掃描電子顯微鏡（SEM簡(jiǎn)稱掃描電鏡）是一個(gè)集電子光學(xué)技術(shù)、真空技術(shù)、精細(xì)機(jī)械結(jié)構(gòu)以及現(xiàn)代計(jì)算機(jī)控制技術(shù)于一體的復(fù)雜系統(tǒng)
2023-11-24 15:39:53
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。在電極材料測(cè)試方面也由以往的光學(xué)顯微鏡，發(fā)展到掃描電鏡，高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，以及分辨率在1nm級(jí)的高分辨率透射電鏡。在掃描探針顯微術(shù)基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的電化學(xué)隧道掃描顯微鏡ECSTM使得電化學(xué)
2013-05-04 11:25:49
蘇試宜特實(shí)驗(yàn)室通過(guò)掃描電鏡看試樣氧化層的厚度，直接掰開(kāi)看斷面，這樣準(zhǔn)確嗎？通過(guò)掃描電鏡看試樣氧化層的厚度，如果是玻璃或陶瓷這樣直接掰開(kāi)看斷面是可以的；如果是金屬材料可能在切割時(shí)，樣品結(jié)構(gòu)發(fā)生變化就不行了，所以要看是什么材料的氧化層。
2021-09-30 18:45:38
掃描式電子顯微鏡 (SEM)掃描式電子顯微鏡，又掃描電鏡（Scanning Electron Microscope, SEM）主要是利用微小聚焦的電子束(Electron Beam)進(jìn)行樣品表面掃描
2018-08-31 15:53:31
`材料表面微結(jié)構(gòu)觀察半導(dǎo)體芯片剖面觀察電壓對(duì)比EDS Mapping分析液態(tài)材料觀察IC線路逆向工程`
2019-08-02 17:25:35
新型的按鍵掃描程序
2016-11-02 10:58:42
掃描電子顯微鏡被廣泛用于納米技術(shù)、金屬、半導(dǎo)體、陶瓷、醫(yī)學(xué)和生物學(xué)等各種領(lǐng)域。此外，SEM的應(yīng)用范圍正在不斷擴(kuò)大，不僅涉及基礎(chǔ)研究，還涵蓋制造現(xiàn)場(chǎng)的質(zhì)量控制。因此，對(duì)更快、更輕松地獲取SEM圖像
2021-11-09 17:45:04
掃描電子顯微鏡（SEM簡(jiǎn)稱掃描電鏡）是一個(gè)集電子光學(xué)技術(shù)、真空技術(shù)、精細(xì)機(jī)械結(jié)構(gòu)以及現(xiàn)代計(jì)算機(jī)控制技術(shù)于一體的復(fù)雜系統(tǒng)，常用于對(duì)固態(tài)物質(zhì)的形貌顯微分析和對(duì)常規(guī)成分微小區(qū)域的精細(xì)分析。掃描電鏡憑借其
2019-06-28 11:13:30
的掃描電鏡觀察服務(wù)。金鑒實(shí)驗(yàn)室蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡可以提供：12×～1000,000×的放大倍數(shù)的觀察，還可提供顆粒尺寸、孔徑測(cè)量的測(cè)試服務(wù)。案例一：正極材料-SEM測(cè)試 磷酸鐵鋰 三元 案例二：負(fù)極
2017-07-07 10:22:27
如何去使用基于51單片機(jī)的新型按鍵掃描程序？基于51單片機(jī)的新型按鍵掃描程序有哪些應(yīng)用？
2021-10-19 09:14:19
本帖最后由 淘淘發(fā)燒友 于 2019-7-26 16:57 編輯
影響掃描電鏡的分辨本領(lǐng)的主要因素有： 分辨率A. 入射電子束束斑直徑：為掃描電鏡分辨本領(lǐng)的極限。一般，熱陰極電子槍的最小束斑
2019-07-26 16:54:28
表面形貌分析方法主要是指利用掃描電鏡（SEM）對(duì)電弧侵蝕后的觸頭表面區(qū)域進(jìn)行顯微結(jié)構(gòu)觀測(cè)，得到侵蝕區(qū)域的表面形貌圖像。通過(guò)對(duì)觸頭接觸表面 SEM 的觀察，可獲得觸頭表面的凹陷與凸起、微粒的沉積或
2018-03-07 08:55:14
采取SEM和其他分析手段相結(jié)合的分析方法。如：杭州柘大飛秒檢測(cè)技術(shù)有限公司的科研人員采用的是SEM掃描電鏡/EDX成分分析。 杭州柘大飛秒檢測(cè)技術(shù)有限公司立足浙江大學(xué)國(guó)家大學(xué)科技園光與電技術(shù)開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室
2017-12-06 09:45:42
，鍍層晶格形貌、內(nèi)部缺陷一覽無(wú)遺。 FIB-SEM掃描電鏡下觀察支架鍍層截面形貌，鍍層界限明顯、結(jié)構(gòu)及晶格形貌清晰，尺寸測(cè)量準(zhǔn)確。此款支架在常規(guī)鍍鎳層上方鍍銅，普通制樣方法極其容易忽略此層結(jié)構(gòu)
2020-01-16 22:02:26
3DMetrology軟件可以實(shí)現(xiàn)3維重構(gòu)及測(cè)量功能。 VEGA3配置VEGA3 SBH高真空型SEM,配備有3軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)，適用于觀察小型導(dǎo)電樣品。VEGA3 SBU可變真空型掃描電鏡，體現(xiàn)了高真空模式和低真空模式的優(yōu)點(diǎn)，可以在不噴金的情況下利用低真空模式直接觀察不導(dǎo)電樣品。`
2019-05-16 16:04:54
【設(shè)備應(yīng)用】
SEM是掃描電子顯微鏡，用二次電子成像的原理來(lái)觀察某種物質(zhì)的微觀形貌。EDS是能譜儀，是每種元素對(duì)應(yīng)的電子能不同，來(lái)鑒別元素，通常與SEM結(jié)合使用，也就是說(shuō)在SEM上安裝EDS附件，在
2024-03-01 18:59:58
電子顯微原理與技術(shù)【教學(xué)內(nèi)容】1.透射和掃描電子顯微鏡的構(gòu)造與成像原理2.透射和掃描電鏡圖像的成像過(guò)程3.透射和掃描電鏡主要性能4.表面復(fù)型技術(shù)5.透射和掃
2009-03-06 11:44:18
0 提出一種基于陰影恢復(fù)技術(shù)的細(xì)胞圖像表面各點(diǎn)的曲率計(jì)算方法，利用邊界輪廓提取技術(shù)分離由掃描電鏡SEM得到的紅血球亮度圖像，對(duì)單個(gè)細(xì)胞從跟蹤得到的中心點(diǎn)開(kāi)始進(jìn)行區(qū)域生
2009-04-11 09:23:1418 掃描電子顯微鏡原理和應(yīng)用2.4.1 掃描電鏡的特點(diǎn)與光學(xué)顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點(diǎn)： (一) 能夠直接觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)，樣品的尺寸可大
2009-03-06 22:23:305129 本文主要討論利用掃描電鏡及其外加電路, 對(duì)集成電路的失效進(jìn)行分析的方法 電壓襯度法.
2012-03-15 14:27:3334 半導(dǎo)體器件芯片分析的幾種方法與步驟。分析手段一般包括：c-sam，x-ray，sem掃描電鏡，EMMI微光顯微鏡等。
2012-05-02 15:36:089908 電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《[掃描電鏡與能譜儀分析技術(shù)].張大同.掃描版.txt》資料免費(fèi)下載
2013-04-29 20:47:150 EEPROM的掃描電鏡探測(cè)和探針攻擊_程鵬
2017-01-03 17:41:321 電子探針、掃描電鏡顯微分析學(xué)習(xí)資料
2017-02-07 16:15:3811 掃描電鏡圖像中電壓反差影響研究
2017-02-14 16:42:2415 本文詳細(xì)介紹了掃描電鏡圖像中電壓發(fā)差的影響。
2017-11-08 18:50:5911 本文介紹工業(yè)掃描電鏡的新貴——智能電鏡。著重描述其多重的自動(dòng)化功能。智能目的是讓電鏡成為科研和工程上得心應(yīng)手的利器，發(fā)揮工具的作用。
2018-04-14 10:50:001546 
電子顯微鏡從實(shí)驗(yàn)室走向工業(yè)應(yīng)用，關(guān)鍵詞是高速和好用。 首款智能化全自動(dòng)高速成像掃描電子束顯微鏡在北京下線，不僅對(duì)科研， 而且對(duì)工程應(yīng)用是利好消息，拓展了一條微觀世界探索之路。
2018-03-20 11:30:003472 曾毅告訴記者。但是，目前我國(guó)科研與工業(yè)部門所用的掃描電鏡嚴(yán)重依賴進(jìn)口，每年我國(guó)花費(fèi)超過(guò)1億美元采購(gòu)的幾百臺(tái)掃描電鏡中，主要產(chǎn)自美、日、德和捷克等國(guó)。國(guó)產(chǎn)掃描電鏡只占約5%—10%。
2018-08-10 17:38:142039 
電鏡動(dòng)畫，被驚艷到，原來(lái)枯燥無(wú)味的電鏡可以變得這么生動(dòng)，閑言少敘，下面就和大家一起來(lái)分享。掃描電子顯微鏡（SEM）掃描電鏡成像是利用細(xì)聚焦高能電子束在樣件表面激發(fā)各種物理信號(hào)，如二次電子、背散射
2018-11-06 15:00:44852 電鏡動(dòng)畫，被驚艷到，原來(lái)枯燥無(wú)味的電鏡可以變得這么生動(dòng)，閑言少敘，下面就和大家一起來(lái)分享。掃描電子顯微鏡（SEM）掃描電鏡成像是利用細(xì)聚焦高能電子束在樣件表面激發(fā)各種物理信號(hào)，如二次電子、背散射
2018-11-22 16:24:313247 1、掃描電鏡樣品的基本要求 首先，導(dǎo)電性能好，樣品在電子束反復(fù)掃描下表面電位不會(huì)升啊，避免電荷效應(yīng)； 其次，熱穩(wěn)定性能好，電子束溫度較高，導(dǎo)熱性差的樣品在觀察時(shí)會(huì)漂移，圖像不穩(wěn)定有些熱敏感材料會(huì)損傷
2020-03-21 09:35:007941 巖心聚焦離子?xùn)|掃描電鏡（FIB-SEM）圖像存在灰度分布不均及孔隙內(nèi)局部高亮等現(xiàn)象，采用傳統(tǒng)圖像分割算法所得孔隙分割精度較低，而基于輪廓的分割算法需對(duì)孔隙進(jìn)行人工標(biāo)記，操作繁瑣且無(wú)法精確提取孔隙
2021-03-11 17:35:446 聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)耦合成為FIB-SEM雙束系統(tǒng)后，通過(guò)結(jié)合相應(yīng)的氣體沉積裝置，納米操縱儀，各種探測(cè)器及可控的樣品臺(tái)等附件成為一個(gè)集微區(qū)成像、加工、分析、操縱于一體
2021-04-29 10:54:403087 
SEM的工作原理是用一束極細(xì)的電子束掃描樣品，在樣品表面激發(fā)出次級(jí)電子，次級(jí)電子的多少與電子束入射角有關(guān)，也就是說(shuō)與樣品的表面結(jié)構(gòu)有關(guān)，次級(jí)電子由探測(cè)體收集，并在那里被閃爍器轉(zhuǎn)變?yōu)楣庑盘?hào)，再經(jīng)
2021-06-21 09:25:058788 聚焦離子束（FIB）與掃描電子顯微鏡（SEM）耦合成為FIB-SEM雙束系統(tǒng)后，通過(guò)結(jié)合相應(yīng)的氣體沉積裝置，納米操縱儀，各種探測(cè)器及可控的樣品臺(tái)等附件成為一個(gè)集微區(qū)成像、加工、分析、操縱于一體
2021-09-18 10:52:094441 
貼片電阻用無(wú)鉛焊錫焊接在基板上，用氬離子拋光制作掃描電鏡樣品，可以清楚地觀測(cè)到焊錫中的反應(yīng)層 金鍵合引線剖光截面 ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?軟金屬的清洗和拋光 銅鎳襯底
2021-11-06 09:46:271044 
1. 設(shè)備型號(hào) 日立-掃描電鏡-SU 1510, 配備能譜儀eds 2. 原理 SEM的工作原理是用一束極細(xì)的電子束掃描樣品，在樣品表面激發(fā)出次級(jí)電子，次級(jí)電子的多少與電子束入射角有關(guān)，也就是說(shuō)
2021-11-04 10:20:381837 
圖1 LED芯片（掃描電鏡SEM） 圖2 LED芯片（掃描電鏡SEM） 圖3 LED芯片（掃描電鏡SEM） ? ymf
2021-11-24 11:02:491649 
LED芯片粘結(jié)不牢（掃描電鏡SEM） LED芯片粘結(jié)錯(cuò)位（掃描電鏡SEM） 冷熱沖擊后，銀膠開(kāi)裂（掃描電鏡SEM） ? ? ? ? ? ? ?ymf
2021-11-24 10:59:52685 
案例分析： ? ?（掃描電鏡SEM） ? LED引線裂開(kāi)（掃描電鏡SEM） ? 樣品制備 樣品制備多是破壞性實(shí)驗(yàn)，即利用砂紙(或鉆石砂紙)進(jìn)行粗磨和細(xì)磨，加上后續(xù)拋光，可處理出清晰的樣品剖面，搭配
2021-11-25 17:27:37942 
銀粉形貌圖 （掃描電鏡SEM） 銀粉的品種很多，可以依據(jù)物理化學(xué)特性和市場(chǎng)需求進(jìn)行不同分類，每一類別里又有不同銀粉應(yīng)用于不同方面，細(xì)化使用的目標(biāo)是最大程度發(fā)揮銀的特性優(yōu)勢(shì)和降低成本，衡量銀粉的主要
2021-11-25 17:06:462724 
圖1 LED焊球良品（掃描電鏡SEM） ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 圖2 LED焊球不良品（掃描電鏡SEM） 圖3 LED焊球（掃描電鏡SEM
2021-11-26 16:33:04750 
于：光擴(kuò)散燈罩，磨砂燈罩，霧面光擴(kuò)散燈罩、陽(yáng)光板、LED發(fā)光面板，電子顯示牌，燈箱廣告板數(shù)碼管，發(fā)光字等。 圖1 PMMA顆粒形貌（掃描電鏡SEM） 圖2 PMMA顆粒形貌（掃描電鏡SEM） ? 圖3 PMMA顆粒形貌（掃描電鏡SEM） ? ? ? ? ? ? ymf
2021-11-26 16:24:34871 
掃描電鏡能夠直接觀察表面粗化后樣品表面的結(jié)構(gòu)，對(duì)比粗化處理前后表面的粗糙度。掃描電鏡景深大，圖象富有立體感，可觀察經(jīng)過(guò)粗化處理的表面三維島狀結(jié)構(gòu)。 ? ? ? ? ? ?ymf
2021-11-29 11:07:47922 
放置于兩極之間，能夠讓電解質(zhì)離子通過(guò)，又能避免兩極上的活性物質(zhì)直接接觸而造成短路。電池隔膜一般是用高分子材料PE（聚乙烯）或PP（聚丙烯）來(lái)制備，孔徑大小通常在10nm至300nm左右。 ? 掃描電鏡是用來(lái)檢測(cè)電池隔膜孔徑大小和孔洞分別是否均勻的常用儀
2021-12-14 16:24:51857 
金鑒實(shí)驗(yàn)室提供氬離子拋光制備SEM樣品加頁(yè)巖石SEM測(cè)試服務(wù)，超高分辨率sem。詳細(xì)咨詢金鑒在線客服。 審核編輯：ymf ?
2021-12-14 16:45:23301 
IC 相同的故障模式。檢查 TFT 顯示器的兩種方法，即使用 SEM（掃描電子顯微鏡）和 EDX（能量色散 X 射線光譜）的方法通常僅分析表面。
2021-12-15 16:22:58545 
二次鋰離子電池基本原理： ? 掃描電鏡微觀分析系統(tǒng)SEM-EDS ? 1、?電池的失效分析? ? ? 鋰電正極剖面：拋光檢測(cè) 掃描電鏡二次電子圖像和俄歇電子元素面分布圖。 ? 2、不同類型鋰電池正極
2021-12-15 17:05:341101 
。 ? 但由于石油地質(zhì)行業(yè)中很多樣品需要進(jìn)行掃描電鏡觀察前的樣品制備工作，傳統(tǒng)的方法是采用普通的手動(dòng)或機(jī)械研磨，但因?yàn)槠鋬?nèi)部的微小尺度結(jié)構(gòu)在研磨過(guò)程中會(huì)所造成的表面的機(jī)械劃痕、污染以及形變等各種損傷，很難得到其真實(shí)
2021-12-16 16:05:03623 
? 圖1 PMMA顆粒形貌（掃描電鏡SEM） ? ? ? 圖2 PMMA顆粒形貌（掃描電鏡SEM） ? ? ? 圖3?PMMA顆粒形貌（掃描電鏡SEM） ? 審核編輯：ymf ?
2021-12-20 17:14:541344 
figure class=image image_resized style=width:500px;img alt=金屬氧化物（掃描電鏡SEM） src=https
2021-12-22 16:44:42575 
。這個(gè)工具就是掃描電鏡和能譜儀（SEM-EDS），使得快速解決困難問(wèn)題的分析成為可能，并且有效、及時(shí)和經(jīng)濟(jì)。? SEM-EDS成為終極解決工具理由如下：? 沉積物和摩屑分析? 顆粒形貌尺寸和特征分析? 失效分析? 污染物分析? 冶金學(xué)
2021-12-22 16:54:591179 
。 3、X射線：由于內(nèi)殼層電子躍遷產(chǎn)生，不同原子產(chǎn)生的能量不同，用于EDS分析。 入射電子與樣品作用產(chǎn)生的信號(hào) SEM原理 1.2 掃描電鏡的用途（SEMEDS） （1）材料的微觀形貌、組織 （2）微區(qū)元素定量、定性成分分析 （3）材料斷口分析和失效分析 （4）多元素面掃描和線掃
2021-12-23 15:46:041138 
No.1 引言 ? 掃描電子顯微鏡的簡(jiǎn)稱為掃描電鏡，英文縮寫為SEM 。它利用細(xì)聚焦的電子束，轟擊樣品表面，通過(guò)電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等，對(duì)樣品表面或斷口形貌進(jìn)行觀察和分析
2022-08-18 08:50:392732 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的日常維護(hù)與管理
2022-12-09 16:10:164742 電鏡帶你看世界，我們帶你看電鏡！近日，由儀器信息網(wǎng)主辦的“關(guān)于電鏡的Everything——?jiǎng)?chuàng)意微視頻征集大賽”圓滿落幕，《掃描電鏡下的芝麻粒》視頻榮獲“最具人氣獎(jiǎng)（用戶榜）”TOP1，《國(guó)儀量子
2022-08-16 10:07:152412 
2022年9月，國(guó)儀量子掃描電鏡交付劉小春教授團(tuán)隊(duì)，目前已調(diào)試完畢，正式投入運(yùn)行。通過(guò)短視頻，劉老師現(xiàn)身說(shuō)法，為大家分享了國(guó)儀量子掃描電鏡的使用體驗(yàn)與心得。劉老師在視頻中說(shuō)，有賴于國(guó)儀量子掃描電鏡
2022-10-09 10:18:181001 摘要：以石蠟作為相變物質(zhì)，與埃洛石復(fù)合，以無(wú)水乙醇為溶劑，采用溶液插層法制備出不同配比的新型石蠟/埃洛石復(fù)合相變材料。使用掃描電鏡(SEM)觀察其表面形貌，對(duì)材料相變過(guò)程中的形狀穩(wěn)定性進(jìn)行測(cè)試，采用
2022-10-20 11:16:571390 
鎢燈絲掃描電鏡性價(jià)比高、易于維護(hù)、操作相對(duì)簡(jiǎn)單、對(duì)場(chǎng)地要求較小便于大眾使用但長(zhǎng)期以來(lái)鎢燈絲掃描電鏡的分辨率都停滯不前難以實(shí)現(xiàn)用戶對(duì)更高分辨率的追求國(guó)儀量子于近日推出的鎢燈絲掃描電鏡SEM
2022-12-09 11:14:38532 當(dāng)下，全球都在強(qiáng)調(diào)制造業(yè)的重要性我國(guó)更是將制造業(yè)轉(zhuǎn)型升級(jí)作為長(zhǎng)期的發(fā)展戰(zhàn)略掃描電鏡作為一種強(qiáng)大的分析儀器在提升制造業(yè)產(chǎn)品創(chuàng)新能力與產(chǎn)品質(zhì)量上將大有作為鎢燈絲掃描電鏡SEM2000但在實(shí)際應(yīng)用中常
2022-12-13 09:18:22511 在此前的兩期推文中我們?yōu)榇蠹医榻B了兩款鎢燈絲掃描電鏡“重新定義鎢燈絲掃描電鏡”的SEM3300和“操作不挑人，簡(jiǎn)約不簡(jiǎn)單”的SEM2000今天，針對(duì)有分析型需求的用戶超大束流，超快分析的場(chǎng)發(fā)射
2022-12-15 10:25:38594 納米的商用鎢燈絲掃描電子顯微鏡（國(guó)儀量子鎢燈絲掃描電鏡SEM3300），這一成果的出現(xiàn)依托于中國(guó)科技大學(xué)的成果轉(zhuǎn)化團(tuán)隊(duì)。圖片來(lái)源：新聞聯(lián)播鎢燈絲掃描電鏡SEM33
2023-01-13 09:40:33404 近日，國(guó)儀量子的鎢燈絲掃描電鏡SEM3200成功交付山東華豐新型材料有限公司（以下簡(jiǎn)稱“華豐新材“），為其板材產(chǎn)品的品質(zhì)控制與改善提供了高效便捷的技術(shù)保障。華豐新材華豐新材成立于2004年，主要生產(chǎn)
2023-03-06 14:08:34402 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡。先進(jìn)的鏡筒設(shè)計(jì)，高壓隧道技術(shù)（SuperTunnel）、低像差無(wú)漏磁物鏡設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了低電壓高分辨率成像，同時(shí)
2023-04-12 11:38:30573 5月18日，2023第十六屆中國(guó)科學(xué)儀器發(fā)展年會(huì)(ACCSI2023)在北京雁棲湖國(guó)際會(huì)展中心盛大開(kāi)幕，并頒發(fā)“儀器及檢測(cè)3i獎(jiǎng)”。國(guó)儀量子自主研發(fā)的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000榮獲“3i
2023-05-30 17:19:16367 新推出的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma 360和Sigma 560繼承了Gemini電子透鏡管的優(yōu)良性能，將成為材料研究、生命科學(xué)和工業(yè)檢驗(yàn)領(lǐng)域的“全方位”。蔡司致力于與用戶攜手共進(jìn)，推動(dòng)科學(xué)發(fā)展和行業(yè)進(jìn)步。 新Sigma系列的亮點(diǎn): 高分辨率 雙子座的電
2023-07-04 15:39:24249 
等領(lǐng)域。SEM掃描電鏡分析實(shí)驗(yàn)室圖源：優(yōu)爾鴻信華南檢測(cè)中心SEM掃描電鏡工作原理SEM電鏡工作原理，主要基于聚焦的很窄的高能電子束來(lái)掃描樣品，通過(guò)光束與物質(zhì)間的相
2023-07-05 10:04:061998 
的高性能高效率，大樣品倉(cāng)內(nèi)含5軸共心電動(dòng)樣品臺(tái)，可更輕松地測(cè)量大尺寸樣品。 EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) l大尺寸樣品分析? Veritas系列可以分析常規(guī)SEM無(wú)法分析的大尺寸樣品。例如：晶圓，磁盤 l無(wú)損樣品分析?? 無(wú)需切割即可分析樣品。例如PCB，半導(dǎo)體圖案分析 l較重
2023-07-05 15:13:38272 
EM科特（EmCrafts）Cube系列桌面式掃描電鏡，是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。區(qū)別與傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機(jī)身，Cube系列占地面積小，便攜性能好，可遵照客戶服務(wù)指南任意移動(dòng)SEM設(shè)備。 EM
2023-07-05 15:24:02433 
蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SIGMA500采用了GEMINI電子束無(wú)交叉光路設(shè)計(jì)，打破了傳統(tǒng)設(shè)計(jì)中電子束交叉三次發(fā)生能量擴(kuò)散的局限性，束流大小適中，極大地降低色差對(duì)圖像質(zhì)量的影響;鏡筒內(nèi)置電子束加速器，無(wú)需
2023-07-14 16:26:59917 
。蔡司代理三本精密儀器小編今天為您介紹蔡司熱場(chǎng)掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡制備要求：1.SEM樣品要求(1)塊體樣品：金屬塊體樣品可用導(dǎo)電膠直接固定在樣品臺(tái)上
2023-07-26 10:48:06650 
掃描電鏡-電子通道襯度成像技術(shù)（SEM-ECCI）是一種在掃描電鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展在缺陷表征領(lǐng)域替代了一部分透射電鏡（TEM）的功能，相對(duì)透射電鏡分析而言
2023-07-31 15:59:56331 
蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對(duì)于材料科學(xué)、電子、地質(zhì)、物理、化工、農(nóng)醫(yī)、公安、食品和輕工等領(lǐng)域的科學(xué)研究，人們總是關(guān)心微觀形態(tài)、晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)組成與宏觀物理或化學(xué)性質(zhì)之間的關(guān)系。光學(xué)顯微系統(tǒng)
2023-08-08 15:50:351420 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000正式上線使用左側(cè)設(shè)備為鎢燈絲掃描電鏡SEM3200右側(cè)設(shè)備為場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000近日，國(guó)儀量子場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000交付中國(guó)農(nóng)科院作科所重大
2023-07-31 23:30:26350 今天三本精密儀器小編給您介紹場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM500規(guī)格參數(shù)及樣品制備要求：一、樣品要求（1）本儀器不接收磁性、易潮、液體、有機(jī)、生物、不耐熱、熔融蒸發(fā)、松動(dòng)粉末或碎屑等有揮發(fā)物樣品
2023-06-19 11:15:40814 能譜儀（EDS）是一種快速分析樣品微區(qū)內(nèi)元素種類及含量的重要工具，通常與掃描電鏡（SEM）、透射電鏡（TEM）組合使用，實(shí)現(xiàn)形貌與成分的對(duì)照。它的工作原理是：當(dāng)電子束掃描樣品時(shí)，不同元素被激發(fā)出來(lái)的x射線能量不同，通過(guò)探測(cè)這些特征X射線的能量與強(qiáng)度，可以確定樣品中的元素組成和含量。
2023-08-29 09:43:241964 
掃描電子顯微鏡-電子通道對(duì)比成像（SEM-ECCI）是在掃描電子顯微鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展已經(jīng)取代了透射電子顯微鏡（TEM）在缺陷表征領(lǐng)域的部分功能。與TEM
2023-09-04 14:56:47363 
（合肥）技術(shù)有限公司承辦的“2023國(guó)產(chǎn)掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用研討會(huì)”在合肥召開(kāi)。來(lái)自中國(guó)科學(xué)院、北京大學(xué)、中南大學(xué)、中國(guó)農(nóng)科院、中國(guó)醫(yī)學(xué)科學(xué)院、浙江中醫(yī)藥大學(xué)等高校科研
2023-09-13 08:30:05503 不同型號(hào)掃描電鏡的操作步驟會(huì)有一些差異，各廠家的EBSD系統(tǒng)，特別是控制SEM的軟件都不一致。
2023-10-10 09:25:08609 。 特點(diǎn) 制樣簡(jiǎn)單、放大倍率可調(diào)范圍寬、圖像分辨率高、景深大、高保真度、真實(shí)的三維效果等特點(diǎn)。對(duì)于導(dǎo)電材料，它們可以直接放入樣品室進(jìn)行分析。對(duì)于導(dǎo)電性差或絕緣性差的樣品，需噴涂導(dǎo)電層。 基本結(jié)構(gòu) 從結(jié)構(gòu)上看，掃描電鏡主
2023-10-19 15:38:30360 
1. 工作原理 掃描電子顯微鏡以電子束為光源，以光柵式掃描方式將精細(xì)聚焦的電子束照射到樣品上。二次電子、背散射電子等。電子與樣品之間相互作用所產(chǎn)生的電子然后被收集和處理，以獲得顯微形貌的放大圖像
2023-10-23 14:56:393877 
10月26日，2023年全國(guó)電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會(huì)在東莞市召開(kāi)。國(guó)儀量子在會(huì)議期間重磅發(fā)布自主研制的聚焦離子束電子束雙束顯微鏡DB500、超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SEM5000X，開(kāi)啟了國(guó)產(chǎn)高端電鏡
2023-10-29 08:25:471166 廣東全自動(dòng)SEM掃描電鏡是一種高分辨率的顯微鏡，通過(guò)掃描樣品表面并利用電子信號(hào)生成圖像。它與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡不同，能夠提供更高的放大倍數(shù)和更好的表面細(xì)節(jié)。以下是廣東全自動(dòng)SEM掃描電鏡的原理和構(gòu)造
2023-10-31 15:12:41770 相同點(diǎn)：都是電子槍即發(fā)射電子的裝置，都有陰極和陽(yáng)極,陰極都是點(diǎn)源發(fā)射，陰極和陽(yáng)極之間有直流高壓電場(chǎng)存在，高壓一般可調(diào)，用于控制電子的發(fā)射速度（能量），電子槍發(fā)射的電流強(qiáng)度很小，微安級(jí)別和納安級(jí)別，為防止氣體電離造成的大電流擊穿高壓電源，都需要高真空環(huán)境。電子槍陰極都屬于耗材系列。差異和優(yōu)劣:1、點(diǎn)源直徑不同及優(yōu)劣：鎢燈絲電子槍陰極使用0.1mm直徑的鎢絲制成
2023-11-10 18:43:39353 常規(guī)的TEM使用固定的入射電子束，而SEM的電子束在兩個(gè)垂直的（X和Y）方向上水平掃描樣品。
2023-12-01 11:37:50691 
大部分掃描電鏡實(shí)驗(yàn)室對(duì)于納米尺寸的準(zhǔn)確測(cè)量，要求沒(méi)有那么嚴(yán)格，比如線寬或顆粒大小到底是105nm還是95nm，似乎不太重要
2023-12-09 17:36:52428 
蔡司代理三本精密儀器小編介紹SEM掃描電鏡與X射線顯微鏡是生命科學(xué)研究中的重要儀器，憑借其納米級(jí)分辨率，SEM掃描電鏡與X射線顯微鏡極大地提升了我們對(duì)生物超微結(jié)構(gòu)的認(rèn)識(shí)，-些亞細(xì)胞結(jié)構(gòu)甚至是通過(guò)
2023-12-15 14:11:17144 ? ? ? ?掃描電子顯微鏡能夠以極高的分辨率觀察樣品表面的形貌和結(jié)構(gòu)，是材料相關(guān)工作者和學(xué)者研究的有力工具之一。其應(yīng)用范圍非常廣泛，甚至可以延伸到生物、醫(yī)療和工業(yè)領(lǐng)域。本文將對(duì)掃描電子顯微鏡
2023-12-19 15:31:37512 
蔡司代理三本精密儀器小編獲悉，近期蔡司對(duì)中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)龔明教授進(jìn)行了采訪，談了對(duì)于蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡在工作研究中的使用感受：中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)工程與材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)中心副主任，材料顯微分析實(shí)驗(yàn)室
2023-12-20 15:04:37227 
掃描電子顯微鏡是金屬科研工作中應(yīng)用最廣泛的“神器”。可以說(shuō)，幾乎每一個(gè)研究生都把自己最重要的科研經(jīng)歷花在了身上。今天的我們就來(lái)介紹一下掃描電鏡的原理和應(yīng)用。 電子顯微鏡利用電子產(chǎn)生圖像，類似于光學(xué)
2024-01-17 09:39:56148 掃描電鏡按構(gòu)造和用處可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發(fā)射式電子顯微鏡等。 掃描電鏡常用于察看那些用普通顯微鏡所不能分辨的纖細(xì)物質(zhì)構(gòu)造，次要用于察看固體外表的形貌，也能與
2024-02-01 18:22:15609
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