目量產(chǎn)。預(yù)計(jì)2021年實(shí)現(xiàn)產(chǎn)能可達(dá)6000片/月。項(xiàng)目全部達(dá)產(chǎn)后預(yù)計(jì)將實(shí)現(xiàn)年產(chǎn)能78萬片8英寸硅基氮化鎵晶圓。據(jù)悉,該項(xiàng)目主要建設(shè)從器件設(shè)計(jì)、驅(qū)動(dòng)IC設(shè)計(jì)開發(fā)、材料制造、器件制備、后段封測(cè)以及模塊加工的全產(chǎn)業(yè)鏈寬禁帶半導(dǎo)體器件制造平臺(tái)。

無獨(dú)有偶,就在不久前的4月份,中國(guó)本土另一家化合物半導(dǎo)體大廠賽微電子發(fā)布了關(guān)于與青州市人民政府簽署《合作協(xié)議》的公告,賽微電子擬在青州經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)發(fā)起投資10億元分期建設(shè)聚能國(guó)際6-8英寸硅基氮化鎵功率器件半導(dǎo)體制造項(xiàng)目,一期建成投產(chǎn)后將形成5000片/月的6-8英寸氮化鎵晶圓生產(chǎn)能力,二期建成投產(chǎn)后將形成12000片/月的6-8英寸氮化鎵晶圓生產(chǎn)能力。

可以看出,以上兩家本土企業(yè)都在大力發(fā)展硅基氮化鎵技術(shù),該技術(shù)也是眾多新興企業(yè)的首選。

硅基氮化鎵是潛力股

目前,在氮化鎵外延片方面,主要有兩種襯底技術(shù),分別是GaN-on-Si(硅基氮化鎵)和GaN-on-SiC(碳化硅基氮化鎵)。相比較而言,GaN-on-SiC性能相對(duì)較佳,但價(jià)格明顯高于GaN-on-Si。GaN-on-Si的優(yōu)勢(shì)是生長(zhǎng)速度較快,也較容易擴(kuò)展到8英寸晶圓。雖然GaN-on-Si性能略遜于GaN-on-SiC,但目前工藝水平制造的器件已能達(dá)到 LDMOS 原始功率密度的5-8 倍,在高于2GHz的頻率工作時(shí),成本與同等性能的LDMOS 出入不大。另外,硅基技術(shù)也將對(duì)CMOS工藝兼容,使GaN器件與CMOS工藝器件集成在一塊芯片上。這些使得GaN-on-Si成為市場(chǎng)的潛力股,而且主要應(yīng)用于電力電子領(lǐng)域,未來有望大量導(dǎo)入5G基站的功率放大器 (PA)。

由于像Qorvo、Wolfspeed(Cree)等傳統(tǒng)大廠都比較傾向于采用GaN-on-SiC方案,使得該技術(shù)成為了目前市場(chǎng)的主流。但是GaN-on-Si憑借其先天優(yōu)勢(shì),正在被越來越多的廠商采用。

與GaN-on-SiC相比,GaN-on-Si方案最大的優(yōu)勢(shì)就是襯底成本低,也更容易向8英寸大尺寸晶圓轉(zhuǎn)移,以提升成本效益和投入產(chǎn)出比。此外,其與CMOS具有較好的兼容性,可以利用現(xiàn)有硅晶圓代工廠已有的規(guī)模生產(chǎn)優(yōu)勢(shì),實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的規(guī)模量產(chǎn)和快速上市。而從應(yīng)用發(fā)展角度來看,5G通信對(duì)射頻元器件的需求正在快速增加過程中,需要大批量、低成本的GaN射頻芯片,而這也給GaN-on-Si提供了發(fā)展契機(jī)。

具體來看,GaN-on-Si器件工藝能量密度高、可靠性高,晶圓可以做得很大,目前在8英寸,未來可以做到10英寸、12英寸,晶圓的長(zhǎng)度可以拉長(zhǎng)至2米。GaN-on-Si器件具有擊穿電壓高、導(dǎo)通電阻低、開關(guān)速度快、零反向恢復(fù)電荷、體積小和能耗低、抗輻射等優(yōu)勢(shì)。理論上相同擊穿電壓與導(dǎo)通電阻下的芯片面積僅為硅的千分之一,目前能做到十分之一。

與傳統(tǒng)LDMOS工藝相比,GaN-on-Si的性能優(yōu)勢(shì)很明顯,它可提供超過70%的功率效率,將每單位面積的功率提高4到6倍,并且可擴(kuò)展至高頻率。同時(shí),綜合測(cè)試數(shù)據(jù)已證實(shí),GaN-on-Si符合嚴(yán)格的可靠性要求,其射頻性能和可靠性可媲美甚至超越GaN-on-SiC。

GaN既可以用于基站,也可以用于手機(jī)當(dāng)中,目前來看,Macom, Ommic、三安光電,英諾賽科等廠商在重點(diǎn)研發(fā)基站用GaN-on-Si射頻和功率芯片(包括Sub-6GHz和毫米波兩大頻段);而在手機(jī)等終端應(yīng)用方面,臺(tái)積電,英特爾、格芯和意法半導(dǎo)體等晶圓大廠正在重點(diǎn)進(jìn)行這方面的GaN-on-Si芯片工藝研發(fā)。

硅基氮化鎵技術(shù)革新

GaN,特別是本文重點(diǎn)關(guān)注的GaN-on-Si技術(shù),在高頻、高功率的應(yīng)用場(chǎng)合才能充分發(fā)揮其效能,而從5G的發(fā)展情況來看,目前處于Sub-6GHz階段,正在向毫米波進(jìn)發(fā),因此,未來不斷壯大的毫米波市場(chǎng),才是GaN-on-Si大施拳腳的地方。

從器件類型來看,毫米波GaN-on-Si晶體管大部分是HEMT(高電子遷移率晶體管),其在器件異質(zhì)結(jié)結(jié)構(gòu)、柵電極、源漏歐姆接觸:、表面鈍化等方面,較之于傳統(tǒng)的硅技術(shù),都有更高的要求。目前,業(yè)界在這方面都取得了進(jìn)展,如采用CMOS兼容工藝制造80nm的GaN-on-Si HEMT等。

然而,GaN-on-Si技術(shù)存在著多種不足和技術(shù)挑戰(zhàn),如熱阻、射頻損耗、應(yīng)力、位錯(cuò)密度和可靠性、大尺寸材料生長(zhǎng)和CMOS兼容工藝制造等,業(yè)界正在努力解決這些問題。

像其他橫向功率器件一樣,硅基氮化鎵HEMT的擊穿電壓隨其柵極到漏極距離的增加而增加,松下公司則利用125μm的柵極到漏極的距離,實(shí)現(xiàn)了超過10kV的擊穿電壓。但是,其襯底不是硅,而是藍(lán)寶石。

此外,麻省理工學(xué)院團(tuán)隊(duì)將GaN HEMT外延層從硅襯底轉(zhuǎn)移到玻璃上,以試圖提高橫向器件的擊穿電壓,從大約600V增加到了1.5kV,實(shí)驗(yàn)證明硅襯底是導(dǎo)致柵極到漏極距離超過一定值的HEMT擊穿電壓飽和的根本原因。但是,改用玻璃不是一個(gè)很好的解決方案,玻璃的導(dǎo)熱系數(shù)很低,并且與硅CMOS代工廠不兼容。Imec的一個(gè)研究小組則通過局部去除硅襯底獲得了成功,實(shí)現(xiàn)了3kV的擊穿電壓。

另外,為了避免與使用玻璃或去除襯底相關(guān)的問題,新加坡-麻省理工學(xué)院研究與技術(shù)聯(lián)盟,南洋理工大學(xué)和麻省理工學(xué)院的團(tuán)隊(duì)使用硅上絕緣體上氮化鎵(GaN-on-insulator (GNOI)-onsilicon),通過使用晶圓鍵合在硅襯底和器件層之間插入附加的絕緣體,避免了對(duì)厚GaN外延層的需求。這種方法具有許多優(yōu)勢(shì),例如:可以去除因?yàn)樵S多位錯(cuò)和較差的導(dǎo)熱性而使性能受限的原始過渡層,從而提高器件的可靠性和散熱能力;在高溫GaN生長(zhǎng)之后,可以用一種具有良好硬度的新襯底替換原來的易碎硅襯底,這樣可以降低晶圓通過產(chǎn)線時(shí)破裂的可能性,提高了良率。

下面看一下異構(gòu)集成。在與CMOS工藝集成方面,GaN-on-Si具備先天優(yōu)勢(shì)。原因自然是因?yàn)橐r底都是硅,具體不在此贅述。

然而,在異構(gòu)集成方面,GaN-on-Si同樣存在著技術(shù)挑戰(zhàn),如熱兼容性問題(GaN微波、毫米波電路發(fā)熱量高,會(huì)引起周圍Si-CMOS器件的閾值電壓漂移、漏電增大等問題),電磁兼容性問題(GaN電路工作時(shí)的偏壓比較大,電場(chǎng)耦合到CMOS區(qū)域,以及射頻電路工作時(shí)的電磁場(chǎng)分布效應(yīng)、電磁波輻射等),以及工藝兼容性問題和可靠性問題。

目前,業(yè)界正在進(jìn)行著GaN-on-Si與CMOS集成工藝流程開發(fā)工作,以解決以上難題。如開發(fā)8英寸GaN與硅CMOS晶圓鍵合技術(shù);解決GaN和硅CMOS器件和電路制造流程中的工藝兼容問題,包括GaN大晶圓翹曲、易碎、金屬污染、高溫退火退化等挑戰(zhàn);開發(fā)出了GaN-on-Si CMOS單片集成工藝流程,以及GaN器件的模型和PDK等。

結(jié)語

GaN在高頻(毫米波)射頻和功率應(yīng)用中的前景廣闊,而GaN-on-Si憑借其低成本,易于集成等優(yōu)點(diǎn),具有很大的發(fā)展?jié)摿Α6谥袊?guó)本土,GaN-on-Si則更受歡迎,依托這一巨大市場(chǎng),相信該技術(shù)在不久的將來必定會(huì)結(jié)出豐碩的果實(shí)。

責(zé)任編輯:haq

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原文標(biāo)題:中國(guó)企業(yè)發(fā)力,助攻半導(dǎo)體“潛力股”飛升

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