運(yùn)算放大器是模擬器件的核心,熟悉運(yùn)放的特性也就掌握了模擬IC的基礎(chǔ),掌握了運(yùn)放的測(cè)試,其余模擬IC的測(cè)試也就能夠順利清楚,所以運(yùn)放在模擬IC中有著至關(guān)重要的地位,故勸各位熟悉并掌握它,現(xiàn)將其各項(xiàng)參數(shù)測(cè)試具體說(shuō)明如下:
1. 運(yùn)算放大器測(cè)試方法基本原理
采用由輔助放大器(A)與被測(cè)器件(DUT)構(gòu)成閉合環(huán)路的方法進(jìn)行測(cè)試,基本測(cè)試原理圖如圖1所示。
圖 1
輔助放大器應(yīng)滿(mǎn)足下列要求:
(1) 開(kāi)環(huán)增益大于60dB;
(2) 輸入失調(diào)電流和輸入偏置電流應(yīng)很小;
(3) 動(dòng)態(tài)范圍足夠大。
環(huán)路元件滿(mǎn)足下列要求:
(1) 滿(mǎn)足下列表達(dá)式
Ri·Ib<Vos
R<Rid
R·Ib >Vos
R1=R2
R1>RL
式中:Ib: 被測(cè)器件的輸入偏置電流;
Vos:被測(cè)器件的輸入失調(diào)電壓;
Rid:被測(cè)器件的開(kāi)環(huán)差模輸入電阻;
Ros:輔助放大器的開(kāi)環(huán)輸出電阻;
(2) Rf/ Ri值決定了測(cè)試精度,但須保證輔助放大器在線性區(qū)工作。
2.運(yùn)算放大器測(cè)試適配器
SP-3160Ⅲ 數(shù)/模混合集成電路測(cè)試系統(tǒng)提供的運(yùn)算放大器測(cè)試適配器便是根據(jù)上述基本原理設(shè)計(jì)而成。它由運(yùn)放測(cè)試適配板及一系列測(cè)試適配卡組成,可以完成通用單運(yùn)放、雙運(yùn)放、四運(yùn)放及電壓比較器的測(cè)試。運(yùn)算放大器適配器原理圖如附圖所示。
3.測(cè)試參數(shù)
以O(shè)P-77G為例,通用運(yùn)算放大器主要技術(shù)規(guī)范見(jiàn)下表。
3.1參數(shù)名稱(chēng):輸入失調(diào)電壓 Vos (Input Offset Voltage)。
3.1.1參數(shù)定義:使輸出電壓為零(或規(guī)定值)時(shí),兩輸入端間所加的直流補(bǔ)償電壓。
3.1.2測(cè)試方法: 測(cè)試原理如圖2 所示。
圖2
(1) 在規(guī)定的環(huán)境溫度下,將被測(cè)器件接入測(cè)試系統(tǒng)中;
(2) 電源端施加規(guī)定的電壓;
(3) 開(kāi)關(guān)“K4”置地(或規(guī)定的參考電壓);
(4) 在輔助放大器A的輸出端測(cè)得電壓Vlo;
(5) 計(jì)算公式:
Vos=(Ri/(Ri+Rf))*VLo。
3.1.3編程舉例:(測(cè)試對(duì)象:OP-77G,測(cè)試系統(tǒng):SP3160)
----測(cè)試名稱(chēng):vos----
測(cè)量方式:Vos
Bias 1=-15.000 V
Clamp1=-10.000mA
Bias 2=15.000 V
Clamp2=10.000mA
測(cè)量高限=0.0001V
測(cè)量低限=____V
測(cè)量延遲:50mS
箝位延遲:50mS
SKon=[0,4,11,12,13,19,23,27]
電壓基準(zhǔn)源2電壓=0V
電壓基準(zhǔn)源2量程+/-2.5V
電壓基準(zhǔn)源3電壓=0V
電壓基準(zhǔn)源3量程+/-2.5V
測(cè)試通道 TP1
測(cè)量單元 DCV
DCV量程 :+/-2V
3.2參數(shù)名稱(chēng):輸入失調(diào)電流 Ios (Input Offset Current)。
3.2.1參數(shù)定義:使輸出電壓為零(或規(guī)定值)時(shí),流入兩輸入端的電流之差。
3.2.2測(cè)試方法:測(cè)試原理如圖3 所示。
圖3
(1)在規(guī)定的環(huán)境溫度下,將被測(cè)器件接入測(cè)試系統(tǒng)中;
(2) 電源端施加規(guī)定的電壓;
(3) 開(kāi)關(guān)K4置“地”(或規(guī)定的參考電壓);
(4) 開(kāi)關(guān)K1、K2閉合,在輔助放大器A的輸出端測(cè)得電壓VL0;
(5) 開(kāi)關(guān)K1、K2斷開(kāi),在輔助放大器A的輸出端測(cè)得電壓VL1;
(6) 計(jì)算公式:
Ios=(Ri/(Ri+Rf))*((VL1-VL0)/R) 。
3.2.3編程舉例:(測(cè)試對(duì)象:OP-77G,測(cè)試系統(tǒng):SP3160)
測(cè)試條件詳見(jiàn)下一參數(shù)。
3.3參數(shù)名稱(chēng):輸入偏置電流 Ib (Input Bias Current)。
3.3.1參數(shù)定義:使輸出電壓為零(或規(guī)定值)時(shí),流入兩輸入端電流的平均值。
3.3.2 測(cè)試方法:測(cè)試原理如圖4 所示。
圖4
(1) 在規(guī)定的環(huán)境溫度下,將被測(cè)器件接入測(cè)試系統(tǒng)中;
(2) 電源端施加規(guī)定的電壓;
(3) 開(kāi)關(guān)K4置“地”(或規(guī)定的參考電壓);
(4) 開(kāi)關(guān)K1斷開(kāi)、K2閉合,在輔助放大器A的輸出端測(cè)得電壓VL2;
(5) 開(kāi)關(guān)K1閉合、K2斷開(kāi),在輔助放大器A的輸出端測(cè)得電壓VL3;
(6) 計(jì)算公式:
Ib=(Ri/(Ri+Rf))*((VL2-VL3)/2R) 。
3.3.3編程舉例:(測(cè)試對(duì)象:OP-77G,測(cè)試系統(tǒng):SP3160)
----測(cè)試名稱(chēng):Ib/Ios----
測(cè)量方式:Ib/Ios
Bias 1=-15.000 V
Clamp1=-10.000mA
Bias 2=15.000 V
Clamp2=10.000mA
測(cè)量高限=2.8nA
測(cè)量低限=2.8nA
測(cè)量延遲:10mS
箝位延遲:10mS
SKon=[0,4,11,12,13,19,23,27]
電壓基準(zhǔn)源2電壓=0V
電壓基準(zhǔn)源2量程+/-2.5V
電壓基準(zhǔn)源3電壓=0V
電壓基準(zhǔn)源3量程+/-2.5V
測(cè)試通道 TP1
測(cè)量單元 DCV
DCV量程 :+/-2V
3.4參數(shù)名稱(chēng):開(kāi)環(huán)電壓增益Avo (Large Signal Voltage Gain)。
3.4.1參數(shù)定義:器件開(kāi)環(huán)時(shí),輸出電壓變化與差模輸入電壓變化之比。
3.4.2測(cè)試方法:測(cè)試原理如圖5 所示。
圖5
(1) 在規(guī)定的環(huán)境溫度下,將被測(cè)器件接入測(cè)試系統(tǒng)中;
(2) 電源端施加規(guī)定的電壓;
(3) 開(kāi)關(guān)K4置“1”,在輔助放大器A的輸出端測(cè)得電壓VL4;
(4) 開(kāi)關(guān)K4置“2”,在輔助放大器A的輸出端測(cè)得電壓VL5;
(5) 計(jì)算公式:
Avo=((Vref+-Vref-)/(VL4-Vl5))*((Ri+Rf)/Ri) 或
Avo=20lg(((Vref+-Vref-)/|(VL4-Vl5)|)*((Ri+Rf)/Ri))(dB) 。
3.4.3編程舉例:(測(cè)試對(duì)象:OP-77G,測(cè)試系統(tǒng):SP3160)
----測(cè)試名稱(chēng):Avo----
測(cè)量方式:Op_Avo
Bias 1=-15.000 V
Clamp1=-10.000mA
Bias 2=15.000 V
Clamp2=10.000mA
測(cè)量高限=____dB
測(cè)量低限=126dB
測(cè)量延遲:10mS
箝位延遲:10mS
SKon=[0,4,11,12,13,17,19,23,27]
電壓基準(zhǔn)源2電壓=0V
電壓基準(zhǔn)源2量程+/-2.5V
電壓基準(zhǔn)源3電壓=-5_5V
電壓基準(zhǔn)源3量程+/-10V
測(cè)試通道 TP1
測(cè)量單元 DCV
DCV量程 :+/-2V
3.5參數(shù)名稱(chēng):共模抑制比CMRR (Common-Mode Rejection Ratio)。
3.5.1參數(shù)定義:差模電壓增益與共模電壓增益之比。
3.5.2測(cè)試方法:測(cè)試原理如圖6 所示。
(1) 在規(guī)定的環(huán)境溫度下,將被測(cè)器件接入測(cè)試系統(tǒng)中;
(2) 電源端施加規(guī)定的電壓;
(3) 輸入端施加規(guī)定的直流共模信號(hào)電壓Vic+,在輔助放大器A的輸出端測(cè)得
電壓VL6;
(4) 輸入端施加規(guī)定的直流共模信號(hào)電壓Vic-,在輔助放大器A的輸出端測(cè)得
電壓VL7;
(5) 計(jì)算公式:
CMRR=((Vic+-Vic-)/(VL6-VL7)*((Ri+Rf)/Ri)或
CMRR=20lg(((Vic+-Vic-)/(VL6-VL7)*((Ri+Rf)/Ri))(dB) 。
3.5.3編程舉例:(測(cè)試對(duì)象:OP-77G,測(cè)試系統(tǒng):SP3160)
----測(cè)試名稱(chēng):CMRR----
測(cè)量方式:Cmrr
Bias 1=-5_-25 V
Clamp1=-10.000mA
Bias 2=25_5 V
Clamp2=10.000mA
測(cè)量高限=____dB
測(cè)量低限=116dB
測(cè)量延遲:10mS
箝位延遲:10mS
SKon=[0,4,11,12,13,18,19,23,27]
電壓基準(zhǔn)源2電壓=0V
電壓基準(zhǔn)源2量程+/-2.5V
電壓基準(zhǔn)源3電壓=-5_5V
電壓基準(zhǔn)源3量程+/-10V
測(cè)試通道 TP1
測(cè)量單元 DCV
DCV量程 :+/-2V
運(yùn)算放大器是模擬器件的核心,熟悉運(yùn)放的特性也就掌握了模擬IC的基礎(chǔ),掌握了運(yùn)放的測(cè)試,其余模擬IC的測(cè)試也就能夠順利清楚,所以運(yùn)放在模擬IC中有著至關(guān)重要的地位,故勸各位熟悉并掌握它,現(xiàn)將其各項(xiàng)參數(shù)測(cè)試具體說(shuō)明如下:
3.6參數(shù)名稱(chēng):電源電壓抑制比PSRR (Power Supply Rejection Ratio)。
3.6.1參數(shù)定義:電源的單位電壓變化所引起的輸入失調(diào)電壓的變化率。
3.6.2測(cè)試方法:測(cè)試原理如圖7所示。
圖7
在規(guī)定的環(huán)境溫度下,將被測(cè)器件接入測(cè)試系統(tǒng)中;
開(kāi)關(guān)K4置“地”(或規(guī)定的參考電壓);
開(kāi)關(guān)K置“1”,在輔助放大器A的輸出端測(cè)得電壓VL8;
正電源電壓變化?V,負(fù)電源電壓為V-,在輔助放大器A的輸出端測(cè)得電壓
VL9;
計(jì)算公式:
PSRR+=((VL9-Vl8)/ ?V)*(Ri/(Ri+Rf))或
PSRR+=20lg(((VL9-Vl8)/ ?V)*(Ri/(Ri+Rf)))(dB) ;
(5) 負(fù)電源電壓變化?V,正電源電壓為V+,在輔助放大器A的輸出端測(cè)得電壓
VL10;
計(jì)算公式:
PSRR-=((VL10-Vl8)/ ?V)*(Ri/(Ri+Rf))或
PSRR-=20lg(((VL10-Vl8)/ ?V)*(Ri/(Ri+Rf)))(dB) 。
3.6.4編程舉例:(測(cè)試對(duì)象:OP-77G,測(cè)試系統(tǒng):SP3160)
----測(cè)試名稱(chēng):psrr+----
測(cè)量方式:Psrr
Bias 1=-15 V
Clamp1=-10.000mA
Bias 2=15_5 V
Clamp2=10.000mA
測(cè)量高限=____dB
測(cè)量低限=110dB
測(cè)量延遲:10mS
箝位延遲:10mS
SKon=[0,4,11,12,13,19,23,27]
電壓基準(zhǔn)源2電壓=0V
電壓基準(zhǔn)源2量程+/-2.5V
電壓基準(zhǔn)源3電壓=0V
電壓基準(zhǔn)源3量程+/-2.5V
測(cè)試通道 TP1
測(cè)量單元 DCV
DCV量程 :+/-2V
----測(cè)試名稱(chēng):psrr- ----
測(cè)量方式:Psrr
Bias 1=-15_-5 V
Clamp1=-10.000mA
Bias 2=15 V
Clamp2=10.000mA
測(cè)量高限=____dB
測(cè)量低限=110dB
測(cè)量延遲:10mS
箝位延遲:10mS
SKon=[0,4,11,12,13,19,23,27]
電壓基準(zhǔn)源2電壓=0V
電壓基準(zhǔn)源2量程+/-2.5V
電壓基準(zhǔn)源3電壓=0V
電壓基準(zhǔn)源3量程+/-2.5V
測(cè)試通道 TP1
測(cè)量單元 DCV
DCV量程 :+/-2V
3.7參數(shù)名稱(chēng):輸出電壓擺幅Vo (Output Voltage Swing)。
3.7.1參數(shù)定義:器件在規(guī)定電源電壓和負(fù)載下,所能輸出的最大電壓。
3.7.2測(cè)試方法:測(cè)試原理如圖8所示。
圖8
(1) 在規(guī)定的環(huán)境溫度下,將被測(cè)器件接入測(cè)試系統(tǒng)中;
(2) 電源端施加規(guī)定的電壓;
(3) 輸入端施加規(guī)定的正電壓。在被測(cè)器件輸出端測(cè)得電壓Vo+;
(4) 輸入端施加規(guī)定的負(fù)電壓。在被測(cè)器件輸出端測(cè)得電壓Vo-。
3.7.3編程舉例:(測(cè)試對(duì)象:OP-77G,測(cè)試系統(tǒng):SP3160)
----測(cè)試名稱(chēng):vo+----
測(cè)量方式:Meter
Bias 1=-15.000 V
Clamp1=-10.000mA
Bias 2=15.000 V
Clamp2=10.000mA
測(cè)量高限=____V
測(cè)量低限=12.5V
測(cè)量延遲:10mS
箝位延遲:10mS
SKon=[0,4,9,11,13,17,19,23,27]
電壓基準(zhǔn)源1電壓=1V
電壓基準(zhǔn)源1量程+/-2.5V
電壓基準(zhǔn)源4電壓=1V
電壓基準(zhǔn)源4量程+/-2.5V
測(cè)試通道 TP2
測(cè)量單元 DCV
DCV量程 :+/-20V
----測(cè)試名稱(chēng):vo- ----
測(cè)量方式:Meter
Bias 1=-15.000 V
Clamp1=-10.000mA
Bias 2=15.000 V
Clamp2=10.000mA
測(cè)量高限=-12.5V
測(cè)量低限=____V
測(cè)量延遲:10mS
箝位延遲:10mS
SKon=[0,4,9,11,13,17,19,23,27]
電壓基準(zhǔn)源1電壓=-1V
電壓基準(zhǔn)源1量程+/-2.5V
電壓基準(zhǔn)源4電壓=-1V
電壓基準(zhǔn)源4量程+/-2.5V
測(cè)試通道 TP2
測(cè)量單元 DCV
DCV量程 :+/-20V
3.8參數(shù)名稱(chēng):增益帶寬積GBP (Closed-loop Bandwidth Product)。
3.8.1參數(shù)定義:在3dB/倍頻程的增益-頻率特性范圍內(nèi),電壓增益與對(duì)應(yīng)頻率的乘積。
3.8.2測(cè)試方法:測(cè)試原理圖如圖9所示。
圖9
在規(guī)定的環(huán)境溫度下,將被測(cè)器件接入測(cè)試系統(tǒng)中;
電源端施加規(guī)定的電壓;
輸入端施加規(guī)定的信號(hào)電壓,調(diào)節(jié)信號(hào)頻率為Fm,使電壓增益的頻率特性為3dB/倍頻程;
在輸出端測(cè)得電壓Vo;
計(jì)算公式:
GBP=(Vo/Vi)*Fm 。
3.8.3編程舉例:(測(cè)試對(duì)象:OP-77G,測(cè)試系統(tǒng):SP3160)
----測(cè)試名稱(chēng):GBP----
測(cè)量方式:GBP
Bias 1=-15.000 V
Clamp1=-10.000mA
Bias 2=15.000 V
Clamp2=10.000mA
測(cè)量高限=1.5MHz
測(cè)量低限=0.4MHz
測(cè)量延遲:10mS
箝位延遲:10mS
SKon=[0,4,11,13,14,19,23,27]
測(cè)試通道 TP2
測(cè)量單元 ACV
ACV隔離直流
ACV量程 :+/-1V
ACV阻抗:10M
程 控 信 號(hào) 源 Sine
程控信號(hào)源幅度=1V
程控信號(hào)源頻率=12.8KHz
程控信號(hào)源低通:FH
程控信號(hào)源輸出:to TS
3.9參數(shù)名稱(chēng):輸出電壓轉(zhuǎn)換速率SR (Slew Rate)。
3.9.1參數(shù)定義: 輸入端在施加規(guī)定的大信號(hào)階躍脈沖電壓時(shí),輸出電壓隨時(shí)間的最大變化率。
3.9.2測(cè)試方法:測(cè)試原理及波形定義如圖10或圖11所示。
圖10
圖11
(1) 在規(guī)定的環(huán)境溫度下,將被測(cè)器件接入測(cè)試系統(tǒng)中;
(2) 電源端施加規(guī)定的電壓;
(3) 輸入端施加規(guī)定的脈沖信號(hào)電壓;
在輸出端從規(guī)定過(guò)沖量的輸出脈沖電壓上升沿(或下降沿)的恒定變化率區(qū)間內(nèi),測(cè)得輸出電壓幅度ΔVo和對(duì)應(yīng)的時(shí)間Δt;
(5) 計(jì)算公式:SR=ΔVo/Δt 。
3.9.3編程舉例:(測(cè)試對(duì)象:OP-77G,測(cè)試系統(tǒng):SP3160)
----測(cè)試名稱(chēng):SR----
測(cè)量方式:SR
Bias 1=-15.000 V
Clamp1=-10.000mA
Bias 2=15.000 V
Clamp2=10.000mA
測(cè)量高限=____V/uS
測(cè)量低限=0.1V/uS
Vin1h=5.000V
Vin1l=0.000V
--Split=0--
Rate =100000 nS
Stb= 5000 nS
Clk 1=10 nS
Clk 8=10 nS
Wave(NRZ)=[1]
Clk1,Clk_=[1]
Inpin:[1]
測(cè)量延遲:10mS
箝位延遲:10mS
SKon=[0,4,9,11,12,13,17,19,23,27]
電壓基準(zhǔn)源1電壓=1V
電壓基準(zhǔn)源1量程+/-2.5V
電壓基準(zhǔn)源4電壓=-1V
電壓基準(zhǔn)源4量程+/-2.5V
時(shí)間測(cè)量速度:High speed
時(shí)間測(cè)量方式:Pos Edge
開(kāi)始電平=-10V
結(jié)束電平=10V
3.10參數(shù)名稱(chēng):電源電流Is。
3.10.1參數(shù)定義:輸入端無(wú)信號(hào)且輸出端無(wú)負(fù)載時(shí),器件所消耗的電源功率。
3.10.2測(cè)試方法:測(cè)試原理如圖12所示。
圖12
在規(guī)定的環(huán)境溫度下,將被測(cè)器件接入測(cè)試系統(tǒng)中;
電源端施加規(guī)定的電壓;
開(kāi)關(guān)K4置“地”(或規(guī)定的參考電壓);
在電源端V+及V-分別測(cè)得Is+及Is-。
3.10.3編程舉例:(測(cè)試對(duì)象:OP-77G,測(cè)試系統(tǒng):SP3160)
----測(cè)試名稱(chēng):Is+----
測(cè)量方式:IDD2
Bias 1=-15.000 V
Clamp1=-10.000mA
Bias 2=15.000 V
Clamp2=10.000mA
測(cè)量高限=2.5mA
測(cè)量低限=____mA
電流箝位?:10mA
測(cè)量延遲:10mS
箝位延遲:10mS
SKon=[0,4,13]
----測(cè)試名稱(chēng):Is- ----
測(cè)量方式:IDD1
Bias 1=-15.000 V
Clamp1=-10.000mA
Bias 2=15.000 V
Clamp2=10.000mA
測(cè)量高限=____mA
測(cè)量低限=-2.5mA
電流箝位?:-10mA
測(cè)量延遲:10mS
箝位延遲:10mS
SKon=[0,4,13]
評(píng)論
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