一前言

在EMI(電磁干擾)整改的歷程中，當(dāng)我們針對某一系列產(chǎn)品完成了多個項目的整改后，面對該系列中某款產(chǎn)品的測試數(shù)據(jù)異常，通常能夠較為準(zhǔn)確地預(yù)判其可能的問題所在。然而，這并不意味著所有情況都能如此直接判斷。EMI問題的根源復(fù)雜多樣，不僅限于產(chǎn)品的PCB(印刷電路板)設(shè)計缺陷。

實際上，產(chǎn)品的物理結(jié)構(gòu)以及測試時的擺放方式同樣會對EMI測試結(jié)果產(chǎn)生顯著影響。因此，在進行EMI問題排查時，我們需要采取更為全面和細(xì)致的策略，以應(yīng)對這些多元化的挑戰(zhàn)。

二案例分享

今天分享的是一款脫毛儀產(chǎn)品的整改過程，下面是該產(chǎn)品的EMI測試摸底數(shù)據(jù)，如下圖：

摸底數(shù)據(jù)垂直方向圖(1)

摸底數(shù)據(jù)水平方向圖(2)

【分析】：

從測試的摸底數(shù)據(jù)來看，在150MHz-250MHz分布著有規(guī)律間隔的尖峰單支，這從以往對脫毛儀整改的經(jīng)驗來看，可以基本判定為觸摸方案通過觸摸數(shù)據(jù)線輻射出來的噪聲數(shù)據(jù)。

【整改措施】：

把觸摸數(shù)據(jù)線串的阻容參數(shù)來改善EMI的測試噪聲輻射大小。因為本來產(chǎn)品本來就有阻容，所以嘗試著修改觸摸采用的阻容參數(shù)再進行測試驗證，修改位置如下圖：

修改觸摸數(shù)據(jù)線的阻容參數(shù)位置圖(3)

修改完后測試的數(shù)據(jù)依舊不盡人意，測試完的數(shù)據(jù)基本和摸底的是差不多的，雖然之后也嘗試了多組其他的參數(shù)，但測試結(jié)果都是一樣的。

【分析】：

在這種情況下，我覺得應(yīng)該是觸摸數(shù)據(jù)線的芯片引腳的其他數(shù)據(jù)引腳耦合到數(shù)據(jù)線的噪聲輻射出來的。

接下來在這些可能耦合到噪聲的數(shù)據(jù)線上都加了濾波措施，然后繼續(xù)進行EMI測試，測試的結(jié)果依舊和摸底的數(shù)據(jù)基本一致。最后連觸摸數(shù)據(jù)線都直接斷開后測試，測試的數(shù)據(jù)還是一樣沒有改善。

測試到了這一步我也很疑惑，因為之前的產(chǎn)品都是通過這些方法就得以解決的，而這次這些整改措施一點效果都沒有。

后在對產(chǎn)品的問題點重新排查的過程中，發(fā)現(xiàn)在芯片的下方有引出一根走線也有著和測試數(shù)據(jù)一樣的噪聲頻率。經(jīng)過與客戶溝通后得知這也是觸摸線，客戶在產(chǎn)品的側(cè)邊也新增加了一個觸摸功能，該觸摸走線和前面的觸摸走線在芯片的相鄰引腳上，而且沒有任何濾波測試。

【整改措施】：

于是在該線上串一個2K的濾波電阻，如下圖：

紅框位置串2K電阻圖(4)

測試的結(jié)果如下圖：

整改后EMI測試數(shù)據(jù)圖(5)

可以看出在150MHz-250MHz分布著有規(guī)律間隔的尖峰單支噪聲數(shù)據(jù)已經(jīng)消失。

三總結(jié)

在EMI整改過程中，一款產(chǎn)品的多次整改會讓我們對該產(chǎn)品的問題點無比的熟悉，但是不是每一次的問題點都會在同一個位置，產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)和功能修改都有可能引起新的EMI問題，所以產(chǎn)品在前期設(shè)計對結(jié)構(gòu)和功能修改的評審格外重要。