概述
KW45是恩智浦半導(dǎo)體推出的一款汽車級(jí)無(wú)線通信芯片,具有低功耗,高靈敏度和較長(zhǎng)的通信距離等特點(diǎn),適用于多種汽車應(yīng)用場(chǎng)景,如藍(lán)牙汽車鑰匙,車內(nèi)無(wú)線傳感器網(wǎng)絡(luò)和車載娛樂(lè)系統(tǒng)等。KW45B41Z EVK是面向KW45 MCU的評(píng)估套件,支持2.4GHz低功耗藍(lán)牙、通用FSK無(wú)線連接和CAN/LIN連接。KW45 MCU還集成了FlexCAN,有助于無(wú)縫集成到汽車的車載或工業(yè)CAN通信網(wǎng)絡(luò)中。FlexCAN模塊可以支持CAN的靈活數(shù)據(jù)傳輸速率(CAN FD),以實(shí)現(xiàn)更高帶寬和更低延遲。
硬件:KW45B41Z EVK
軟件:MCUXpresso IDEv11.8.0_1165
SDK v2.12.6 connectivity test freertos example
在NXP官網(wǎng)(https://www.nxp.com),開(kāi)發(fā)者經(jīng)常要用到KW45芯片相關(guān)的文檔有Datasheet, User Manual, 和Reference Manual等。通過(guò)晶振電容調(diào)節(jié)時(shí)鐘頻率能夠幫助用戶匹配晶振,調(diào)整頻偏。實(shí)現(xiàn)以芯片KW45為基礎(chǔ)的PCB開(kāi)發(fā)板應(yīng)用的精益求精。關(guān)于晶振內(nèi)容電容的內(nèi)容在Reference Manual中。下載后發(fā)現(xiàn)Reference Manual竟然有2793頁(yè),這應(yīng)該從哪里找呢?
方法與原理
KW45關(guān)于32KHz的時(shí)鐘頻率調(diào)節(jié)在ReferenceManual的724頁(yè),Clocking→Chapter27→32kHz Clock Control Module中有詳細(xì)的介紹。
通過(guò)32MHz晶振的電容調(diào)節(jié)時(shí)鐘頻率的信息是很多開(kāi)發(fā)者沒(méi)有找到并且提問(wèn)較多的,今天就給大家詳細(xì)介紹一下。
內(nèi)部電容的底層修改需要通過(guò)寄存器來(lái)完成。因此首先打開(kāi)Reference Manual目錄→ Radio→ RFMC→ Memory Mapand Registers。RM中詳細(xì)說(shuō)明了不同寄存器的作用以及在寄存器中不同位存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)的說(shuō)明。在XO Test Register中, 第4位到第9位這個(gè)CDAC的區(qū)域,介紹了On-chipLoad Capacitor Trim的調(diào)整范圍。KW45 32MHz晶振的內(nèi)部電容可以通過(guò)軟件的調(diào)整范圍是6pF-11pF。這里,6pF-11pF有5個(gè)間隔,對(duì)應(yīng)的差值為63,因此間隔步進(jìn)為12.6。修改電容可以選取較近的那個(gè)值。如7pF可以修改為 00 1101。
來(lái)看看SDK中軟件是如何進(jìn)行應(yīng)用的。IDE這里用的是NXP官方的MCUXpressoIDE v11.8.0_1165. 導(dǎo)入的SDK Example以connectivity test為例。
晶振內(nèi)部電容設(shè)置的值在寄存器中,所以搜索的邏輯應(yīng)該是搜索關(guān)鍵詞RFMC或者CDAC。在結(jié)果中發(fā)現(xiàn)有一個(gè)對(duì)于RFMC_XO_TEST_CDAC_MASK的定義吸引了注意。這里賦值為0x3F0U, 即0011 1111 0000,這里就可以與上圖中Reference Manual對(duì)CDAC的介紹聯(lián)系起來(lái)了。
緊接著,對(duì)RFMC_XO_TEST_CDAC_MASK進(jìn)行搜索。通常,名為MASK的變量定義均是1。
在RFMC_SetXtalTrim函數(shù)中發(fā)現(xiàn)了對(duì)于RFMC_XO_TEST_CDAC_MASK的使用。通過(guò)分析,對(duì)于代碼202行的邏輯是,對(duì)于RFMC_XO_TEST_CDAC_MASK進(jìn)行取反(~指令),和變量temp進(jìn)行與門(&=)操作,使得temp為0,對(duì)應(yīng)的即是參考手冊(cè)中的00_0000b-6pF。
補(bǔ)充與驗(yàn)證Connectivity test example中集成了驗(yàn)證程序,這里以putty為例。通過(guò)Device Manager找到KW45的COM口(23)。
Press[1]進(jìn)入Continuous test.
通過(guò)d和f按鈕可以調(diào)整偏移,同時(shí)可以通過(guò)進(jìn)入MCUXpresso的Debugger模式查看寄存器的值對(duì)比驗(yàn)證。
小結(jié)本文主要分享了恩智浦KW45芯片的應(yīng)用以及基于KW45B41Z EVK介紹了如何通過(guò)32MHz晶振的內(nèi)部電容調(diào)節(jié)時(shí)鐘頻率,分析了KW45 Reference Manual中對(duì)應(yīng)的寄存器的解釋,SDK中connectivity test示例代碼的應(yīng)用,以及他們之間的聯(lián)系。希望對(duì)讀者有所幫助~
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原文標(biāo)題:KW45通過(guò)32MHz晶振電容調(diào)節(jié)時(shí)鐘頻率
文章出處:【微信號(hào):NXP_SMART_HARDWARE,微信公眾號(hào):恩智浦MCU加油站】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。
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