如今,越來(lái)越多的汽車(chē)制造商涉足電動(dòng)汽車(chē) (EV) 開(kāi)發(fā),但是電動(dòng)汽車(chē)的駕程過(guò)短卻始終是個(gè)問(wèn)題。盡管采用空氣動(dòng)力學(xué)設(shè)計(jì)、更輕質(zhì)的材料、更高效的功耗等方法確有成效,但這還遠(yuǎn)遠(yuǎn)不夠。汽車(chē)電力電子設(shè)計(jì)人員還需要使用先進(jìn)的寬帶隙半導(dǎo)體(WBG) 材料來(lái)滿(mǎn)足能效和功率密度要求。
這些材料主要由氮化鎵 (GaN) 和碳化硅 (SiC) 組成,是對(duì)硅(Si) 金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管 (MOSFET) 和絕緣柵雙極晶體管(IGBT) 等現(xiàn)有半導(dǎo)體技術(shù)的改進(jìn)。因而,由這些材料制成的半導(dǎo)體損耗更低、開(kāi)關(guān)頻率更快、工作溫度更高、擊穿電壓更高,并且在惡劣環(huán)境中更堅(jiān)固耐用。隨著汽車(chē)行業(yè)轉(zhuǎn)向使用容量更高、充電時(shí)間更短、總損耗更低,并且可在高電壓下工作的電池,WBG材料變得尤其有用。 本文將簡(jiǎn)要概述WBG技術(shù)及其在汽車(chē)EV電子領(lǐng)域發(fā)揮的作用。此外,還將介紹由ROHM Semiconductor、STMicroelectronics、Transphorm和Infineon Technologies推出的GaN和SiC適宜解決方案,并對(duì)其應(yīng)用予以指導(dǎo)。
WBG半導(dǎo)體的優(yōu)勢(shì)
先來(lái)回顧一下,帶隙是將電子從材料的價(jià)帶激發(fā)躍遷至導(dǎo)帶所需的能量,而WBG材料的帶隙明顯寬于硅(圖1)。Si的帶隙為1.1eV,而SiC的帶隙為3.3eV,GaN則為.4eV。
圖1:Si半導(dǎo)體導(dǎo)帶和價(jià)帶之間的帶隙比SiC和GaN窄,因此后兩者才獲得“寬帶隙半導(dǎo)體”的命名。(圖片來(lái)源:STMicroelectronics)
相比傳統(tǒng)硅半導(dǎo)體,WBG半導(dǎo)體器件可在更高的電壓、頻率和溫度下工作。更重要的是,開(kāi)關(guān)和傳導(dǎo)損耗都更低。WBG材料的導(dǎo)通和開(kāi)關(guān)特性約為Si材料的十倍。這些能力促成了WBG技術(shù)與電力電子技術(shù)的天作之合,特別適用于EV界,原因在于SiC和GaN元器件的尺寸更小、響應(yīng)更快、能效更高。
然而,WBG器件雖優(yōu)勢(shì)盡顯,設(shè)計(jì)人員卻不得不將其與制造的復(fù)雜性和大批量生產(chǎn)的高成本進(jìn)行利弊權(quán)衡。盡管WBG元器件的初期成本可能更高昂,但其整體呈下降趨勢(shì),并且通常可降低系統(tǒng)總成本。例如,在EV中使用SiC器件可能會(huì)額外增加數(shù)百美元的前期成本,但由于電池成本和空間要求的降低以及冷卻措施的簡(jiǎn)化(如采用小型散熱器或?qū)α骼鋮s),最終降低了總成本。
SiC應(yīng)用于主逆變器
在EV中控制牽引電機(jī)的牽引逆變器是EV關(guān)鍵系統(tǒng)受益于WBG元器件的范例。逆變器的核心功能是將直流電壓轉(zhuǎn)換為三相交流波形以驅(qū)動(dòng)EV電機(jī),然后將再生制動(dòng)產(chǎn)生的交流電壓轉(zhuǎn)換回直流電壓來(lái)為電池充電。由于逆變器將存儲(chǔ)在電池組中的能量轉(zhuǎn)換為交流以驅(qū)動(dòng)電機(jī),因而能量轉(zhuǎn)換損失越低,系統(tǒng)能效越高。與硅相比,SiC器件的電導(dǎo)率更大、開(kāi)關(guān)頻率更快,從而功耗更低,因?yàn)橐詿崃啃问綋p失的能量更少。最終,SiC逆變器能效更高,從而體現(xiàn)為EV的里程更遠(yuǎn)。
大電流功率模塊通常采用IGBT類(lèi)型,將Si IGBT與Si快速恢復(fù)二極管 (FRD) 相結(jié)合,是汽車(chē)逆變器模塊的常用配置。然而,與現(xiàn)有的SiIGBT器件相比,SiC器件的工作溫度更高、開(kāi)關(guān)速度更快。這些功能無(wú)疑使其成為是牽引逆變器的最佳選擇,因?yàn)闋恳孀兤餍枰獋鬏敶罅磕芰苛魅牒土鞒鲭姵亍?/p>
原因如下:由于IGBT是開(kāi)關(guān)元件,開(kāi)關(guān)速度(導(dǎo)通時(shí)間、關(guān)斷時(shí)間)是影響能效(損耗)的關(guān)鍵參數(shù)之一。對(duì)于IGBT而言,可實(shí)現(xiàn)高擊穿電壓下的低電阻卻得以犧牲開(kāi)關(guān)性能為代價(jià);器件關(guān)斷期間存在“耗散時(shí)間”,而這會(huì)增加開(kāi)關(guān)損耗。因此IGBT的能效相對(duì)較低。若逆變器模塊用MOSFET替代IGBT,則可以實(shí)現(xiàn)更高的能效,因?yàn)镸OSFET的關(guān)斷時(shí)間更短、工作頻率更高。然而,Si MOSFET也存在問(wèn)題,其“導(dǎo)通”電阻大于Si IGBT。
SiC MOSFET則充分利用了SiC的有利特性,芯片尺寸幾乎只有IGBT的一半,同時(shí)具備電源開(kāi)關(guān)的四個(gè)理想特性:
高電壓
低導(dǎo)通電阻
開(kāi)關(guān)速度快
低開(kāi)關(guān)損耗(特別是關(guān)斷損耗)
此外,帶隙更寬意味著SiC器件一般工作溫度范圍為150℃至175℃,若封裝恰當(dāng)即可達(dá)到200℃或更高。
對(duì)于SiC肖特基勢(shì)壘二極管 (SBD),在SiC SBD中會(huì)利用SiC半導(dǎo)體-金屬結(jié)形成肖特基勢(shì)壘。但與硅FRD不同,在電流和工作溫度范圍較寬的情況下,SiC SBD的優(yōu)勢(shì)也不會(huì)發(fā)生顯著變化。另外SiC元器件的介電擊穿場(chǎng)也是硅器件的十倍。因此,目前額定電壓1200V的SiC產(chǎn)品正投入大規(guī)模生產(chǎn),成本相應(yīng)下降。此外,額定電壓1700V的產(chǎn)品正在開(kāi)發(fā)中。
SiC二極管也沒(méi)有正向和反向恢復(fù)損耗,只是少量的電容充電損耗。研究表明,SiC SBD的開(kāi)關(guān)損耗比Si快恢復(fù)二極管降低90%,后者的結(jié)溫會(huì)影響恢復(fù)電流和恢復(fù)時(shí)間。因此,與Si二極管相比,SiC二極管的品質(zhì)因數(shù) (FoM) (Qc x Vf) 相當(dāng)?shù)汀oM較低意味著功耗較低,因而電氣性能更出色。
碳化硅材料存在一些缺點(diǎn)。其中之一便是熱系數(shù)為正值,即溫度越高,正向電壓 (Vf) 越高。通過(guò)二極管的電流越大,正向電壓也就越大。二極管承受大電流時(shí),這種傳導(dǎo)損耗會(huì)導(dǎo)致熱擊穿。
然而,結(jié)合SiC MOSFET與SBD使系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員能夠提高能效,降低散熱器的尺寸和成本,提高開(kāi)關(guān)頻率以減小磁性元件尺寸,從而降低最終設(shè)計(jì)成本,縮減尺寸和重量。相比Si基器件,使用SiC器件的EV逆變器可以小5倍、輕3倍,功耗降低50%。
例如,ROHM Semiconductor開(kāi)發(fā)的BSM300D12P2E001半橋SiC功率模塊,將SiC MOSFET與SiC SBD集成封裝,最大限度地降低了先前由IGBT尾電流和FRD恢復(fù)損耗引起的開(kāi)關(guān)損耗
與IGBT相比,ROHM Semiconductor的SiC基MOSFET損耗明顯降低了73%。該公司推出的MOSFET系列耐壓高達(dá)1700V,導(dǎo)通電阻范圍為45m?至1150m?,采用TO-247N、TO-3PFM、TO-268-L和TO-220封裝。
此外,ROHM推出的SiC肖特基勢(shì)壘二極管通過(guò)了AEC-Q101汽車(chē)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)鑒定。該器件恢復(fù)時(shí)間短、開(kāi)關(guān)速度快、溫度依賴(lài)性小、正向電壓低,可耐壓650V,電流范圍為6至20A。
SiC器件在EV應(yīng)用中發(fā)揮的作用
作為首家主逆變器集成全SiC功率模塊的電動(dòng)汽車(chē)制造商,特斯拉 (Tesla) 在特斯拉3型轎車(chē)中采用了這項(xiàng)技術(shù)。S型和X型等此前特斯拉車(chē)型,均采用TO-247封裝的IGBT。特斯拉與STMicroelectronics合作,將SiC功率模塊組裝在逆變器的散熱器上。與STMicroelectronics的SCT10N120一樣,這款MOSFET額定電壓為650V,采用銅基板進(jìn)行散熱。
EV的充電設(shè)備在工廠已安裝就緒,稱(chēng)為“車(chē)載充電器”(OBC)。通過(guò)家中或個(gè)人/公共充電站的插座,EV或插電式混合動(dòng)力EV(PHEV) 的OBC即可利用交流電源為電池充電。OBC使用AC/DC轉(zhuǎn)換器將50/60Hz的交流電壓(100至240V)轉(zhuǎn)換為直流電壓,為高壓牽引電池充電(通常約為400V直流電)。此外,還可根據(jù)電池要求調(diào)整直流電平,提供電流隔離和AC/DC功率因數(shù)校正(PFC)(圖3)。
圖3:例如典型EV OBC應(yīng)用中,SiC二極管可作為升壓二極管用于PFC級(jí),或與N溝道IGBT并聯(lián)構(gòu)成圖騰柱PFC。(圖片來(lái)源:InfineonTechnologies)
GaN憑借高能效廣受青睞
OBC的設(shè)計(jì)要求最大限度地提高能效和可靠性以確保快速充電,同時(shí)滿(mǎn)足EV制造商對(duì)空間和重量的限制要求。使用GaN技術(shù)的OBC設(shè)計(jì)可以簡(jiǎn)化EV冷卻系統(tǒng),縮短充電時(shí)間,降低功耗。在汽車(chē)市場(chǎng)份額方面,商用GaN功率器件較SiC器件略微遜色,而如今卻憑借其出色的性能而迅速搶灘。與SiC器件一樣,GaN器件的開(kāi)關(guān)損耗更低、開(kāi)關(guān)速度更快、功率密度更高,并且能夠縮減系統(tǒng)尺寸和重量,降低總成本。
例如,Transphorm的TP65H035WSQA通過(guò)了AEC-Q101汽車(chē)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)鑒定。這款GaN FET在鑒定測(cè)試時(shí)的溫度高達(dá)175℃(圖4)。該器件采用標(biāo)準(zhǔn)TO-247封裝,導(dǎo)通電阻典型值為35m?。與其前代產(chǎn)品49m?的第II代TPH3205WSBQA一樣,該器件適用于插電式混合動(dòng)力電動(dòng)汽車(chē)和電池EV的AC/DC OBC、DC/DC轉(zhuǎn)換器和DC/AC逆變器系統(tǒng),進(jìn)而實(shí)現(xiàn)AC/DC圖騰柱無(wú)橋PFC設(shè)計(jì)。
雖然Si MOSFET的最大額定dV/dt典型值為50V/ns,但TP65H035WS GaN FET的切換dV/dt為100V/ns或更高,從而最大限度地降低開(kāi)關(guān)損耗。在這種情況下,甚至連布局也會(huì)嚴(yán)重影響系統(tǒng)性能。布局時(shí),推薦最大限度地簡(jiǎn)化柵極驅(qū)動(dòng)回路,縮短開(kāi)關(guān)節(jié)點(diǎn)之間的印制線(xiàn)長(zhǎng)度,以實(shí)用的最短返回走線(xiàn)將電源總線(xiàn)接地。電源接地平面的橫截面積要大,從而實(shí)現(xiàn)整個(gè)電路的接地電位均勻。布局時(shí)務(wù)必將電源地和IC(小信號(hào))地分開(kāi),兩者僅在FET的源極引腳連接,以此避免任何可能的接地回路。
Infineon的AIDW20S65C5XKSA1是該公司第五代CoolSiC汽車(chē)肖特基二極管系列產(chǎn)品之一,同樣是為混合動(dòng)力和電動(dòng)汽車(chē)的OBC應(yīng)用而開(kāi)發(fā),是該公司IGBT和CoolMOS產(chǎn)品系列的補(bǔ)充,可滿(mǎn)足650V級(jí)汽車(chē)應(yīng)用的要求。
得益于全新的鈍化層概念,此產(chǎn)品成為市場(chǎng)上最耐用的汽車(chē)器件之一,具有耐濕性和耐腐蝕性。該器件基于110μm薄晶圓技術(shù),因此在同類(lèi)產(chǎn)品中FoM表現(xiàn)突出,這體現(xiàn)為更低的功耗,從而實(shí)現(xiàn)更出色的電氣性能。
與傳統(tǒng)的Si FRD相比,Infineon的CoolSiC汽車(chē)肖特基二極管在所有負(fù)載條件下均可將 OBC 能效提高一個(gè)百分點(diǎn)。
使用SiC和GaN器件
除了上述的精心布局外,SiC元器件的另一個(gè)潛在問(wèn)題在于驅(qū)動(dòng)要求與IGBT器件截然不同。雖然大多數(shù)晶體管的驅(qū)動(dòng)通常使用對(duì)稱(chēng)電源軌(如±5V),但SiC器件需要較小的負(fù)電壓以確保完全關(guān)斷,因此需要不對(duì)稱(chēng)的電源軌(如-1V至-20V)。
此外,雖然SiC具有出色的散熱特性,與硅相比導(dǎo)熱特性亦出類(lèi)拔萃,但是SiC元器件常使用為Si器件設(shè)計(jì)的封裝,例如芯片鍵合和引線(xiàn)鍵合。雖然這種封裝方法與SiC配合良好,但僅適用于低頻電路(數(shù)十千赫)。一旦應(yīng)用于高頻電路,寄生電容和電感就會(huì)相應(yīng)增大,從而阻礙基于SiC器件充分發(fā)揮全部潛力。
同樣,要充分利用GaN器件的優(yōu)勢(shì),封裝就必須具有極低的寄生電感和出色的熱性能。嵌入式芯片封裝(類(lèi)似于多層印刷電路板)等全新封裝方法,以低成本實(shí)現(xiàn)了所需的性能,同時(shí)還消除了引線(xiàn)鍵合以避免器件自身的可靠性問(wèn)題。
柵極驅(qū)動(dòng)器這一關(guān)鍵元件主要用作控制器與功率器件之間的接口。對(duì)于采用新器件的電子設(shè)計(jì)人員而言,柵極驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)始終是個(gè)難題,因此了解SiC和GaN功率器件的驅(qū)動(dòng)方式就顯得尤為重要。具體要求是:
供電電壓高,通過(guò)低傳導(dǎo)損耗實(shí)現(xiàn)高能效
驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度高,實(shí)現(xiàn)低開(kāi)關(guān)損耗
快速短路保護(hù)
傳播延遲和變化較小,實(shí)現(xiàn)高能效和快速系統(tǒng)控制
dv/dt抗擾度高
部分早期的GaN器件需要特殊的驅(qū)動(dòng)器來(lái)防止柵極過(guò)壓。目前市面上推出具有大Vg容差的新一代E-HEMT,只需改變柵極電壓,即可由許多標(biāo)準(zhǔn)MOSFET驅(qū)動(dòng)器來(lái)驅(qū)動(dòng)。GaN FET是橫向器件,因此所需的最佳驅(qū)動(dòng)電壓相對(duì)較低。總而言之,GaN器件的柵極驅(qū)動(dòng)要求與SiMOSFET和IGBT類(lèi)似。具體要求包括:
柵極電荷較低 - 驅(qū)動(dòng)損耗較低,上升和下降時(shí)間較短
柵極電壓較低
負(fù)電壓以提高柵極驅(qū)動(dòng)的穩(wěn)健性
使用柵極電阻以控制壓擺率
其優(yōu)勢(shì)在于,許多SiC和GaN解決方案供應(yīng)商都在封裝內(nèi)添加了其他電子元件,因此可以直接替代當(dāng)前的設(shè)計(jì)。
總結(jié)
為了滿(mǎn)足逆變器和車(chē)載充電器等EV系統(tǒng)的能效和功率密度要求,汽車(chē)電力電子設(shè)計(jì)人員現(xiàn)在可以使用更先進(jìn)的WBG半導(dǎo)體,如SiC和GaN。與傳統(tǒng)硅器件相比,WBG半導(dǎo)體的損耗更低、開(kāi)關(guān)頻率更快、工作溫度更高、擊穿電壓更高,并且在惡劣環(huán)境中更堅(jiān)固耐用。
GaN和SiC可在更高的溫度下工作,預(yù)期使用壽命卻與Si器件無(wú)異;或是在同等溫度下工作,使用壽命卻更長(zhǎng)。這為設(shè)計(jì)工程師提供了不同的設(shè)計(jì)方案,具體取決于應(yīng)用要求。
此外,使用WBG材料讓設(shè)計(jì)人員能夠從多種策略中選擇適合設(shè)計(jì)目標(biāo)的方案:使用相同的開(kāi)關(guān)頻率,提高輸出功率;使用相同的開(kāi)關(guān)頻率,降低系統(tǒng)的散熱要求和總成本;或者提高開(kāi)關(guān)頻率,但保持相同的開(kāi)關(guān)功耗。
編輯:jq
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原文標(biāo)題:SiC和GaN功率器件為何能夠在電子界唱主角?原因在此
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