引言:電流檢測電阻有多種形狀和尺寸可供選擇,使用極低值電阻(幾mΩ或以下)時,焊錫的電阻將在檢測元件電阻中占據(jù)很大比例,結(jié)果大幅增加測量誤差。高精度應(yīng)用通常使用四引腳電阻和開爾文連接以減少這種誤差,但是這些專用電阻卻可能十分昂貴。另外在測量大電流時,電阻焊盤的尺寸和設(shè)計在確定檢測精度方面起著關(guān)鍵作用。本節(jié)將描述一種優(yōu)化方案,采用一種標準的低成本雙焊盤檢測電阻(四焊盤布局)以實現(xiàn)高精度開爾文電流檢測。(回顧Resistor-15:檢流電阻的選型和使用)
1.檢流電阻的封裝
2512封裝的常用電流檢測電阻的電阻值最低可達0.5mΩ,其最大功耗可達3W。為了展現(xiàn)最差條件下的誤差,這些試驗采用一個0.5mΩ,精度為1%,3W的電阻,其尺寸和標準4線封裝如圖16-1,圖16-2所示。
圖16-1:2512標準外形尺寸
圖16-2:2512推薦標準四焊盤封裝
2.開爾文連接
對于開爾文檢測,必須將標準雙線封裝焊盤進行拆分。以便為系統(tǒng)電流和檢測電流提供獨立的路徑。圖16-3顯示了此類布局的一個范例:系統(tǒng)電流用紅色箭頭表示的路徑。如果使用一種簡單的雙焊盤布局,則總電阻為:
為了避免增加不必要的電阻,需要把電壓檢測走線正確的連接到檢測電阻焊盤處。系統(tǒng)電流將在上部焊點導致顯著的壓降,但檢測電流則會在下部焊點,壓降可以忽略不計。可見這種焊盤分離方案可以消除測量中的焊點電阻,從而提高系統(tǒng)的總體精度。
圖16-3:常用四焊盤開爾文連接方式
3. 優(yōu)化開爾文封裝
圖16-3所示布局是對標準雙焊盤方案的一種顯著的改進,但是在使用極低值電阻 (0.5mΩ或以下)時,焊盤上檢測點的物理位置以及流經(jīng)電阻的電流對稱性的影響將變得更加顯著,因此檢測點沿著焊盤每延伸一毫米,結(jié)果都會影響有效電阻。使用高精度電流,通過比較五種定制封裝下的壓降,可以確定最佳檢測布局。
下面展示在測試PCB板上構(gòu)建的五種布局模式,分別標記為圖16-4到圖16-8。我們盡可能把走線布局到沿著檢測焊盤延伸的不同位置的測試點,各個電阻封裝為基于2512建議封裝的標準4線電阻(圖16-2),檢測點對(X和Y)位于焊盤外緣和內(nèi)緣(x軸)。
圖16-5類似于圖16-4,但焊盤向內(nèi)延伸較長,以便更好地覆蓋焊盤區(qū),檢測點位于焊盤中心和末端。圖16-6利用焊盤兩側(cè)以提供更對稱的系統(tǒng)電流通路,同時把檢測點移動到更中心的位置,檢測點位于焊盤中心和末端。圖16-7與圖16-6類似,只是系統(tǒng)電流焊盤在最靠里的點接合,只使用了外部檢測點。圖16-8為圖16-4和圖16-5的混合體,系統(tǒng)電流流過較寬的焊盤,檢測電流流過較小的焊盤,檢測點位于焊盤的外緣和內(nèi)緣。
圖16-4:常規(guī)開爾文連接
圖16-5:延展焊盤開爾文連接
圖16-6:中心兩側(cè)連接
圖16-7:中心外側(cè)連接
圖16-8:大-小焊盤連接
測試設(shè)計:使20A的高精電流通過各個電阻,同時使電阻保持在25°C。在加載電流后1秒內(nèi),測量產(chǎn)生的差分電壓,以防止電阻溫度升高1°C以上。同時監(jiān)控各個電阻的溫度,以確保測試結(jié)果均在25°C下測得。電流為20A時,通過0.5mΩ電阻的理想壓降為10mV。表16-1列出了采用上述五種所示檢測焊盤位置測得的數(shù)據(jù):
表16-1:實測數(shù)據(jù)
最后一欄是非開爾文連接檢測,以對比和焊錫電阻相關(guān)的誤差。由于結(jié)果的可比較性以及各電阻偏差都在容限范圍之內(nèi),所以得出圖16-6和圖16-7的誤差最小。圖16-6為首選封裝,因為它不大可能導致與元件放置容限相關(guān)的問題。在每一種情況下,電阻外端的檢測點提供的結(jié)果最準確,這表明這些電阻是制造商根據(jù)電阻的總長度設(shè)計的。注意在未使用開爾文檢測時,焊錫電阻相關(guān)誤差是22%,這相當于約0.144mΩ的電阻。圖16-8展示了不對稱焊盤布局的效應(yīng),回流期間元件通過大量焊錫才能粘接焊盤,應(yīng)避免這種封裝。
4.結(jié)論
根據(jù)前面所示結(jié)果,最佳封裝是圖16-6(如可以高精度SMT,使用圖16-7封裝最好),其預(yù)期測量誤差小于1%。該封裝的建議尺寸如圖16-9所示:
圖16-9:最佳封裝尺寸
檢測走線的布局也會影響測量精度,為了實現(xiàn)最高精度,應(yīng)在電阻邊緣測量檢測電壓。建議采用圖16-10所示通孔布局,把焊盤外邊緣布局到另一層,從而避免切割主電源層。
圖16-10:建議開爾文PCB走線
上述封裝可能并不適用于所有電阻,具體取決于電阻的材質(zhì)和尺寸以及檢測的場景。大封裝,大電流,低阻值的場景推薦使用如圖16-10方式。
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