上篇文章開發者分享｜延遲開始 SEM 功能的掃描 (一)介紹了如何推遲 SEM IP 的掃描。在 AMD Versal 器件中, SEM 功能的實現發生了很大變化，整個解決方案基于 library 實現。下面我們一起看一下如何推遲 XilSEM 掃描功能的開始。

我們建立一個使能了 XilSEM 功能的設計。觀察 CIPS 中 XilSEM 對應的選項:

本次測試以 CRAM 的掃描為例 (NPI 掃描方法相同):

Enable Configuration RAM soft error mitigation 選項下面有兩個小選項：Error correction capability，根據設計需求可以選擇為 Detect & Correct，或者 Detect Only。本次我們需要關注的是“Scan Strategy” 這個選項，默認是“Immediate Start”， 還有一個是“Deferred Start” 。這個選項是問是否在配置完成后立即開始 CRAM 掃描工作, 還是推遲掃描的開始直至收到指令。

接下來：

是問選擇使用硬件第一輪掃描結果作為 ECC golden 校驗值，還是使用軟件生成配置文件時計算出來的 golden 校驗值。這個選項對本次測試無影響，可以任意選擇。

高級選項“Enable PMC_PL_GPO for status signals into PL”，是把 XilSEM 的錯誤狀態輸出到 PL 里面,可以通過 PL 的 GPIO 或者邏輯監測 XilSEM 的運行情況。該選項對本次測試結果亦無影響，可以按需選擇。

綜上，我們測試以下兩種配置：

1. Immediate Scan

2. Deferred Scan

由于Deferred Start 必須由用戶發起請求，XilSEM 的工作才能開始。查看 XilSEM Example Design 的 source 文件發現如下定義：

檢測是否完成 CRAM 掃描對應的初始化工作，沒有則調用 XSem_CfrApiInitCram 來完成。

后續在插錯測試中，調用：

啟動掃描工作。

基于 VCK190 開發板, 分別生成 xsa 文件以及對應的 pdi 和 elf 文件。為便于查看 XilSEM 掃描的狀態，我們需要用到以下寄存器：

測試結果:

下載執行 Immediate Scan 的 pdi 文件:

看低四位寄存器, OBSERVATION_STATE以及 CRAM_IN_DESIGN 已經被置為1, 說明 CRAM 的掃描工作已經初始化完畢,并且正常進入了監測狀態.

接下來下載 Cram Scan 的 elf 文件：

由于 elf 文件里面默認有插錯測試，所以

CORRECTABLE_ERR 以及 ECC_CORRECTION_DONE

對應置位，表明有檢測到 ECC error，并且已經糾正。

對比測試 Deferred Scan 的效果。先下載 pdi 文件：

下載結束后, 對應寄存器的位全為0。說明 XilSEM 的工作沒有開始。

緊接著執行一次 elf 文件：

發現寄存器的返回值和 Immediate Scan 執行 elf 后的狀態一樣了。說明 XilSEM 的掃描功能已經被啟動，并且依次執行了插錯測試等。

通過這種設置，我們可以根據需要“無限”延遲 XilSEM 的掃描開始，需要時再啟動。

審核編輯：劉清