1. 點(diǎn)結(jié)構(gòu)光的缺點(diǎn)
點(diǎn)結(jié)構(gòu)光只能獲取單個(gè)點(diǎn)的深度信息,如要獲取整個(gè)被測(cè)對(duì)象表面結(jié)構(gòu)信息,需要沿著水平和垂直兩個(gè)方向逐點(diǎn)掃描,效率比較低。點(diǎn)結(jié)構(gòu)光技術(shù)只是對(duì)點(diǎn)狀光斑進(jìn)行處理,算法簡(jiǎn)單,計(jì)算復(fù)雜度小,但是需要引入掃描移動(dòng)設(shè)備,以保證點(diǎn)光斑的遍歷掃描,使得系統(tǒng)效率低下,難以滿足實(shí)時(shí)性要求。
2. 線結(jié)構(gòu)光的缺點(diǎn)
如果被測(cè)物體表面形貌復(fù)雜,曲率變化較大,就有可能造成相機(jī)視野范圍丟失了線結(jié)構(gòu)光光條信息,導(dǎo)致最終三維測(cè)量數(shù)據(jù)不完整。
3. 多線式結(jié)構(gòu)光的缺點(diǎn)
這種方法檢測(cè)價(jià)格貴,安裝體積大,多傳感器之間需要通訊,對(duì)上位機(jī)的硬件要求高,系統(tǒng)的實(shí)時(shí)性有所降低。
4. 相移法的缺點(diǎn)
相移法是屬于一種優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)都極為顯著的方法,優(yōu)點(diǎn)是,通過(guò)相移解相位的方法,犧牲了時(shí)間(多幅條紋投影),以粗的條紋獲得了細(xì)的分辨率,缺點(diǎn)是正弦條紋極易被干擾,這就導(dǎo)致了相位圖失真,CCD像素和投影面像素的一一對(duì)應(yīng)性被破壞。
5. 雙目結(jié)構(gòu)光
采用雙目結(jié)構(gòu)光是考慮到傳統(tǒng)的單目結(jié)構(gòu)光容易受光照的影響,在室外環(huán)境下,如果是晴天,激光器發(fā)出的編碼光斑容易太陽(yáng)光淹沒(méi)掉,只有在陰天情況下勉強(qiáng)能用。而雙目結(jié)構(gòu)光可以在室內(nèi)環(huán)境下使用結(jié)構(gòu)光測(cè)量深度信息,在室外光照導(dǎo)致結(jié)構(gòu)光失效的情況下轉(zhuǎn)為純雙目的方式,其抗環(huán)境干擾能力、可靠性更強(qiáng),深度圖質(zhì)量有更大提升空間。
此外,結(jié)構(gòu)光方案中的激光器壽命較短,難以滿足7*24小時(shí)的長(zhǎng)時(shí)間工作要求,其長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)工作很容易損壞。因?yàn)閱文跨R頭和激光器需要進(jìn)行精確的標(biāo)定,一旦損壞,替換激光器時(shí)重新進(jìn)行兩者的標(biāo)定是非常困難的,所以往往導(dǎo)致整個(gè)模塊都要一起被換掉;而使用雙目結(jié)構(gòu)光的方式,其標(biāo)定與激光器無(wú)關(guān),替換起來(lái)就比較簡(jiǎn)單。
6. 結(jié)構(gòu)光,雙目和TOF對(duì)比
結(jié)構(gòu)光(散斑)
優(yōu)點(diǎn):
1) 方案成熟,相機(jī)基線可以做的比較小,方便小型化。
2) 資源消耗較低,單幀IR 圖就可計(jì)算出深度圖,功耗低。
3) 主動(dòng)光源,夜晚也可使用。
4) 在一定范圍內(nèi)精度高,分辨率高,分辨率可達(dá)1280x1024,幀率可達(dá)60FPS
缺點(diǎn):
1) 容易受環(huán)境光干擾,室外體驗(yàn)差。
2) 隨檢測(cè)距離增加,精度會(huì)變差。
雙目
優(yōu)點(diǎn):
1)硬件要求低,成本也低。普通CMOS 相機(jī)即可。
2)室內(nèi)外都適用。只要光線合適,不要太昏暗。
缺點(diǎn):
1)對(duì)環(huán)境光照非常敏感。光線變化導(dǎo)致圖像偏差大,進(jìn)而會(huì)導(dǎo)致匹配失敗或精度低。
2)不適用單調(diào)缺乏紋理的場(chǎng)景。雙目視覺(jué)根據(jù)視覺(jué)特征進(jìn)行圖像匹配,沒(méi)有特征會(huì)導(dǎo)致匹配失敗。
3)計(jì)算復(fù)雜度高。該方法是純視覺(jué)的方法,對(duì)算法要求高,計(jì)算量較大。
4)基線限制了測(cè)量范圍。測(cè)量范圍和基線(兩個(gè)攝像頭間距)成正比,導(dǎo)致無(wú)法小型化。
TOF
優(yōu)點(diǎn):
1)檢測(cè)距離遠(yuǎn)。在激光能量夠的情況下可達(dá)幾十米。
2)受環(huán)境光干擾比較小。
缺點(diǎn)
1)對(duì)設(shè)備要求高,特別是時(shí)間測(cè)量模塊。
2)資源消耗大。該方案在檢測(cè)相位偏移時(shí)需要多次采樣積分,運(yùn)算量大。
3)邊緣精度低。
4)限于資源消耗和濾波,幀率和分辨率都沒(méi)辦法做到較高。目前消費(fèi)類最大也就VGA。
7. 激光測(cè)量法的缺點(diǎn)
該方法需要逐點(diǎn)掃描,對(duì)設(shè)備要求比較高且比較耗時(shí),數(shù)據(jù)獲取效率低。測(cè)量過(guò)程需要一維掃描,增加了裝置復(fù)雜性,成本增加,另外,掃描過(guò)程使成像的時(shí)間大大增加,因此,該方法效率較低。
8. 飛行時(shí)間法的缺點(diǎn)(典型代表:激光雷達(dá))
飛行時(shí)間法要想得到很高的測(cè)量精度,相應(yīng)地會(huì)對(duì)信號(hào)處理系統(tǒng)的時(shí)間分辨率有極高的要求。系統(tǒng)復(fù)雜,成本較高。
審核編輯:湯梓紅
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原文標(biāo)題:【光電智造】3D結(jié)構(gòu)光問(wèn)題總結(jié)
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