2013年4月－ 美國國家儀器公司（National Instruments， 簡稱 NI）于近日發布NI PXIe-5162數字化儀，并更新了LabVIEW抖動分析工具包。 該數字化儀帶有10位垂直分辨率和5 GS/s采樣率，它的高速測量垂直分辨率是傳統8位示波器的4倍。 NI PXIe-5162單個插槽中具備1.5 GHz的帶寬和四個通道，適用于高通道數數字化儀系統的生產測試、研究和設備特性記述。 工程師們因此可以結合使用LabVIEW與數字化儀，以及LabVIEW抖動分析工具包中專門為高吞吐量的抖動、眼圖和相位噪聲測量優化過的函數庫，以滿足自動化驗證和生產測試環境所需。

　　“NI PXIe-5162數字化儀結合了高速、高通道和高分辨率測量三大特點，讓傳統的示波器用戶突破了使用傳統箱型儀器進行自動化測試的界限，”NI模塊化儀器研發總監Steve Warntjes表示。 “使用我們的高速數字化儀與LabVIEW抖動分析工具包，可以幫助工程師借助現代PC的處理性能，而不是箱型示波器上傳統的嵌入式處理器，加快測量系統的速度。”

　　NI PXIe-5162 特性

　　· 10位垂直分辨率，可更深入地解讀信號

　　· 單個3U PXI Express插槽包含4個通道，在一個PXI機箱中可擴展至68個通道

　　· 一個通道上5 GS/s的最大采樣率或同時使用四個通道，每通道1.25 GS/s采樣率

　　LabVIEW抖動分析工具包特性

　　· 內置時鐘恢復、眼圖、抖動、電平和時域測量函數

　　· 眼圖和掩膜測試的示例程序，以及使用雙狄拉克（dual-Dirac）和基于頻譜的分離方法，進行隨機抖動和確定性抖動（RJ/ DJ）分離的示例程序

　　有關數字化儀的更多內容，請訪問下列頁面：http://www.ni.com/digitizers/zhs/

　　關于NI

　　自1976年以來，美國國家儀器，簡稱NI （www.ni.com）一直致力于為工程師和科學家提供各種工具來提高效率、加速創新和探索。 NI的圖形化系統設計方法為工程界提供了集成式的軟硬件平臺，有助于加速測量和控制系統的開發。 長期以來，NI一直期望并努力通過自身的技術來改善社會的發展，確保客戶、員工、供應商及股東獲得成功。