作者介紹

在上期文章中我們介紹了ADC靜態(tài)參數(shù)測試的“測試適用性”和“硬件準(zhǔn)備”，今天將為您介紹測試的“軟件配置”以及“開始測試和查看結(jié)果”的內(nèi)容。

閱讀完本文，您將深入了解德思特ATX測試系統(tǒng)的強大功能和簡便操作，確保您的ADC性能測試既準(zhǔn)確又高效。

一、軟件配置

軟件配置分為上位機與下位機兩個部分。下位機軟件已經(jīng)預(yù)裝在德思特ATX測試系統(tǒng)的嵌入式計算機內(nèi)，確保了即開即用的便利性。用戶僅需連接電源線和網(wǎng)線，按下開機按鈕，系統(tǒng)便會自動執(zhí)行程序的啟動、硬件上電自檢和初始化過程。

對于下位機軟件的配置，通常情況下，我們只需通過觸控屏調(diào)整網(wǎng)絡(luò)設(shè)置參數(shù)。最快捷的方式是啟用DHCP，讓系統(tǒng)自動獲取IP地址，用戶只需記錄下分配到的IP地址即可。如果需要更穩(wěn)定的網(wǎng)絡(luò)環(huán)境，也可以手動設(shè)置一個固定的IP地址。

至于上位機軟件——ATView7006，也會作為標(biāo)準(zhǔn)交付內(nèi)容之一提供給用戶，無需額外進行訂購。我們只需要找一臺裝有Windows系統(tǒng)的電腦，通過交付內(nèi)容中配套的資料光盤進行安裝即可，如果電腦缺少光驅(qū)，也可以聯(lián)系德思特獲取數(shù)字版安裝包和其他資料。安裝后，我們進入軟件，在通訊配置面板中填入剛才確認(rèn)到的IP地址，點擊“Ok”按鈕，即可完成與下位機的連接。

1.新建項目

連上設(shè)備，我們就可以在軟件中執(zhí)行新建項目。在創(chuàng)建好相關(guān)項目文件后，軟件會自動彈窗讓我們配置下位機有什么硬件模塊，一般情況下，我們并不需要手動配置，只需要點擊“Read from ATX”按鈕，上位機便會跟下位機進行通訊，自動獲取相關(guān)硬件信息。

按“OK”按鈕后，軟件主界面便會自動增加每個硬件模塊對應(yīng)的控制面板。我們也可以通過手動取消勾選的方式，來禁用部分在本次測試中不需要用到的硬件模塊。比如下圖中的WFD20數(shù)字化儀模塊（用于DAC測試）以及AWG18模塊（用于其它UUT的另一個AWG）的相關(guān)控制面板就已經(jīng)被筆者禁用并折疊了。

2.測試概覽設(shè)置

完成項目文件的創(chuàng)建后，我們首先需要確認(rèn)待測ADC的輸入情況，并告訴軟件我們打算用哪個模塊作為主要的信號輸出輸入模塊，來開展這次測試。

前文已經(jīng)提到，我們作為示例的AD7671分辨率為16位，采用單端輸入，并且當(dāng)前選用的輸入量程檔位對應(yīng)的電壓是-5 ~ +5 V。因此我們將相關(guān)信息填入，如下圖所示。

其中值得一提的是，我們提供了一個1/2 LSB校正的選項，該選項適用于那些第一個LSB設(shè)計寬度只有其他LSB一半的ADC或DAC使用，開啟后會自動改變理想轉(zhuǎn)換曲線，并根據(jù)這種情況修正各種線性、非線性誤差的計算。經(jīng)過我們核實，AD7671并不屬于這種情況，因此我們沒有實際勾選該選項。

3.DIO模塊設(shè)置

我們按前面給出的軟件設(shè)置界面從上往下順序看，第二個設(shè)置板塊就是DIO模塊。在ADC測試中，DIO模塊扮演著關(guān)鍵角色：對外，它負(fù)責(zé)與ADC的通信，提供必要的時鐘信號、采集觸發(fā)信號、狀態(tài)配置等，并接收轉(zhuǎn)換后的數(shù)字碼；對內(nèi)，它作為時序指揮中心，控制任意波形發(fā)生器（AWG）的更新時機。德思特ATX測試系統(tǒng)正是利用了DIO模塊的這些功能，精確滿足了斜坡測試對設(shè)備間時序協(xié)調(diào)的嚴(yán)格需求。

首先，我們確認(rèn)我們的UUT通訊方式和電平，這些信息我們可以從AD7671的官方數(shù)據(jù)手冊中獲取。這里我們按手冊的要求，設(shè)置3.3V的IO電壓、MSB串行通訊的IO模式，以及16bit的字長。

在I/O大類下，我們還提供了3個設(shè)置選項卡：分別是Static data bits、Masks和Data shift。其中Static data bits用來控制8個靜態(tài)數(shù)字輸出口；Masks用于設(shè)置位掩碼，可以將某些指定位忽略或者置反，這對于某些具有特殊輸出規(guī)則的情況會派上用場；Data shift則是對測試結(jié)果按位左移或右移，主要適用于在最高位或最低位有無效位輸出的UUT。

接下來是DIO模塊設(shè)置的重頭戲——時序設(shè)置部分。我們只需要點擊右下角的“Pattern Bits…”按鈕即可打開一個新的時序設(shè)置面板窗口。在這里，可以通過手動調(diào)節(jié)窗口內(nèi)的時序圖，控制DIO模塊對內(nèi)對外的各個信息。在本示例當(dāng)中，這些信號包括了提供給ADC的SCLK時鐘信號、CS#使能信號以及CONVST#轉(zhuǎn)換開始信號；也包括了采集側(cè)的串行位移信號SerClk、采集鎖存信號CaptClk、AWG輸出時鐘信號SimClk。此外，我們還能通過調(diào)節(jié)PLL頻率以及分頻系數(shù)決定時序圖中每一格對應(yīng)的時間長度。

其中，輸出到ADC的信號波形和PLL時鐘參數(shù)，可以由UUT數(shù)據(jù)手冊中關(guān)于時序部分的要求決定；而對內(nèi)的各種觸發(fā)信號，則需要依據(jù)所選用AWG模塊對應(yīng)的手冊說明內(nèi)容決定。由于篇幅限制，此處不展開說明，相關(guān)手冊可向德思特索取。

有部分細(xì)心的讀者可能發(fā)現(xiàn)了：控制AWG刷新的StimClk信號時序位置晚于控制ADC開始轉(zhuǎn)換的CONVST#信號，這樣不會導(dǎo)致ADC本次轉(zhuǎn)換得到的是AWG的上一個輸出值對應(yīng)的結(jié)果嗎？關(guān)于這個問題，我們實際上可以通過設(shè)置DIO模塊參數(shù)的“Latency counts”來解決，該參數(shù)設(shè)為1即表示，DIO需要提前多獲取一個周期的數(shù)據(jù)并將其丟棄，從第二個周期開始的數(shù)據(jù)才采用，并且后續(xù)軟件處理中，采回的數(shù)據(jù)會自動對應(yīng)回AWG第一個周期的電壓。這個功能也適用于一些具有流水級或其他原因?qū)е螺敵鼍哂兄芷谘舆t的ADC。

還有讀者可能會疑惑，StimClk信號是處于串行讀出階段的，這樣不會有相互沖突嗎？實際上這個也是一個優(yōu)化的小技巧，根據(jù)UUT數(shù)據(jù)手冊的描述，ADC轉(zhuǎn)換實際上只在CONVST#信號到達(dá)之后的一段時間內(nèi)進行，在其之后的串行數(shù)據(jù)讀出階段到下一次CONVST#信號到來之前，輸入電壓改變實際上并不會有任何影響，因此把StimClk信號放在串行讀出階段，可以顯著縮短整個時序周期的長度，從而提升最高測試采樣率和測試效率。

4.AWG設(shè)置

AWG部分的配置允許用戶定義測試激勵信號的具體形式和參數(shù)，并提供了調(diào)整信號前端處理工作參數(shù)的選項。配置界面的左半部分采用了簡化的原理圖形式，直觀展示了AWG的結(jié)構(gòu)，這不僅幫助用戶理解其硬件功能，還清晰地指示了各個參數(shù)的實際影響，有效降低了用戶的學(xué)習(xí)門檻。

在這次示例當(dāng)中，我們首先把左上角的連接方式，選為“Connected, with GND Sense”，從原理圖中的線路閉合情況就可以看出，該選項短路了50Ω輸出負(fù)載電阻，并且在反饋回路中，斷開了與輸出近端地的連接。換句話說，這種配置適用于UUT輸入電阻為高阻的情況，同時，將GND反饋線延伸至待測芯片附近，能夠更有效地針對實際的浮地問題進行補償反饋，從而提高測試的精度。這些配置確保了測試環(huán)境與UUT的實際工作條件相匹配，增強了測試結(jié)果的可信度。

此外，我們還可以從原理圖得知，AWG內(nèi)部有兩個DAC：主DAC負(fù)責(zé)波形的產(chǎn)生，信號隨后會通過一個濾波器和一個調(diào)整幅值的放大器；而次DAC主要負(fù)責(zé)生成高精度的DC偏置信號，這兩種信號會相加到輸出信號當(dāng)中。由于我們待測芯片的量程是-5 ~ +5 V，因此偏置DAC輸出值保持為0即可。關(guān)于放大器的設(shè)置，選項中的5.12 Vp指的是峰-峰值的一半，這意味著其輸出的最高電壓距離直流基線最多可以高出5.12 V，配合0V的DC偏置，實際可以產(chǎn)生-5.12 V到+5.12 V電壓。

在配置面板的右側(cè)區(qū)域，我們可以找到一組專門用于描述信號波形的關(guān)鍵參數(shù)。正如我們往期文章所討論的，進行斜坡測試時，我們必須考慮到實際待測芯片的轉(zhuǎn)換范圍可能與標(biāo)稱范圍存在細(xì)微差異。為了解決這個問題，我們設(shè)置的斜坡信號起始電壓應(yīng)該稍低于待測芯片的最低標(biāo)稱轉(zhuǎn)換電壓，而斜坡信號的終止電壓則應(yīng)稍高于其最高標(biāo)稱轉(zhuǎn)換電壓。基于這一考慮，我們將斜坡的起始電壓設(shè)定為-5.01 V，終止電壓設(shè)定為+5.01 V。這樣的參數(shù)配置使得對UUT實際轉(zhuǎn)換范圍偏差的測量成為可能，同時也能適應(yīng)更多實際測量場景。

值得一提的是，在設(shè)計信號前端放大器時，我們選擇5.12Vp作為其中一個檔位，而不是直接采用常見的5Vp范圍值，正是出于同樣的考量。我們的設(shè)計目標(biāo)之一便是在盡可能不影響輸出精度的前提下，允許波形的幅值略微超出標(biāo)準(zhǔn)ADC的轉(zhuǎn)換范圍，從而提供更大的靈活性和更高的測量精度。

此外，在配置面板的波形參數(shù)設(shè)置區(qū)域頂部，我們貼心地提供了一個預(yù)覽功能按鈕。用戶只需輕輕一點，即可快速查看預(yù)計輸出的波形圖樣。這一功能極大地幫助用戶確認(rèn)幅值、周期等關(guān)鍵參數(shù)是否正確設(shè)置，從而有效預(yù)防由于配置失誤導(dǎo)致的UUT損壞。

5.電源設(shè)置

電源部分的設(shè)置相對簡單。在本次示例中，DPS16模塊為UUT提供5 V供電，而同時DRS20模塊則負(fù)責(zé)輸出2.5 V參考電源，在操作上，用戶只需將這兩個電壓值分別輸入到對應(yīng)模塊的輸出電壓設(shè)置欄即可。為了實現(xiàn)更高的電壓輸出精度，我們使用了4線制連接方式。如果條件允許，我們也強烈建議用戶同樣采用這種連接方式，以確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

二、開始測試和查看結(jié)果

在設(shè)置好上述各種參數(shù)后，別忘了保存項目文件，這樣下次只需要導(dǎo)入本次的項目文件，即可快速完成配置，而無需重復(fù)以上步驟。完成配置后點擊最上方“ATX7006 general measurement setup”面板中的“Start !”按鈕即可開始自動化測試和分析流程。待到測試和分析過程結(jié)束，相關(guān)結(jié)果就會以彈窗形式呈現(xiàn)給用戶。

用戶可以點擊彈窗工具欄中的各個不同視圖按鈕，就可以輕松切換并獲取多種分析結(jié)果，比如點擊“B.FIT”視圖按鈕即可獲得最佳擬合直線下的INL、TUE、DNL等參數(shù)。從結(jié)果中，我們可以直接讀出該UUT測得INL為1.355 LSB，該數(shù)據(jù)符合官方數(shù)據(jù)手冊中標(biāo)稱的±2.5 LSB Max (±0.0038% of Full Scale)。

同時還可以利用放大鏡、光標(biāo)等內(nèi)置工具，觀察數(shù)據(jù)圖的細(xì)節(jié)部分，從而進行更加深入的研究和問題定位。此外，不論是結(jié)果圖、計算結(jié)果還是原始采集數(shù)據(jù)，該軟件都提供了相應(yīng)的導(dǎo)出功能，允許用戶工程師利用這些數(shù)據(jù)進行其他運算和處理分析工作。

總結(jié)

通過本文的介紹，我們深入了解了德思特ATX測試系統(tǒng)以及斜坡測試方法在ADC靜態(tài)參數(shù)測試中的應(yīng)用。這一流程在顯著簡化傳統(tǒng)測試步驟的同時，確保了測試結(jié)果的精確性和可靠性。使用德思特ATX測試系統(tǒng)，工程師們可以輕松地完成從硬件準(zhǔn)備到軟件配置的全過程，無需擔(dān)心儀器間的聯(lián)動問題，也無需進行復(fù)雜的編程和調(diào)試工作。

斜坡測試方法以其高效性和直觀性，被認(rèn)為是獲取UUT靜態(tài)參數(shù)的理想選擇。通過德思特ATX測試系統(tǒng)的高度自動化和集成化，工程師可以快速地配置和執(zhí)行測試，在直接獲取關(guān)鍵數(shù)據(jù)結(jié)果之余，也允許用戶導(dǎo)出數(shù)據(jù)進行額外處理。這種測試方法不僅提高了測試效率，還降低了人為錯誤的可能性，從而提高了整體測試質(zhì)量。

總體而言，德思特ATX測試系統(tǒng)結(jié)合斜坡測試方法，為ADC靜態(tài)參數(shù)測試提供了一種高效、精確且用戶友好的解決方案。這種一體化的測試裝備和創(chuàng)新的測試流程，無疑將幫助工程師們更加專注于產(chǎn)品設(shè)計開發(fā)的核心環(huán)節(jié)，加快產(chǎn)品上市時間，同時確保產(chǎn)品的高質(zhì)量和性能。對于想要深入了解德思特ATX測試系統(tǒng)或相關(guān)的ADC測試方法，以及尋求更多相關(guān)資料和技術(shù)支持的讀者，我們誠摯邀請您聯(lián)系德思特。我們的專業(yè)團隊將為您提供詳細(xì)的產(chǎn)品信息、個性化的咨詢以及全方位的技術(shù)支持，確保您能夠充分利用我們的解決方案，提升您的測試效率和產(chǎn)品質(zhì)量。

審核編輯 黃宇