矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀VNA是一種用于測(cè)量射頻和微波頻率范圍內(nèi)網(wǎng)絡(luò)參數(shù)的高精度儀器。盡管VNA能夠提供精確的測(cè)量結(jié)果，但在測(cè)量過程中仍然可能引入多種誤差。以下是對(duì)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀誤差類型的詳盡分析：

1. 系統(tǒng)誤差

系統(tǒng)誤差是矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)量過程中的主要誤差來源，通常由儀器內(nèi)部測(cè)試裝置的不理想特性引起。這類誤差是可預(yù)知和重復(fù)出現(xiàn)的，不隨時(shí)間變化，可以通過校準(zhǔn)過程定量描述并消除。系統(tǒng)誤差主要包括：

方向性誤差 ：由于內(nèi)部反射，網(wǎng)絡(luò)分析儀可能無法區(qū)分來自待測(cè)件（DUT）的信號(hào)和內(nèi)部反射的信號(hào)。

源匹配誤差 ：源的不完美匹配可能導(dǎo)致測(cè)量誤差。

負(fù)載匹配誤差 ：網(wǎng)絡(luò)分析儀對(duì)DUT的負(fù)載匹配不完善會(huì)引起誤差。

傳輸跟蹤誤差 ：在測(cè)量傳輸參數(shù)時(shí)，由于儀器內(nèi)部路徑的不匹配導(dǎo)致誤差。

2. 隨機(jī)誤差

隨機(jī)誤差是不可預(yù)知的，以隨機(jī)形式存在，并會(huì)隨時(shí)間變化。由于其隨機(jī)性，無法通過校準(zhǔn)消除。隨機(jī)誤差的主要來源包括：

內(nèi)部噪聲 ：如激勵(lì)源的相位噪聲、采樣噪聲、中頻接收機(jī)本底噪聲等。

外部噪聲 ：環(huán)境噪聲，如電磁干擾（EMI）也可能引起隨機(jī)誤差。

3. 漂移誤差

漂移誤差是儀器校準(zhǔn)后測(cè)試裝置性能的漂移，主要是由于溫度變化造成的。雖然漂移誤差可以通過進(jìn)一步校準(zhǔn)消除，但校準(zhǔn)后儀表能夠保持穩(wěn)定精度的時(shí)間長(zhǎng)短取決于測(cè)量環(huán)境中儀表的漂移速度。

4. 校準(zhǔn)誤差

即使進(jìn)行了校準(zhǔn)，也可能存在一些誤差，這些誤差可能來源于：

校準(zhǔn)件的不完美 ：校準(zhǔn)件本身的特性并非理想，可能存在寄生電容或電感。

校準(zhǔn)方法的局限性 ：某些校準(zhǔn)方法可能無法完全消除所有系統(tǒng)誤差。

5. 連接誤差

在測(cè)量過程中，由于連接器件（如適配器、連接器）的不完善也會(huì)引起誤差。

6. 測(cè)量配置誤差

測(cè)量配置，如測(cè)試端口的設(shè)置錯(cuò)誤或不匹配，也可能導(dǎo)致誤差。

7. 動(dòng)態(tài)范圍限制誤差

由于VNA的動(dòng)態(tài)范圍限制，當(dāng)待測(cè)信號(hào)非常接近噪聲水平時(shí)，可能無法準(zhǔn)確測(cè)量。

誤差校準(zhǔn)

為了減少系統(tǒng)誤差的影響，可以采用多種校準(zhǔn)方法，如：

SOLT ：一種常用的校準(zhǔn)方法，適用于雙端口網(wǎng)絡(luò)分析儀，可以校正包括傳輸跟蹤誤差在內(nèi)的多個(gè)誤差項(xiàng)。

LRL/TRL ：使用傳輸線器件進(jìn)行校準(zhǔn)，適用于寬頻段校準(zhǔn)。

電子校準(zhǔn)件 ：利用電子校準(zhǔn)件可以簡(jiǎn)化校準(zhǔn)過程，提高校準(zhǔn)速度和精度。