納米軟件電源測(cè)試系統(tǒng)為電源模塊測(cè)試提供軟硬件測(cè)試方案,強(qiáng)大的系統(tǒng)功能滿足了用戶需求,指導(dǎo)著電源模塊的優(yōu)化與設(shè)計(jì)。從儀器選型到系統(tǒng)開(kāi)發(fā)、再到機(jī)柜集成、項(xiàng)目演示、最終成功交付,提供一體化的測(cè)試方案,解決測(cè)試痛點(diǎn),高效完成電源模塊測(cè)試。
2024-03-18 15:09:2875 現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 灌溉測(cè)試儀套件
2024-03-14 22:12:01
測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
2024-03-14 21:39:21
測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
2024-03-14 21:39:21
測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
2024-03-14 21:39:21
測(cè)試元件 脈沖發(fā)生器測(cè)試儀
2024-03-14 20:50:37
振動(dòng)測(cè)試儀
2024-03-14 20:41:51
絕緣 電信 測(cè)試夾 塑料
2024-03-14 20:37:40
3 線電路測(cè)試器 測(cè)試3線電路和接地連通性
2024-03-14 20:33:47
)是指對(duì)印刷電路板組裝進(jìn)行測(cè)試的過(guò)程。在PCBA生產(chǎn)過(guò)程中,為了確保產(chǎn)品質(zhì)量和性能穩(wěn)定,進(jìn)行全面而準(zhǔn)確的測(cè)試是至關(guān)重要的。那么,PCBA測(cè)試到底需要使用哪些設(shè)備呢?接下來(lái)深圳PCBA加工廠家為大家詳細(xì)介紹
2024-03-11 09:40:30132 逆變器是一種將直流電轉(zhuǎn)換為交流電的電子設(shè)備,廣泛應(yīng)用于太陽(yáng)能發(fā)電、風(fēng)能發(fā)電等領(lǐng)域。在逆變器的生產(chǎn)過(guò)程中,老化測(cè)試是一個(gè)非常重要的環(huán)節(jié)。老化測(cè)試是指在一定的時(shí)間內(nèi),對(duì)逆變器進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的運(yùn)行測(cè)試,以模擬
2024-03-07 14:28:2091 就測(cè)試領(lǐng)域而言,光開(kāi)關(guān)一般用于光電器件測(cè)試中光信號(hào)自動(dòng)切換,以測(cè)試收發(fā)器、放大器和無(wú)源器件等。光開(kāi)關(guān)提高了可重復(fù)性和吞吐量,并支持多端口和多設(shè)備的并行測(cè)量,從而優(yōu)化了對(duì)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的投資。
2024-03-06 09:53:2756 羅德與施瓦茨(以下簡(jiǎn)稱“R&S”)和 SmartViser合作開(kāi)發(fā)用于測(cè)試是否符合歐盟最新的EEI法規(guī)的測(cè)試方案。EEI(Energy Efficiency Index 能效等級(jí))標(biāo)簽將被要求貼在所有在歐盟銷售的智能手機(jī)和平板電腦上。
2024-02-27 14:35:20176 電路板設(shè)計(jì):測(cè)試點(diǎn)的重要性
對(duì)學(xué)電子的人來(lái)說(shuō),在電路板上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)(test point)是再自然不過(guò)的事了。
有多少人沒(méi)聽(tīng)說(shuō)測(cè)試點(diǎn)?知道測(cè)試點(diǎn)但不了解測(cè)試點(diǎn)用途的人又有多少呢?
基本上設(shè)置測(cè)試
2024-02-27 08:57:17
pcb應(yīng)變測(cè)試有多重要?一文了解!
2024-02-24 16:26:35570 數(shù)字信號(hào)電纜測(cè)試的重要性 數(shù)字信號(hào)電纜測(cè)試的方法和技術(shù) 數(shù)字信號(hào)電纜測(cè)試的重要性: 隨著現(xiàn)代通信技術(shù)的發(fā)展,數(shù)字信號(hào)電纜在各種領(lǐng)域中扮演著重要的角色。數(shù)字信號(hào)電纜測(cè)試的目的在于保證數(shù)字信號(hào)傳輸?shù)馁|(zhì)量
2024-02-01 15:48:20137 方案背景 近場(chǎng)測(cè)試非常適合產(chǎn)品開(kāi)發(fā)階段輻射發(fā)射的EMI預(yù)兼容測(cè)試。在EMC測(cè)試中,進(jìn)行輻射發(fā)射測(cè)試時(shí),通常天線離被測(cè)物EUT很遠(yuǎn),進(jìn)行的都是遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量。標(biāo)準(zhǔn)的遠(yuǎn)場(chǎng)輻射發(fā)射測(cè)試,可以準(zhǔn)確定量的告訴我
2024-01-22 15:00:29175 機(jī)械免拆壓力測(cè)試方案
2024-01-20 08:08:31114 為什么要進(jìn)行光模塊測(cè)試?光模塊測(cè)試方案 光模塊測(cè)試是指對(duì)光模塊進(jìn)行一系列測(cè)試,以確保其性能和質(zhì)量符合預(yù)期。光模塊是光通信系統(tǒng)中重要的組成部分,它們負(fù)責(zé)將電信號(hào)轉(zhuǎn)化為光信號(hào),并在光纖之間進(jìn)行傳輸。因此
2024-01-19 11:15:06242 溫升測(cè)試是電器產(chǎn)品安規(guī)測(cè)試項(xiàng)目之一,是為了檢測(cè)電器產(chǎn)品及部件的溫度變化情況,判斷是否符合要求。在設(shè)備運(yùn)行過(guò)程中會(huì)釋放一定的熱量,如果內(nèi)部溫度過(guò)高會(huì)影響產(chǎn)品的性能和穩(wěn)定性,導(dǎo)致絕緣性能下降,因此溫升測(cè)試是確保產(chǎn)品穩(wěn)定運(yùn)行的重要步驟。
2024-01-11 15:15:02542 軟件測(cè)試是軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中重要的一環(huán),其目的是發(fā)現(xiàn)軟件中存在的問(wèn)題,并提供解決方案。因此,軟件測(cè)試的八大特性對(duì)于保證軟件的質(zhì)量和穩(wěn)定性至關(guān)重要。
1、功能性是指軟件是否按照需求文檔和設(shè)計(jì)文檔正確
2024-01-02 10:15:12
開(kāi)關(guān)電源電磁兼容(EMC)測(cè)試是確保開(kāi)關(guān)電源在工作過(guò)程中不會(huì)對(duì)周圍電子設(shè)備產(chǎn)生干擾,同時(shí)能夠抵抗來(lái)自外部的電磁干擾。EMC測(cè)試主要包括發(fā)射測(cè)試和抗擾度測(cè)試兩部分。本文將詳細(xì)介紹開(kāi)關(guān)電源EMC測(cè)試
2023-12-30 16:12:00449 探索手機(jī)側(cè)鍵奧秘:手機(jī)側(cè)鍵手感測(cè)試儀全面解析!|深圳磐石
2023-12-19 09:17:24174 振時(shí)間的短長(zhǎng)對(duì)于設(shè)備的穩(wěn)定性和可靠性具有重要影響。因此,對(duì)晶振起振時(shí)間進(jìn)行測(cè)試是電子設(shè)備生產(chǎn)及維修的重要環(huán)節(jié)。 晶振起振時(shí)間測(cè)試原理 晶振器是一種電子振蕩器,由晶體振蕩片和與之配套的電路組成。晶體振蕩片具有機(jī)械諧
2023-12-18 14:09:42711 直線電機(jī)怎樣優(yōu)化它的速度環(huán),有什么標(biāo)準(zhǔn)
2023-12-15 07:35:15
可靠性測(cè)試是電源模塊測(cè)試的一項(xiàng)重要測(cè)試內(nèi)容,是檢測(cè)電源模塊穩(wěn)定性、運(yùn)行狀況的重要測(cè)試方法。隨著對(duì)電源模塊的測(cè)試要求越來(lái)越高,用電源模塊測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電源模塊可以提高測(cè)試效率,確保測(cè)試結(jié)果可靠性,滿足測(cè)試要求。
2023-12-13 15:36:36384 怎樣使用AD5522測(cè)試板輸出一個(gè)階躍信號(hào)?
2023-12-07 07:52:07
EMC測(cè)試整改:了解EMC測(cè)試及解讀整改方案?|深圳比創(chuàng)達(dá)電子EMC
2023-12-06 10:29:08347 超過(guò)200位全球智能制造領(lǐng)導(dǎo)廠商及重要代表參與。 LitePoint將參加此次活動(dòng)并展示其IQcell-5G信令測(cè)試解決方案。IQcell-5G是一款簡(jiǎn)化的5G信令測(cè)試解決方案,專為驗(yàn)證蜂窩和具有蜂窩功能的連接設(shè)備(例如智能手機(jī)、CPE、筆記本電腦、平板電腦、熱點(diǎn)等)的射頻參數(shù)測(cè)量、端到端吞
2023-11-29 16:10:02206 電源測(cè)試系統(tǒng)針對(duì)電源模塊的各項(xiàng)測(cè)試項(xiàng)目提供最合適的測(cè)試方案,解決測(cè)試需求,提高測(cè)試效能。重輕載變化測(cè)試是電源模塊測(cè)試的項(xiàng)目之一,是為了檢測(cè)負(fù)載變化時(shí)輸出電壓的變化情況。為此,納米軟件將介紹電源重輕載變化測(cè)試的方法,以及用電源測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試的優(yōu)勢(shì)。
2023-11-24 14:29:28329 開(kāi)關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)是針對(duì)開(kāi)關(guān)電源測(cè)試而開(kāi)發(fā)的一種智能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),打破傳統(tǒng)測(cè)試程序與缺陷,滿足客戶新的測(cè)試需求,助力客戶解決測(cè)試難點(diǎn),順利完成開(kāi)關(guān)電源測(cè)試,提高測(cè)試效能。那么開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試方案的流程是什么呢?
2023-11-22 16:37:11379 模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)是數(shù)字電子系統(tǒng)中重要組成部分,用于捕獲外部世界的模擬信號(hào),將它們轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)0\1, 以供計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理分析。德思特提供完整的ADC測(cè)試解決方案,能夠測(cè)試8-24位的ADC芯片,功能測(cè)試涵蓋幾乎所有典型的性能參數(shù)測(cè)試。
2023-11-20 13:25:31235 過(guò)溫保護(hù)測(cè)試是電源模塊保護(hù)功能測(cè)試項(xiàng)目之一,也是電源模塊測(cè)試的重要測(cè)試指標(biāo),以保證電源模塊過(guò)溫保護(hù)功能正常,確保電源模塊不受損壞。用ate測(cè)試軟件測(cè)試電源模塊過(guò)溫保護(hù),不僅可以保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性,還可以多維度分析數(shù)據(jù),指導(dǎo)電源的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)。
2023-11-14 14:56:57452 在測(cè)試測(cè)量行業(yè)快速發(fā)展的圖景中,互連解決方案對(duì)無(wú)縫數(shù)據(jù)傳輸和精準(zhǔn)測(cè)試至關(guān)重要。由于專業(yè)的測(cè)試程序復(fù)雜且耗時(shí),測(cè)試測(cè)量行業(yè)需要保證測(cè)試設(shè)備的精確度和可靠性。這些都是目前影響測(cè)試測(cè)量領(lǐng)域發(fā)展趨勢(shì)的因素。
2023-11-13 13:28:56157 為什么選充電樁測(cè)試系統(tǒng)?充電樁測(cè)試系統(tǒng)有哪些特點(diǎn)? 充電樁測(cè)試系統(tǒng)是電動(dòng)車充電樁行業(yè)中的一項(xiàng)重要工具。在選擇充電樁測(cè)試系統(tǒng)時(shí),主要考慮以下幾個(gè)因素: 1. 充電樁測(cè)試系統(tǒng)具有高度自動(dòng)化:現(xiàn)代充電
2023-11-10 16:01:00260 為什么要測(cè)試芯片上下電功能?芯片上電和下電功能測(cè)試的重要性? 芯片上下電功能測(cè)試是集成電路設(shè)計(jì)和制造過(guò)程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。它是確保芯片在正常的上電和下電過(guò)程中能夠正確地執(zhí)行各種操作和功能的關(guān)鍵部分
2023-11-10 15:36:30590 電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《針對(duì)智能手機(jī)中的總線及SI/PI的完整測(cè)試解決方案及應(yīng)用案例.rar》資料免費(fèi)下載
2023-11-10 10:01:512 可靠性測(cè)試是半導(dǎo)體器件測(cè)試的一項(xiàng)重要測(cè)試內(nèi)容,確保半導(dǎo)體器件的性能和穩(wěn)定性,保證其在各類環(huán)境長(zhǎng)時(shí)間工作下的穩(wěn)定性。半導(dǎo)體可靠性測(cè)試項(xiàng)目眾多,測(cè)試方法多樣,常見(jiàn)的有高低溫測(cè)試、熱阻測(cè)試、機(jī)械沖擊測(cè)試、引線鍵合強(qiáng)度測(cè)試等。
2023-11-09 15:57:52744 半導(dǎo)體IC測(cè)試解決方案測(cè)試的指標(biāo)包含哪些? 半導(dǎo)體IC測(cè)試解決方案的指標(biāo)可以根據(jù)不同的需求和應(yīng)用來(lái)確定。下面將詳細(xì)介紹一些常見(jiàn)的測(cè)試指標(biāo)。 1. 電氣性能測(cè)試指標(biāo): 電氣性能測(cè)試是半導(dǎo)體IC測(cè)試
2023-11-09 09:24:20421 隨著科技的不斷發(fā)展,連接器在電子設(shè)備中的重要性進(jìn)一步凸顯。為確保連接器的安全性、耐用性等性能,必須對(duì)連接器的各項(xiàng)性能進(jìn)行規(guī)范的測(cè)試。 一、電氣性能測(cè)試: 電氣性能測(cè)試是連接器測(cè)試中最基本也是最重要
2023-11-06 18:00:28306 在電子產(chǎn)品的驗(yàn)證測(cè)試中,靜電測(cè)試是非常重要的一項(xiàng)。 靜電放電可能會(huì)造成電子產(chǎn)品如手機(jī),智能鎖等發(fā)生突然性失效或者潛在性失效,使得電子產(chǎn)品出現(xiàn)故障或性能下降,所以針對(duì)靜電測(cè)試是電子產(chǎn)品上市的一個(gè)重要
2023-11-06 17:07:071021 和測(cè)試也尤為重要。 ? 無(wú)論是安裝新的線纜或者為現(xiàn)有的線纜故障排除,以太網(wǎng)網(wǎng)線測(cè)試在這些過(guò)程中都占有非常重要的角色。常見(jiàn)的數(shù)據(jù)通信布線網(wǎng)絡(luò)測(cè)試包括長(zhǎng)度、布線圖、衰減、NEXT、直流環(huán)路電阻和回波損耗。 隨著網(wǎng)絡(luò)的發(fā)展,布線基礎(chǔ)設(shè)施的
2023-11-06 15:41:08320 電源功能測(cè)試是評(píng)估電源質(zhì)量好壞、性能、響應(yīng)等的重要測(cè)試方法,也是電源的常規(guī)測(cè)試內(nèi)容,包含電壓調(diào)整率、負(fù)載調(diào)整率、紋波測(cè)試等。納米軟件專注于儀器測(cè)試軟件的開(kāi)發(fā),針對(duì)電源模塊測(cè)試提供軟硬件解決方案。對(duì)于
2023-11-03 15:50:22592 鍵盤彈力測(cè)試的重要性和實(shí)施步驟?|深圳市磐石測(cè)控儀器有限公司
2023-11-01 09:09:402397 手機(jī)轉(zhuǎn)軸扭力測(cè)試儀有哪些技術(shù)和應(yīng)用
2023-10-31 09:09:592325 紋波及噪聲測(cè)試是電源模塊測(cè)試項(xiàng)目之一,也是電源模塊測(cè)試的重要環(huán)節(jié),因?yàn)榧y波噪聲對(duì)設(shè)備的性能和穩(wěn)定性有很大影響。通過(guò)電源紋波噪聲測(cè)試,檢測(cè)電源紋波情況,從而提升電源的性能。納米軟件電源模塊測(cè)試系統(tǒng)助力紋波和噪聲測(cè)試,提升測(cè)試效能。
2023-10-30 15:16:31334 手機(jī)翻蓋扭力測(cè)試儀的原理及作用?|深圳磐石測(cè)控儀器
2023-10-30 09:09:332313 開(kāi)關(guān)電源帶載測(cè)試也叫開(kāi)關(guān)電源負(fù)載測(cè)試,是檢測(cè)電源輸出性能的重要測(cè)試方法之一,如輸出電壓、電流、效率、紋波等參數(shù)。通過(guò)測(cè)試來(lái)評(píng)估開(kāi)關(guān)電源的輸出穩(wěn)定性,保證電源可以正常工作。
2023-10-27 15:29:19947 電學(xué)測(cè)試是芯片測(cè)試的一個(gè)重要環(huán)節(jié),用來(lái)描述和評(píng)估芯片的電性能、穩(wěn)定性和可靠性。芯片電學(xué)測(cè)試包括直流參數(shù)測(cè)試、交流參數(shù)測(cè)試和高速數(shù)字信號(hào)性能測(cè)試等。
2023-10-26 15:34:14629 FPGA技術(shù)的發(fā)展,大容量、高速率和低功耗已經(jīng)成為FPGA的發(fā)展重點(diǎn),也對(duì)FPGA測(cè)試提出了新的需求。本文根據(jù)FPGA的發(fā)展趨勢(shì),討論了FPGA測(cè)試面臨哪些挑戰(zhàn)?測(cè)試方案是什么? FPGA處于高速發(fā)展期 FPGA技術(shù)正處于高速發(fā)展時(shí)期。目前其產(chǎn)品的應(yīng)用領(lǐng)域已經(jīng)擴(kuò)展到
2023-10-23 15:20:01456 基于Benchmark的性能測(cè)試量化指標(biāo)方案是一種用于評(píng)估和量化系統(tǒng)性能的方法。通過(guò)使用Benchmark測(cè)試工具,該方案旨在提供可靠的性能數(shù)據(jù),并使用具體的指標(biāo)來(lái)衡量系統(tǒng)在各個(gè)方面的表現(xiàn)。本文
2023-10-17 10:15:14313 IGBT是如今被廣泛應(yīng)用的一款新型復(fù)合電子器件,而IGBT測(cè)試也變的尤為重要,其中動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)是IGBT模塊測(cè)試一項(xiàng)重要內(nèi)容,IGBT動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)是評(píng)估IGBT模塊開(kāi)關(guān)性能的重要依據(jù)。其動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)主要有:主要參數(shù)有開(kāi)關(guān)參數(shù)、柵極電阻、柵極電荷、寄生電容等。
2023-10-09 15:14:35644 DTX 萬(wàn)兆銅纜測(cè)試解決方案,fluke官方資料。
2023-10-09 10:59:450 隨著寬帶通信的不斷發(fā)展,變頻器件在各種通信系統(tǒng)中廣泛應(yīng)用。 作為通用器件的重要部分,變頻器的測(cè)試除了傳統(tǒng)連續(xù)波激勵(lì)下的射頻參數(shù)特性測(cè)試之外,還包含了在多音或?qū)拵д{(diào)制信號(hào)激勵(lì)下的失真測(cè)試,NPR
2023-09-20 07:40:05322 測(cè)試點(diǎn)/測(cè)試插座/測(cè)試插針 4Pin H7.00mm 12.00 x 2.50mm 黃銅
2023-09-18 18:32:58
測(cè)試點(diǎn)/測(cè)試插座/測(cè)試插針 2Pin H9.50mm 6.65 x 2.50mm Brass
2023-09-18 18:32:58
摩擦系數(shù)測(cè)試儀 摩擦系數(shù)是衡量材料摩擦性能的重要參數(shù),它影響著許多工業(yè)產(chǎn)品的性能和使用壽命。為了準(zhǔn)確測(cè)量各種材料的摩擦系數(shù),我們使用摩擦系數(shù)測(cè)試儀對(duì)以下材料進(jìn)行了測(cè)量:鋁塑板表面、手機(jī)鋼化
2023-09-18 10:41:43
dc-dc電源模塊因其特性被廣泛應(yīng)用于醫(yī)療、軍工、電子等領(lǐng)域。隨著技術(shù)的發(fā)展,電源模塊測(cè)試項(xiàng)目也逐漸增多,測(cè)試過(guò)程變得復(fù)雜。而納米軟件dc-dc電源模塊測(cè)試系統(tǒng)基于一種智能云測(cè)試平臺(tái),可以為其提供高效快捷的電源測(cè)試方案。
2023-09-12 15:46:09384 當(dāng)我們談?wù)撾娮又圃鞎r(shí),PCBA(Printed Circuit Board Assembly)是其中最為核心的部分。為確保電子設(shè)備的可靠性和性能,對(duì)這些電路板進(jìn)行測(cè)試至關(guān)重要。這不僅可以確保組件的功能性,還能避免在后期發(fā)生潛在的故障。那么,進(jìn)行PCBA測(cè)試需要哪些設(shè)備呢?讓我們一同深入了解。
2023-09-12 09:27:24696 關(guān)于硅材料雜質(zhì)濃度測(cè)試,經(jīng)研究,參考肖特基二極管雜質(zhì)濃度測(cè)試方案,兩者幾乎一致,因此,針對(duì)硅材料雜質(zhì)濃度測(cè)試亦采用CV法測(cè)量。
2023-09-11 15:59:34392 可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)之可測(cè)試性評(píng)估詳解
可測(cè)試性設(shè)計(jì)的定性標(biāo)準(zhǔn):
測(cè)試費(fèi)用:
一測(cè)試生成時(shí)間
-測(cè)試申請(qǐng)時(shí)間
-故障覆蓋
一測(cè)試存儲(chǔ)成本(測(cè)試長(zhǎng)度)
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的一可用性
2023-09-01 11:19:34459 手機(jī)側(cè)鍵手感測(cè)試儀的參數(shù)是什么?|深圳市磐石測(cè)控儀器有限公司
2023-08-31 09:14:59777 發(fā)電功能的關(guān)鍵元件,也是成本占比最高的元件,其性能很大程度決定了燃料電池系統(tǒng)的性能。 電堆測(cè)試臺(tái)作為測(cè)量電堆性能的設(shè)備,無(wú)論是在電堆研發(fā)階段還是量產(chǎn)(下線檢測(cè))階段均扮演著重要的作用。 電堆測(cè)試面臨著怎樣的行業(yè)痛點(diǎn)呢? ? ? ? ?
2023-08-29 10:49:29782 不直觀,且要進(jìn)行必要的換算,測(cè)試時(shí)只能單相進(jìn)行,工作效率低。本款系列儀器克服了傳統(tǒng)變比電橋測(cè)試的缺點(diǎn)。屏幕采用了大屏幕彩色液晶顯示屏,中文菜單提示,操作簡(jiǎn)便直觀,一次完成三相變比測(cè)試,測(cè)試速度快、準(zhǔn)確度高、
2023-08-22 16:49:41349 ,以滿足其正常使用及安全要求。抗干擾測(cè)試是一種必要的測(cè)試手段,它能夠確保電子設(shè)備工作可靠、不受影響。 防干擾測(cè)試是一項(xiàng)非常重要的實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目。越來(lái)越多的電子設(shè)備必須能夠抵御不同種類的干擾。例如,手機(jī)或平板電腦必須能支持不同的無(wú)
2023-08-22 16:05:26538 手機(jī)在現(xiàn)在是普遍存在的模式,生活質(zhì)量的提高導(dǎo)致人們普遍追求“美”,那么對(duì)手機(jī)外光上會(huì)顯得格外關(guān)注,這個(gè)時(shí)候激光打標(biāo)機(jī)在手機(jī)上應(yīng)用顯得尤為重要。激光打標(biāo)是一種高環(huán)保加工技能,它具有非觸摸雕琢,工件不變
2023-08-18 10:09:32
誰(shuí)測(cè)試過(guò)高壓電源的psrr這項(xiàng)參數(shù)?有一臺(tái)輸入位12V輸出1KV/1MA的電源,想測(cè)試它的PSRR與頻率的曲線
2023-08-01 14:32:18
在IC芯片測(cè)試中,芯片測(cè)試座起著至關(guān)重要的作用。它是連接芯片和測(cè)試設(shè)備的關(guān)鍵橋梁,為芯片提供測(cè)試所需的電流和信號(hào)。
2023-07-25 14:02:50632 哪些內(nèi)容? 目前車載測(cè)試大體分為智能座艙測(cè)試和自動(dòng)駕駛輔助測(cè)試。 智能座艙測(cè)試主要測(cè)試內(nèi)容包含 汽車中控屏幕測(cè)試(廣播、視頻、音樂(lè)、喜馬拉雅、地圖導(dǎo)航、餐廳、天氣、新聞、carplay/carlife)、汽車儀表測(cè)試(車速表、轉(zhuǎn)速表、
2023-07-19 11:03:112732 它的主要作用是將待測(cè)的IC芯片插入其中,與測(cè)試儀器連接,進(jìn)行信號(hào)測(cè)試、功耗測(cè)試、溫度測(cè)試等多項(xiàng)測(cè)試。
2023-07-18 14:21:09313 一、產(chǎn)品概述有載分接開(kāi)關(guān)是與變壓器回路連接的唯一運(yùn)動(dòng)部件,因此有載分接開(kāi)關(guān)的檢測(cè),越來(lái)越引起重視。依據(jù)行標(biāo)《DL/T846.8—2004有載分接開(kāi)關(guān)測(cè)試儀》,要求檢查有載分接開(kāi)關(guān)的動(dòng)作
2023-07-17 10:55:14
HTYZ-H 變壓器有載分接開(kāi)關(guān)測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介 Product Introduction變壓器有載分接開(kāi)關(guān)測(cè)試儀是根據(jù)中華人民共和國(guó)電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)之高電壓測(cè)試設(shè)備,通用技術(shù)條件DL
2023-07-12 10:46:08
自動(dòng)化測(cè)試。基于可變形測(cè)試模塊的電感和電阻測(cè)試系統(tǒng)是一種創(chuàng)新的解決方案,能夠滿足電子設(shè)備制造業(yè)對(duì)大規(guī)模自動(dòng)化測(cè)試的需求。該系統(tǒng)在提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性的同時(shí),具備靈活
2023-07-07 10:09:47352 大電流彈片微針模組是一種在手機(jī)攝像頭測(cè)試中具有重要作用的設(shè)備。該模組通過(guò)使用高電流彈片和微針技術(shù),能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)手機(jī)攝像頭的精確測(cè)試和評(píng)估。
2023-07-06 14:58:44384 1.GSM手機(jī)EMC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) YD1032-2000 2.EMC概念。 電磁干擾 即處在一定環(huán)境中的設(shè)備或系統(tǒng),在正常運(yùn)行時(shí),不應(yīng)產(chǎn)生超過(guò)相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)所要求的電磁能量. 電磁敏感性 即處在一定環(huán)境
2023-07-05 09:55:43479 射頻芯片是現(xiàn)代通信系統(tǒng)中至關(guān)重要的組成部分,由于其高頻特性的特殊性,射頻芯片的測(cè)試與傳統(tǒng)數(shù)字芯片測(cè)試存在巨大的差異。在射頻系統(tǒng)中,信號(hào)的頻率、幅度、相位等參數(shù)對(duì)通信質(zhì)量至關(guān)重要,因此射頻芯片的測(cè)試
2023-06-29 10:01:161162 測(cè)試網(wǎng)絡(luò)濾波器通常需要進(jìn)行以下幾個(gè)方面的測(cè)試: 性能測(cè)試:測(cè)試網(wǎng)絡(luò)濾波器的處理速度、流量容量、延遲等性能指標(biāo),以確保其滿足產(chǎn)品規(guī)格要求。 安全性測(cè)試:測(cè)試網(wǎng)絡(luò)濾波器對(duì)惡意攻擊、病毒、垃圾郵件等的防護(hù)
2023-06-28 09:41:26503 芯片功能測(cè)試是電子產(chǎn)品制造過(guò)程中的一項(xiàng)重要步驟。具體而言,它包括以下幾個(gè)方面的測(cè)試:
2023-06-20 14:50:52935 RWC5020B是一款緊湊的一體化測(cè)試儀,為測(cè)試和測(cè)量LoRa和LoRaWAN技術(shù)提供了完美的解決方案
,它完全適用于研發(fā)、QC和生產(chǎn)廠家。它提供了各種可以在信令模式下執(zhí)行的測(cè)試功能,例如
2023-06-16 15:30:16890 包實(shí)時(shí)續(xù)航能力,所以車載電源測(cè)試尤為重要。 本次客戶案例的客戶需要進(jìn)行完整汽車車載充電機(jī)OBC測(cè)試,基于客戶測(cè)試場(chǎng)景與實(shí)際測(cè)試需求,普源精電為測(cè)試解決方案提供了必要的儀器支持。 客戶案例 ? 車載充電機(jī)OBC測(cè)試 車載充電機(jī)(
2023-06-16 14:27:08644 眾所周知出廠前要對(duì)LCD/OLED屏幕、3C鋰電池、手機(jī)攝像頭等重要部件進(jìn)行測(cè)試,而連接器測(cè)試模組在其中發(fā)揮著關(guān)鍵的作用。
2023-06-16 14:26:00539 本文詳細(xì)討論在測(cè)試無(wú)線系統(tǒng)期間需要考慮的重要因素,尤其是涉及時(shí)序和同步的系統(tǒng)級(jí)測(cè)試,還講述了在特定的誤差余量?jī)?nèi),發(fā)射機(jī)和接收機(jī)模塊之間無(wú)線傳輸數(shù)據(jù)時(shí),這些因素有多重要。本文中討論的因素將有助于開(kāi)發(fā)測(cè)試用例,這些測(cè)試用例將確定功能性和非功能性規(guī)格、系統(tǒng)邊界和漏洞,以確保構(gòu)建高度可靠和同步的無(wú)線系統(tǒng)。
2023-06-14 17:27:28474 汽車中控屏幕測(cè)試(廣播、視頻、音樂(lè)、喜馬拉雅、地圖導(dǎo)航、餐廳、天氣、新聞、carplay/carlife)、汽車儀表測(cè)試(車速表、轉(zhuǎn)速表、水溫表、油量表、車內(nèi)溫度)、車輛設(shè)置測(cè)試(行車電腦、燈光設(shè)置、車輛診斷)以及各類車燈測(cè)試。
2023-06-09 17:13:531976 芯片為什么要做測(cè)試?
因?yàn)樵谛酒谥圃爝^(guò)程中,不可避免的會(huì)出現(xiàn)缺陷,芯片測(cè)試就是為了發(fā)現(xiàn)產(chǎn)生缺陷的芯片。如果缺少這一步驟,把有缺陷的壞片賣給客戶,后續(xù)的損失將是測(cè)試環(huán)節(jié)原本成本的數(shù)倍,可能還會(huì)影響公司在行業(yè)的聲譽(yù)。
2023-06-08 15:47:55
故障診斷:如果發(fā)現(xiàn)物品存在故障,推拉力測(cè)試機(jī)可以用于診斷故障原因,幫助確定維修方案。 總體而言,推拉力測(cè)試機(jī)是一種重要的測(cè)試設(shè)備,可以提供準(zhǔn)確的數(shù)據(jù),用于評(píng)估物品的質(zhì)量和性能,并幫助確保生產(chǎn)過(guò)程的質(zhì)量和安全性。
2023-06-03 16:12:321077 隨著全球?qū)Νh(huán)境保護(hù)的日益重視,新能源的發(fā)展越來(lái)越受到關(guān)注。電動(dòng)汽車作為新能源領(lǐng)域的重要組成部分,其性能和質(zhì)量對(duì)于消費(fèi)者來(lái)說(shuō)至關(guān)重要。為了確保電動(dòng)汽車的性能和質(zhì)量,測(cè)試系統(tǒng)平臺(tái)解決方案變得越來(lái)越重要。本文將介紹一種基于ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)新能源電機(jī)測(cè)試解決方案。
2023-05-30 11:26:45573 手機(jī)攝像頭模組和顯示屏是手機(jī)中非常重要的組件。在生產(chǎn)過(guò)程中,這些組件需要進(jìn)行測(cè)試來(lái)確保它們的質(zhì)量符合標(biāo)準(zhǔn)。首先,測(cè)試可以檢查這些組件是否正常工作,并且能夠拍攝出清晰度高、顏色鮮艷的照片或者視頻,以及顯示屏幕是否能夠呈現(xiàn)出良好的圖像效果。其次,測(cè)試也可以檢查這些組件在不同環(huán)境下的表現(xiàn)。
2023-05-26 13:22:13329 芯片從設(shè)計(jì)到成品有幾個(gè)重要環(huán)節(jié),分別是設(shè)計(jì)->流片->封裝->測(cè)試,但芯片成本構(gòu)成的比例確大不相同,一般為人力成本20%,流片40%,封裝35%,測(cè)試5%。測(cè)試是芯片各個(gè)環(huán)節(jié)中最
2023-05-22 08:58:331848 屏幕和顯示面板的彎曲測(cè)試是通過(guò)將屏幕或顯示面板固定在一個(gè)支撐結(jié)構(gòu)上,施加一定的力量使其產(chǎn)生彎曲變形,并測(cè)量其在彎曲過(guò)程中的性能變化,從而評(píng)估產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。
2023-05-10 11:20:08827 網(wǎng)分射頻測(cè)試線是一種用于測(cè)試無(wú)線電設(shè)備在高頻信號(hào)下的性能的工具。隨著現(xiàn)代通信技術(shù)的發(fā)展,越來(lái)越多的無(wú)線電設(shè)備需要進(jìn)行高頻測(cè)試,因此網(wǎng)分射頻測(cè)試線也越來(lái)越重要。在使用網(wǎng)分射頻測(cè)試線時(shí),需要注意一些基本使用方法和安全事項(xiàng),以確保測(cè)試的精度和可靠性。
2023-04-24 14:01:34761 2023年4月6日,是德科技(Keysight Technologies,Inc.)日前宣布,推出一款全新 FlexOTO 光測(cè)試優(yōu)化軟件和解決方案。該解決方案可降低多通道接口測(cè)試的總體測(cè)試
2023-04-06 18:00:01932 1.2V 穩(wěn)壓器的穩(wěn)定性有多重要,數(shù)據(jù)表中沒(méi)有任何內(nèi)容?我們發(fā)現(xiàn)大約每 30 張卡中就有 1 張出現(xiàn)隨機(jī)處理器重置/鎖定的問(wèn)題。
2023-04-04 08:44:48
測(cè)試環(huán) 磷青銅 鍍銀 綠色
2023-03-30 17:34:53
測(cè)試點(diǎn)/測(cè)試插座/測(cè)試插針
2023-03-30 17:34:49
性能質(zhì)量的重要指標(biāo),因此“三電”系統(tǒng)的測(cè)試對(duì)于車企和用戶就至關(guān)重要。 本期為大家展示一下納米軟件開(kāi)發(fā)的ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)針對(duì)新能源汽車電機(jī)驅(qū)動(dòng)電路的測(cè)試方案。 方案 :新能源汽車電機(jī)驅(qū)動(dòng)電路測(cè)試方案 使用儀器:示
2023-03-28 16:12:34520 在測(cè)試環(huán)境方面,新一代解決方案可以運(yùn)行在測(cè)試臺(tái)架,測(cè)試機(jī)柜以及小型車載測(cè)試系統(tǒng)內(nèi),從而為部件級(jí),系統(tǒng)級(jí)以及實(shí)車級(jí)測(cè)試提供硬件支持。
2023-03-24 11:33:33410
評(píng)論
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