一新的版本又有了：3GPP TS 38.521-1 V17.7.0 (2022-12）今天來看一下載波泄漏（Carrier Leakage）。

01

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載波泄漏為什么是調(diào)制性能

關(guān)于載波泄漏（Carrier leakage）的概念，我們很早就探討過，

本質(zhì)上，載波泄漏是由電路的直流偏置或串?dāng)_導(dǎo)致的，如下方右圖所示，它表現(xiàn)為在載波頻率上的非調(diào)制的正弦波，這是對頻域的影響。而下方左圖呈現(xiàn)出來的就是這個(gè)泄漏或者說offset，對調(diào)制產(chǎn)生了多大的影響。我們看到星座圖整體產(chǎn)生了偏移，這就一定會(huì)影響數(shù)據(jù)符號的判定。所以準(zhǔn)確地說，測量載波泄漏，是為了測量發(fā)射機(jī)在有載波泄漏的情況下，對調(diào)制質(zhì)量（IQ Offset）的影響程度。

02

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載波泄漏的測試

我們曾在一起來學(xué)5G終端射頻標(biāo)準(zhǔn)（什么是傳輸信號質(zhì)量）中提到過，載波泄漏的測試點(diǎn)，跟頻率誤差一樣，都是在下圖的 "RF correction "模塊中計(jì)算的，在FFT之前。

載波泄漏的測試結(jié)果，在儀表上跟EVM的結(jié)果是一塊出來的，都在發(fā)射信號質(zhì)量（TSQ）下，以SP9500為例，啟動(dòng)TSQ測試如下圖：

它的測試要求限值如下表，其中TT = 0.8 dB。關(guān)于功控和MU，可以參考一起來學(xué)5G終端射頻標(biāo)準(zhǔn)（功率控制-相對功控）。詳細(xì)的測試步驟可以參考趣味實(shí)驗(yàn)室系列：終端測試中的載波泄漏 carrier leakage（一）。

上表意味著需要在不同的終端發(fā)射功率等級下，分別進(jìn)行測試，限值是不一樣的。除了功率等級以外，其他的測試配置如下：

頻點(diǎn)：高，中，低； 帶寬：Mid； SCS：lowest； 調(diào)制：DFT-s-OFDM QPSK； RB分配：Inner_1RB_Left；

【還有一點(diǎn)需要說明一下，就是在標(biāo)準(zhǔn)中出現(xiàn)了這樣一句話：

In the case that uplink sharing, the carrier leakage may have 7.5 kHz shift with the carrier frequency.

這里稍作解釋：在LTE的上行鏈路中有7.5kHz的半個(gè)subcarrier偏移，是為了避免使用位于中心的DC subcarrier，但NR并不是這樣，DC subcarrier是正常使用的。所以如果是在DSS（動(dòng)態(tài)頻譜共享）情況下的上行共享鏈路，LTE就與NR錯(cuò)開了7.5k而無法正交。這是DSS的一個(gè)關(guān)鍵考慮因素。所以NR UE需要支持在上行鏈路增加7.5kHz的頻率偏移，參考下圖。所以對于NR來說，載波泄漏也就可能會(huì)有7.5kHz的頻率偏移。】

03

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CA/NR-DC/SUL/UL-MIMO/Tx Diversity 的載波泄漏

• CA：對于intra-band carrier aggregation的載波泄漏，標(biāo)準(zhǔn)還在FFS；對于inter-band carrier aggregation，與往常一樣，要求每個(gè)上行component載波（PCC和SCC）都要分別測試，配置和限值同上述單載波；
• NR-DC：對于inter-band dual connectivity與inter-band CA的載波泄漏要求相同，只是配置中將PCC替換成PCell，SCC替換成PSCell；
• SUL：對于支持下表5.2C-1中規(guī)定的頻帶組合的終端，當(dāng)前版本的規(guī)范假定該終端在一個(gè)服務(wù)小區(qū)的任何時(shí)候都被配置為在UL載波或SUL載波上傳輸，UE對單載波的要求應(yīng)相應(yīng)適用于激活的UL或SUL載波。

SUL的載波泄漏測試配置為：

頻點(diǎn)：高，中，低for SUL carrier；中for Non-SUL carrier； 帶寬：Mid for SUL；Lowest for Non-SUL carrier； SCS：15kHz for SUL carrier and Lowest supported SCS for Non-SUL carrier； 調(diào)制：DFT-s-OFDM QPSK； RB分配：Inner_1RB_Left；

• UL-MIMO：載波泄漏測試?yán)m用于支持基于2-layer codebook 的UL MIMO的所有類型的NR power class1.5、power class2和power class3終端。需要每一個(gè)發(fā)射天線連接器的載波泄漏都滿足單載波的要求，只是調(diào)制方式變?yōu)?span style="color:#000000;">CP-OFDM QPSK。
• Tx Diversity：對于支持Tx分集的UE，上述單載波的相對載波泄漏功率要求適用于每個(gè)發(fā)射天線的連接器。

以上信息由英利檢測（Teslab）整理發(fā)布，歡迎一起討論，我們一直在關(guān)注這方面的發(fā)展，如有引用也請注明出處。

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