packing壽命。PCT加速濕度老化試驗箱技術參數:型 號 :PCT-35
2023-08-21 14:06:15
加速壽命測試HALT、高加速應力篩選測試HASS和高加速應力稽核測試HASA,都是可靠性測試的方法,用于評估電子產品在惡劣環境下的性能表現和可靠性。可靠性高加速壽命測試圖源:華南檢測中心HALT測試
2023-08-18 08:35:29285 ? 針對汽車 IGBT 模塊的主要失效原理和引線鍵合壽命短板,結合仿真分析進行了功率循環試驗設計,結溫差?ΔTj 和流經鍵合線的電流 IC 是影響鍵合點壽命的主要加速因子,中間溫度(Tjm)是影響鍵
2023-08-08 10:59:38458 針對汽車 IGBT 模塊的主要失效原理和引線鍵合壽命短板,結合仿真分析進行了功率循環試驗設計,結溫差 ΔTj 和流經鍵合線的電流 IC 是影響鍵合點壽命的主要加速因子,中間溫度(Tjm)是影響鍵合點
2023-08-08 10:56:36383 高度加速壽命測試(HALT)是一種加速的環境測試過程,用于評估和提高產品設計和組件/材料的耐用性。產品的堅固性是最終可靠性性能的直接指標。高度加速壽命測試努力的結果用于建立用于生產的高度加速壽命測試配置文件。
2023-07-20 10:53:51120 試驗所處環境應力:沖擊、振動、碰撞、加速、高噪音、疾風所處環境應力:機械環境和氣候環境相結合的環境因素所處環境應力:溫濕度、氣體、鹽霧、風雨、壓力、太陽輻射當然,使用環境試驗設備進行的試驗并不可能完全
2009-09-06 20:33:41
、Miner 線性累 積損傷準則等評估整車壽命周期內 IGBT 模塊的熱疲勞壽命,最后結合電機控制器總成的試驗現狀,提出總成級試 驗中進行 IGBT 加速試驗的可行性方案。
2023-05-05 10:34:52657 老化試驗主要通過使用各種環境試驗設備模擬氣候環境中的高溫、低溫、高溫高濕以及溫度變化等情況,加速激發產品在使用環境中可能發生的失效,來驗證其是否達到在研發、設計、制造中的預期質量目標,從而對產品整體
2023-02-28 11:11:21321 ,環境可靠性試驗的主要作用原理就是模擬電池包在不同溫度下充電、放電以及老化測試,是確認電池包效率和可預期壽命的關鍵。放電性能、高低溫性能、循環壽命及過充、過放和短路
2023-02-07 10:37:21361 ,溫度會有時高,有時低,這種不斷變化的溫度環境會影響產品的功能、性能、質量和使用壽命,加速產品的老化,縮短產品的使用壽命。如果產品長時間處于這種交替變化大的高溫和低溫環境中,需要有足夠的能力來抵抗高溫和低溫循
2022-12-07 10:12:222965 交變濕熱壽命試驗參考標準
2022-10-28 15:19:171 ?上周,試驗機老二給大家分享了插拔力試驗機分類、構造、選型、校準、維護保養、故障維修等方面的知識,不知各位對插拔力試驗機是否有不一樣的收獲,如若有相應的心得,可在后臺給試驗機老二分享一下哦。
2022-10-24 16:36:17454 疲勞試驗機在日常的使用中,必然會發生部分或整機性的磨損或損壞,為了延長疲勞試驗機的使用壽命和保證試驗數據的準確性,試驗機老二認為有必要對疲勞試驗機進行定期性的維護和保養。
2022-09-07 16:39:53701 ?前文試驗機老二給大家講述了彈簧試驗機的安裝,我們都知道彈簧試驗機在使用的過程中必然會發生正常或非正常性的機器設備磨損。毀壞,因此,為了能延長彈簧試驗機的試驗壽命,定期的機器設備保養成為了一件必不可少的事項。
2022-09-05 17:30:31102 對電子元器件施加高溫、高濕和一定的驅動電流,進行加速老化試驗。根據測試結果,可以判斷電子元器件具有功能和失去功能,以及驗收和拒收,并可以調整電子元器件的工作狀態和分析可靠性。
加速老化試驗
2022-08-03 15:15:22621 LED LM-80光通維持-壽命試驗機是一款專業的LED燈珠壽命測試老化儀器,測試溫度在常溫到150℃之間,能測試箱體環境溫度及燈珠殼體溫度,控溫精度能達到0.1℃,完全滿足LM-80測試要求。該設備采用水冷系統,能高效的控制箱體環境溫度與燈珠殼體溫度。
2021-06-25 12:50:59369 于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產業電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組件、零件接腳氧化試驗。
2021-06-18 14:00:15526 開關按鍵壽命試驗機產品參數: 1、試驗工位:4個(同時工作); 2、荷重砝碼:50、100、200、300、500g各四個(可選配); 3、試驗次數計數器:0~99999999次(可預置,LCD顯示
2021-06-10 17:58:30348 應用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產業電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組件、零件接腳氧化試驗。
2021-06-02 15:15:11458 以上五項管柱疲勞壽命試驗基本上代表了當前國內外汽車轉向管柱總成疲勞壽命試驗的項目。樣件試驗的具體項目要依據轉向管柱總成所選用的技術標準而定。
2020-04-06 11:11:002281 LED具有體積小,耗電量低、長壽命環保等優點,在實際生產研發過程中,需要通過壽命試驗對LED芯片的可靠性水平進行評價,并通過質量反饋來提高LED芯片的可靠性水平,以保證LED芯片質量。
2020-01-23 17:33:004141 隨著LED生產技術水平的提高,產品的壽命和可靠性大為改觀,LED的理論壽命為10萬小時,如果仍采用常規的正常額定應力下的壽命試驗,很難對產品的壽命和可靠性做出較為客觀的評價,而我們試驗的主要目的是,通過壽命試驗掌握LED芯片光輸出衰減狀況,進而推斷其壽命。
2019-10-04 16:44:00862 分布模型司進行加速度試驗的基礎,?由于電機的實效機理種類(包括絕緣實效、軸承磨損等)較多,因此其壽命分布模型也有多種,包括威布爾分布、指數分布和對數正態分布3.?確定加速度試驗類型;該試驗類型主要指
2019-08-19 23:39:402575 抽拔力壽命試驗機用于各種連接之壓縮、拉伸破壞試驗,連接器單孔抽拔試驗,連接器整排抽拔試驗,連接器抽拔壽命試驗,連接器單針與塑膠保持力試驗,連接器正向力試驗。配合求心裝置使上下測試夾具可完全對準,得到準確的測試結果。
2019-07-16 16:12:27478 PCT高壓加速老化試驗箱是縮短產品或系統的壽命試驗時間等性能測試必不可缺的儀器,PCT加速老化試驗箱主要用于測試產品的耐高溫、高濕、高壓之性能;可以加速暴露產品在研發、生產過程中的不良或缺陷,以便更好的完善產品之各項性能指標。
2019-07-04 16:17:091806 恒溫恒濕試驗箱的壓縮機是該設備的核心部分,那么我們要如何巧妙延長恒溫恒濕試驗箱的使用壽命?環境試驗設備行業專家東莞元耀技術部為您總節出以下幾點:
2019-03-12 14:27:47453 關鍵詞:LED , LED芯片 LED具有體積小,耗電量低、長壽命環保等優點,在實際生產研發過程中,需要通過壽命試驗對LED芯片的可靠性水平進行*價,并通過質量反饋來提高LED芯片的可靠性水平,以
2019-02-17 15:53:01339 本標準規定了電動汽車用動力蓄電池的標準循環壽命的要求、試驗方法、檢驗規則和工況循環壽命的試驗方法和檢驗規則。
2018-08-30 08:00:0026 好多人討論電池壽命怎么檢測業界流行的一種快速壽命試驗方法,就是:1C充入70%電量,2C放電60%。如果循環試驗的放電電量到低于標稱容量60%的時候,結束壽命試驗,其試驗次數加上加速壽命試驗的加速
2018-08-23 11:10:337021 本文首先介紹了可靠性測試的概念與分類,其次介紹了壽命測試屬于可靠性測試及其作用,最后介紹了有效的壽命測試項目及壽命試驗相關標準。
2018-05-14 09:40:4615808 本文首先介紹了耐久性試驗的概念,其次介紹了耐久性試驗的目的及耐久性試驗標準,最后介紹了電子設備耐久性試驗的基本步驟。
2018-05-14 09:27:596563 本文首先介紹了加速壽命試驗概念與加速壽命試驗類型,其次介紹了試驗的條件與壽命試驗常見的物理模型,最后介紹了加速因子的計算與加速壽命試驗方法。
2018-05-14 08:31:2364479 工作壽命是表征產品可靠性的重要特征量。對于繼電器這類長壽命產品,以壽命為指標進行產品篩選的方法目前還未得到深入研究。近來通過對繼電器壽命試驗數據進行分析發現:繼電器個體的壽命與其生命初期的性態有關
2018-03-22 13:52:225 作用下性能退化規律,將研制壽命試驗的累積損傷表征在退化狀態內部,實際飛行數據通過貝葉斯濾波動態更新到壽命估計模型中,考慮余度液壓系統多退化狀態增廣,給出動態機載液壓系統壽命預測與估計方法,實現機載液壓系統高
2018-03-10 09:54:570 隨著高可靠性工控設備的問世,需要一套具有可操作性的壽命驗證方案對可靠性數據進行驗證。在介紹了相關可靠性理論的基礎上,將傳統的平均無故障T.作時間(MTBF)驗證方法與加速壽命方法相結合,構建了一套
2017-10-24 14:35:044 基于加速老化試驗的IGBT壽命預測模型研究_張亞玲
2016-12-14 11:08:521 以下將簡單介紹兩大部分,不論LED以零件或成品的方式呈現,都可利用并遵循以下的模式來達到LED產品的基本驗證:1. 產品壽命驗證,2. 產品環境試驗驗證。
2012-12-19 10:53:291938 加速壽命試驗分為恒定應力、步進應力和序進應力加速壽命試驗。將一定數量的樣品分成幾組,對每組施加一個高于額定值的固定不變的應力,在達到規定失效數或規定失效時間后停止
2012-04-23 15:31:4576 假設環形激光器的工作壽命分布規律,在大電流應力下仍符合威布爾分布。采用恒定應力加速壽命試驗方法,在最短的試驗時間得到一批壽命試驗數據,并利用擬最優線性無偏估計方法對數
2012-02-22 10:54:1343 文中假設環形腔氦氖激光器的工作壽命分布規律,在大電流應力下滿足威布爾分布,選取電流作為加速應力,對環形腔氦氖激光器進行加速壽命試驗。通過最小二乘法對試驗數據進行處理,試
2012-02-13 15:24:5033 針對繼電器貯存壽命的町靠性評估問題,根據生存分析理論,提出基于BoxCox變換的步進加速壽命試驗模型。考慮多個環境應力,結合累積失效模型,運用基于Gibbs抽樣的MCMC方法,給出先
2011-08-09 16:27:0019 加速壽命試驗廣泛地用于在短時間內預測元器件的壽命。本文介紹用步進應力加速壽命試驗估計 大功率晶體管 的激活能和壽命。本試驗采用溫度斜坡模型,試驗結果在和經驗數據做比
2011-07-23 11:23:3349 繼電器在工業控制中用途越來越廣泛,各繼電器生產廠商不斷尋求先進的檢測方法和設備,基于此作者開發了將微機控制技術應用在電壽命試驗的自動化水平高、可靠性高、功能強
2010-07-20 15:15:5613 該文以可靠性理論為基礎,研究制定了電廠鍋爐蛇形管焊接接頭的加速壽命試驗的方法和規范。通過對大量新制的15CrMo摩擦焊接頭具有加速壽命意義的高溫內壓爆破持久試驗,和對
2010-01-14 15:07:0531 基于灰色預測理論的恒加試驗壽命估計:本文首先介紹了目前恒加試驗中,求正常應力水平下特征壽命點估計的數據統計分析方法及其不足。而后針對恒加試驗的特點和所需解決
2009-10-15 16:59:5410 LED芯片壽命試驗
作為電子元器件,發光二極管(LightEmittingDiode-LED)已出現40多年,但長久以來,受到發光效率和亮度的限制,僅為指示燈所采用,
2009-10-10 16:02:23464
繼電器壽命試驗時用磁放大器監控電路圖
2009-06-30 13:36:04417 繼電器在工業控制中用途越來越廣泛,各繼電器生產廠商不斷尋求先進的檢測方法和設備,基于此作者開發了將微機控制技術應用在電壽命試驗的自動化水平高、可靠性高、功能強
2009-06-26 07:58:4418 大功率發光二極管的壽命試驗及其失效分析: 以GaN 基藍光L ED 芯片為基礎光源制備了大功率藍光L ED ,并通過熒光粉轉換的方法制備了白光L ED。對大功率藍光和白光L ED 進行了壽命
2008-10-27 17:11:5742 高電壓直流耐壓試驗對電纜壽命的影響
摘要:本文主要通過分析高電壓直流耐壓試驗對發現紙絕緣電纜缺陷的有效性, 發現交聯聚乙烯
2008-10-14 13:52:321918 詳細說明:蒸汽老化壽命試驗機的詳細資料: 產品概述◆ 半導體,被動元件,零件接腳氧化試驗◆ 金屬接腳粘錫性試驗前加速老化試驗◆ 微電腦溫度控制器P.I.D. + P.W.M. + S.S.
2008-09-15 11:49:29408
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