昊衡科技：光矢量分析儀升級80dB高動態(tài)范圍
隨著高速光通信發(fā)展，光器件種類多、迭代快，對測量儀要求更高。而在新興平面光波導(dǎo)和硅光芯片領(lǐng)域，其對儀表測量的精確性、穩(wěn)定性和操作便利性等各方面提出了前所未有的挑戰(zhàn)，由此昊衡科技，發(fā)布了國產(chǎn)多功能光矢量分析儀（OCI-V）。近年昊衡科技不斷吸納市場反饋意見，專注設(shè)備創(chuàng)新升級，優(yōu)化設(shè)備性能，致力于給客戶提供更優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品。
昊衡科技作為國產(chǎn)光矢量分析儀制造商，現(xiàn)推出損耗80dB高動態(tài)范圍測試選項。
圖1.60dB動態(tài)范圍
圖2.80dB動態(tài)范圍
OCI-V是一款快速檢測光學(xué)器件損耗、色散和偏振等相關(guān)參數(shù)的光矢量分析系統(tǒng)。其原理是采用線性掃頻光源對待測器件進行掃描，并結(jié)合相干檢測技術(shù)獲取待測器件的瓊斯矩陣，進而獲得器件插損、色散、偏振相關(guān)損耗、偏振模色散等光學(xué)參數(shù)。該系統(tǒng)采用獨特光路設(shè)計以及先進算法，實現(xiàn)智能校準(zhǔn)，操作簡單，極大節(jié)省測試時間。
產(chǎn)品應(yīng)用
平面波導(dǎo)器件、硅光器件、光纖器件、波長可調(diào)器件、放大器、濾波器
你可能想了解
偏振相關(guān)損耗PDL、偏振模色散PMD、插損IL、群延時GD、色散CD、瓊斯矩陣參數(shù)、光學(xué)相位
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