從2017年Google提出Transformer模型,再到去年ChatGPT的橫空出世,人們對(duì)深度學(xué)習(xí)能力邊界的認(rèn)知一次次被打破,人工智能(AI)似乎正在加速融入我們每個(gè)人的工作和生活。人們不再問(wèn)AI能做什么,而是它不能做什么。從當(dāng)下熱門(mén)的ChatGPT等聊天機(jī)器人到自動(dòng)駕駛汽車(chē),AI已經(jīng)應(yīng)用到我們?nèi)粘I畹姆椒矫婷?。即便?a href="http://www.xsypw.cn/v/tag/137/" target="_blank">芯片設(shè)計(jì)這種過(guò)去視為可能不適用于AI的行業(yè),現(xiàn)在也受益于越來(lái)越智能的AI技術(shù)。
如果AI可以在芯片開(kāi)發(fā)最耗時(shí)和耗力的環(huán)節(jié)助我們一臂之力,讓芯片設(shè)計(jì)更快地一次成功,那將是如何的景象?試想一下,假如我們將AI整合到芯片驗(yàn)證和調(diào)試階段,尤其是在芯片只會(huì)越來(lái)越精密和復(fù)雜的當(dāng)下,又會(huì)帶來(lái)怎樣的變化。
當(dāng)然,應(yīng)用AI的最終目標(biāo)是找出更多錯(cuò)誤,加速實(shí)現(xiàn)驗(yàn)證覆蓋率目標(biāo)。數(shù)字設(shè)計(jì)存在巨大的設(shè)計(jì)狀態(tài)空間,要對(duì)所有這些空間進(jìn)行人工分析,并獲得足夠的可行見(jiàn)解用以改進(jìn)設(shè)計(jì),幾乎是不可能完成的任務(wù)。
但如果AI能在這方面有效發(fā)揮作用,驗(yàn)證開(kāi)發(fā)者就可以專(zhuān)注于發(fā)現(xiàn)和修復(fù)錯(cuò)誤。想想這對(duì)芯片設(shè)計(jì)會(huì)有多大幫助。
芯片設(shè)計(jì)的復(fù)雜性與日俱增,半導(dǎo)體行業(yè)正面臨著一系列重大挑戰(zhàn)。從發(fā)展埃米級(jí)設(shè)計(jì)到Multi-Die集成再到快速節(jié)點(diǎn)遷移,開(kāi)發(fā)者從未如此迫切地希望提高開(kāi)發(fā)效率,尋找創(chuàng)新的解決方案。然而,受限于邏輯和功能問(wèn)題,大多數(shù)片上系統(tǒng)(SoC)都難以避免代價(jià)高昂的重新流片。正因如此,開(kāi)發(fā)者需要盡可能全面地進(jìn)行SoC驗(yàn)證。但是,由于成本和上市時(shí)間方面的壓力,開(kāi)發(fā)者不可能一直反復(fù)運(yùn)行驗(yàn)證和調(diào)試循環(huán)。
芯片的RTL代碼設(shè)計(jì)完成以及設(shè)計(jì)狀態(tài)空間配置就緒后,便可啟動(dòng)驗(yàn)證流程。芯片驗(yàn)證開(kāi)發(fā)者需要逐一檢查這些空間,確保最終的SoC設(shè)計(jì)能夠正常運(yùn)行。覆蓋率收斂的目的是確保整個(gè)設(shè)計(jì)能按預(yù)期的功能正常運(yùn)行。
覆蓋率收斂流程存在三大挑戰(zhàn):
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覆蓋率規(guī)劃。開(kāi)發(fā)者很難確定測(cè)試平臺(tái)的覆蓋率定義中要寫(xiě)哪些內(nèi)容(需要什么類(lèi)型的coverage group,哪里有差距,還需要寫(xiě)些什么等等)。確保實(shí)現(xiàn)100%覆蓋就表示所有的錯(cuò)誤都已找到,這非常重要。
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覆蓋率收斂。開(kāi)發(fā)者很難確定什么測(cè)試用例對(duì)覆蓋最有用。開(kāi)發(fā)者可能要運(yùn)行同一個(gè)測(cè)試用例1000次,才能達(dá)到50%的覆蓋。隨著覆蓋率越來(lái)越接近100%,開(kāi)發(fā)者會(huì)發(fā)現(xiàn),覆蓋剩下的幾個(gè)百分點(diǎn)可能需要幾周時(shí)間才能完成。直接用例是一種有效的覆蓋手段,但要投入大量的人力去開(kāi)發(fā)。
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激勵(lì)開(kāi)發(fā)和根本原因分析。開(kāi)發(fā)者可能會(huì)遇到激勵(lì)本不應(yīng)該執(zhí)行某個(gè)特定配置或錯(cuò)誤的情況?;蛟S激勵(lì)的編寫(xiě)方式導(dǎo)致其根本無(wú)法達(dá)到覆蓋目標(biāo)。
在傳統(tǒng)芯片驗(yàn)證周期中,驗(yàn)證開(kāi)發(fā)者會(huì)設(shè)定一個(gè)目標(biāo)并運(yùn)行其回歸環(huán)境。在此過(guò)程中,開(kāi)發(fā)者會(huì)設(shè)置測(cè)試平臺(tái)來(lái)生成隨機(jī)激勵(lì),從而觀察設(shè)計(jì)的響應(yīng)情況。一個(gè)設(shè)計(jì)運(yùn)行10000到15000條用例十分常見(jiàn),而且驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)往往對(duì)每條測(cè)試用例的ROI沒(méi)什么概念?;貧w的運(yùn)行可能長(zhǎng)達(dá)數(shù)日,并占用寶貴的計(jì)算資源。
在SoC驗(yàn)證周期中,有兩個(gè)迭代循環(huán)占用了大部分的時(shí)間,其一是在運(yùn)行回歸后進(jìn)行故障調(diào)試與錯(cuò)誤修復(fù),其二是覆蓋率收斂(圖1)。這兩項(xiàng)迭代工作都非常耗時(shí),內(nèi)容包括覆蓋率分析、發(fā)現(xiàn)覆蓋漏洞后作出調(diào)整,以及一次又一次的重新再來(lái)。發(fā)現(xiàn)故障后,驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)需要對(duì)故障進(jìn)行分析,在RTL或測(cè)試平臺(tái)中進(jìn)行修改,并重新運(yùn)行回歸,確保這些錯(cuò)誤確實(shí)得到了修復(fù)。同樣,這部分工作也需要迭代循環(huán)。
圖1:典型驗(yàn)證周期中的迭代循環(huán)。
此外,覆蓋率收斂流程最后的收尾工作通常最為棘手。對(duì)整個(gè)流程生成大量數(shù)據(jù)進(jìn)行全面的人工分析是不太可行的,因此團(tuán)隊(duì)一般都需要對(duì)芯片設(shè)計(jì)缺陷的根本原因有更多了解。
迭代循環(huán)有一個(gè)好處是可以從中學(xué)習(xí),因此AI,尤其是機(jī)器學(xué)習(xí)(ML),正好派上用場(chǎng)。如果ML引擎能夠從某些模式中學(xué)習(xí),便能夠完成相應(yīng)工作,比如從測(cè)試平臺(tái)的一行代碼中識(shí)別出可能的錯(cuò)誤。學(xué)到相應(yīng)知識(shí)后,它就能將這種洞察應(yīng)用于未來(lái)的回歸,從而加快覆蓋收斂速度,尤其是隨著系統(tǒng)不斷得到訓(xùn)練,也許還能提高覆蓋水平。
AI在半導(dǎo)體行業(yè)的應(yīng)用已經(jīng)取得了顯著進(jìn)展。新思科技屢獲殊榮的DSO.ai芯片設(shè)計(jì)AI應(yīng)用最近率先實(shí)現(xiàn)了首個(gè)100次生產(chǎn)流片。DSO.ai可以自動(dòng)搜索芯片設(shè)計(jì)大型解決方案空間中的優(yōu)化目標(biāo),有助于提高開(kāi)發(fā)效率并改善芯片的功耗、性能和面積(PPA)。
在驗(yàn)證方面,為了縮短調(diào)試和修復(fù)的周期,新思科技推出了采用回歸調(diào)試自動(dòng)化(RDA)技術(shù)的Verdi自動(dòng)調(diào)試系統(tǒng)等解決方案,為開(kāi)發(fā)者帶來(lái)AI驅(qū)動(dòng)的芯片驗(yàn)證工具。通過(guò)這一功能,開(kāi)發(fā)者可以利用預(yù)測(cè)性分析,讓容易出錯(cuò)的人工流程實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化,更輕松地找到被測(cè)設(shè)計(jì)和測(cè)試平臺(tái)故障的根本原因。更多助力實(shí)現(xiàn)調(diào)試自動(dòng)化的創(chuàng)新方案即將推出,最終將把調(diào)試和修復(fù)循環(huán)變成一個(gè)無(wú)需人工干預(yù)的全自動(dòng)化流程。
這些應(yīng)用僅僅是一個(gè)開(kāi)始,未來(lái)必將會(huì)有更多應(yīng)用。在越來(lái)越多的EDA流程中,愈發(fā)智能的AI技術(shù)有助于開(kāi)發(fā)者提高工作效率,取得更好的成效。例如,AI幫助開(kāi)發(fā)者更好地了解還需要其它哪些覆蓋、越來(lái)越智能的AI技術(shù)有助于最大限度地減少回歸運(yùn)行的時(shí)間和精力,以及AI有助于加快根本原因分析,等等。或許,原本需要長(zhǎng)達(dá)數(shù)日的任務(wù),在AI技術(shù)的幫助下只要幾個(gè)小時(shí)便可完成,節(jié)省下來(lái)的資源就可以用來(lái)開(kāi)發(fā)其它項(xiàng)目,或者完成更多的增值任務(wù)。
我們的世界充斥著各種復(fù)雜問(wèn)題,解決這些問(wèn)題需要更加復(fù)雜的計(jì)算系統(tǒng)來(lái)處理。自動(dòng)化和智能化可以完善開(kāi)發(fā)者的工作,有助于開(kāi)發(fā)者提高工作效率,讓設(shè)計(jì)和驗(yàn)證開(kāi)發(fā)者專(zhuān)注于打造差異化的芯片,推動(dòng)這樣的計(jì)算系統(tǒng)問(wèn)世。如果AI驅(qū)動(dòng)的EDA流程可以承擔(dān)重復(fù)性任務(wù),開(kāi)發(fā)者就有更多精力來(lái)處理錯(cuò)誤修復(fù)并進(jìn)一步推進(jìn)他們的設(shè)計(jì)。從設(shè)計(jì)空間探索到覆蓋率和調(diào)試周期等,AI必將對(duì)諸多領(lǐng)域產(chǎn)生深遠(yuǎn)的影響。
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原文標(biāo)題:AI如何顛覆傳統(tǒng)芯片驗(yàn)證方式?
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