隨著汽車照明技術(shù)的快速發(fā)展，新型光電子半導體器件不斷涌現(xiàn)，為汽車行業(yè)帶來革新。為保證駕駛安全，AEC Q102標準作為國際公認的規(guī)范，為車載光電子半導體器件的質(zhì)量和可靠性設立了嚴格的要求，對推動整個汽車行業(yè)的發(fā)展具有重要意義。

然而，隨著照明技術(shù)的飛速進步，新型光電子半導體和相關(guān)技術(shù)往往與照明應用并行開發(fā)，這使得有時難以遵循AEC Q102 表2描述的常規(guī)魯棒性 (Robustness Validation) 驗證方法。

AEC Q102認證等級要求

對于光電子半導體而言，其使用壽命很大程度上取決于具體的應用類型。因此，室內(nèi)照明通常與外部尾燈和前燈照明應用有不同的要求。此外，適用于卡車的應用可能與大多數(shù)私人汽車的要求也有所不同。針對這些問題，AEC Q102標準對光電子半導體的認證等級做出了劃分，如下表1和表2：

其中，魯棒性等級-0 (RV-level 0) 就是目前常規(guī)的AEC Q102測試認證。需要注意的是，在達到最終的魯棒性等級 (RV-level) 所要求的測試時長后，需要進行破壞性物理分析 (DPA)，超過1000小時/循環(huán) (RV-level 1 & 2) 以后的樣品數(shù)量可以減少到30 (3批，每批10個部件)。同時，更高等級魯棒性測試的失效判定同樣遵循AEC Q102的判定標準，并且要求0失效。

附加測試建議

RV-level 1 & 2是僅用于魯棒性評估的附加測試。通過AEC Q102表2中定義的測試（RV-level 0）已經(jīng)可以認為光電子半導體器件符合AEC Q102標準。

特別是對于RV-level 1 & 2，強烈建議通過過應力測試來確定失效模式和加速參數(shù)。以下測試基于SAE/USCAR-33推薦：

高溫工作壽命

結(jié)溫Tj = 最大規(guī)定Tj +15°C （對于功率低于1W的低功率和中等功率LED，為Tj +30°C）

正向電流IF = 1.25倍最大規(guī)定IF （對于功率低于1W的低功率和中等功率LED，為1.5倍）

高濕度與溫度工作壽命

環(huán)境條件：85°C，85%相對濕度

正向電流IF = 1.25倍最大規(guī)定IF （對于功率低于1W的低功率和中等功率LED，為1.5倍）

功率溫度循環(huán)

溫度范圍TS = -40°C 至 125°C

每個溫度保持10分鐘，轉(zhuǎn)換時間20分鐘

每次通電/斷電2分鐘

正向電流IF = 1.3倍最大規(guī)定IF （對于功率低于1W的低功率和中等功率LED，為1.5倍）

溫度沖擊

溫度：-55°C/150°C

每個溫度保持15分鐘，轉(zhuǎn)換時間小于10秒

樣本大小：

78個器件（分為3批，每批26個器件）

應力持續(xù)時間：

直到50%的樣本失效，最長1500小時/循環(huán)

按照AEC Q102進行預處理，并執(zhí)行應力測試前后的光電參數(shù)測試。

對于失效判定，應遵循AEC Q102判定標準。

對于每個測試，應對2個 (失效的) 器件進行破壞性物理分析 (DPA)。

目前，越來越多的廠商已經(jīng)不再僅僅局限于常規(guī)的AEC Q102測試認證，而是對光電子器件的魯棒性等級提出了更高的要求，以適應市場和消費者的需求。SGS擁有全套AEC Q102的測試認證能力，并提供更高RV-level的測試服務，致力于為客戶的光電子器件提供全方位的可靠性保障，助力產(chǎn)品在全球市場上脫穎而出。