英飛凌通過改善IGBT芯片的結構和工藝,大大降低了器件的開關損耗。下圖展示了不同技術的分立50A IGBT的開關損耗的比較。圖的底部顯示了IGBT和二極管技術,以及它們進入市場的年份。圖中的開關損耗是在一個開關單元中測量的,并使用具有相同額定電流的器件作為對照。
芯片關斷損耗大幅下降,
器件開通損耗下降舉步維艱
仔細讀上圖可以發現,最新的系列中,IGBT的關斷能量降低非常明顯。這是通過減少關斷期間電流的下降時間來實現的,從而幾乎可以完全消除了尾部電流。
另一方面,開通能量實際上沒有明顯減小。主要原因之一是,IGBT的開通在很大程度上取決于對應的續流二極管和其反向恢復電荷量。實際上,當二極管與更快的IGBT結合在一起時,恢復電荷量往往會增加,從而增加了開關的開通損耗。
減低開通損耗,從封裝入手
為了大大減少開通損耗,英飛凌為TRENCHSTOP 5系列的器件引入了TO-247 4pin封裝。這種封裝多了一個額外的發射極引腳,稱為開爾文發射極,專門用于驅動回路。通過開爾文發射極管腳配置,即使仍然使用相同的續流二極管,開關速度可以進一步提高,IGBT和二極管的損耗都會減少。因此采用TO-247 4pin增加了整個系統的效率,從而降低IGBT器件工作結溫。
在標準的通孔封裝中,例如TO-220或TO-247,每個引線管腳都有寄生電感。特別是來自發射極引腳的電感,它是功率和控制回路的共同部分。
如下圖所示,功率環路還包括來自集電極引腳的寄生電感,以及連接開關器件和直流電容的PCB走線中的電感。柵極回路包括來自柵極引腳,和連接柵極和發射極焊盤與柵極電阻和柵極驅動器的PCB走線的電感。
在開通和關斷過程中,發射極引線電感對有效柵極到發射極電壓的影響可分別量化為:
由公式(1)和(2)可以推斷出,有效柵極到發射極的電壓在開通和關斷的瞬時條件下都會被削弱。
在接通和關斷的瞬時,有效柵極到發射極的電壓被衰減。由于這種衰減,換向時間被延長,導致了更高的開關損耗。
新推出的TO-247 4pin封裝有一個額外的管腳連接到IGBT的發射極,在圖中標為E2。該管腳用于連接柵極驅動器,也被稱為開爾文發射極,這個引腳不受來自功率回路的電壓衰減影響,來自IGBT集電極的電流完全由功率發射器引線E1傳導。
TO-247 4pin封裝的另一個特點是引腳輸出排布,它與標準的TO-247-3不同,這樣做是為了保持高壓引腳之間的爬電距離。此外,連接到功率回路的引腳C和E1被并排放置,控制回路E2和G的引腳也是相鄰。
在英飛凌的IGBT命名法中,該封裝將在第三個位置用字母"Z"來標識。
數據為證——開通損耗降低顯著
4pin封裝由于沒有來自功率發射極的柵極電壓的衰減,IGBT的開關會比標準的TO-247封裝更快,具體數據可以做如下的研究。
為了量化開爾文發射極對開通的好處,IGBT IKZ50N65EH5被用作被測器件(DUT)。它是一個來自TRENCHSTOP 5系列的50A額定電流的IGBT,采用TO-247 4pin封裝。
在第一組測試中,發射極針腳E2沒有被連接。柵極驅動器的輸出已被連接到引腳G和E1。這模擬了標準的TO-247封裝,在圖5中被稱為3引腳配置。在第二組中,引腳E1和E2分別連接,這種配置在圖5中被稱為4引腳。
圖5中顯示了兩種配置之間的開通損耗比較
市場上有一個具有相同額定電流的標準TO-247的部件被列為參考。通過在額定電流50A下開關,開爾文發射極配置的好處是開通損耗降低了23%,IKZ50N65EH5顯示出比同類對照產品低14%的開通損耗。
數據為證——關斷損耗降低
只有在標稱電流以上優勢才明顯
IGBT在TO-247 4pin的關斷速度也變得更快。因此,電流變化率dIC/dt會增加,在環路寄生電感沒有得到改善的情況下,這將導致更高的過電壓峰值。由于其非常短的上升時間,TRENCHSTOP 5 IGBT很可能在關斷期間出現過電壓峰值。這種影響隨著寄生電感Lloop的增加而增加,根據:
在實際設計中應認真考慮這種影響,在有些應用,如SMPS和UPS,需要在額定擊穿電壓的基礎上保留20%的安全余量。
圖6顯示了封裝對IKZ50N65H5的關斷的影響,其中換向電壓和電流分別為400V和100A。結溫度為Tj=25℃。在圖6的左側,IGBT器件在3PIN配置中進行了切換。集電極電流的最大變化率為1.5A/ns,導致530V的過電壓峰值。
在圖6的右邊,同樣的器件現在以4pin的配置進行開關。換向速度速度增加到2A/ns,導致更低的損耗。然而,過電壓峰值達到了570V,這個值遠遠超過了IGBT擊穿電壓的20%的余量。
圖6.IKZ50N65EH5在(a)3pin和(b)4pin配置下的關斷期間的波形圖
為了避免如此高的過電壓,必須減少環路寄生電感。這可以通過優化PCB的走線和元件的位置來實現。另外,也可以增加柵極電阻RG.OFF,從而使開關速度變慢,dIC/dt變低。圖7顯示了不同柵極電阻和集電極電流下IKZ50N65EH5關斷時的過沖電壓。
圖7:電壓尖峰與電流和柵極電阻關系
由于增加了RG.OFF,關斷損耗將增加,TO-247 4pin的好處將在關斷時被部分抵消,如圖8所示。
圖8:TO-247 4pin的優勢在關斷時將被部分抵消,但仍然比對照的器件低很多
根據50A TRENCHSTOP 5 H5 IGBT的芯片特性,開爾文發射極配置可能只在超過IGBT的標稱電流值時,關斷損耗的降低的優勢才發揮出來。
數據為證——算總賬
圖9(a)中顯示了所測試的三個器件的總開關損耗。開爾文發射器配置的優勢在大電流時更大。
開爾文發射極配置的優勢在大電流下,這時電流變化率最高。因而,在3pin封裝中,引線電感將使柵極電壓衰減最大。因此,在電流高于IGBT的額定電流的應用中,開關損耗的減少可以高于20%。
圖9(a) IKZ50N65EH5在3pin和4pin配置下的總開關能量
圖9(b)4pin配置的開關能量減少的絕對值和相對值
不間斷電源設計器件電流利用率高,開關損耗的減少可以超過20%。對于電流通常是IGBT額定電流一半左右的應用,例如光伏逆變器或開關電源(SMPS),其好處略低,但仍然存在,開關損耗能降低15%。
應用篇——驅動技術
關于柵極驅動器的一些建議是:
1
驅動器的地,參考點是輔助發射極,必須與電源地隔離,這是必須的,以防止引腳E1和E2短路
2
建議將RG.ON和RG.OFF分開,選取不同的開通和關斷的電阻阻值可以優化開關特性
考慮到以上幾點,最近推出的EiceDRIVER Compact是一個很好的配套驅動IC電路。
驅動器和TO-247 4pin封裝的IGBT之間的典型連接
應用篇——并聯技術
當TO-247 4pin封裝的器件并聯時,器件之間存在另一條環路電流的路徑。這條路徑是通過器件連接的開爾文發射極,如圖12(a)所示。由于該路徑的低阻抗,發射極電壓VLe的微小差異就會產生極高的環路電流,尤其并聯的IGBT開關時間差異大時,造成不同的dIC/dt,這就會發生大的瞬態大環路電流。
為了限制環路電流,圖12(b)給出并聯電路的設計建議
柵極電阻現在被分割為RG和RE。這樣,額外的路徑具有較高的電阻,將潛在的危險電流限制在低于臨界值。
圖12(a) 三個IGBT的并聯連接和通過開爾文發射極的環路電流
圖12(b) 重新配置電路,分割柵極電阻
從驅動器往外看,看到的總電阻將是RG和RE的總和,作為一個經驗法則,RE/RG的比例在1/5和1/10之間。為了達到適當的限流效果,RE的選擇不應低于0.5Ω。
結 論
TRENCHSTOP 5 IGBT,采用開爾文發射極設計的TO-247 4pin封裝與標準的TO-247封裝相比,在標稱電流下降低了20%的開關損耗。
參考文獻
本文選譯自英飛凌應用指南
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