DFT:數字電路(fpga/asic)設計入門之可測試設計與可測性分析,離散傅里葉變換,(DFT)Direct Fouriet Transformer
可測試性技術（Design For Testability-
2010-06-07 11:00:48
29035 在本篇白皮書中，我們介紹了一個典型設計的 DFT 組件，并提出了多種可大幅改善 DFT 項目進度的智能 DFT 方法。我們展示了如何將結構化 DFT 和即插即用原則用于 DFT 基礎結構，來支持與其他設計開發工作相似的并行 DFT 開發和集成。
2022-11-30 10:15:00392 TX-6000-DFT-287 - Temperature Compensated Crystal Oscillator - Vectron International, Inc
1970-01-01 08:00:00
DFT是確保芯片在制造過程中具有可測試性的一種技術。DFT友好的ECO是指在進行ECO時， 不會破壞芯片的DFT功能或降低DFT覆蓋率的設計方法。DFT不友好的ECO會對芯片的測試和調試帶來很大的困難，可能導致芯片測試效率降低甚至無法測試。
2023-05-05 15:06:37674 
DFT是確保芯片在制造過程中具有可測試性的一種技術。DFT友好的ECO是指在進行ECO時， 不會破壞芯片的DFT功能或降低DFT覆蓋率的設計方法。
2023-03-06 14:47:07983 fft和dft的區別聯系 快速傅里葉變換（FFT）和離散傅里葉變換（DFT）是信號處理和數學計算領域中最常見的技術之一。它們都是用于將離散信號從時域轉換到頻域的方法，而在此轉換過程中，它們都利用傅里
2023-09-07 16:43:53694 第3章--離散傅里葉變換(DFT)
2016-12-28 14:23:30
2 首先給大家提供DFT和FFT的運算量的教程，內容有直接用DFT計算運算量與用FFT計算的運算量比較和多種DFT算法(時間抽取算法DIT算法，頻率抽取算法DIF算法等.
2011-09-08 00:01:4871 DFT在數字信號處理中有很重要的作用，如頻譜分析、FIR DF的實現、線性卷積等。一個重要的原因是DFT有高效算法。 為了了解高效算法的重要以及實現高效算法的思路，先介紹DFT的運算特
2011-09-07 23:59:5557 簡 介：這學期的信號與系統進展到第五章，拉普拉斯變換與 z 變換。前幾天看到一篇博文中對于無限電阻網絡求解相鄰節點阻抗中使用了離散傅里葉變換 (DFT) 的方法比較新穎。分析了DFT在其中僅僅是起到
2022-08-16 16:26:171477 DFT性質一覽表
2009-07-25 11:41:033822 
相信很多ICer們在Light芯片的過程中無論前后端都聽過DFT設計測試，DFT全稱Design for Test(即可靠性設計)，眾所周知，測試的目的是為了保證芯片成品的質量以及功能邏輯的可靠性的必須 措施。
2023-03-06 14:45:101656 英諾達發布了自主研發的靜態驗證EDA工具EnAltius?昂屹? DFT Checker，該工具可以在設計的早期階段發現與DFT相關的問題或設計缺陷。
2023-09-13 09:05:18497 當今片上系統的設計復雜性日益增加，可能導致長達數小時、數天甚至數周的可測試性 （DFT） 仿真設計。由于這些往往發生在專用集成電路（ASIC）項目結束時，當工程變更單（ECO）強制重新運行這些長時間
2023-04-20 10:21:24767 
應用離散傅里葉變換（DFT），分析離散信號x［k］的頻譜。深刻理解DFT分析離散信號頻譜的原理，掌握改善分析過程中產生的誤差的方法。
2019-08-06 17:16:5511 隨著半導體技術的飛速發展，系統級芯片（SoC）設計已成為現代電子設備中的主流。在SoC設計中，可測試性設計（DFT）已成為不可或缺的環節。DFT旨在提高芯片測試的效率和準確性，確保產品質量和可靠性。
2023-09-02 09:50:10737 基于滑動DFT算法推導出一種改進的周期圖功率譜估計方法，并在軟件系統界面中應用。根據傳統的功率譜估計方法和滑動DFT算法推導出改進的功率譜估計算法，通過滑動DFT算法計算出
2011-09-09 11:02:3235 用元素和測試點補充您的操作設計以促進電路板的功能測試被稱為可測試性（ DFT ）設計。 DFT 與制造設計（ DFM ）不應混淆，盡管兩者都是基于 CM 設備和過程能力的設計人員活動。 DFM
2020-10-12 20:42:173467 今天這期小編將繼續與大家一起學習DFT的相關知識和流程代碼，在開始之前，先解決一下上期DFT學習的章節最后留下的問題—DFT工程師在收斂時序timing的時候經常遇到的hold的問題，即不同時鐘域的兩個SDFF(掃描單元的SI端hold違例問題。
2023-04-16 11:34:592407 DFT 可以降低通過問題器件的風險，如果最終在實際應用中才發現器件有缺陷，所產生的成本將遠遠高于在制造階段發現的成本。它還能避免剔除無缺陷器件，從而提高良率。插入 DFT 亦能縮短與測試開發相關的時間，并減少測試裝配好的芯片所需的時間。
2019-09-16 14:31:511490 
為了提高快速移動OFDM系統的信道估計的精度，進一步抑制載波間干擾（ici)，本文提出了一種基擴展模型（BEM）聯合反饋分組DFT的信道估計算法（BEM+ DFT）。首先，利用BEM算法估計出快速
2017-12-27 11:52:433 循環卷積DFT的優化算法與仿真_韓芳
2017-03-04 18:08:580 在前端設計和功能驗證之間做對比的情況是很常見的，但隨著IC設計業的發展，很多初入行的ICer對其他崗位之間的異同點也很好奇。比如驗證和DFT。
2022-12-01 10:09:55946 在芯片做功能ECO時，DFT部分的邏輯常常被破壞，這是由于正常工作模式下修改設計的原因。
2023-03-06 09:15:18746 通過此視頻可快速瀏覽 PADS DFT 審核的一些主要功能、優點和易用性。在設計流程的早期使用 PADS DFT 審核可大幅降低 PCB 的批量投產時間，確保 100% 的測試點覆蓋和制造前所有網絡的可測試性。
2019-05-21 08:06:002694 如何對一個時域信號（比如ADC輸出、一個采樣保持電路的輸出）做頻域DFT線性度分析？
2023-05-23 17:17:13595 
DFT的計算量
離散傅里葉變換在實際應用中是非常重要的，利用它可以計算信號的頻譜、功率譜和線性卷積等。但是，如果使用定義式(
2008-10-30 12:59:194732 
PADS 可測試性設計 (DFT) 審核可以縮短上市時間。了解如何盡早在設計流程中利用 PCB 測試點和 DFT 審核優化設計。
2019-05-14 06:26:002741 
測性設計（DFT）給整個測試領域開拓了一條切實可行的途徑，目前國際上大中型IC設計公司基本上都采用了可測性設計的設計流程，DFT已經成為芯片設計的關鍵環節。
2020-07-06 11:38:478847 
該文利用參數估計方差最小為優化準則，計算出多頻正弦信號分段WDFT(Windowed-DFT)相位加權平均相位估計算法的最優加權系數，并給出算法相位估計的方差公式。另外，該文對DFT“噪
2009-11-09 14:47:1715 現今流行的可測試性設計(DFT：Design For Testability)為保證芯片的良品率擔任著越來越重要的角色。
2012-04-20 09:39:056090 
第2章-離散傅里葉變換(DFT)及其快速算法(FFT)
2016-12-28 14:23:306 OFDM的調制技術及DFT實現:正交頻分復用(OFDM)技術的應用已有近40 年的歷史，但直到70 年代，人們采用了離散傅立葉變換來實現多個載波的調制，簡化了系統結構，使得OFDM技術更趨
2009-06-15 07:49:3030 離散傅里葉變換,(DFT)Direct Fouriet Transformer(PPT課件)
一、序列分類對一個序列長度未加以任何限制，則一個序列可分為： 無限長序列：n=-∞~∞或n=0~∞或n=-
2009-07-25 11:38:17117 在本文中，我們檢查了掃描壓縮確實有助于減少 ASIC 設計中的測試時間 （DFT），但掃描通道減少也是一種有助于頂層測試時間的方法。
2022-06-02 14:25:091209 
滑動DFT的推導是相當簡單的，并且和DFT完全等價。也就是說，滑動DFT算法相比傳統DFT或FFT算法沒有信息丟失或失真。下面有完整的推導過程，沒有興趣的讀者可以跳過這一節，因為它容易讓人想睡
2018-02-19 01:01:009486 
Ad-hoc DFT 包括一套提倡“良好”設計規范的規則，旨在簡化和加速測試流程。例如，提供置位和復位信號，使得所有觸發器均可初始化；避免引起振蕩的異步邏輯反饋；邏輯門設計應注意避免扇入數過大（扇入
2018-04-12 14:29:002558 
數字信號處理第3章-離散傅里葉變換(DFT)
2016-12-28 14:23:300 數字信號處理(第三章-離散傅里葉變換DFT)
2016-12-28 14:23:300 對于過渡族金屬元素主要是3d族，當然也包括4d，5d族，和稀土元素，主要是鑭系；這些元素形成的合金或者化合物中，由于存在d電子或f電子，而這兩種電子都是強關聯電子，在某些時候，傳統的DFT沒法描述
2022-08-17 14:54:08988 電子發燒友網為你提供ON Semiconductor(ti)NLSX4401DFT2G相關產品參數、數據手冊，更有NLSX4401DFT2G的引腳圖、接線圖、封裝手冊、中文資料、英文資料，NLSX4401DFT2G真值表，NLSX4401DFT2G管腳等資料，希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2019-08-03 04:02:19
一種基于改進DFT算法的相位差測量研究_陳孔陽
2017-03-19 11:46:131 在芯片做功能ECO時，DFT部分的邏輯常常被破壞，這是由于正常工作模式下修改設計的原因。
2023-02-22 11:37:12284 數字信號處理[第三章-離散傅里葉變換(DFT)]
2016-12-28 14:23:301 數字信號處理--第3章--離散傅里葉變換(DFT)
2016-12-28 14:23:300 摘要：本文簡要地論述了FFT和多相位DFT濾波器組在響應方面的差異。一般而言，多相位DFT(甚至包括任何濾波器組，比如PFT)在穩態條件下有著很好的相鄰信道抑制性能，而瞬態響應卻很糟糕。這符合了濾波器沖激響應結論。
2006-03-11 13:17:031898 
均衡技術是在接收端消除無線多徑衰落信道引起的碼間干擾的重要手段。介紹了一種利用單點DFT運算進行均衡的算法，討論了在對該算法進行定點仿真中遇到的幾個問題，最后給出了浮
2011-09-16 14:36:2835 近日，西門子旗下業務Mentor宣布推出一種創新的可測試性設計 (DFT) 自動化方法 — Tessent Connect，可提供意圖驅動的分層測試實現。與傳統的 DFT 方法相比，該方法可幫助 IC 設計團隊以更少的資源實現更快的制造測試質量目標。
2019-12-04 15:54:493321 的計算能力和相當多的時間。分層可測試性設計通過在區塊或內核上完成了 DFT 插入和圖案生成解決了這個問題。
2018-01-31 07:06:0910501 
NC_OFDM系統基于DFT_DCB降PAPR研究_朱志成
2017-02-28 20:38:200 大家好，又到了每日學習的時間了，今天咱們來聊一聊數字信號處理中DFT、DTFT和DFS的關系，咱們通過幾幅圖來對比，探討一下哦。 很多同學學習了數字信號處理之后，被里面的幾個名詞搞的暈頭轉向，比如
2018-06-11 15:15:1110962 
DFT(Discrete Fourier Transform)代表著離散傅里葉變換，是作為有限長序列的在數字信號處理中被廣泛使用的一種頻域表示方法。
2023-08-09 11:26:36565 
可測試性設計 （DFT） 在市場上所有的電子設計自動化 （EDA） 工具中是最不被重視的，縱然在設計階段提高芯片的可測試性將會大幅縮減高昂的測試成本，也是如此。最近的分析數據表明，在制造完成后測試
2017-11-28 11:28:380 香山處理器的第二代微架構，南湖微架構，引入了L3 Cache，可配置多核形態，我們完成流片的是雙核版本的南湖。較第一代雁棲湖，設計規模在大幅膨脹，主頻也從1.3GHz提升到2GHz。規?；髮?b style="color: red">DFT設計及物理實現都造成新的挑戰，我們的設計方法學也需要與時俱進。
2022-12-14 10:51:16921 本文檔的主要內容詳細介紹的是數字信號處理教程之DFT和FFT處理的學習課件免費下載包括了：1.離散傅里葉變換，2.與傅里葉變換的關系，3.與傅里葉級數的關系，4.DFT 窗效應，6.快速傅里葉變換。
2019-11-13 17:08:1612 DFT 偽碼捕獲算法在進行偽碼搜索的同時估計多普勒頻偏，為了滿足捕獲精度要求，需要增加DFT 點數，但隨著運算點數的增加硬件實現難度成倍增長。本文提出一種基于FPGA 的在不
2009-09-22 09:59:2112 高級測試設計 （DFT） 技術通過提高順序翻牌的可控性和可觀察性，提供高效的測試解決方案，以應對更高測試成本、更高功耗、測試面積和較低幾何尺寸下的引腳數。這反過來又提高了SoC的良率，可靠性和可測試性是當今ASIC世界的重要因素。
2022-11-23 14:53:53529 
中，被授予該獎項的三大產品之一，它幫助 Mentor 搶占了 DFT 市場的老大位置。我們對創新大小的定義，不僅僅體現在它對產品本身的影響，更要能體現在該產品帶來的商業價值和市場份額上。
2019-10-11 15:59:302690 的電性參數發生偏移，掃描鏈測試失敗。這對DFT（Design for Test）以及ATPCJ（Automatic Test Pattern Ceneration）提出了更高的挑戰。
2017-11-11 16:20:384 ASIC設計的平均門數不斷增加，這迫使設計團隊將20%到50%的開發工作花費在與測試相關的問題上，以達到良好的測試覆蓋率。盡管遵循可測試設計(DFT)規則被認為是好做法，但對嵌入式R
2011-05-28 11:56:591308 
電網中的主要設備都是感性負載,這就要求電源必須提供無功功率。本文論述了一種DSP 控制的新型固態無功功率補償器,它基于離散傅立葉變換(DFT)的諧波檢測方法。該系統采用自
2009-08-15 14:22:5034
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