SI522 是應(yīng)用于13.56MHz 非接觸式通信中高集成度讀寫卡系列芯片中的一員。是NXP 公司針對(duì)"三表"應(yīng)用推出的一款低 電壓、低成本、體積小的非接觸式讀寫卡芯片，是智能儀表和便攜 式手持設(shè)備研發(fā)的較好選擇。

SI522利用了先進(jìn)的調(diào)制和解調(diào)概念，完全集成了在13.56MHz 下所有類型的被動(dòng)非接觸式通信方式和協(xié)議。支持 ISO14443A 的多層應(yīng)用。其內(nèi)部發(fā)送器部分可驅(qū)動(dòng)讀寫器天線與ISO 14443A/MIFARE卡和應(yīng)答機(jī)的通信，無需其它的電路。接收器部分提供一個(gè)堅(jiān)固而有效的解調(diào)和解碼電路，用于處理ISO14443A 兼容的應(yīng)答器信號(hào)。數(shù)字部分處理ISO14443A 幀和錯(cuò)誤檢測(cè)(奇偶 &CRC)。此外，它還支持快速CRYPTO1 加密算法，用于驗(yàn)證MIFARE 系列產(chǎn)品。MFRC522 支持MIFARE?更高速的非接觸式通信，雙向數(shù)據(jù)傳輸速率高達(dá)424kbit/s。

作為13.56MHz 高集成度讀寫卡系列芯片家族的新成員，MF RC522 與MF RC500和 MF RC530 有不少相似之處，同時(shí)也具備諸多特點(diǎn)和差異。它與主機(jī)間的通信采用連線較少的串行通信，且可根據(jù)不同的用戶需求，選取SPI、I2C 或串行UART(類似RS232)模式之一，有利于減少連線，縮小PCB 板體積，降低成本。

特性

◆高集成度的調(diào)制解調(diào)電路;

◆采用少量外部器件，即可將輸出驅(qū)動(dòng)級(jí)接至天線;

◆支持 ISO/IEC 14443 TypeA 和MIFARE?通信協(xié)議;

◆ 讀寫器模式中與 ISO 14443A/MIFARE?的通信距離高達(dá)50mm，取決于天線的長(zhǎng)度和調(diào)諧。

◆支持 ISO 14443 212kbit/s 和424kbit/s 的更高傳輸速率的通信。

◆支持 MIFARE? Classic 加密;

◆支持的主機(jī)接口:

-10Mbit/s 的SPI 接口

-I2C 接口，快速模式的速率為400kbit/s，高速模式的速率為3400kbit/s

-串行UART，傳輸速率高達(dá)1228.8kbit/s，幀取決于RS232 接口，電壓電平取決于提供的管腳電壓

◆64 字節(jié)的發(fā)送和接收FIFO 緩沖區(qū);

◆靈活的中斷模式;

◆可編程定時(shí)器。

◆具備硬件掉電、軟件掉電和發(fā)送器掉電 3 種節(jié)電模式，前兩種模式雷同于MFRC500 和 CL RC400，其特有的"發(fā)送器掉電"則可關(guān)閉內(nèi)部天線驅(qū)動(dòng)器，即關(guān)閉RF 場(chǎng);

◆內(nèi)置溫度傳感器，以便在芯片溫度過高時(shí)自動(dòng)停止 RF 發(fā)射;

◆采用相互獨(dú)立的多組電源供電，以避免模塊間的相互干擾，提高工作的穩(wěn)定性;

◆具備 CRC 和奇偶校驗(yàn)功能，CRC 協(xié)處理器的16 位長(zhǎng)CRC 計(jì)算多項(xiàng)式固定為:x16+x12+x5+1，符合ISO/1EC14443 和CCTITT 協(xié)議;

◆內(nèi)部振蕩器，連接 27.12MHz 的晶體;

◆2.5~3.3V 的低電壓低功耗設(shè)計(jì);

◆工作溫度范圍-30~+85℃;

◆5mm×5mm×0.85mm 的超小體積

同時(shí)還推出另外幾顆同類型給與參考：

(1) Si522A/Si523/Si512不需要使用軟復(fù)位來清除timer中斷,改為自動(dòng)清除(Si522使用軟復(fù)位來清楚timer中斷)

(2) Si522A/Si523/Si512的ACD喚醒距寫在相同硬件環(huán)境下,相比Si522檢測(cè)距離提升1-2cm.

(3) Si522A/Si523/Si512新增了前N次檢卡不產(chǎn)生中斷功能,可以有效避免外界環(huán)境導(dǎo)致的誤觸發(fā)現(xiàn)象.

(4) Si522A/Si523/Si512新增連喚醒失敗監(jiān)測(cè)功能,可以有效避免因?yàn)榫д駸o法正常起振導(dǎo)致芯片不能正常工作的現(xiàn)象。

(5)Si522A/Si523/Si512新增了檢卡時(shí)RF值過低監(jiān)測(cè)功能,可以在進(jìn)入ACD模式后檢測(cè)讀卡是否過低，避免因此而導(dǎo)致的無法正常檢卡和讀卡問題。

(6) Si522A/Si523/Si512新增了檢測(cè)外部RF場(chǎng)功能,可以在進(jìn)入ACD模式后檢測(cè)外部的RF,用于確認(rèn)有無外部RF靠近。

審核編輯：湯梓紅