DS2780電流測(cè)量失調(diào)誤差與電路板布局密切相關(guān)。測(cè)量電路的總環(huán)路面積應(yīng)最小化，以限制電感對(duì)測(cè)量失調(diào)的影響。

介紹

與任何庫(kù)侖計(jì)數(shù)IC一樣，正確的電路板布局對(duì)于在測(cè)量電流時(shí)保持精度非常重要。DS2780補(bǔ)償與增益相關(guān)的電流測(cè)量誤差，但不能補(bǔ)償失調(diào)誤差。為了將電流測(cè)量失調(diào)誤差降至最低，Dallas Semiconductor建議使用DS2780的電路設(shè)計(jì)人員遵循本應(yīng)用筆記中的布局建議。

應(yīng)用電路

由于電池組的尺寸限制，元件通常僅安裝在PCB的一側(cè)。此外，較窄的PCB寬度通常會(huì)限制TSSOP8封裝（如DS2780）只能使用與PCB長(zhǎng)度對(duì)齊的封裝引線進(jìn)行安裝。這嚴(yán)重限制了元件安裝選項(xiàng)。圖 1 顯示了 SNS 和 VSS 跟蹤的理想布局。檢測(cè)電阻應(yīng)盡可能靠近IC放置，VSS和SNS之間的環(huán)路面積應(yīng)保持在絕對(duì)最小值，以盡量減少走線之間的雜散電感。有時(shí)這無(wú)法在單個(gè)PCB平面上完成。圖 2 顯示了必須通過(guò)單獨(dú)的平面路由 VSS 和 SNS 時(shí)的最佳布局。未能限制PCB電感會(huì)產(chǎn)生大于數(shù)據(jù)手冊(cè)規(guī)格的A/D失調(diào)誤差。

圖1.正確的電路板布局，以最大限度地降低電流失調(diào)誤差。

圖2.在多個(gè)平面上正確的電路板布局。

總結(jié)

DS2780無(wú)法調(diào)整VSS阻抗或VSS電感引起的電流測(cè)量失調(diào)誤差。電路板的設(shè)計(jì)應(yīng)通過(guò)限制VSS和SNS走線之間的閉環(huán)空間來(lái)最大程度地減少這些影響。增益誤差可以通過(guò)軟件調(diào)整來(lái)校正，因此不需要針對(duì)增益精度的特定布局規(guī)則。

審核編輯：郭婷