由于生產工藝及現場環境等影響，容易造成薄膜表面出現黑點、晶點、麻點、破洞、線條、褶皺、蚊蟲、劃傷等瑕疵，不僅影響嚴重薄膜產品的外觀，更是給企業帶來經濟損失。只有在生產過程中及時檢出薄膜表面的瑕疵缺陷，從生產的根源來消除瑕疵，控制和提高薄膜的表面質量，才是最行之有效的辦法。

傳統的檢測方法如人工目視抽檢速度慢、精度低、易疲勞已經遠遠不能滿足現在工業生產中高速、高分辨率和無損只能檢測的要求。基于CCD的賽默斐視薄膜污點檢測設備與傳統的人工肉眼檢測相比，具有快速、可靠、準確的優點，實時在線檢測，自動報警并顯示當前瑕疵的具體信息，以便及時進行處理。

賽默斐視薄膜污點檢測設備主要用于檢測薄膜在生產過程中表面出現的黑點、晶點、劃傷、破洞、線條、褶皺、蚊蟲等缺陷，借助于由工業CCD相機、高亮LED線性聚光光源組成的薄膜表面缺陷檢測的成像系統，及時準確的反應缺陷的的圖片、形狀、尺寸以及位置等具體信息，在為質量控制、產品評級提供真是準確數據的同時，有效的節約了生產成本、提高了產品質量。

賽默斐視薄膜污點檢測設備檢測原理：

針對透光率高的薄膜材料，系統采用透射的打光檢測方式進行檢測，即光源在薄膜的下方，相機在薄膜的上方進行圖像拍攝（對于不透明的材料則采用反射的打光方式，即光源與相機在所要檢測面的同一側）。產線運行時，系統通過編碼器實時的采集產線運行狀態信息并開始檢測，系統將相機采集到的圖像通過SIMV圖像分析軟件進行瑕疵處理，由于瑕疵與正常產品的圖像在灰階上存在明顯差異，從而使得系統能夠發現瑕疵，并通過進一步的計算、分析來確定瑕疵的大小、位置、類型等信息。

賽默斐視薄膜污點檢測設備技術參數：

檢測對象：保護膜、涂布膜、PE膜、食品包裝膜、太陽能薄膜、光學膜等等

典型瑕疵：晶點、黑點、蚊蟲、污點、線條、破洞等

檢測速度：Max：800m/min

檢測幅寬：任意（根據生產線定制）

檢測精度：0.1mm~1mm（取決于相機數量、產線幅寬及車速）

瑕疵標識：自動聲光報警、截取當前瑕疵圖片及實時X/Y坐標瑕疵分布圖顯示

歷史記錄：根據批次號自動記錄每一卷薄膜瑕疵的圖片、大小、分布位置等信息

賽默斐視薄膜污點檢測設備功能：

（1）精確的瑕疵地圖（X、Y坐標）定位顯示模塊；

（2）自動聲光報警，并顯示當前及前后10個瑕疵的瑕疵圖像；

（3）實時瑕疵信息展示，記錄當前瑕疵的類型、面積（直徑）、橫縱向位置等信息；

（4）產品基本信息模塊，記錄產品批次號、型號、規格、班號、操作員等信息（用戶可根據生產情況進行修改）；

（5）實時的檢測米數、報警信息顯示；

（6）根據瑕疵面積大小、形狀、灰階差異等特征實現瑕疵的自動分類；

（7）周期性、連續性瑕疵的自動報警；

（8）自動生成每一卷產品的產品瑕疵記錄，用戶可根據批次號直接查詢；

（9）自動換卷，并自動打印每一卷產品信息的質量報表；

（10）檢測歷史記錄的自動統計、保存、查詢、調用及打印等功能；

（11）長時間、大容量的歷史記錄存儲；

（12）產線的自動化聯動、遠程技術服務等；

注：軟件功能可根據用戶的不同要求進行特殊功能的定制開發。

責任編輯：tzh