作者：Ian Williams

如果您一直關(guān)注本博客，很有可會(huì)知道 TI Designs — precision，這是我們針對(duì)高精度應(yīng)用的高質(zhì)量參考設(shè)計(jì)庫(kù)。在“TI Designs — precision”主頁(yè)上，您首先會(huì)看到一張圖片，顯示這些設(shè)計(jì)的三個(gè)層面：參考、驗(yàn)證和 TI 認(rèn)證 （CerTIfied）。前兩個(gè)層面“參考”與“驗(yàn)證”很好理解，因?yàn)榇蟛糠?a target="_blank">工程師每天都在跟仿真、原理圖及工作臺(tái)測(cè)量打交道。但“TI 認(rèn)證（CerTIfied）”有點(diǎn)難懂。

為什么要進(jìn)行認(rèn)證測(cè)試，誰(shuí)來(lái)執(zhí)行測(cè)試，以及通過(guò)或不通過(guò)由什么決定？

最重要的是，為什么單詞中間有個(gè)有趣的大寫(xiě)“TI”？我將在今天的博客中說(shuō)明這些問(wèn)題。在第 2 部分，我將詳細(xì)介紹適用于我們高精度設(shè)計(jì)的最常用測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。

“TI Designs — Presicion”的三個(gè)層面

我們有很多客戶(hù)通常為工業(yè)市場(chǎng)設(shè)計(jì)產(chǎn)品和解決方案。眾所周知，工廠車(chē)間等工業(yè)環(huán)境對(duì)模擬電子產(chǎn)品具有極大的破壞性。安裝在這些環(huán)境中的任何電路都必須非常穩(wěn)健，足以在不明顯影響其性能的情況下，承受極大的瞬態(tài)電壓與電流。在瞬變特別嚴(yán)重的極端情況下，電路非但無(wú)法正常工作，反而還可能會(huì)變成一個(gè)“小火爐”！

— 重大電氣瞬變的后果

電路承受這種瞬態(tài)能量的能力稱(chēng)為電磁兼容性 （EMC）。國(guó)際電工技術(shù)委員會(huì) （IEC） 是一個(gè)促進(jìn)電子電氣標(biāo)準(zhǔn)化國(guó)際合作的全球性組織。該組織制定了一套 EMC 標(biāo)準(zhǔn)，其已成為希望在世界各地開(kāi)展業(yè)務(wù)的制造商必須達(dá)到的要求。如果產(chǎn)品能夠通過(guò)這些標(biāo)準(zhǔn)所指定的測(cè)試，一般認(rèn)為該產(chǎn)品非常穩(wěn)健，足以適應(yīng)最?lèi)毫拥墓I(yè)環(huán)境。這就是 TI 認(rèn)證高精度設(shè)計(jì)的真正價(jià)值所在，這些設(shè)計(jì)中的每一項(xiàng)不僅在幾乎任何環(huán)境下針對(duì)高精度性能進(jìn)行了優(yōu)化，而且還針對(duì)這些 IEC 標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行了測(cè)試。

正在進(jìn)行的 EMC 測(cè)試

由我們的工程師針對(duì) TI 認(rèn)證設(shè)計(jì)所做的這類(lèi)測(cè)試稱(chēng)為“工程設(shè)計(jì)評(píng)估”。這就意味著我們會(huì)作為電路設(shè)計(jì)人員到一個(gè)公認(rèn)的測(cè)試中心（例如 NTS），并在測(cè)試中心技術(shù)人員的協(xié)助下執(zhí)行一系列測(cè)試。雖然測(cè)試中心使用標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)備生成和應(yīng)用各種瞬態(tài)參數(shù)，但我們可以攜帶我們自己的萬(wàn)用表、示波器或任何其它所需的儀器對(duì)測(cè)試過(guò)程中的電路性能進(jìn)行量化。這不同于正式的認(rèn)證測(cè)試，正式的認(rèn)證測(cè)試由第三方執(zhí)行評(píng)估，電路設(shè)計(jì)人員不在場(chǎng)。由于我們目前不執(zhí)行正式測(cè)試流程，因此我們的設(shè)計(jì)稱(chēng)為“TI 認(rèn)證”，而不是“認(rèn)證”。

在工程設(shè)計(jì)評(píng)估中，電路設(shè)計(jì)人員可以定義構(gòu)成通過(guò)或不通過(guò)條件的限值。例如，我們的很多工業(yè)模擬輸出模塊規(guī)定：輸出誤差要小于輸出滿(mǎn)量程范圍 （FSR） 的 0.1%。因此，我們將 0.1%FSR 值作為限值是合理的。一旦確定限值條件，測(cè)試中的設(shè)備就將在經(jīng)歷各種測(cè)試的時(shí)候，表現(xiàn)出四種適當(dāng)行為等級(jí)中的一種，如表 1 所示。A 級(jí)性能是最理想的情況，電路基本上不會(huì)受到瞬變的影響，而 B 級(jí)性能也可以接受。

表 1：EMC 測(cè)試性能等級(jí)

請(qǐng)繼續(xù)關(guān)注第 2 部分，到時(shí)候我們將深入討論大部分相關(guān) IEC 測(cè)試的技術(shù)規(guī)范。