測試點(diǎn):
測試點(diǎn)的直徑是測試點(diǎn)大小的重要參數(shù)。以下是測試點(diǎn)的兩個(gè)關(guān)鍵直徑參數(shù):
A=最小測試點(diǎn)直徑=0.762mm(30mil)
這個(gè)直徑是測試點(diǎn)的最小尺寸,用于確保測試探針可以準(zhǔn)確地與測試點(diǎn)接觸。如果測試點(diǎn)直徑小于這個(gè)值,可能會導(dǎo)致測試探針無法正確接觸到測試點(diǎn),從而影響測試的準(zhǔn)確性。
B=最小阻焊層和絲印保持直徑=A+0.152mm(6mil)
這個(gè)直徑是為了確保在測試點(diǎn)周圍有足夠的空間來保留阻焊層和絲印。在測試點(diǎn)周圍保留阻焊層和絲印可以保護(hù)測試點(diǎn),并提供額外的機(jī)械強(qiáng)度和標(biāo)識。
以上是測試點(diǎn)的直徑參數(shù),其中最小測試點(diǎn)直徑用于確保測試探針的接觸,而最小阻焊層和絲印保持直徑用于保護(hù)測試點(diǎn)并提供機(jī)械強(qiáng)度和標(biāo)識。這些直徑參數(shù)是根據(jù)設(shè)計(jì)要求和標(biāo)準(zhǔn)來確定的,可以根據(jù)具體的應(yīng)用和需求進(jìn)行調(diào)整。
測試點(diǎn)最小尺寸
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原文標(biāo)題:測試點(diǎn)要求
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其它的測試方法想要取代原本的針床測試,如AOI、X-Ray,但目前每個(gè)測試似乎都還無法100%取代ICT。
關(guān)于ICT的植針能力應(yīng)該要詢問配合的治具廠商,也就是測試點(diǎn)的最小
發(fā)表于 02-27 08:57
請教一下哪位高手知道如何給PCB自動添加測試點(diǎn),菜單欄目錄下是有自動添加測試點(diǎn)的,可是我執(zhí)行了命令就是顯示不出來測試點(diǎn),還望各位指點(diǎn)一下,謝了
發(fā)表于 04-05 09:05
的針床測試,如AOI、X-Ray,但目前每個(gè)測試似乎都還無法100%取代ICT。關(guān)于ICT的植針能力應(yīng)該要詢問配合的治具廠商,也就是測試點(diǎn)的最小直徑及相鄰
發(fā)表于 08-24 14:46
,延長探針使用壽命。3.測試點(diǎn)距離PCB邊緣需大于5mm;需放置在元件周圍1mm以外,避免探針和元件撞擊;需放置在定位孔環(huán)狀周圍3.2mm以外。4.測試點(diǎn)的直徑不小于0.4mm,相鄰測試點(diǎn)
發(fā)表于 02-06 17:33
。 關(guān)于ICT的植針能力應(yīng)該要詢問配合的治具廠商,也就是測試點(diǎn)的最小直徑及相鄰測試點(diǎn)的最小距離,通常多會有一個(gè)希望的最小值與能力可以達(dá)成的最小值,但有規(guī)模的廠商會要求最小測試點(diǎn)與最小
發(fā)表于 09-17 17:44
是測試點(diǎn)的最小直徑及相鄰測試點(diǎn)的最小距離,通常多會有一個(gè)希望的最小值與能力可以達(dá)成的最小值,但有規(guī)模的廠商會要求最小測試點(diǎn)與最小測試點(diǎn)間距離
發(fā)表于 09-18 15:26
。測試點(diǎn)的外觀通常是圓形,因?yàn)樘结樢彩菆A形,比較好生產(chǎn),也比較容易讓相鄰探針靠得近一點(diǎn),這樣才可以增加針床的植針密度。 1.使用針床來做電路測試會有一些機(jī)構(gòu)上的先天上限制,比如說:探針的最小直徑有一定
發(fā)表于 11-21 11:09
的最小直徑及相鄰測試點(diǎn)的最小距離,通常多會有一個(gè)希望的最小值與能力可以達(dá)成的最小值,但有規(guī)模的廠商會要求最小測試點(diǎn)與最小測試點(diǎn)間距離不可以超過多少點(diǎn),否則治具還容易毀損。
發(fā)表于 11-28 11:42
想要取代原本的針床測試,如AOI、X-Ray,但目前每個(gè)測試似乎都還無法100%取代ICT。關(guān)于ICT的植針能力應(yīng)該要詢問配合的治具廠商,也就是測試點(diǎn)的最小直徑及相鄰
發(fā)表于 09-17 06:30
1.PCB上可設(shè)置若干個(gè)測試點(diǎn),這些測試點(diǎn)可以是孔或焊盤。  
發(fā)表于 04-16 20:20
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