1 摘要

本應用筆記主要介紹 HC32F460 系列 MCU 的片上溫度傳感器 OTS 的特點、使用方法及注意事項。

2 簡介

HC32F460 系列 MCU 的片上溫度傳感器 OTS，可實時獲取芯片內部的溫度，以支持系統的可靠性設計。OTS 不需要 ADC 的參與，使用時只需直接讀取寄存器，算術運算后即可得到溫度值，不使用的時候可關閉以減少系統功耗。

3 定標實驗

要想獲得準確的溫度值，有兩個參數非常重要，一個是溫度斜率 K，一個是溫度偏移量 M。這兩個參數需要用戶通過定標實驗來得到，然后保存起來，供后續使用。參數 K 和 M 不具有通用性，每顆芯片都需要做定標實驗；OTS 可選擇外部晶振 XTAL 或內部高速晶振 HRC，兩種晶振測得的 K 和 M 也不具有通用性。

3.1 實驗條件

定標實驗需要一個高低溫箱，一個數字溫度計（用來獲取高低溫箱內的準確溫度值，如果高低溫箱的溫度足夠精準，則不需要），串口調試工具（用來觀察實驗數據）。推薦用戶在 25℃和 105℃這兩個溫度值上做定標實驗。

3.2 實驗步驟

定標實驗例程 ots_05_scaling_experiment 中設置有定標實驗的觸發方式，例程中用的是按鍵 （引腳 PC1）按下并釋放作為觸發方式，之所以設置觸發方式，是為了讓實驗是可控制的。用戶可根據自己的實際需求，修改觸發方式。具體實驗步驟如下。

1. 修改好觸發方式后，重新編譯工程，并下載到目標板；

2. 將目標板和數字溫度計放入高低溫箱，設置高低溫箱溫度為 25℃，并啟動高低溫箱；

3. 待高低溫箱溫度穩定在 25℃約 5 分鐘后，觸發定標實驗運行；

4. 通過串口調試助手可獲得一個參數 A，記為 A1，并記錄當前高低溫箱的實際溫度為 T1；

5. 將高低溫箱溫度設置為 105℃并運行；

6. 待高低溫箱溫度穩定在 105℃約 5 分鐘后，觸發定標實驗運行；

7. 通過串口調試助手可獲得一個參數 A，記為 A2，并記錄當前高低溫箱的實際溫度為 T2；

8. 通過下面兩個公式可得 K 和 M：

K = （T2 – T1） / （A2 – A1）;

M = T1 – K × A1 = T2 – K × A2；

本實驗例程會輸出 XTAL 和 HRC 對應的參數 A，用戶可根據實際需求計算對應的 K 和M。

9. 修改 hc32f46x_ots.c 中 K 和 M 的值，利用例程 ots_01_base 便可驗證參數的準確性；

10. 用戶可將 K 和 M 保存至 Flash，以備后續使用；

11. 定標實驗結束。

責任編輯：tzh