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• 發布了產品 2024-09-06 16:52

  半導體晶圓wafer厚度測量設備

  

  產品型號：WD4000 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯系中圖儀器咨詢。

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• 發布了產品 2024-09-06 16:37

  激光干涉儀精密測量及校準系統

  

  產品型號：SJ6000系列 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯系中圖儀器咨詢。

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• 發布了產品 2024-09-05 10:33

  廣東中圖儀器3d光學非接觸式輪廓儀

  

  產品型號：SuperViewW系列 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯系中圖儀器咨詢。

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• 發布了產品 2024-09-05 10:31

  接觸式精密輪廓粗糙度儀器

  

  產品型號：SJ5800系列 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯系中圖儀器咨詢。

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• 發布了產品 2024-09-05 10:30

  中圖儀器品牌晶圓幾何形貌測量及參數自動檢測機

  

  產品型號：WD4000系列 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯系中圖儀器咨詢。

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• 發布了文章 2024-09-05 10:22

  CIOE2024：光電科技的璀璨盛宴即將開啟

  

  當光影交織，科技與未來相遇，一場光電領域的國際盛會正悄然臨近。第25屆國際光電博覽會（CIOE2024）即將在金秋時節盛大開幕，這不僅是一場技術的展示，更是一次思想的盛宴，一次行業的深度交流。聚焦光電，洞悉行業脈動CIOE一直以來都是創新技術的展示舞臺和行業趨勢的風向標。它不僅是一個展示最新光電產品和技術的平臺，更是一個促進國際交流與合作的重要窗口。作為全球

  光電儀器 博覽會 干涉儀

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• 發布了文章 2024-09-05 08:02

  GTS激光跟蹤儀USMN聯合組網應用-精確到微米的大空間尺度測量

  

  1.背景：突破單站式測量精度的局限當前，對于激光跟蹤儀的大尺寸測量應用，普遍采用單臺獨立作業或多站位轉站測量的模式。然而，單站式激光跟蹤儀的空間測量精度為15μm+6μm/m，隨著測量范圍越大，其測量不確定度越大，跟蹤儀的測角精度對空間測量精度的影響較大。例如測量半徑10m,空間測量精度為75um，對某些高精度、大范圍應用場景是不夠的。在此背景下，行業需要引

  GTS 測量 激光跟蹤儀

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• 發布了產品 2024-09-03 16:15

  二維一鍵圖像尺寸測量儀器

  

  產品型號：VX8000 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯系中圖儀器咨詢。

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• 發布了產品 2024-09-03 16:13

  高精度探針式輪廓儀臺階儀

  

  產品型號：NS系列 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯系中圖儀器咨詢。

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• 發布了產品 2024-09-03 16:06

  接觸式凸度檢測輪廓儀

  

  產品型號：SJ5800系列 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯系中圖儀器咨詢。

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