1. 摘要

在1999年，國際電聯技術委員會發布了一個應用于射頻組件及系統中無源互調測試的62037標準，在未來12年中，無線技術將從以提供語音的2G系統發展到以高速數據為主的4G 系統。這些4 G系統需要新的網絡體系結構與寬帶調制方案,才能達到提高網絡容量的需求。本文綜述了IEX62037標準對系統組件，子系統及當今電信基礎設施的適用性以及從技術方面解釋是否有必要將PIM 測試功率電平從20W 增加到40W。

PIM表示"無源交調"：它代表兩個或更多信號通過一個具非線性特性的無源器件傳輸時產生的交調產物。機械連接部分的相互作用一般會引起非線性效應，這在兩種不同金屬的接合處尤為明顯。實例包括：松動的電纜連接、不干凈的連接器、性能糟糕的雙工器或老化的天線等。無源交調在蜂窩通信行業是一個重大問題，而且非常難以排解。在蜂窩通信系統中，PIM可能引起干擾，降低接收機靈敏度，甚至完全阻塞通信。這種干擾可能影響產生它的蜂窩以及附近的其他接收機。例如，在LTE頻段2中，下行鏈路范圍是1930 MHz至1990 MHz，上行鏈路范圍是1850 MHz至1910 MHz。若有兩個分別位于1940 MHz和1980 MHz的發射載波從具有PIM的基站系統發射信號，則其交調會產生一個位于1900 MHz的分量，該分量落入了接收頻段，這會影響接收機。此外，位于2020 MHz的交調可能影響其他系統。

無源交調，落到接收機頻段

某些無源器件與其傳輸線路一起會產生無源交調。因此，當設計系統時，開發團隊應根據器件制造商給出的規格，選擇PIM最小或處于可接受水平的無源元件。環行器、雙工器和開關特別容易產生PIM效應。設計人員若能接受較高水平的無源交調，那么可以選擇成本較低、尺寸較小或性能較低的器件。

器件設計權衡：尺寸、功耗、抑制和PIM性能

2：為什么要進行PIM 測試當兩個、或多個射頻信號在非線性交界處時，在射頻通道中會產生無源互調干擾。這些干擾信號與原始的射頻輸入信號相調制產生新的干擾信號，如果新的干擾信號落入網絡運營商的接收頻帶內，抬升底噪會導致網絡數據速率及服務質量下降。PIM 多是由不一致的金屬接觸點在傳輸高強度電流時造成的，如傳輸線，射頻元件或外部系統中的主波束天線覆蓋區域。PIM 干擾源的常見來源如下：1.被污染或射頻表面氧化2.射頻連接頭扭曲3.射頻元件受到沖擊和振動導致內部螺絲或鉚釘松動4.射頻連接器內部的金屬薄片或元件碎屑5.因不當工具或不正確的組裝程序造成射頻終端損壞。6.基站天線對著金屬板片或生銹的通風管

無源互調測試是通過使用射頻傳輸信號和高度敏感的接收器來檢測和測量并發這些問題的所在。PIM 測試可以用來檢測射頻元件，子系統及移動網絡系統的性能，可以識別出靠傳統方式如外觀檢查及參數測量不能發現的問題，如機械性能，材料，工藝等問題。

3：國際電聯技術管理委員會在早期的商業電信中，很容易理解，根據其它通信系統和大多數特別是衛星通信，因為 PIM 能產生干擾故影響其性能。認識到這些問題以后，移動運營商和零部件供應商（生產天線，跳線，接頭，濾波器，避雷器等等）認識到需找到低PIM 解決方案。但是，關于低PIM 指導方針的資料很少。隨著議器的發展，世界各地的零部件制造商開始對其產品性能指定不同的或不一致的PIM參數，一些制造商只對實驗室的產品進行互調測試就聲稱是低PIM 產品，其它廠商則是對不同的部件進行了PIM 測試來核實是設計的問題還是組裝的問題。被認證的高階PIM 產品，如IM5 或IM7 是根據最終用戶帶寬來操作的，最后，一些制造商指定最差PIM 要進行動態測試，最好的PIM 值要進行靜態測試。

此類任意或隨意的態度，使他們不可能對產品和性能進行比較，為統一標準，IEC 委員會46工作組6 創建了一個關于PIM 測試的行業標準。這個工作小組由設備制造廠商，零部件制造廠商，高校和國際標準組織組成。

4: 發展中推薦的測試標準剛開始，在工作組中從學術，實用的或政治上進行了很多爭論。這些爭論包括使用什么方式，多大功率，什么樣的互調產品需要測量，怎么樣重復測試及動態測試的意義和PIM 測試是或是必要的，因為只有高階互調會落在移動運營商的接收頻帶內。經過大量的分析，試驗和討論，終于在1999 年IEC 制定并發布62037 標準。該規范對PIM測試定義了技術要求，在試驗裝置及一致性方面提供了建議。如下兩個主要原始規范：?移動通信系統PIM 測試應使用同樣的功率電平2*20W三階IM 產品通常代表了最壞情況，因此測量設備IM3 的值。對于IEC-62307 的更新版本在2012 年5 月發布，更多的介紹了對天線，連接器，電纜，電纜組件，濾波器的測試。這個新版本包含了相同的基本建議及規范，測試IM3 使用2*20W測試標準并為PIM 測試添加了第三個關鍵需求：

?被測設備應該受到影響即進行動態PIM 測試在1996 年，布拉德和里克哈特曼開發了操作簡單Summitek 議器（現在的凱鐳思）并為IEC 規范提供了完整的PIM 測試解決方案。布拉德和里克哈特曼參加了原先的工作小組，他們發明的PIM 分析議已經變成了事實上的世界標準議器來執行這個測試。

5：高載波功率測試的問題新進入 PIM 測試設備生產商的企業聲稱無源互調測試應該使用 40W的功率，而不是 IEC先前推薦的 20W功率，用高功率能檢測出用 20W 測試時發現不了的問題，所以建議應該用 40W功率級別測試，它同時也是世界范圍內現網 BTS載波運行級別。為了確定這些爭論的正確性，首先，考慮 PIM測試應該代表實際 BTS的級別。在下面的表格中可以看到， PIM測試參數分別從一個基站的空中接口，載波數，功率電平方面進行了驗證。相反，在一個非線性射頻通道中，用不同的測試參數來定義測量方法精確的。在下面的文件中可以看到，對于射頻元件及供應商產品的測試 20W是足夠了。

如果測試目標是模擬實際環境中的基站，則需要使用100W（而不是40W）的測試設備來代替基站的實際發射水準，且測試設備需要能傳輸GSM ,寬帶CDMA 或LTE 波形，而不是單獨的連續波。因此會造成測試設備更大，更重，更貴且對測試人員會造成更大的安全風險。另外這種設備每隔幾年都要進行更換才能跟上不斷變化的無線行業（2G,3G,4G 等等），對測試裝備行業是一個好消息，但對于射頻制造廠商及網絡運營商來說，則需要被迫不斷的投資額外的資本支出來跟上不斷變化的測試規范。這正是IEC 工作組早在1999 年面臨的同樣問題，他們面臨的挑戰是建立一個適合解決此類問題，而不是反復變化的測試標準，IEC 研究小組分析了這個問題（幾年以上）和制定了行業標準測試規范。為了處理這份聲明，需要使用更高的測試功率而不是行業標準20W .同于要分析PIM 的不同表現形式，就需要增加測試功率以及對系統整體進行測試而不是單獨測試各個組件。產生PIM 的大小依賴于材料的物理特性。從下面的數據來看，可以得出結論。Spinner PIM標準(生產使用二極管的結構)創造了最高水平的PIM,波紋電纜(采用固體銅導體在焊接連接)產生的最低級別PIM在任何給定的測試功耗。

另外一個值得注意的是，當測試功率從2W 變化到40W 的區間內，PIM 變化等級也是不同的，理論是線性范圍內測試功率增加1dB 三階互調干擾值增加3dB。但在實踐中，這種變化速率是很底的，其實產生PIM 材料的物理特性而變化的，在上述例子中，PIM 值變化介于1.4dB 至2.9dB 之間。如預期的一樣，仍然是一個全方位的功率范圍測試。這意味著，如果我們知道PIM 產生的等級，根據材料物理特性選擇測試功率電平和我們知道的PIM 變化曲線圖，我們就能準確的估計在不同的測試功率條件產生的PIM 的幅度。使用這方面的知識，我們可以看到，隨著功率的增加就沒有什么新的或不希望的結果顯示。相同條件下在40W 比20WPIM 等級要大，但它是一個可預測的數值。為了驗證用40W 能看到在20W 測試時看不到的問題這份聲明的真實性，，以下兩個條件中的一個必須是真實的：1.測試議器沒有足夠的接收機靈敏度，相對PIM 信號信噪比要低10dB。2.PIM 水平的提高相對于測試功率增加而言不是非線性。今天制造的高品質PIM 測試議，其典型底噪值水平在-130 dB.由于IM3 要求的測試水平是工廠測試達到-150dBc (-107dBm)，實地測試達到-140dBc (-97dBm)。典型的信號信噪比達到23 至33 dB.這意味著PIM 信號電平超過10 dB 的最小信號的測量精度所需的信噪比強20 到200 倍，增加測試功率對測量精度沒有好處，反而增加了對測試人員的人身安全風險系數。

本文提出的數據表明，隨著測試功率的增加IM3 是線性增加的，這對大多數射頻元件和典型的基站來說是真實的，類似的結果也被其它研究者分別通過不同的功率和頻率所證明。

6: 動態測試的重要性

重要的是要強調，所有PIM 測試的因素都是重要的且必須整體考濾，以確定該系統測試的質量，單獨考濾測試功率并不能保證系統無故障，無論測試時使用的功率是多少。

為了解釋動態測試的重要性，使用20W 測試功率，在射頻連接線和系統內部插入金屬片對其進行了測試，只進行靜態測試PIM 性能很好，當連接件輕輕一動（即動態測試）PIM 值從圖中清楚的看到躍升了50 dB，從而說明問題的存在。動態測試可以標識出松散的金屬連接及接觸表面的缺陷而導致的在高功率條件產生的干擾。如果沒有動態測試，這些問題可能就不會被發現，直到風吹，塔振動或溫度變化而導致這些問題出現。

最近，測試設備制造商新的PIM 測試標準是40W 而不是20W 且不再需要進行動態測試。如果這是真的那肯定是很好的，但不幸的是，這一主張是錯誤的。單獨依靠增加測試功率電平等級而不進行動態測試就來檢測系統問題是不行的，運用機械外力即動態測試PIM 是唯一的出路，以確保該系統是穩定的。要是那樣可行的話，IEC 工作小組就不會花10 年時間來研究RF 元件進行微調PIM 測試要求，如跳線電纜組件，射頻連接器，濾波器和天線。在新近發布的IEC 62037PIM 測試規范版本中可以看到。

7:概要現行的PIM 測試標準是由尊敬的工程師，科學家和商業電信市場管理者共同主持開發的，他們通過一個漫長的分析，測量和辯論的過程來制定的。由原始設備制造商，零部件制造商，標準組織和唯一提供PIM 測試解決方案儀器公司Summitek 共同參加制定的。產生的測試標準已在全球使用超過十年以上。零部件制造商，原始設備制造商和網絡運營商已經建立了約2×20W 的測試互調測量，同時采用動態刺激驗證他們的質量程序和性能要求。如連接器內的金屬薄片的例子所示，動態刺激，是為查明隱性故障在靜態條件下不可見的PIM 測試過程的關鍵組成部分。這份文件表明，沒有技術理由來支撐測試功率要用40W（或高或低）來進行PIM 測試，該規范在1999 年經IEC 首次發布原始的，充分考濾后的建議就再也沒有改變過。