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如何避免采用復(fù)雜的EMI抑制技術(shù)

電機(jī)控制設(shè)計(jì)加油站 ? 來源:fqj ? 2019-05-24 15:30 ? 次閱讀

出于各種原因,電子系統(tǒng)需要實(shí)施隔離。它的作用是保護(hù)人員和設(shè)備不受高電壓的影響,或者僅僅是消除PCB上不需要的接地回路。在各種各樣的應(yīng)用中,包括工廠和工業(yè)自動(dòng)化、醫(yī)療設(shè)備、通信和消費(fèi)類產(chǎn)品,它都是一個(gè)基本設(shè)計(jì)元素。

雖然隔離至關(guān)重要,但它的設(shè)計(jì)也極其復(fù)雜。控制功率和數(shù)據(jù)信號(hào)通過隔離柵時(shí),會(huì)產(chǎn)生電磁干擾(EMI)。這些輻射發(fā)射(RE)會(huì)對其他電子系統(tǒng)和網(wǎng)絡(luò)的性能產(chǎn)生負(fù)面影響。

對于帶隔離的電路設(shè)計(jì),一個(gè)重要的步驟是跨隔離柵傳輸功率,并緩解產(chǎn)生的RE。雖然傳統(tǒng)方法可能行之有效,但它們往往需要權(quán)衡取舍。其中可能包括使用分立式電路和變壓器來傳輸功率。這種方法笨重耗時(shí),會(huì)占用寶貴的PCB空間,無一不會(huì)增加成本。更經(jīng)濟(jì)高效的解決方案是將變壓器和所需的電路集成到更小外形中,如芯片封裝

雖然這樣可以節(jié)省電路板空間,降低設(shè)計(jì)的復(fù)雜性和成本,但也使得變壓器體積變小,具備的繞組更少,需要更高的開關(guān)頻率(高達(dá)200 MHz)才能高效地將所需的功率傳輸?shù)酱渭?jí)端。在更高頻率下,寄生共模(CM)電流可能通過變壓器的繞組以容性方式從初級(jí)端耦合至次級(jí)端。因隔離柵的性質(zhì)所限,沒有物理路徑可以讓這些CM電流返回初級(jí)端。隔離柵形成一個(gè)偶極,將能量以CM電流的形式輻射,并讓其返回到初級(jí)端。這就引發(fā)了另一個(gè)重要考慮因素:合規(guī)性。

電磁兼容性(EMC)要求

產(chǎn)品上市前,必須符合EMC規(guī)定。將變壓器和所需的電路集成到更小的封裝中會(huì)產(chǎn)生EMI,因此需要采用復(fù)雜且成本高昂的RE抑制技術(shù),以滿足電磁兼容性(EMC)法規(guī)的要求。

EMC是指電子系統(tǒng)在其目標(biāo)環(huán)境中正常工作而不干擾其他系統(tǒng)的能力。全球不同地區(qū)都有EMC法規(guī),用于確保所有產(chǎn)品在有其他產(chǎn)品存在的情況下都能正常工作。輻射發(fā)射量必須低于目標(biāo)使用環(huán)境和應(yīng)用場合所對應(yīng)的規(guī)定水平。因此,EMC測試和認(rèn)證已成為產(chǎn)品上市過程的一個(gè)重要組成部分。在歐盟銷售的產(chǎn)品需要具有CE標(biāo)志,而在美國銷售的產(chǎn)品則需要獲得FCC分類認(rèn)證。為取得這些認(rèn)證,需要對系統(tǒng)執(zhí)行一套EMC測試。

工業(yè)、醫(yī)療、通信和消費(fèi)環(huán)境中,輻射發(fā)射通常必須符合CISPR 11/EN 55011、CISPR 22/EN 55022或FCC Part 15標(biāo)準(zhǔn)。

如何避免采用復(fù)雜的EMI抑制技術(shù)

圖1. 發(fā)射量增高的示例。

CISPR 11/EN 55011

此標(biāo)準(zhǔn)適用于為工業(yè)、科學(xué)和醫(yī)療(ISM)目的而設(shè)計(jì)的產(chǎn)生射頻能量的設(shè)備。在標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi),設(shè)備可能分為兩組。第2組包含有意生成并在局部使用射頻能量的所有ISM RF設(shè)備。第1組包含此標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)不屬于第2組的所有設(shè)備。

CISPR 22/EN 55022

此標(biāo)準(zhǔn)適用于滿足下述條件的信息技術(shù)設(shè)備(ITE):主要功能是將輸入、存儲(chǔ)、顯示、檢索、傳輸、處理、交換或控制數(shù)據(jù)和電信信息結(jié)合起來,可能配備一個(gè)或多個(gè)終端端口,通常用于傳輸信息。

在各個(gè)標(biāo)準(zhǔn)下,設(shè)備被進(jìn)一步分類,每個(gè)類別需遵循一組單獨(dú)的排放限制。

X A類:用在工業(yè)應(yīng)用和非住宅區(qū)的設(shè)備X B類:用在住宅環(huán)境中的設(shè)備

由于B類限制覆蓋的是住宅(或輕工業(yè))環(huán)境,而這種環(huán)境中的產(chǎn)品更有可能彼此非常接近(廣播和電視接收器的10米范圍內(nèi)),因此更加嚴(yán)格(比A類低10 dB之多),以免引起干擾問題。圖2顯示了與CISPR 11/EN 55011和CISPR 22/EN 55022相關(guān)的A類和B類限制線。在這個(gè)頻率范圍內(nèi),符合CISPR 22/EN 55022 B類標(biāo)準(zhǔn)意味著也符合CISPR 11/EN 55011 B類標(biāo)準(zhǔn)。

如何避免采用復(fù)雜的EMI抑制技術(shù)

圖2. 輻射發(fā)射標(biāo)準(zhǔn)—限制線。

在設(shè)計(jì)周期一開始就考慮EMC

據(jù)報(bào)道,50%的產(chǎn)品首次EMC測試都以失敗告終。1這可能是因?yàn)槿狈ο嚓P(guān)知識(shí),且未能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段的早期應(yīng)用EMC設(shè)計(jì)技術(shù)。如果在功能設(shè)計(jì)完成之前一直忽略EMC問題,通常會(huì)帶來耗費(fèi)時(shí)間且代價(jià)高昂的挑戰(zhàn)。此外,隨著產(chǎn)品開發(fā)過程的不斷深入,能夠用來解決EMC問題的技術(shù)也越來越少,因?yàn)楫a(chǎn)品方面的更改必將導(dǎo)致計(jì)劃超時(shí)和成本增加。

想要最大限度地縮短設(shè)計(jì)時(shí)間和降低項(xiàng)目成本,在項(xiàng)目開始時(shí)就進(jìn)行EMC設(shè)計(jì)是至關(guān)重要的。組件的選擇和放置也很重要。將已經(jīng)符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的器件納入選擇和設(shè)計(jì)可以提高合規(guī)性。

EMI抑制技術(shù):亟需更好的方法

與使用分立式變壓器的傳統(tǒng)方法相比,將變壓器和電路集成到芯片級(jí)封裝中可減少組件數(shù)量,進(jìn)而大大節(jié)省PCB空間,但可能會(huì)引入更高的輻射發(fā)射。輻射發(fā)射抑制技術(shù)會(huì)使PCB的設(shè)計(jì)更加復(fù)雜,或需要額外組件,因此可能會(huì)抵消集成變壓器所節(jié)省的成本和空間。

例如,在PCB級(jí)別抑制輻射發(fā)射的一種常見方法是為CM電流形成一個(gè)從次級(jí)端至初級(jí)端的低阻抗路徑,從而降低RE水平。要實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn),可以在初級(jí)端和次級(jí)端之間使用旁路電容。該旁路電容可以是分立式電容,也可以是嵌入式夾層電容。

分立式電容是最簡單的解決方案,可能是有引線或表面安裝組件。它還具有適用于2層PCB的優(yōu)點(diǎn),但分立式電容價(jià)格昂貴且體積龐大,會(huì)占用寶貴的PCB空間,特別是在可能堆疊了多個(gè)組件的隔離柵旁。

另一個(gè)不是很理想的解決方案是使用嵌入式旁路電容,當(dāng)PCB中的兩個(gè)面重合時(shí)就會(huì)形成該電容(圖3)。此類電容具有一些非常有用的特性,原因在于平行板電容的電感極低,因此在更大的頻率范圍內(nèi)都有效。它可以提高發(fā)射性能,但因?yàn)樾枰远x層厚來獲得正確的電容,且PCB需要四層或更多層,所以設(shè)計(jì)復(fù)雜性和成本都會(huì)增高。此外,還必須通過隔離的方式,確保內(nèi)部重疊層的間距滿足相關(guān)隔離標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的最低距離標(biāo)準(zhǔn)。

如何避免采用復(fù)雜的EMI抑制技術(shù)

圖3. 中心電源和接地層之間形成的內(nèi)部PCB旁路電容。

旁路電容還允許交流泄漏及瞬變跨隔離柵從一個(gè)接地層耦合至另一個(gè)接地層。雖然旁路電容一般很小,但高壓高速瞬變可通過此電容跨隔離柵注入大量電流。如果應(yīng)用需承受惡劣的電磁瞬變,如靜電放電、電快速瞬變和浪涌,也必須考慮到這一點(diǎn)。

無論是分立式還是嵌入式,使用旁路電容都不是理想的抑制技術(shù)。它雖然可以幫助減少輻射發(fā)射,卻要以增加組件、采用復(fù)雜的PCB布局和提高瞬態(tài)敏感性為代價(jià)。理想的抑制技術(shù)不需要采用旁路電容,因此可以降低成本和PCB設(shè)計(jì)的復(fù)雜性。

免去使用復(fù)雜抑制技術(shù)的必要

理想情況下,集成的隔離電源組件應(yīng)該包含降低芯片輻射發(fā)射的措施,無需在外部額外增加復(fù)雜的措施,即可確保通過系統(tǒng)級(jí)輻射發(fā)射測試。這樣一來,只需將組件放置到2層板上,即可通過嚴(yán)格的輻射發(fā)射測試,而無需多次制作電路板。

低輻射發(fā)射隔離器

ADI公司的下一代isoPower?系列產(chǎn)品采用創(chuàng)新的設(shè)計(jì)技術(shù),可以避免產(chǎn)生大量輻射發(fā)射,甚至在沒有旁路電容的2層板上也不例外。ADuM5020和ADuM5028在以大幅裕量滿足CISPR 22/EN55022 B類限制的同時(shí),可以分別跨隔離柵提供500 mW和330 mW功率。

如何避免采用復(fù)雜的EMI抑制技術(shù)

圖4. ADuM5020和ADuM5028。

ADuM5020采用16引腳寬體SOIC封裝,而對于ADuM5028,可以選擇的最小封裝是8引腳SOIC。ADuM5020/ADuM5028提供3 V和5 V兩種電源選項(xiàng),以及3 kV rms額定隔離。ADuM5020/ADuM5028提供5 kV rms,可以達(dá)到與ADuM5020/ADuM5028相同的功率和輻射發(fā)射水平。

為了減少輻射發(fā)射,ADuM5020/ADuM5028具有出色的線圈對稱性和線圈驅(qū)動(dòng)電路,有助于將通過隔離柵的CM電流傳輸最小化。擴(kuò)頻技術(shù)也被用來降低某一特定頻率的噪聲濃度,并將輻射發(fā)射能量擴(kuò)散到更廣泛的頻段。在次級(jí)端使用低價(jià)的鐵氧體磁珠會(huì)進(jìn)一步減少輻射發(fā)射。在RE合規(guī)測試期間,這些技術(shù)可以改善峰值和準(zhǔn)峰值測量水平。

如何避免采用復(fù)雜的EMI抑制技術(shù)

圖5. 概念A(yù)DuM5020和鐵氧體特性曲線。

圖5顯示了放置在靠近VISO和GNDISO引腳的次級(jí)端的鐵氧體磁珠。下一段中用于收集輻射發(fā)射圖的鐵氧體是Murata BLM15HD182SN1。

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圖6. 使用鐵氧體磁珠來減少有效偶極。

ADuM5020/ADuM5028提供即用型直流-直流電源解決方案。這種解決方案的性價(jià)比高、復(fù)雜性低,占地面積小,且RE性能出色,如果在設(shè)計(jì)周期開始時(shí)就納入到產(chǎn)品設(shè)計(jì)中,將有助于滿足EMC法規(guī)的要求。

來自測試室的結(jié)果

ADuM5020/ADuM5028根據(jù)CISPR 22/EN 55022測試指南在10 m半波暗室中進(jìn)行測試。圖7所示為一個(gè)典型的10 m測試室。按照標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,ADuM5020/ADuM5028評(píng)估PCB被放置在距離天線校準(zhǔn)點(diǎn)10 m遠(yuǎn)的非導(dǎo)電工作臺(tái)上。確保DUT附近沒有其他導(dǎo)電表面,因?yàn)檫@會(huì)影響測試結(jié)果。
圖8顯示了用于確定DUT的高發(fā)射頻率的峰值掃描。這些點(diǎn)定位后,就可以進(jìn)行準(zhǔn)峰值測量。在準(zhǔn)峰值測量期間,工作臺(tái)會(huì)旋轉(zhuǎn)360°,天線高度從1 m升高到4 m。記錄最壞情況的準(zhǔn)峰值測量結(jié)果,并與限制線要求進(jìn)行比較。

確保沒有任何外部設(shè)備、金屬平面或電纜會(huì)干擾DUT的輻射發(fā)射測試。為了測試ADuM5020/ADuM5028評(píng)估板,使用帶板載低壓差穩(wěn)壓器的電池來保持較小的電源電流環(huán),并消除不必要的布線。

圖8顯示了在不同配置下捕獲的ADuM5020/ADuM5028的峰值圖。由于在ADuM5020/ADuM5028中采用了擴(kuò)頻技術(shù),注意寬頻段范圍內(nèi)的能量擴(kuò)散情況。圖9顯示了最壞情況的準(zhǔn)峰值測量值與CISPR 22/EN 55022 B類限制線相比的裕量。ADuM5020在輸出電源為5 V (500 mW),負(fù)載為100 mA的情況下,以超過5 dB的裕量通過了CISPR 22/EN 55022測試。這提供了大幅的設(shè)計(jì)靈活性。這種裕量幅度很有益,而且推薦達(dá)到這種裕量,因?yàn)樵诓煌臏y試設(shè)施中,測試室的質(zhì)量、校準(zhǔn)和設(shè)備的精度可能存在差異,可能導(dǎo)致測量結(jié)果出現(xiàn)波動(dòng)。如果最終產(chǎn)品需要在不同的測試室進(jìn)行測試,且必須符合CISPR 22/EN 55022標(biāo)準(zhǔn),那么這一點(diǎn)至關(guān)重要。

圖7. 10 m測試室的圖像和評(píng)估PCB。

如何避免采用復(fù)雜的EMI抑制技術(shù)

圖8. 峰值圖—ADuM5020/ADuM5028

表1. 結(jié)果

如何避免采用復(fù)雜的EMI抑制技術(shù)

ADI公司的下一代isoPower系列產(chǎn)品提供緊湊的即用型電源解決方案,無需為了滿足輻射發(fā)射限制而采用復(fù)雜的PCB級(jí)抑制技術(shù)。ADuM5020/ADuM5028提供適用于隔離設(shè)計(jì)的直流-直流即用型電源解決方案,滿足以下輻射發(fā)射和產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)要求:

* CISPR 22/EN 55022(B類):信息技術(shù)設(shè)備* CISPR 11/EN 55011(B類):工業(yè)、科學(xué)和醫(yī)療設(shè)備* IEC 61000-6-4:通用標(biāo)準(zhǔn)—工業(yè)環(huán)境的輻射發(fā)射標(biāo)準(zhǔn)* IEC 61000-6-3:通用標(biāo)準(zhǔn)—住宅、商業(yè)和輕工業(yè)環(huán)境的輻射發(fā)射標(biāo)準(zhǔn)* IEC 61131-2:可編程控制器—第2部分:設(shè)備要求和測試* IEC 621326:用于測量、控制及實(shí)驗(yàn)室用途的電氣設(shè)備* EMC要求—第1部分:一般要求* IEC 60601-1-2:醫(yī)療電氣設(shè)備第1-2部分:基本安全和基本性能的一般要求—附加標(biāo)準(zhǔn):電磁干擾—要求和測試* IEC 61800-3:變速電力驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)—第3部分:EMC要求和具體的測試方法* IEC 63044-5-1:家用和建筑電子系統(tǒng)(HBES)及建筑自動(dòng)化和控制系統(tǒng)(BACS)—第5-1部分:EMC要求、條件和測試設(shè)置

減少隔離設(shè)計(jì)中的復(fù)雜性和矛盾

設(shè)計(jì)隔離式電源可能是設(shè)計(jì)過程中最具挑戰(zhàn)性的一個(gè)方面。構(gòu)建一個(gè)解決方案需要權(quán)衡各種設(shè)計(jì)需求,且需要遵守全球多個(gè)不同地區(qū)的法規(guī)要求。由此做出的犧牲往往帶來了尺寸、重量和性能方面的負(fù)面影響,或者降低了滿足EMC標(biāo)準(zhǔn)的能力。
為了順利滿足EMC標(biāo)準(zhǔn),可以在設(shè)計(jì)階段的早期采用已經(jīng)通過行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)驗(yàn)證的器件。EMC應(yīng)該納入到設(shè)計(jì)過程中,而不是事后才考慮。采用諸如旁路電容之類的抑制技術(shù)會(huì)降低電子系統(tǒng)抗瞬變的能力,并增加成本和設(shè)計(jì)復(fù)雜性。
ADI公司的下一代isoPower系列產(chǎn)品提供輻射發(fā)射抑制技術(shù),無需具備旁路電容,仍可滿足EN 55022/CISPR 22 B類標(biāo)準(zhǔn)要求。ADuM5020/ADuM5028采用擴(kuò)頻技術(shù),可降低任意頻率下的功率水平。出色的設(shè)計(jì)、變壓器線圈對稱性和兩個(gè)低價(jià)小鐵氧體的使用有助于減少跨隔離柵流向次接地層的CM電流。ADM5020/ ADuM5028滿足CISPR 22/EN 55022 B類要求,在2層PCB上具有大幅裕量,無需采用成本高昂的PCB級(jí)RE抑制技術(shù),因此可降低成本。

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    <b class='flag-5'>EMI</b> 的工程師指南第 6 部分 — <b class='flag-5'>采用</b>離散 FET 設(shè)計(jì)的 <b class='flag-5'>EMI</b> <b class='flag-5'>抑制</b><b class='flag-5'>技術(shù)</b>

    EMI 的工程師指南第 5 部分 — 采用集成 FET 設(shè)計(jì)的 EMI 抑制技術(shù)

    EMI 的工程師指南第 5 部分 — 采用集成 FET 設(shè)計(jì)的 EMI 抑制技術(shù)
    發(fā)表于 10-31 08:23 ?8次下載
    <b class='flag-5'>EMI</b> 的工程師指南第 5 部分 — <b class='flag-5'>采用</b>集成 FET 設(shè)計(jì)的 <b class='flag-5'>EMI</b> <b class='flag-5'>抑制</b><b class='flag-5'>技術(shù)</b>

    采用集成FET設(shè)計(jì)抑制電磁干擾EMI的實(shí)用電路技術(shù)

    在本文中,我討論了使用電源轉(zhuǎn)換器 IC 的 DC/DC 穩(wěn)壓器電路可以采用EMI 抑制技術(shù)。減弱 EMI 的 PCB 布局步驟包括盡量減
    的頭像 發(fā)表于 03-29 09:40 ?1844次閱讀
    <b class='flag-5'>采用</b>集成FET設(shè)計(jì)<b class='flag-5'>抑制</b>電磁干擾<b class='flag-5'>EMI</b>的實(shí)用電路<b class='flag-5'>技術(shù)</b>

    如何避免采用復(fù)雜EMI抑制技術(shù)以實(shí)現(xiàn)緊湊、高性價(jià)比的隔離設(shè)計(jì)

    雖然這樣可以節(jié)省電路板空間,降低設(shè)計(jì)的復(fù)雜性和成本,但也使得變壓器體積變小,具備的繞組更少,需要更高的開關(guān)頻率(高達(dá)200MHz)才能高效地將所需的功率傳輸?shù)酱渭?jí)端。在更高頻率下,寄生共模(CM
    的頭像 發(fā)表于 06-14 15:17 ?550次閱讀
    如何<b class='flag-5'>避免</b><b class='flag-5'>采用</b><b class='flag-5'>復(fù)雜</b>的<b class='flag-5'>EMI</b><b class='flag-5'>抑制</b><b class='flag-5'>技術(shù)</b>以實(shí)現(xiàn)緊湊、高性價(jià)比的隔離設(shè)計(jì)

    如何避免采用復(fù)雜EMI抑制技術(shù)以實(shí)現(xiàn)緊湊、高性價(jià)比的隔離設(shè)計(jì)

    基本設(shè)計(jì)元素。 雖然隔離至關(guān)重要,但它的設(shè)計(jì)也極其復(fù)雜。控制功率和數(shù)據(jù)信號(hào)通過隔離柵時(shí),會(huì)產(chǎn)生電磁干擾(EMI)。這些輻射發(fā)射(RE)會(huì)對其他電子系統(tǒng)和網(wǎng)絡(luò)的性能產(chǎn)生負(fù)面影響。 對于帶隔離的電路設(shè)計(jì),一個(gè)重要的步驟是跨隔離
    的頭像 發(fā)表于 08-15 18:15 ?362次閱讀
    如何<b class='flag-5'>避免</b><b class='flag-5'>采用</b><b class='flag-5'>復(fù)雜</b>的<b class='flag-5'>EMI</b><b class='flag-5'>抑制</b><b class='flag-5'>技術(shù)</b>以實(shí)現(xiàn)緊湊、高性價(jià)比的隔離設(shè)計(jì)

    如何避免采用復(fù)雜EMI抑制技術(shù)以實(shí)現(xiàn)緊湊、高性價(jià)比的隔離設(shè)計(jì)

    基本設(shè)計(jì)元素。雖然隔離至關(guān)重要,但它的設(shè)計(jì)也極其復(fù)雜。控制功率和數(shù)據(jù)信號(hào)通過隔離柵時(shí),會(huì)產(chǎn)生電磁干擾(EMI)。這些輻射發(fā)射(RE)會(huì)對其他電子系統(tǒng)和網(wǎng)絡(luò)的性能產(chǎn)
    的頭像 發(fā)表于 08-26 08:25 ?804次閱讀
    如何<b class='flag-5'>避免</b><b class='flag-5'>采用</b><b class='flag-5'>復(fù)雜</b>的<b class='flag-5'>EMI</b><b class='flag-5'>抑制</b><b class='flag-5'>技術(shù)</b>以實(shí)現(xiàn)緊湊、高性價(jià)比的隔離設(shè)計(jì)

    通過輻射發(fā)射測試:如何避免采用復(fù)雜EMI抑制技術(shù)以實(shí)現(xiàn)緊湊、高性價(jià)比的隔離設(shè)計(jì)

    電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《通過輻射發(fā)射測試:如何避免采用復(fù)雜EMI抑制技術(shù)以實(shí)現(xiàn)緊湊、高性價(jià)比的隔離
    發(fā)表于 11-22 10:32 ?0次下載
    通過輻射發(fā)射測試:如何<b class='flag-5'>避免</b><b class='flag-5'>采用</b><b class='flag-5'>復(fù)雜</b>的<b class='flag-5'>EMI</b><b class='flag-5'>抑制</b><b class='flag-5'>技術(shù)</b>以實(shí)現(xiàn)緊湊、高性價(jià)比的隔離設(shè)計(jì)
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