FA簡稱光纖陣列，是把光纖按照一定的間距排列固定起來形成的光器件，它是光進出光器件的通道。光纖陣列分為單芯光纖陣列（SFA，盡管只有一根光纖，還是被稱為陣列）和多芯光纖陣列（MFA），光纖陣列有常規FA、45°光纖懸出FA、光纖轉90°FA。

45°FA利用端面全反射使光路90°轉角與VCSEL或者PD耦合，這種方法耦合效率高，但苦于45°端面研磨工藝有較大難度，工藝制造成本高，生產良率不高。

光纖轉90°FA通常與硅光芯片中的光柵進行耦合，不過直接對準耦合，會存在一定的角度失配，盡管國內廠商經過這幾年的努力與克服，已有不少廠家能夠批量制造提高良率，但FA耦合面檢測一直是通信行業所關注的熱點話題。

OLI光纖微裂紋檢測儀

FA耦合一般都是在一些很小的尺寸里面，例如光器件、光模塊、硅光芯片等等，這些器件級的檢測對設備要求非常高。OLI光纖微裂紋檢測儀，專門針對這種微小尺寸的檢測，空間分辨率高達10微米，能實現芯片內部結構可視化。

OLI測量FA耦合面

多芯FA耦合面測量，測試結果顯示該耦合位置回損為-62dB，耦合情況良好。

昊衡科技推出的OLI光纖微裂紋檢測儀，能精準定位器件內部斷點、微損傷點、耦合面以及鏈路連接點，以亞毫米級別分辨率探測光學原件內部，廣泛用于光器件、光模塊損傷檢測以及產品批量出貨合格判定。