晶揚推出單向四路,超低容值,超低鉗位電壓,小封裝保護器件TT0354SP/TT0354SP-HFx-適用于USB3.X等高速接口的靜電保護方案
01 USB應用需求不斷增加并普及
隨著消費者對數據傳輸速度和穩定性要求的提高,USB 3.0、USB 3.1、USB 3.2等新型USB標準的普及,為用戶提供了更快的數據傳輸速度和更可靠的連接。許多設備,如智能手機、平板電腦、筆記本電腦、電子閱讀器、數碼相機、物聯網 (IoT)模塊、外部存儲設備等都采用了USB接口作為數據傳輸和充電的標準接口。
消費者對USB應用需求的增加會帶來對靜電防護的更高需求。靜電對于電子產品可能造成的危害包括:
電子設備損壞:靜電放電/浪涌可能會引起瞬時高電壓,超過USB主控芯片或電路的承受范圍,導致USB接口或電路板損壞,使設備無法正常工作。
數據丟失或損壞:靜電放電/浪涌也可能干擾USB信號傳輸,導致數據傳輸錯誤或丟失,影響設備的功能和性能。
因此,為了保護電子產品上USB接口的安全,使用靜電浪涌抑制器(ESD, Electro-Static discharge)或瞬態電壓抑制器(Transient Voltage Suppressors,TVS)等防護器件變得至關重要。
02 晶選防護方案
晶揚電子針對USB 3.X免受靜電放電/浪涌的損壞推出ESD新品TT0354SP/TT0354SP-HFx(用于信號線的保護),具有以下優點:
為確保通過USB 3.X傳遞的高速信號的完整性,新品均具有超低電容(VR=0V,f = 1MHz條件下:TT0354SP典型值為0.45 pF,TT0354SP-HFx典型值為0.43 pF;)。
采用我司獨有的深回滯前沿專利技術,新品均具有較低的鉗位電壓(IPP=5.5A時,TT0354SP鉗位電壓為3.6 V,TT0354SP-HFx鉗位電壓為3.3 V),相比普通的無回滯和淺回滯器件,新品的深回滯特性能為電路提供更好的保護性能。
具有較高的ESD耐受能力,能承受IEC 61000-4-2測試的12kV接觸放電和15kV空氣放電的ESD沖擊。
外形小巧,具有四通路的集成陣列式DFN2510封裝,可最大限度地減少在PCB上所占用的空間,且成本更低。
晶揚晶選USB 3.X靜電防護方案
用于信號和電源防護的ESD性能參數表
TT0354SP規格書
TT0354SP-HFx規格書
LAYOUT設計時的注意事項:
將ESD保護器件盡可能靠近I/O連接器放置,以減少ESD接地路徑,提高保護性能。
PCB布線盡可能走圓角或45度角,避免直角走線,以避免不必要的反射。
保持差分數據通道的正線和負線之間的走線長度相等,以避免共模噪聲的產生和阻抗失配。
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原文標題:新品上市!晶揚USB3.X 高速接口的靜電保護方案
文章出處:【微信號:晶揚電子,微信公眾號:晶揚電子】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。
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