金鑒實(shí)驗(yàn)室文章

• LED驅(qū)動(dòng)電源故障診斷與分析2024-12-03 12:18

  

  在LED照明系統(tǒng)中，驅(qū)動(dòng)電源的穩(wěn)定性對(duì)于整個(gè)燈具的壽命至關(guān)重要。盡管LED光源本身具有較長(zhǎng)的使用壽命，但LED驅(qū)動(dòng)電源的復(fù)雜性往往導(dǎo)致其成為系統(tǒng)中的薄弱環(huán)節(jié)。據(jù)統(tǒng)計(jì)，超過(guò)80%的LED燈具失效是由于驅(qū)動(dòng)電源的問(wèn)題引起的。電子元器件的老化問(wèn)題電子元器件是LED驅(qū)動(dòng)電源的核心組成部分，包括電阻、電容、二極管、三極管等。這些元器件在長(zhǎng)期使用過(guò)程中，可能會(huì)因?yàn)殚_(kāi)路、

  led 照明系統(tǒng) 驅(qū)動(dòng)電源 454瀏覽量

• 材料失效分析方法匯總2024-12-03 12:17

  

  材料故障診斷學(xué)：失效分析技術(shù)失效分析技術(shù)，作為材料科學(xué)領(lǐng)域內(nèi)的關(guān)鍵分支，致力于運(yùn)用科學(xué)方法論來(lái)識(shí)別、分析并解決材料與產(chǎn)品在實(shí)際應(yīng)用過(guò)程中出現(xiàn)的故障問(wèn)題。該技術(shù)對(duì)于增強(qiáng)產(chǎn)品的可靠性、改進(jìn)設(shè)計(jì)、優(yōu)化制造流程、減少成本以及提升市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力扮演著至關(guān)重要的角色。失效分析的科學(xué)方法論失效分析的科學(xué)方法論是一套系統(tǒng)化流程，它從識(shí)別失效模式著手，通過(guò)觀察失效現(xiàn)象，逐步推導(dǎo)出

  失效分析 材料 電子元器件 274瀏覽量

• 電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)在孿晶結(jié)構(gòu)分析中的應(yīng)用研究2024-12-03 12:16

  

  電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)作為一種先進(jìn)的材料表征手段，其在孿晶分析中的應(yīng)用日益廣泛。EBSD技術(shù)通過(guò)分析掃描電鏡中電子束與樣品表面相互作用產(chǎn)生的衍射菊池帶，能夠精確地確定材料的晶體結(jié)構(gòu)、取向以及晶界等信息。TWIP鋼(Fe–22wt.%Mn–0.6wt.%C,FCC)的孿生變形行為取向依賴(lài)性(a)拉伸真應(yīng)變?yōu)?.3時(shí)試樣縱截面取向成像圖;(b)產(chǎn)生和未產(chǎn)

  材料 電子束 鎂合金 159瀏覽量

• 雙束FIB-SEM系統(tǒng)在材料科學(xué)中的應(yīng)用2024-12-03 12:14

  

  導(dǎo)語(yǔ)聚焦離子束掃描電鏡雙束系統(tǒng)（FIB-SEM）是一種先進(jìn)的微納加工和成像技術(shù)，它在材料科學(xué)研究中扮演著不可或缺的角色。FIB-SEM系統(tǒng)能夠?qū)Σ牧线M(jìn)行精確的定點(diǎn)切割和分析，從而揭示材料內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)和成分。以CdS微米線(xiàn)為例，通過(guò)光學(xué)顯微鏡觀察，我們可以看到微米線(xiàn)節(jié)點(diǎn)處可能含有其他物質(zhì)，但無(wú)法確定具體成分和內(nèi)部形貌。利用FIB-SEM技術(shù)，我們可以在節(jié)點(diǎn)處

  掃描電鏡 顯微鏡 材料 171瀏覽量

• 什么是高低溫濕熱試驗(yàn)（THB）？2024-12-02 15:26

  

  濕熱試驗(yàn)概述濕熱試驗(yàn)是環(huán)境工程領(lǐng)域中一種關(guān)鍵的測(cè)試方法，通過(guò)在控制的高溫和高濕環(huán)境下對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行暴露，以評(píng)估產(chǎn)品在實(shí)際使用中對(duì)潮濕環(huán)境的適應(yīng)性和耐久性。這種測(cè)試對(duì)于確保電子產(chǎn)品、電氣設(shè)備、汽車(chē)零件、航空器材以及軍事裝備等產(chǎn)品在潮濕環(huán)境中的性能和可靠性至關(guān)重要。濕熱試驗(yàn)的應(yīng)用領(lǐng)域1.產(chǎn)品開(kāi)發(fā)與設(shè)計(jì)階段在這個(gè)階段，濕熱試驗(yàn)用于研究和評(píng)估潮濕環(huán)境對(duì)產(chǎn)品設(shè)計(jì)的影響。通

  恒定濕熱試驗(yàn) 測(cè)試 245瀏覽量

• FIB測(cè)試技術(shù)2024-12-02 15:25

  

  聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡(jiǎn)稱(chēng)FIB）技術(shù)是一種精密的微納加工手段，它通過(guò)將離子束聚焦到極高的精度，實(shí)現(xiàn)對(duì)材料的精確蝕刻和加工。FIB技術(shù)的核心在于其能夠產(chǎn)生具有極細(xì)直徑的離子束，這使得它在納米尺度的加工領(lǐng)域中扮演著不可或缺的角色。FIB的工作原理FIB的工作原理基于離子源產(chǎn)生的離子束，這些離子在電場(chǎng)的作用下被加速并聚焦成細(xì)束。當(dāng)這些高能離子

  fib 測(cè)試 離子束 157瀏覽量

• 電子背散射衍射技術(shù)（EBSD）：原理、測(cè)試方法與應(yīng)用領(lǐng)域2024-12-02 15:24

  

  電子背散射衍射電子背散射衍射技術(shù)（EBSD），作為一種尖端的材料分析手段，融合了掃描電子顯微鏡（SEM）的精細(xì)成像與電子衍射的晶體學(xué)分析技術(shù)。電子束與樣品的相互作用在EBSD測(cè)試中，首先利用SEM產(chǎn)生的高能電子束照射到材料表面。當(dāng)電子束與樣品原子相互作用時(shí)，會(huì)產(chǎn)生多種信號(hào)，其中包括背散射電子。衍射現(xiàn)象電子束與樣品中的晶體結(jié)構(gòu)相互作用時(shí)，會(huì)發(fā)生衍射現(xiàn)象。衍射電

  SEM 探測(cè)器 顯微鏡 182瀏覽量

• X射線(xiàn)熒光光譜分析儀（XRF）：高效能譜分析技術(shù)2024-12-02 15:23

  

  元素檢測(cè)需要擁有先進(jìn)的能量色散X熒光光譜儀，能夠?yàn)榭蛻?hù)提供高精度的元素分析服務(wù)，確保您的產(chǎn)品符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。元素檢測(cè)范圍可以針對(duì)多種元素進(jìn)行精準(zhǔn)檢測(cè)，確保您的產(chǎn)品符合RoHS指令的要求。1.RoHS指令限制物質(zhì)：包括鉛、鎘、汞、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚。2.鹵素族元素：如溴、氯等。3.其他元素：涵蓋銅、鐵、錫、鎳、錳、鉍、銻、銀、砷、鉻、鈷、鋁、汞、鋅等。

  分析儀 檢測(cè) 電氣設(shè)備 261瀏覽量

• LED燈珠變色與失效原因分析2024-12-02 15:21

  

  LED光源發(fā)黑現(xiàn)象LED光源以其高效、節(jié)能、環(huán)保的特性，在照明領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。然而，LED光源在使用過(guò)程中出現(xiàn)的發(fā)黑現(xiàn)象，卻成為了影響其性能和壽命的重要因素。LED光源黑化的多重原因分析LED光源的黑化現(xiàn)象是一個(gè)復(fù)雜的問(wèn)題，可能由多種因素引起。這些因素包括硫化、氯化、溴化、氧化、碳化以及化學(xué)不兼容化等。這些化學(xué)作用可能導(dǎo)致LED光源的表面出現(xiàn)黑色物質(zhì)，影

  led LED燈珠 光源 662瀏覽量

• SMT中的離子污染檢測(cè)：ROSE、離子色譜法(IC)與C3方法比較2024-11-29 17:32

  

  貼裝技術(shù)離子清潔度的重要性在電子制造領(lǐng)域，表面貼裝技術(shù)（SMT）是一種關(guān)鍵的組裝方法，它涉及到將電子元件精確地放置在印刷電路板（PCB）上。為了確保這些電路板和組件的長(zhǎng)期可靠性和性能，離子清潔度的控制至關(guān)重要。離子殘留物可能會(huì)導(dǎo)致電路短路、腐蝕和電氣性能下降，從而影響產(chǎn)品的壽命和可靠性。離子清潔度測(cè)試方法概述為了評(píng)估SMT產(chǎn)品的離子清潔度，行業(yè)內(nèi)采用了多種測(cè)

  smt 檢測(cè) 表面貼裝 192瀏覽量