基于模式的靜態(tài)代碼分析、運(yùn)行時(shí)內(nèi)存監(jiān)測(cè)、單元測(cè)試以及數(shù)據(jù)流分析等軟件驗(yàn)證技術(shù)是查找嵌入式C語(yǔ)言程序/軟件缺陷行之有效的方法。上述技術(shù)中的每一種都能查找出某一類(lèi)特定的錯(cuò)誤。即便如此，如果用戶(hù)僅采用上述技術(shù)中的一種或者幾種來(lái)進(jìn)行驗(yàn)證，這樣的驗(yàn)證方法很有可能會(huì)漏過(guò)對(duì)程序中的一些缺陷的檢查。解決此類(lèi)問(wèn)題的一種安全和有效的策略就是同時(shí)使用上述軟件驗(yàn)證中的所有互補(bǔ)技術(shù)。這樣就能建立起一個(gè)牢固的框架來(lái)幫助用戶(hù)檢查出可能會(huì)避開(kāi)某種特定技術(shù)的缺陷。與此同時(shí)，用戶(hù)也自然地建立起一個(gè)能檢測(cè)出關(guān)鍵并且難以查找的功能性錯(cuò)誤的環(huán)境。

本文將詳盡闡述基于模式的靜態(tài)代碼分析、運(yùn)行時(shí)內(nèi)存錯(cuò)誤檢測(cè)、單元測(cè)試以及數(shù)據(jù)流分析等自動(dòng)化技術(shù)共同使用時(shí)是如何查找出嵌入式C語(yǔ)言程序/軟件中的缺陷的。本文中將以Parasoft C++test為例來(lái)演示上述各項(xiàng)技術(shù)。C++teST是一個(gè)經(jīng)廣泛的最佳實(shí)踐證明能提升軟件開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)開(kāi)發(fā)效率以及軟件質(zhì)量的自動(dòng)化集成解決方案。

當(dāng)讀者在閱讀本文以及任何時(shí)候思考查找到的缺陷時(shí)，關(guān)注文中的截圖是很重要的。自動(dòng)化檢測(cè)例如內(nèi)存崩潰和死鎖的缺陷，毫無(wú)疑問(wèn)對(duì)任何開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)都是一項(xiàng)必不可少的任務(wù)。盡管如此，最致命的缺陷卻是功能性錯(cuò)誤，這往往是難以自動(dòng)發(fā)現(xiàn)的。在本文的結(jié)論部分我們將簡(jiǎn)要地討論一下查找這些缺陷的技術(shù)。

情景簡(jiǎn)介

為了給出一個(gè)具體的示例，我們將就一個(gè)我們最近遇到的案例來(lái)介紹以及演示我們所推薦的缺陷查找策略：一個(gè)運(yùn)行在ARM 板上的簡(jiǎn)單傳感器應(yīng)用程序。

假設(shè)我們已經(jīng)創(chuàng)建了該應(yīng)用系統(tǒng)，但是當(dāng)我們將程序上載到系統(tǒng)目標(biāo)板上并試圖運(yùn)行該程序時(shí)，我們沒(méi)有在LCD屏上看到所預(yù)期的輸出。

我們尚不明確系統(tǒng)不能正常工作的原因，因此我們?cè)O(shè)法對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)試，但是在目標(biāo)板上進(jìn)行調(diào)試是一件耗時(shí)而且煩人的事。因?yàn)槲覀儾坏貌皇謩?dòng)分析調(diào)試器的結(jié)果并試圖人工判斷出問(wèn)題的真正原因。或者我們使用一些被證實(shí)能自動(dòng)定位出錯(cuò)誤的工具或技術(shù)來(lái)幫助我們減輕負(fù)擔(dān)。

基于模式的靜態(tài)代碼分析

這里，我們假設(shè)僅在絕對(duì)必要的情況下才使用調(diào)試器進(jìn)行調(diào)試，因此我們從運(yùn)行基于模式的靜態(tài)代碼分析開(kāi)始。它將查找到如下圖所示的問(wèn)題：

這是違反了 MISRA 的一個(gè)規(guī)則，此違規(guī)說(shuō)明該處的賦值運(yùn)算符存在一些可疑情況。的確，編程者此處的本意是使用比較運(yùn)算符而不是賦值運(yùn)算符。因此我們將此處檢測(cè)到的沖突修改掉，并重新運(yùn)行程序。

我們發(fā)現(xiàn)有了一些改善：一些輸出被顯示在了LCD屏上了。但是，由于一次訪問(wèn)違規(guī)，程序崩潰掉了。因此我們需要再次地做出選擇。我們是應(yīng)該使用調(diào)試器還是繼續(xù)使用自動(dòng)化的錯(cuò)誤檢測(cè)技術(shù)。由于經(jīng)驗(yàn)告訴我們自動(dòng)化錯(cuò)誤檢測(cè)技術(shù)能非常高效地檢查出我們當(dāng)前程序所遇到的內(nèi)存崩潰這類(lèi)問(wèn)題，因此我們決定使用運(yùn)行時(shí)內(nèi)存監(jiān)測(cè)來(lái)查找問(wèn)題。

整個(gè)程序的運(yùn)行時(shí)內(nèi)存監(jiān)測(cè)

為了進(jìn)行運(yùn)行時(shí)內(nèi)存監(jiān)測(cè)，我們使用 C++test 來(lái)插裝應(yīng)用程序。這樣的插裝是輕量級(jí)的，所以經(jīng)過(guò)插裝后的程序適合在目標(biāo)板上運(yùn)行。當(dāng)我們把程序上載到目標(biāo)板上并運(yùn)行經(jīng)過(guò)插裝的程序后，我們將結(jié)果下載到PC上，如下的錯(cuò)誤將被報(bào)告出來(lái)：

該結(jié)果指出在第48行代碼處產(chǎn)生了一次讀取數(shù)組越界的錯(cuò)誤。顯然，msgIndex變量的值肯定超過(guò)了數(shù)組的范圍。如果我們隨著堆棧追蹤上一級(jí)的原因，我們將發(fā)現(xiàn)此處的打印信息所指示的值的確超出了數(shù)組的范圍（因?yàn)樵谡{(diào)用printMessage()函數(shù)前我們給出了一個(gè)錯(cuò)誤的條件）。我們可以刪除掉這個(gè)不必要的條件（value <= 20）以修改這個(gè)錯(cuò)誤。

void handleSensorValue(int value)
{
initialize();
int index = -1;
if (value >= 0 && value <= 10) {
index = VALUE_LOW;
} else if ((value > 10) && (value <= 20)) {
index = VALUE_HIGH;
}
printMessage(index, value);
}

然后我們重新運(yùn)行程序，將不會(huì)再報(bào)告任何內(nèi)存錯(cuò)誤。當(dāng)我們把程序上載到目標(biāo)板上時(shí)，它似乎如我們預(yù)期那么在工作了。盡管如此，我們?nèi)匀挥幸恍?dān)心。

我們僅查找到我們所執(zhí)行的代碼路徑中的一個(gè)內(nèi)存寫(xiě)溢出實(shí)例，我們憑什么能夠斷定我們尚未執(zhí)行到的代碼就不會(huì)有內(nèi)存寫(xiě)溢出錯(cuò)誤了呢？如果我們檢查覆蓋率分析，我們就會(huì)發(fā)現(xiàn)reportSensorFailure()這個(gè)函數(shù)從未被執(zhí)行到。我們有必要對(duì)這個(gè)函數(shù)進(jìn)行測(cè)試，但是具體如何進(jìn)行呢？建立一個(gè)調(diào)用該函數(shù)的單元測(cè)試用例就是一個(gè)不錯(cuò)的辦法。

在單元測(cè)試中使用運(yùn)行時(shí)內(nèi)存監(jiān)測(cè):我們使用C++test的測(cè)試用例向?qū)?lái)創(chuàng)建一個(gè)測(cè)試用例的框架，并向其中添加一些測(cè)試代碼。然后運(yùn)行該測(cè)試用例——以檢查上面提到的未經(jīng)測(cè)試的函數(shù)，同時(shí)打開(kāi)運(yùn)行時(shí)內(nèi)存監(jiān)測(cè)功能。使用C++teST，全過(guò)程大約只需要數(shù)秒鐘。

結(jié)果標(biāo)明該函數(shù)已經(jīng)被覆蓋到了，但同時(shí)也查找到了新的錯(cuò)誤：

我們的測(cè)試用例查找到了更多的內(nèi)存相關(guān)錯(cuò)誤。很顯然，當(dāng)失敗處理函數(shù)被調(diào)用時(shí)，我們的內(nèi)存初始化存在問(wèn)題（空指針）。通過(guò)更進(jìn)一步的分析，我們發(fā)現(xiàn)在reportSensorValue()函數(shù)中存在函數(shù)調(diào)用順序錯(cuò)誤。

finalize()函數(shù)先于printMessage()函數(shù)被調(diào)用，但是finalize()函數(shù)中釋放了printMessage()函數(shù)需要使用的內(nèi)存。

void finalize()
{
if (messages) {
free(messages[0]);
free(messages[1]);
free(messages[2]);
}
free(messages);
}

將函數(shù)調(diào)用順序進(jìn)行修改后，我們重新運(yùn)行程序。

這樣我們就解決了上面報(bào)告中的第一個(gè)錯(cuò)誤。現(xiàn)在我們?cè)賮?lái)分析報(bào)告中的第二個(gè)錯(cuò)誤：即打印信息中的AccessViolatiONException。產(chǎn)生這個(gè)錯(cuò)誤的原因是相應(yīng)的消息列表未經(jīng)初始化。為了解決該問(wèn)題，我們?cè)诖蛴≡撔畔⑶罢{(diào)用一次initialize()函數(shù)來(lái)對(duì)其進(jìn)行初始化。經(jīng)修改后的函數(shù)如下所示：

void reportSensorFailure()
{
initialize();
printMessage(ERROR, 0);
finalize();
}

當(dāng)我們?cè)俅芜\(yùn)行該測(cè)試用例時(shí)，僅有一個(gè)任務(wù)被報(bào)告出來(lái)：未經(jīng)驗(yàn)證的單元測(cè)試用例（an unvalidated unit test case），這其實(shí)并不算一條錯(cuò)誤。我們只需對(duì)輸出進(jìn)行一下驗(yàn)證，以將該測(cè)試用例轉(zhuǎn)換為回歸測(cè)試。通過(guò)創(chuàng)建合適的斷言，C++test會(huì)自動(dòng)為我們完成這些步驟。

接下來(lái)我們?cè)俅芜\(yùn)行整個(gè)程序。覆蓋率分析告訴我們幾乎整個(gè)程序都已經(jīng)被覆蓋到了，并且沒(méi)有發(fā)現(xiàn)任何內(nèi)存錯(cuò)誤。

這樣就結(jié)束了嗎？其實(shí)不然。雖然我們運(yùn)行了整個(gè)程序并為未覆蓋到的函數(shù)創(chuàng)建了單元測(cè)試用例，但還是有一些路徑是沒(méi)有被覆蓋到的。我們?nèi)匀豢梢岳^續(xù)創(chuàng)建單元測(cè)試用例，但是若指望通過(guò)這樣的方法來(lái)覆蓋程序中的所有路徑將耗費(fèi)相當(dāng)長(zhǎng)的時(shí)間。或者我們使用另外的方法，使用數(shù)據(jù)流分析來(lái)對(duì)這些路徑進(jìn)行模擬。

數(shù)據(jù)流分析

我們使用C++test的BugDetective來(lái)進(jìn)行數(shù)據(jù)流分析，BugDetective能模擬系統(tǒng)中的不同路徑并檢查這些路徑中是否存在潛在的問(wèn)題。進(jìn)行數(shù)據(jù)流分析后，我們得到如下結(jié)果：

仔細(xì)分析報(bào)告的結(jié)果，我們發(fā)現(xiàn)程序中存在一條未被覆蓋到的潛在路徑可能會(huì)造成在finalize()函數(shù)中出現(xiàn)兩次free的操作。在程序中，reportSensorValue()函數(shù)調(diào)用了finalize()函數(shù)，然后finalize()函數(shù)調(diào)用了free()。同時(shí)，finalize()函數(shù)還會(huì)被mainLoop()函數(shù)調(diào)用。我們可以修改finalize()函數(shù)以使其更加智能化，從而修復(fù)這個(gè)問(wèn)題，修改后的代碼如下：

void finalize()
{
if (messages) {
free(messages[0]);
free(messages[1]);
free(messages[2]);
free(messages);
messages = 0;
}
}

現(xiàn)在我們?cè)俅芜\(yùn)行數(shù)據(jù)流分析，得到的結(jié)果將只有兩個(gè)問(wèn)題：

這里我們可能使用了-1作為索引來(lái)訪問(wèn)了數(shù)組。這是由于整型變量index被設(shè)置的初始值為-1，并且存在一條可能通過(guò)if語(yǔ)句的路徑在未將該整型變量正確的進(jìn)行初始化之前便調(diào)用了printMessage()函數(shù)。運(yùn)行時(shí)分析未檢查到這樣的一條路徑，并且該路徑很有可能在真實(shí)世界中永遠(yuǎn)不可能被執(zhí)行到。這就是靜態(tài)數(shù)據(jù)流分析相對(duì)于運(yùn)真實(shí)運(yùn)行時(shí)內(nèi)存監(jiān)測(cè)最主要的不足：數(shù)據(jù)流分析能檢查出潛在的路徑，這些路徑可能包含在程序?qū)嶋H執(zhí)行過(guò)程中不會(huì)執(zhí)行到或不存在的路徑。盡管如此，為了做到有備無(wú)患，我們刪除了上述的不必要的條件（value>=0）以修改這個(gè)潛在的錯(cuò)誤。

void handleSensorValue(int value)
{
initialize();
int index = -1;
if (value <= 10) {
index = VALUE_LOW;
} else {
index = VALUE_HIGH;
}
printMessage(index, value);
}

相同地，我們也對(duì)最后一個(gè)報(bào)告的錯(cuò)誤進(jìn)行相應(yīng)的處理。現(xiàn)在我們?cè)俅芜\(yùn)行數(shù)據(jù)流分析，將不會(huì)再有錯(cuò)誤被報(bào)告出來(lái)。

為了確保程序運(yùn)行一切正常，我們重新運(yùn)行整個(gè)分析過(guò)程。首先，我們開(kāi)啟運(yùn)行時(shí)內(nèi)存監(jiān)測(cè)并運(yùn)行應(yīng)用程序，一切表現(xiàn)正常。然后我們開(kāi)啟內(nèi)存監(jiān)測(cè)并運(yùn)行單元測(cè)試，一個(gè)任務(wù)被報(bào)告出來(lái)：

我們的單元測(cè)試檢測(cè)到reportSensorFailure()函數(shù)的行為已經(jīng)發(fā)生了改變。這是由于我們已經(jīng)對(duì)finalize()函數(shù)進(jìn)行了修改——為了糾正之前報(bào)告的一個(gè)問(wèn)題所做的修改。此處報(bào)告的任務(wù)是為了讓我們注意此修改，并提示我們應(yīng)該對(duì)測(cè)試用例進(jìn)行相應(yīng)的審查，并且確定是否應(yīng)該對(duì)代碼或者測(cè)試用例進(jìn)行相應(yīng)的修改，以表示這種新的行為實(shí)際上是我們所預(yù)期的行為。在檢查完代碼之后，我們發(fā)現(xiàn)后者（修改）是正確的并且應(yīng)該更新斷言的正確條件。

/* CPPtest_TEST_CASE_BEGIN test_reportSensorFailure */
/* CPPTEST_TEST_CASE_CONTEXT void reportSensorFailure(void) */
void sensor_tests_test_reportSensorFailure()
{
/* Pre-condition initialization */
/* Initializing global variable messages */
{
messages = 0 ;
}
{
/* Tested function call */
reportSensorFailure();
/* Post-condition check */
CPPTEST_ASSERT(0 == ( messages ));
}
}
/* CPPTEST_TEST_CASE_END test_reportSensorFailure */

作為最終的確認(rèn)，我們需要獨(dú)立地運(yùn)行整個(gè)程序——在IDE中關(guān)閉掉運(yùn)行時(shí)內(nèi)存監(jiān)測(cè)來(lái)對(duì)程序進(jìn)行構(gòu)建。結(jié)果顯示一切如我們所預(yù)期一樣運(yùn)行。

總結(jié)

作為全文的結(jié)尾，讓我們一起對(duì)上述各個(gè)步驟進(jìn)行一個(gè)鳥(niǎo)瞰式的總結(jié)。

首先，我們開(kāi)發(fā)的程序并未如我么所預(yù)期那樣運(yùn)行，我們不得不在兩種解決方法中選擇一種來(lái)查找程序中的錯(cuò)誤：通過(guò)運(yùn)行調(diào)試器或者使用自動(dòng)錯(cuò)誤檢測(cè)技術(shù)。

如果我們使用調(diào)試器運(yùn)行代碼來(lái)查找錯(cuò)誤，我們將會(huì)看到一些很奇怪的現(xiàn)象：程序中的一些變量總是被賦予了相同的值。基于這種現(xiàn)象我們不得不通過(guò)排除法來(lái)查找問(wèn)題的原因——即在應(yīng)該使用比較運(yùn)算符的地方我們錯(cuò)誤地使用了賦值運(yùn)算符。而靜態(tài)代碼分析則能為我們自動(dòng)地檢查出該邏輯錯(cuò)誤。運(yùn)行時(shí)內(nèi)存分析是不可能檢查出這種錯(cuò)誤的，因?yàn)檫@種錯(cuò)誤與內(nèi)存無(wú)關(guān)。數(shù)據(jù)流分析也很有可能找不到這類(lèi)錯(cuò)誤因?yàn)閿?shù)據(jù)流分析僅僅是通過(guò)這些路徑而不會(huì)驗(yàn)證這些條件的正確性。

當(dāng)我們解決了這個(gè)問(wèn)題后，程序可以運(yùn)行了，但是仍然還有內(nèi)存相關(guān)的問(wèn)題。內(nèi)存相關(guān)的問(wèn)題是很難被調(diào)試器發(fā)現(xiàn)的；當(dāng)用戶(hù)使用調(diào)試器調(diào)試程序時(shí)，用戶(hù)并不知道內(nèi)存的實(shí)際大小。但是自動(dòng)錯(cuò)誤檢查工具能夠做到這點(diǎn)。因此，為了查找這些內(nèi)存問(wèn)題，我們將整個(gè)程序進(jìn)行插裝，并使用運(yùn)行時(shí)內(nèi)存分析工具來(lái)運(yùn)行程序。這樣我們就能知道到底是那一片內(nèi)存發(fā)生了寫(xiě)溢出錯(cuò)誤。

盡管如此，在審查覆蓋率分析結(jié)果的時(shí)候，我們注意到在目標(biāo)板上測(cè)試的時(shí)候，并不是全部代碼都被覆蓋到了。通過(guò)自動(dòng)化的工具得到這樣的覆蓋率信息是簡(jiǎn)單的，因?yàn)楣ぞ邥?huì)自動(dòng)地跟蹤覆蓋率，但是，如果我們是通過(guò)調(diào)試器，就不得不判斷哪一部分程序經(jīng)過(guò)了驗(yàn)證。而這通常只能依靠我們?nèi)斯び涗浀姆绞絹?lái)實(shí)現(xiàn)。

當(dāng)工具提醒我們一些代碼未被覆蓋到時(shí)，我們決定改變單元測(cè)試來(lái)額外地增加我們測(cè)試執(zhí)行的覆蓋率。這就揭示了程序中另外一些問(wèn)題。在目標(biāo)系統(tǒng)的正常測(cè)試中，覆蓋所有函數(shù)也許是不可能完成的任務(wù)，因?yàn)槠渲幸恍┖瘮?shù)可能是硬件的失敗處理函數(shù)或僅在某些小概率的特定情況下才會(huì)被調(diào)用的函數(shù)。而對(duì)這些函數(shù)的測(cè)試對(duì)于一些注重安全性的程序而言又是至關(guān)重要的。試想在飛機(jī)上用來(lái)處理速度傳感器問(wèn)題的程序中存在著代碼錯(cuò)誤：我們會(huì)有系統(tǒng)崩潰的危險(xiǎn)，而不是導(dǎo)致某個(gè)設(shè)備為非工作狀態(tài)。因此，通過(guò)創(chuàng)建單元測(cè)試用例來(lái)覆蓋這類(lèi)型的執(zhí)行路徑往往是對(duì)其進(jìn)行有效測(cè)試的唯一方法。

接下來(lái)，我們修復(fù)了工具檢查到的所有問(wèn)題，同時(shí)通過(guò)驗(yàn)證相應(yīng)的結(jié)果創(chuàng)建了一個(gè)回歸測(cè)試用例（作為報(bào)告的任務(wù)之一引導(dǎo)我們完成）。然后我們運(yùn)行數(shù)據(jù)流分析來(lái)覆蓋在目標(biāo)系統(tǒng)上即便使用單元測(cè)試也未執(zhí)行到的路徑。在此之前，我們幾乎已經(jīng)達(dá)到了100%的代碼行覆蓋率，但是我們的路徑覆蓋率卻未達(dá)到這個(gè)水平。BugDetective幫我們發(fā)現(xiàn)了這些方面的一些潛在問(wèn)題。這些問(wèn)題可能并沒(méi)有實(shí)際發(fā)生或者有可能永遠(yuǎn)不會(huì)發(fā)生。也許在實(shí)際運(yùn)行時(shí)，這些問(wèn)題僅僅會(huì)在當(dāng)其條件滿(mǎn)足的情況下才會(huì)出現(xiàn)，并且在現(xiàn)實(shí)生活中，這些條件可能永遠(yuǎn)不可能滿(mǎn)足。盡管如此，我們不能保證隨著代碼的升級(jí)，應(yīng)用程序不會(huì)執(zhí)行到這些路徑。

安全起見(jiàn)，我們?nèi)匀恍薷牧怂鶊?bào)告的問(wèn)題以排除任何可能影響它的實(shí)際應(yīng)用執(zhí)行的風(fēng)險(xiǎn)。在修改代碼的同時(shí)，我們同時(shí)也引入了回歸測(cè)試，當(dāng)我們?cè)俅芜\(yùn)行單元測(cè)試時(shí)立即被檢測(cè)到。在所有的自動(dòng)化錯(cuò)誤檢測(cè)方法中，回歸測(cè)試是唯一能夠幫助我們檢查到代碼是否發(fā)生了功能性的改變的方法，并且能驗(yàn)證出對(duì)代碼進(jìn)行的修改是否引入了功能性的錯(cuò)誤以及不可預(yù)知的副作用。最后，我們修改了回歸測(cè)試套件，并重新測(cè)試代碼，發(fā)現(xiàn)一切運(yùn)行正常。

正如讀者所見(jiàn)，我們使用的一切測(cè)試方法——基于模式的靜態(tài)代碼分析、內(nèi)存分析、單元測(cè)試、數(shù)據(jù)流分析以及回歸測(cè)試——并不是相互競(jìng)爭(zhēng)的關(guān)系，恰好相反，它們是一種互補(bǔ)的關(guān)系。將上述工具結(jié)合使用，它們就是一套具有強(qiáng)大作用的工具集，并為嵌入式C語(yǔ)言程序/軟件提供一個(gè)無(wú)可比擬的自動(dòng)化錯(cuò)誤檢測(cè)解決方案。
總而言之，通過(guò)自動(dòng)地查找很多關(guān)于內(nèi)存和其它編碼的缺陷，我們成功地讓程序運(yùn)行起來(lái)了。盡管如此，值得注意的是，最危險(xiǎn)的缺陷卻是實(shí)際的功能性錯(cuò)誤：例如程序并未如所指定的要求運(yùn)行。而不幸的是，這些錯(cuò)誤往往是非常難以被發(fā)現(xiàn)的。

查找這類(lèi)缺陷的最好的一個(gè)方式就是通過(guò)同行代碼審查來(lái)實(shí)現(xiàn)。即另指派至少一人來(lái)檢查代碼并且審查代碼與需求內(nèi)容的一致性，這樣用戶(hù)就能對(duì)實(shí)際程序是否會(huì)如預(yù)期那樣運(yùn)行有一個(gè)很好的*估。

另外一個(gè)十分有用的策略是圍繞代碼創(chuàng)建一個(gè)回歸測(cè)試套件，這能幫助用戶(hù)快捷地驗(yàn)證代碼與規(guī)范的一致性。在本文所描述的示例情景中，單元測(cè)試被用來(lái)強(qiáng)制執(zhí)行應(yīng)用程序級(jí)的運(yùn)行時(shí)內(nèi)存監(jiān)測(cè)所未覆蓋到的代碼：它能覆蓋到當(dāng)前程序的功能性，在此之后，我們對(duì)代碼做了一些修改，它能提醒我們代碼出現(xiàn)的相應(yīng)的功能性問(wèn)題。事實(shí)上，這種單元測(cè)試用例應(yīng)該被更早地創(chuàng)建起來(lái)：理想情況下，當(dāng)用戶(hù)在實(shí)現(xiàn)程序的功能時(shí)就應(yīng)該被創(chuàng)建起來(lái)。這樣，用戶(hù)就能得到更高的覆蓋率并同時(shí)構(gòu)建起一個(gè)更強(qiáng)壯的“安全網(wǎng)”來(lái)捕捉關(guān)鍵的功能性改變。
Parasoft的C++test能幫助用戶(hù)完成這兩個(gè)任務(wù)：從自動(dòng)化到管理同行代碼審查流程，以及幫助團(tuán)隊(duì)創(chuàng)建，持續(xù)地運(yùn)行并維護(hù)一個(gè)高效的回歸測(cè)試套件。

關(guān)于Parasoft C++test

Parasoft C++test是一個(gè)經(jīng)廣泛的最佳實(shí)踐證明能提升軟件開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)開(kāi)發(fā)效率以及軟件質(zhì)量的自動(dòng)化集成解決方案。C++test能進(jìn)行諸如編碼策略增強(qiáng)、靜態(tài)代碼分析、運(yùn)行時(shí)內(nèi)存監(jiān)測(cè)、自動(dòng)同行代碼審查以及單元和組件測(cè)試，從而為軟件開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)提供一種更加實(shí)用的方法來(lái)確保其C以及C++程序能如所預(yù)期那樣工作。C++test可以用于在通用開(kāi)發(fā)IDE下的桌面平臺(tái)中，以及在回歸測(cè)試時(shí)通過(guò)命令行以批處理模式的方式運(yùn)行。同時(shí)，C++test還集成了Parasoft的報(bào)告系統(tǒng)，該系統(tǒng)能提供具有細(xì)分能力的基于Web 的儀表板，這使得開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)根據(jù)C++test的測(cè)試結(jié)果和其他的一些關(guān)鍵進(jìn)程指標(biāo)來(lái)更加方便地跟蹤項(xiàng)目的狀態(tài)和趨勢(shì)。

通過(guò)在宿主機(jī)上進(jìn)行大量的測(cè)試以及在目標(biāo)系統(tǒng)中進(jìn)行的平滑的驗(yàn)證，C++test能夠幫助軟件開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)減少花在嵌入式系統(tǒng)開(kāi)發(fā)中的時(shí)間、精力以及成本。隨著代碼在宿主機(jī)上的構(gòu)建，C++test的自動(dòng)化框架使得開(kāi)發(fā)者能在目標(biāo)硬件系統(tǒng)尚未準(zhǔn)備好的情況下就開(kāi)始測(cè)試以提升代碼質(zhì)量。這大大地縮短了花在目標(biāo)系統(tǒng)上測(cè)試的時(shí)間。早期在宿主機(jī)上構(gòu)建的測(cè)試套件可以被重用來(lái)在仿真器或真實(shí)的目標(biāo)板上驗(yàn)證程序的功能性。

STM32/STM8

意法半導(dǎo)體/ST/STM