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• 發布了文章 2024-06-15 08:18

  昊衡科技自研低成本光學鏈路診斷儀——適用大規模光模塊失效檢測

  

  隨著大數據時代對數據量需求的爆炸式增長，光通信系統也在不斷的更新升級。光通信產業鏈上的光收發模塊作為核心組件之一，其性能優劣直接影響系統的通信質量。由于光模塊速率越來越高，多通道并行的波分復用方案應用越來越廣泛，隨之帶來的是模塊內部高密度的光路連接方式，對高速光互聯的信號傳輸質量，可靠性提出了更高要求。由武漢昊衡科技自研的OLI低成本光學鏈路診斷儀基于光學相

  光模塊 失效檢測 昊衡科技 診斷儀

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• 發布了文章 2024-06-08 08:17

  【2024光連接大會】國產OFDR設備助力光模塊檢測

  

  當前，AI技術的大規模應用加速推動了光模塊需求的釋放。相應的，針對高密度、穩定可靠的高速光互聯技術迎來重大機遇和挑戰。隨著光模塊速率越來越高，其內部光電互聯結構越來越復雜，需要測量的參數逐漸變多，常規測量方法已逐漸不能滿足全部測量需求。而高精度分布式的光頻域測量技術將填補常規設備不能測到的參量空白，補全高速光互聯、硅光芯片、光纖鏈路、耦合對接等各方面的測試標

  光模塊 光連接 檢測 設備

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• 發布了文章 2024-06-05 08:17

  光連接大會邀請函：昊衡科技誠邀您共赴光通信行業盛會

  

  大會介紹INTRODUCTION光纖在線、和弦產業研究中心主辦的光通信行業年度盛會--第九屆光連接大會CFCF2024(ChinaFiberConnectForum)將于2024年6月23~25日在中國·蘇州舉辦。本屆大會以“光連萬物，多彩未來”為主題，立足于光網絡基礎建設，基于光網絡、光器件、光模塊、光電芯片的技術發展路徑，向光通信電信、數據中心、邊緣云計

  光連接 光通信 昊衡科技

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• 發布了文章 2024-05-11 08:17

  昊衡科技推出OLI低成本光學鏈路診斷儀，助力光模塊產線檢測

  

  INTRODUCTIONAI時代下，數據量需求的爆炸式增長推動著光通信系統不斷升級更新。作為光通信產業鏈中的核心組件，光收發模塊的性能優劣十分重要。隨著產品速率與集成度的不斷提高，終端用戶對光器件、光模塊的質量把控更加嚴格。為了在這樣的環境中脫穎而出，品質把控成為企業生存和發展的關鍵。基于此，昊衡科技推出自研的OLI低成本光學鏈路診斷儀，其原理基于光學相干檢

  昊衡科技 檢測 診斷儀

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• 發布了文章 2024-01-12 08:17

  OLI測試范圍升級至-100dB

  

  今天小編來跟大家探討下我司推出的OLI光纖微裂紋檢測儀。首先理解下OLI的原理，OLI其原理基于白光干涉，可以簡單理解為，設備出光光源為白光，該光源分為兩路，一路在設備內部作為參考光，一路進入待測器件作為信號光，參考光和信號光在相同光程的地方會發生干涉，且誤差在百微米內，這也意味著OLI有著超高的定位精度。OLI讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測量整個掃描范

  檢測儀 測試 測量

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• 發布了文章 2024-01-06 08:17

  如何利用OLI進行產線自動化檢測？-閾值判斷功能介紹

  

  今天小編來跟大家分享，我們為光纖微裂紋檢測儀（OLI）用于產線自動化檢測做的定制功能，合格閾值判斷。簡單來說就是使用設備檢測產品是否合格，需要人為給設備定義合格標準，該標準就是設備正常運行自動判別程序的合格閾值。光纖微裂紋檢測儀（OLI）通過檢測光鏈路的回波光強大小判定此段鏈路是否有異常或者特殊結構（如：微裂紋、波導耦合點、法蘭連接點、鏈路末端端面、光纖彎折

  soli 檢測儀 自動化檢測

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• 發布了文章 2023-12-02 08:17

  光纖微裂紋檢測儀適用于產線的多通道測試

  

  單通道能否滿足產線測試呢？顯然是不能的。以光模塊廠家為例，一個光模塊可能有多個通道，每個通道都需要檢測。使用單通道測試，一個器件就需要反復插拔多次、掃描多次、保存多次結果，這樣效率太低了，顯然產線不會接受這種方式。OLI支持產線多通道測試，一次就能掃描完一個光模塊，極大節省測試時間。當前OLI（光纖微裂紋檢測儀）標準版支持12通道測試，用戶也可根據需求定制更

  光纖 檢測儀 模塊 測試

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• 發布了文章 2023-09-15 08:19

  OLI 光纖微裂紋檢測儀介紹

  

  今天小編來跟大家探討下我司推出的OLI光纖微裂紋檢測儀。首先理解下OLI的原理，OLI其原理基于白光干涉，可以簡單理解為，設備出光光源為白光，該光源分為兩路，一路在設備內部作為參考光，一路進入待測器件作為信號光，參考光和信號光在相同光程的地方會發生干涉，且誤差在百微米內，這也意味著OLI有著超高的定位精度。OLI讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測量整個掃描范

  光纖 檢測儀 白光干涉儀

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• 發布了文章 2023-08-05 08:21

  OLI測試硅光芯片耦合質量

  

  硅光是以光子和電子為信息載體的硅基電子大規模集成技術。光纖到硅基耦合是芯片設計十分重要的一環，耦合質量決定著集成硅光芯片上光信號和外部信號互聯質量，耦合過程中最困難的地方在于兩者光模式尺寸不匹配，硅光芯片中光模式約為幾百納米，而光纖中則為幾個微米，幾何尺寸上巨大差異造成模場的嚴重失配。光纖微裂紋診斷儀（OLI）對硅光芯片耦合質量檢測非常有優勢，以亞毫米級別的

  測試 硅光芯片 耦合 芯片

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• 發布了文章 2023-07-31 23:04

  OLI測試硅光芯片內部裂紋

  

  硅光是以光子和電子為信息載體的硅基電子大規模集成技術，能夠突破傳統電子芯片的極限性能，是5G通信、大數據、人工智能、物聯網等新型產業的基礎支撐。準確測量硅光芯片內部鏈路情況，讓硅光芯片設計和生產都變得十分有意義。光纖微裂紋診斷儀（OLI）對硅光芯片耦合質量和內部裂紋損傷檢測非常有優勢，可精準探測到光鏈路中每個事件節點，具有靈敏度高、定位精準、穩定性高、簡單易

  檢測 測試 芯片

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