前篇回顧:
瑞薩RX MCU功能安全解決方案簡(jiǎn)介(1)參考文檔
瑞薩RX MCU功能安全解決方案簡(jiǎn)介(2)硬件參考板
01
RX系列Self-Test軟件包
內(nèi)容
RX系列MCU自檢軟件包,包括診斷軟件、安全手冊(cè)、用戶指南和IEC61508功能安全認(rèn)證文檔。
RX系列MCU診斷軟件已通過(guò)功能安全標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證,因此可以直接集成到您的系統(tǒng)中。無(wú)需進(jìn)行認(rèn)證。
02
RX系列MCU診斷軟件
概要
RX系列MCU診斷軟件是針對(duì)CPU, RAM, 和ROM的永久失效診斷軟件。
CPU和內(nèi)部RAM的目標(biāo)診斷覆蓋率為90%,內(nèi)部ROM的目標(biāo)診斷覆蓋率為99%。
本軟件不包括片上外設(shè)模塊和外部存儲(chǔ)器的永久失效或瞬態(tài)失效檢測(cè)。
必要的資源
RX系列MCU診斷軟件所需的MCU資源。
診斷軟件使用內(nèi)部ROM和RAM,片上CRC模塊。不需要外部引腳。
*1:兼容RX111, RX113, RX130
*2:兼容RX24U, RX24T, RX230/RX231, RX23T, RX23W, RX23E-A
*3:兼容RX66T, RX66N, RX651/RX65N, RX64M
*4:兼容RX72M, RX72T, RX72N, RX71M
Self-Test 軟件包訂購(gòu)號(hào)碼
用戶可以通過(guò)這些訂購(gòu)號(hào)購(gòu)買(mǎi)自檢軟件包。
目前支持的編譯器為瑞薩CC-RX編譯器和IAR的編譯器,需要注意的是,使用自檢軟件包時(shí),編譯器的版本是限定的,不支持此處列出的其他版本。
*1:兼容RX111, RX113, RX130
*2:兼容RX24U, RX24T, RX230/RX231, RX23T, RX23W, RX23E-A
*3:兼容RX66T, RX66N, RX651/RX65N, RX64M
*4:兼容RX72M, RX72T, RX72N, RX71M
04
RX系列MCU診斷軟件
CPU 內(nèi)核診斷
RX系列MCU診斷軟件執(zhí)行的CPU內(nèi)核診斷。
對(duì)于目標(biāo)區(qū)域和失效類(lèi)型來(lái)說(shuō),這個(gè)診斷用于檢測(cè)CPU內(nèi)核和通用寄存器中的永久失效。
對(duì)于診斷方法來(lái)說(shuō),在CPU內(nèi)核診斷中,從一系列CPU指令代碼執(zhí)行中生成簽名,并將簽名與預(yù)定義的預(yù)期值進(jìn)行比較。
對(duì)于診斷覆蓋率,該軟件的診斷覆蓋率為90%。
CPU內(nèi)核診斷被劃分為多個(gè)測(cè)試單元,以不影響其他程序的性能。
CPU內(nèi)核診斷的測(cè)試單元的數(shù)量和總執(zhí)行時(shí)間如表中所示。
*1: Unit = CPU clock cycles
內(nèi)部ROM診斷
是RX系列MCU診斷軟件執(zhí)行的內(nèi)部ROM診斷。
對(duì)于目標(biāo)區(qū)域和失效類(lèi)型來(lái)說(shuō),此診斷用于檢測(cè)內(nèi)部ROM的永久性失效。
它不包括MCU外部的ROM。
對(duì)于診斷方法來(lái)說(shuō),在這個(gè)診斷中,ROM在其寫(xiě)入操作期間通過(guò)計(jì)算其內(nèi)容的CRC值并與PC工具計(jì)算的參考CRC值進(jìn)行比較來(lái)進(jìn)行測(cè)試。
對(duì)于診斷覆蓋率,這個(gè)軟件的診斷覆蓋率為99%。
有兩個(gè)多項(xiàng)式可用于CRC計(jì)算。
當(dāng)ROM診斷的大小為4Kbyte時(shí),執(zhí)行時(shí)間如表中所示。
*1: Unit = CPU clock cycles
*2: 當(dāng)ROM診斷的大小為 4 Kbyte
內(nèi)部RAM診斷
RX系列MCU診斷軟件執(zhí)行的內(nèi)部RAM診斷。
對(duì)于目標(biāo)區(qū)域和失效類(lèi)型,此診斷用于檢測(cè)內(nèi)部RAM中的永久性失效。它不包括瞬態(tài)失效和對(duì)MCU外部的RAM的檢測(cè)。
對(duì)于診斷算法,可提供兩種診斷算法。
根據(jù)IEC 61508,MarchC僅提供60%的診斷覆蓋率。瑞薩開(kāi)發(fā)了ExtendedMarch C-,這是MarchC的功能增強(qiáng)版,可實(shí)現(xiàn)90%的診斷覆蓋率。
對(duì)于診斷類(lèi)型,內(nèi)部RAM可以用破壞性或非破壞性方法進(jìn)行測(cè)試。當(dāng)RAM診斷的大小為 1Kbyte時(shí)執(zhí)行時(shí)間如表中所示。
*1: Unit = CPU clock cycles
*2:當(dāng)RAM診斷的大小為 is 1Kbyte
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原文標(biāo)題:瑞薩RX MCU功能安全解決方案簡(jiǎn)介(3)Self-Test自檢軟件包
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