干涉儀是很廣泛的一類(lèi)實(shí)驗(yàn)技術(shù)的總稱(chēng), 其思想在于利用波的疊加性來(lái)獲取波的相位信息, 從而獲得實(shí)驗(yàn)所關(guān)心的物理量。
干涉儀在天文學(xué)、光學(xué)、工程測(cè)量、海洋學(xué)、地震學(xué)、波譜分析、量子物理實(shí)驗(yàn)、遙感、雷達(dá)等等精密測(cè)量領(lǐng)域都有廣泛應(yīng)用。
干涉儀的分類(lèi)有不同分法:
(1)按照結(jié)構(gòu)區(qū)分
可以分為單路徑干涉儀和多路徑干涉儀兩類(lèi), 其差異在于干涉的波是否通過(guò)同一路徑傳播。例如邁克爾遜干涉儀就是常見(jiàn)的多路徑干涉儀, 而Sagnac干涉儀, 等傾干涉和等厚干涉等即為單路徑干涉儀。
(2)按照干涉光來(lái)源區(qū)分
干涉儀可以分成波前分解和幅度分解兩類(lèi), 其差異在于是否利用波前上不同位置的子波源形成干涉。例如楊氏雙縫干涉即屬于波前分解干涉儀而等傾干涉和等厚干涉即為幅度分解干涉儀。
分享幾個(gè)干涉儀的視頻,細(xì)節(jié)以后分期介紹。
(1)法布里-佩羅干涉儀
(2)邁克耳孫干涉儀
(3)馬赫-曾德?tīng)柛缮鎯x
(4)賽格尼克效應(yīng)
審核編輯:劉清
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原文標(biāo)題:干涉儀(FP、Michelson、MZ、Sagnac)
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摘要
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建模任務(wù)
由于組件傾斜引起的干涉條紋
由于偏移傾斜引起的干涉條紋
**文件信息
**
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