在上一篇文章中我們介紹了自動測試系統及其系統構建，本期文章我們將繼續介紹自動測試系統中的影響因素及其設計。

測試系統影響因素

不同測試組件

開關在不同信號之間提供了切換，使得從輸入到輸出的插入損耗更少。在非阻塞矩陣配置中，輸出端口之間的隔離度通常由功率合成器的隔離度決定，隔離度越高，信號相互干擾的可能性越小。在功率合成器中，相鄰端口的噪聲可達到20dB，遠距離端口的噪聲最高可達25dB，對于標準SPDT開關，則噪聲值介于60dB到65dB之間。

功率分配器的插入損耗在很大程度上取決于使用的是電阻功率分配器還是無功功率分配器。電阻功率分配器將提供更寬的工作帶寬，但輸出端口之間的隔離和元件的插入損耗都比無功功分器差得多。電阻功率分配器不提供公共端口，進入單個任意端口的信號將在其余端口之間平均分配。射頻衰減器矩陣通常會采用射頻分路器和合路器，因為有不同的“輸入”和“輸出”可供使用，并且在最大化輸出端口之間的隔離度的同時，總體系統插入損耗能夠保持在最小水平。

如下圖所示，功率分配器的插入損耗也會隨著輸出數量的增加而增加，對于可能包括使用有源射頻信號調節組件（如放大器和混頻器）的開關矩陣，會由于不同的測試要求對系統的實用性產生限制。

同軸電纜

在元件和開關矩陣上的輸入/輸出之間使用盡可能短的信號路徑對于最小化整個系統的插入損耗至關重要。從A點引入到B點的無源元件越多，信號衰減越大。為了盡量減少這種情況，必須使用低損耗無源元件和較短的同軸電纜。

由于固有的低衰減或單位長度的插入損耗，交換矩陣中使用的同軸電纜通常是半剛性電纜。半剛性同軸組件具有一個實心外導體和一個實心內導體，與柔性同軸電纜相比，這種類型的同軸電纜具有更穩定的相位和振幅，以及極低的VSWR和插入損耗。

可編程衰減器和移相器

射頻衰減器可以根據特定水平衰減信號，可采用可編程射頻衰減器。可編程移相器可以調整高頻信號的相位，同時保持其振幅恒定。這兩種設備通常都是通過晶體管邏輯（TTL）輸入進行控制的，可以通過RS232等串行接口進行控制。

現代可編程設備可以使用USB和/或LAN接口，以便于訪問。通過這種方式，可以將其輕松連接到幾乎所有常用設備上，如筆記本電腦、平板電腦和PC。以太網接口允許通過web接口進行網絡控制以進行遠程控制。

可編程衰減器和移相器的參數將最終限制測試系統的特定參數。帶寬是第一個要確定的參數，因為它最終決定了可以進行測試的頻率范圍，特別是在進行包含多普勒效應的衰落模擬時，這一點至關重要。對于可編程衰減器和移相器，快速響應時間對于快速衰落模擬和移動收發器測試系統至關重要，其中收發器可能會相對于基站速移動。

虹科可編程衰減器的步長為0.1dB，可編程移相器的步幅為1度，這將使測試具有更高的分辨率和更精確的測試結果。測試系統的精度也將受到這些組件的相位和衰減精度的限制。雖然移相器的相位控制范圍通常為1°至360°，但可編程衰減器的衰減范圍可能為30dB至120dB。具有高通道數（4個及以上）的可編程射頻衰減器將減少開關衰減矩陣帶來的影響，同時可編程移相器也可以改變通道的數量和大小。

最小化系統的插入損耗是開發最佳射頻網絡模擬器的關鍵，應通過選擇正確的元件將插入損耗和VSWR降至最低。更重要的是，通過確保可編程射頻衰減器和移相器提供正確的工作頻率范圍、衰減器范圍、衰減步距和相位控制范圍，確保可以進行滿足需求的測試。

設計可擴展測試系統

無論選擇何種測試系統，編程都是其中最重要的部分之一。在同一軟件平臺上，無論是單獨操作還是組合操作信號發生器、移相器、衰減器或開關，都能夠從單個界面實現。

虹科USB和以太網控制的可編程射頻設備都可以通過標準設備進行訪問，允許用戶輕松設置、調整和升級設備。以太網接口還允許遠程執行軟件開發、升級和測試設備控制。通過這種方式，可以對模塊化機架安裝測試系統進行構建、編程和測試，以便于實現更復雜的測試。

虹科HK-LPS-402 USB可編程50歐姆高精度射頻移相器具有360°范圍，可按1°增量設置，每個移相器在整個頻率范圍內進行校準，提供最佳精度。該裝置通過與PC或自供電集線器的USB連接供電和控制，并可通過附帶的圖形用戶界面（GUI）軟件或使用提供的SDK進行編程。

特征

• USB供電和控制
• 包括易于安裝和使用的GUI
• 1°步進360°控制
• 易于編程，適用于ATE應用

應用

• 波束成形
• 信號消除
• 用于LTE和WiFi的MiMo測試
• 相控陣天線系統