將頻率特性測試儀內信號發生器產生的超低頻正弦信號的頻率從低到高變化，并施加于被測系統的輸入端[r（t）]，然后分別測量相應的反饋信號[b（t）]和誤差信號[e（t）]的對數幅值和相位。頻率特性測試儀測試數據經相關運算后在顯示器中顯示。

根據式（3-3）和式（3-4）分別計算出各個頻率下的開環對數幅值和相位，在半對數坐標紙上做出實驗曲線：開環對數幅頻曲線和相頻曲線。

根據實驗開環對數幅頻曲線畫出開環對數幅頻曲線的漸近線，再根據漸近線的斜率和轉角確定頻率特性（或傳遞函數）。所確定的頻率特性（或傳遞函數）的正確性可以由測量的相頻曲線來檢驗，對最小相位系統而言，實際測量所得的相頻曲線必須與確定的頻率特性（或傳遞函數）所畫出的理論相頻曲線在一定程度上相符。如果測量所得的相位在高頻（相對于轉角頻率）時不等于-90o(q-p)[式中p和q分別表示傳遞函數分子和分母的階次]，那么，頻率特性（或傳遞函數）必定是一個非最小相位系統的頻率特性。

被測系統的模擬電路圖：見圖3-2

圖3-2被測系統

四、  實驗內容及步驟

測量系統的開環對數幅頻曲線和相頻曲線。

準備：將信號源單元（U1 SG）的ST插針和+5V插針用“短路塊”短接。

實驗步驟：

（1）    將頻率測試儀中的信號發生器的頻率調節為0.1MHz（正玄波），幅值調節至適當值，并施加至被測系統的輸入端。

（2）    用示波器觀察系統各環節波形，避免系統進入非線性狀態。

（3）    測量系統誤差信號[e（t）]的幅值（對數幅值，單位為分貝）和相位（度），并記錄測量結果。

（4）    測量反饋信號[b（t）]的幅值（分貝）和相位（度）。

增大輸入正弦信號的頻率，直至300Hz，分別重復上述步驟。

表3-1 實驗數據

實驗中，由于傳函是經拉氏變換推導出的，而拉氏變換是一種線性積分運算，因此它適用于線性定常系統，所以必須用示波器觀察系統各環節波形，避免系統進入非線性狀態。

實驗中，系統輸入正弦信號的幅值不能太大，否則反饋幅值更大，不易讀出，同理，太小也不易讀出。

五、  實驗報告

1、    實驗設備型號。

2、    實驗目的。

3、    開環系統頻率特性測試簡要原理。

4、    被測系統模擬線路，實驗數據。

5、    輸入頻率變化時的誤差信號、反饋信號和開環頻率特性的幅值和相位。