北京清微智能科技有限公司發布IC驗證新方法，實現雙DUT驗證
清微智能在本周宣布新型專利“一種IC驗證中實現雙DUT驗證的方法”已于今年3月獲批。該項專利內容由該集團獨立研究，申請日期優先于2024年3月26日。
據了解，這項發明將使IC驗證環境更加精簡及高效，受益方面包括IP驗證速度提升以及驗證流程簡化等。
值得指出的是，盡管現有方法通過配置MONITOR進行驗證，但這些過程耗費大量時間。然而，相較之下，清微新發明僅需運用新增DUT中的CPU讀取數據，便能實現更快速和便捷的驗證方式。
同時，如若待驗證IP發生改變，無需重新建立驗證環境乃至更新 CASE，大大減少了項目間驗證環境的傳承難度。
另外，這種驗證方式簡化了對MONITOR采集方案或UVM驗證環境的關注，有助于防止數據錯誤，提高設計人員協助調試時的便利性。
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