以聲音和文字為核心的數(shù)據(jù)通信時代已經(jīng)過去,我們迎來了海量數(shù)據(jù)流通的5G和大數(shù)據(jù)時代,與之相應(yīng),大容量存儲設(shè)備的重要性與日俱增。因此,閃存在第四次工業(yè)革命的大環(huán)境中占據(jù)一席之地,可以說是時代發(fā)展的必然趨勢。
一直以來,三星以其高性能和高質(zhì)量的產(chǎn)品及解決方案,保持著較為靠前的市場地位。三星于2002年全球范圍內(nèi)實現(xiàn)1Gb(千兆比特)NAND閃存量產(chǎn),在全球閃存市場有著極高占有率,又于2013年實現(xiàn)3D V-NAND閃存量產(chǎn),再次譜寫新的歷史。
化局限為機(jī)會!
超越精微局限,開啟3D存儲芯片時代
▲ 三星的1Gb NAND閃存(左),2Gb NAND閃存(右)
憑借先進(jìn)的技術(shù),三星于上世紀(jì)90年代不斷強(qiáng)化其在DRAM存儲市場上的影響力,2000年以來又開始在閃存領(lǐng)域陸續(xù)取得成果。繼1999年開發(fā)出1Gb NAND閃存以來,三星分別于2002年開發(fā)出2Gb,2003年開發(fā)出4Gb,2004年開發(fā)出8Gb,2005年開發(fā)出16Gb, 2006年開發(fā)出32Gb, 2007年開發(fā)出64Gb閃存,不斷提升容量。
※CTF(Charge Trap Flash) :將多孔(Trap)氮化物(N)作為絕緣體,在孔內(nèi)填入電荷來區(qū)分0與1的方式。用絕緣體氮化物替代原本導(dǎo)體浮柵的存儲方式,從根源上杜絕鄰近單元間的串?dāng)_問題。 與此同時,三星在微電子工程的地位也得到強(qiáng)化。其分別于2002年成功開發(fā)出90納米,2003年開發(fā)70納米,2005年開發(fā)50納米,2006年開發(fā)40納米,2007年甚至突破當(dāng)時公認(rèn)的技術(shù)局限,成功開發(fā)出30納米級別的芯片。
▲ 浮柵技術(shù)、CTF技術(shù)和3D V-NAND技術(shù)對比
一方面,三星于2006年突破了普遍應(yīng)用的浮柵技術(shù)的局限,開創(chuàng)CTF(Charge Trap Flash) NAND技術(shù),實現(xiàn)40nm 32Gb NAND閃存的商用化。
然而隨著精微化和量化程度的提升,CTF NAND技術(shù)也遭遇了其技術(shù)瓶頸。自引入10nm級別制程的128Gb閃存問世以來,存儲數(shù)據(jù)的單元越來越小,相鄰單元的間隔也越來越小,因電子遷移而引起的干涉現(xiàn)象也變得日益嚴(yán)重。
▲ 三星于2013年實現(xiàn)量產(chǎn)3D V-NAND閃存
為解決這一問題,三星于2013年8月量產(chǎn)3D垂直閃存,突破了芯片精微技術(shù)的局限。自此,3D集成技術(shù)得以商用,存儲芯片從平面過渡到立體,拉開了3D立體芯片時代的序幕,這在當(dāng)時成為了震撼全球的熱點新聞。
與此前的平面NAND相比,應(yīng)用了三星獨家技術(shù)“3D圓柱形CTF(3D Charge Trap Flash)單元結(jié)構(gòu)”和“3D垂直疊層工程技術(shù)”的V-NAND,具有速度更快、耗電更低、耐久度更強(qiáng)的三重優(yōu)勢,可以對控制閥門中存儲的電荷實現(xiàn)更為高效穩(wěn)定的管理。不同于在平面上制造精微電路并水平排布單元的平面閃存,3D垂直閃存的結(jié)構(gòu)是在豎直方向進(jìn)行單元疊層的方式。這可以看作是三星通過單元結(jié)構(gòu)和工程創(chuàng)新,來突破存儲集成度限制的三星NAND閃存技術(shù)的結(jié)晶。此后在太字節(jié)(TB)時代中占據(jù)主導(dǎo)地位的大容量閃存量產(chǎn)技術(shù),也就此得到保障,從這一點來說,這項技術(shù)也有著重大的意義。
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