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在MOSFET器件的功率問題中如何采用反激轉(zhuǎn)換器消除米勒效應(yīng)

電子設(shè)計(jì) ? 來源:網(wǎng)絡(luò)整理 ? 作者:佚名 ? 2020-01-13 07:59 ? 次閱讀

設(shè)計(jì)電源時(shí),工程師常常會(huì)關(guān)注與MOSFET導(dǎo)通損耗有關(guān)的效率下降問題。在出現(xiàn)較大RMS電流的情況下, 比如轉(zhuǎn)換器在非連續(xù)導(dǎo)電模式(DCM)下工作時(shí),若選擇Rds(on)較小的MOSFET,芯片尺寸就會(huì)較大,從而輸入電容也較大。也就是說,導(dǎo)通損耗的減小將會(huì)造成較大的輸入電容和控制器較大的功耗。當(dāng)開關(guān)頻率提高時(shí),問題將變得更為棘手。

圖1 MOSFET導(dǎo)通和關(guān)斷時(shí)的典型柵電流

圖2 MOSFET中的寄生電容

圖3 典型MOSFET的柵電荷

圖4 基于專用控制器的簡單QR轉(zhuǎn)換器

圖5 ZVS技術(shù)消除米勒效應(yīng)

MOSFET導(dǎo)通和關(guān)斷時(shí)的典型柵電流如圖1所示。在導(dǎo)通期間,流經(jīng)控制器Vcc引腳的峰值電流對(duì)Vcc充電;在關(guān)斷期間,存儲(chǔ)的電流流向芯片的接地端。如果在相應(yīng)的面積上積分,即進(jìn)行篿gate(t)dt,則可得到驅(qū)動(dòng)晶體管的柵電荷Qg 。將其乘以開關(guān)頻率Fsw,就可得到由控制器Vcc提供的平均電流。因此,控制器上的總開關(guān)功率(擊穿損耗不計(jì))為:

Pdrv = Fsw×Qg×Vcc (1)

如果使用開關(guān)速度為100kHz的12V控制器驅(qū)動(dòng)?xùn)烹姾蔀?00nC的MOSFET,驅(qū)動(dòng)器的功耗即為100nC×100kHz×12V=10mA×12V=120mW。

MOSFET的物理結(jié)構(gòu)中有多種寄生單元,其中電容的作用十分關(guān)鍵,如圖2所示。產(chǎn)品數(shù)據(jù)表中的三個(gè)參數(shù)采取如下定義:當(dāng)源-漏極短路時(shí),令Ciss = Cgs + Cgd;當(dāng)柵-源極短路時(shí),令Coss = Cds + Cgd;Crss = Cgd。

驅(qū)動(dòng)器實(shí)際為柵-源極連接。當(dāng)斜率為dt 的電壓V施加到電容C上時(shí)(如驅(qū)動(dòng)器的輸出電壓),將會(huì)增大電容內(nèi)的電流:

I=C×dV/dt (2)

因此,向MOSFET施加電壓時(shí),將產(chǎn)生輸入電流Igate = I1 + I2,如圖2所示。在右側(cè)電壓節(jié)點(diǎn)上利用式(2),可得到:

I1=Cgd×d(Vgs-Vds)/dt=Cgd×(dVgs/dt-dVds/dt) (3)I2=Cgs×d(Vgs/dt) (4)如果在MOSFET上施加?xùn)?源電壓Vgs,其漏-源電壓Vds 就會(huì)下降(即使是呈非線性下降)。因此,可以將連接這兩個(gè)電壓的負(fù)增益定義為:

Av=-dVds/dVgs (5)

將式(5)代入式(3)和式(4)中,并分解 dVgs/dt,可得:

I1=Cgd×dVgs/dt×(1-dVds/dVgs)=Cgd×dVgs/dt×(1-Av) (6)在轉(zhuǎn)換(導(dǎo)通或關(guān)斷)過程中,柵-源極的總等效電容Ceq為:

Igate=(Cgd×(1-Av)+Cgs)×dVgs/dt=Ceq×dVgs/dt (7)式中(1-Av)這一項(xiàng)被稱作米勒效應(yīng),它描述了電子器件中輸出和輸入之間的電容反饋。當(dāng)柵-漏電壓接近于零時(shí),將會(huì)產(chǎn)生米勒效應(yīng)。典型功率MOSFET的柵電荷如圖3所示,該圖通過用恒定電流對(duì)柵極充電并對(duì)柵-源電壓進(jìn)行觀察而得。根據(jù)式(6),當(dāng)Ciss突然增大時(shí),電流持續(xù)流過。但由于電容急劇增加,而相應(yīng)的電壓升高dVgs卻嚴(yán)重受限,因此電壓斜率幾乎為零,如圖3中的平坦區(qū)域所示。

圖3也顯示出降低在轉(zhuǎn)換期間Vds(t)開始下降時(shí)的點(diǎn)的位置,有助于減少平坦區(qū)域效應(yīng)。Vds=100V時(shí)的平坦區(qū)域?qū)挾纫萔ds=400V時(shí)窄,曲線下方的面積也隨之減小。因此,如果能在Vds等于零時(shí)將MOSFET導(dǎo)通,即利用ZVS技術(shù),就不會(huì)產(chǎn)生米勒效應(yīng)。

在準(zhǔn)諧振模式(QR)中采用反激轉(zhuǎn)換器是消除米勒效應(yīng)較經(jīng)濟(jì)的方法, 它無需在下一個(gè)時(shí)鐘周期內(nèi)使開關(guān)處于導(dǎo)通狀態(tài),只要等漏極上的自然振蕩將電壓逐漸降至接近于零。與此同時(shí),通過專用引腳可以檢測(cè)到控制器再次啟動(dòng)了晶體管。通過在開關(guān)打開處反射的足夠的反激電壓(N×[Vout+Vf]),即可實(shí)現(xiàn)ZVS操作,這通常需要800V(通用范圍)的高壓MOSFET。基于安森美的NCP1207的QR轉(zhuǎn)換器如圖4所示,它可以直接使用高壓電源供電。該轉(zhuǎn)換器在ZVS下工作時(shí)的柵-源電壓和漏極波形如圖5所示。

總之,如果需要Qg較大的MOSFET,最好使反激轉(zhuǎn)換器在ZVS下工作,這樣可以減少平均驅(qū)動(dòng)電流帶來的不利影響。這一技術(shù)也廣泛應(yīng)用于諧振轉(zhuǎn)換器中。

責(zé)任編輯:gt


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