我們知道，所有測量儀器（包括示波器）都有其性能的限制，都會對測量結(jié)果帶來影響。我們要使用特定的探頭將示波器連接到電路上的行為會以特定的方式影響測量。探頭在測試點(diǎn)與待測電路并聯(lián)，通過施加額外的電阻和電容負(fù)載來影響電路。

此外，由于帶寬、上升時間和共模響應(yīng)的限制，探頭本身也限制了測量的準(zhǔn)確度。因此，在進(jìn)行測量時，比較不同的探頭對測量的影響是不同的，但不要嘗試一次全部完成。

如果同時將兩個或多個探頭連接到同一測試點(diǎn)，會發(fā)生什么情況？探頭之間會相互影響，改變彼此的響應(yīng)。讓我們看一下兩種不同的探頭分別如何影響LED驅(qū)動器中上側(cè)柵極驅(qū)動器測量的情況。一種探頭是高壓光纖光隔離探頭（HVFO），另一個“探頭”是一個老式的差分放大器（DA），它使用一對匹配的高壓探頭來實(shí)現(xiàn)差分輸入。

首先，分別使用每個探頭進(jìn)行測量，如下圖所示。

用DA探頭進(jìn)行的測量顯示出更多異常，與HVFO探頭相比，大多數(shù)異常可歸因于較差的共模抑制比（CMRR）。這在正脈沖的上升沿之前的負(fù)脈沖中最為明顯，這發(fā)生在下側(cè)MOSFET狀態(tài)改變時，這是一個很快的dV/dT事件，會產(chǎn)生明顯的共模干擾。具有較高CMRR的HVFO探頭受到的影響較小：與DA探頭相比，幅度小一半。在脈沖的基線和頂部，DA探頭測量的波形傾斜可能是由其探頭對的負(fù)載引起的。

現(xiàn)在，讓我們看一下同時在電路中使用HVFO和DA探頭進(jìn)行測量的結(jié)果，如下圖所示。

當(dāng)兩個探頭同時連接時，它們會相互增加負(fù)載，從而導(dǎo)致其響應(yīng)發(fā)生變化。請注意，當(dāng)獨(dú)立進(jìn)行測量時，HVFO探頭的負(fù)尖峰幅度更小。DA探頭的額外負(fù)載降低了HVFO探頭的CMRR。此外，DA的電路負(fù)載改變了測試點(diǎn)的波形，而HVFO測量的波形也隨之改變。從本質(zhì)上講，DA的負(fù)載已與HVFO探頭結(jié)果耦合在一起。
? ? ? ?顯而易見的結(jié)論是，不應(yīng)同時使用多個探頭連接到同一測試點(diǎn)進(jìn)行測量。如果要比較不同探頭的結(jié)果，最好的進(jìn)行方法是單獨(dú)測量，將采集的數(shù)據(jù)存儲到示波器存儲器中。然后，可以調(diào)出波形并將其與實(shí)時采集的波形或另一個存儲的波形進(jìn)行比較，而不會影響探頭的負(fù)載。

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