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硅膠開裂發(fā)黑發(fā)脆失效分析

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2023-08-25 14:27:562133

冷熱沖擊后,有什么原因會造成焊球開裂

徐斌:焊球開裂做紅墨水實驗有說服力,焊球開裂一般是受外力造成的 哲:SMT制程中有什么條件會導致? 徐斌:你們分板是怎么分的? 哲:銑刀,分板的應力測過了 小于300,沒有問題的
2023-08-24 12:50:05552

半導體器件鍵合失效模式及機理分析

本文通過對典型案例的介紹,分析了鍵合工藝不當,以及器件封裝因素對器件鍵合失效造成的影響。通過對鍵合工藝參數(shù)以及封裝環(huán)境因素影響的分析,以及對各種失效模式總結(jié),闡述了鍵合工藝不當及封裝不良,造成鍵合本質(zhì)失效的機理;并提出了控制有缺陷器件裝機使用的措施。
2023-07-26 11:23:15930

pcb電鍍金層發(fā)黑的原因

我們在制作時,經(jīng)常會出現(xiàn)PCB電鍍金層發(fā)黑的問題。我們一直在思考,為什么會出現(xiàn)PCB電鍍金層發(fā)黑。下面讓我們來看一下原因。
2023-07-19 14:23:43741

影響導熱硅膠片性能的因素有哪些?

導熱硅膠片是一種用于散熱的材料,通常用于電子元器件、LED燈和電源等設備中。它具有高導熱性和良好的柔韌性,可以有效地將熱量從設備上面散發(fā)出去,從而保持設備的穩(wěn)定工作。導熱硅膠片導熱性能穩(wěn)定,使用壽命
2023-07-11 17:30:53430

芯片失效分析程序的基本原則

與開封前測試結(jié)果加以比較,是否有改變,管殼內(nèi)是否有水汽的影響。進一步可將表面氧化層、鋁條去掉,用機械探針扎在有關節(jié)點上進行靜態(tài)(動態(tài))測試、判斷被隔離部分是否性能正常,分析失效原因。
2023-07-05 09:43:04317

電纜外皮老化開裂怎么辦

電纜有兩根外皮老化開裂了,因為電纜比較長,所以暫時不想更換,想把這個接頭重新處理一下,同時把開裂的位置重新包扎,然后經(jīng)常檢查一下,實在不行再更換整個電纜,畢竟直接更換的話工作量很大,不知這么做是否可行,請各位同行支招。
2023-06-30 09:25:212283

集成電路封裝失效的原因、分類和分析方法

與外界的連接。然而,在使用過程中,封裝也會出現(xiàn)失效的情況,給產(chǎn)品的可靠性帶來一定的影響。因此,對于封裝失效分析和解決方法具有很重要的意義。
2023-06-28 17:32:001779

溫度-機械應力失效主要情形

集成電路封裝失效機理是指與集成電路封裝相關的,導致失效發(fā)生的電學、溫度、機械、氣候環(huán)境和輻射等各類應力因素及其相互作用過程。根據(jù)應力條件的不同,可將失效機理劃分為電應力失效機理、溫度-機械應力失效
2023-06-26 14:15:31603

BGA失效分析與改善對策

BGA失效分析與改善對策
2023-06-26 10:47:41438

貼片電容開裂和故障的原因分析

根據(jù)相關電容技術工程師的分析,以下情況很容易導致貼片電容的開裂和故障:   1.在貼片過程中,如果貼片機吸嘴工作壓力過大,容易引起變形和裂紋;   2.如果顆粒的位置在邊緣或邊緣附近,在分割板時會受到分割板的驅(qū)動,導致電容器開裂,最終失效。建議設計時盡量將電容器與分隔線平行排放。
2023-06-25 17:15:591724

集成電路封裝失效分析流程

為了防止在失效分析過程中丟失封裝失效證據(jù)或因不當順序引人新的人為的失效機理,封裝失效分析應按一定的流程進行。
2023-06-25 09:02:30315

為什么會出現(xiàn)PCB電鍍金層發(fā)黑

大家一定說電鍍金層發(fā)黑問題,怎么會說到電鍍鎳層厚度上了。其實PCB電鍍金層一般都很薄,反映在電鍍金表面問題有很多是由于電鍍鎳表現(xiàn)不良而引起。一般電鍍鎳層偏薄會引起產(chǎn)品外觀會有發(fā)白和發(fā)黑現(xiàn)象。因此這是工廠工程技術人員要檢查項目。一般需要電鍍到5UM左右鎳層厚度才足夠。
2023-06-21 09:34:17841

集成電路封裝失效分析方法

集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關的失效現(xiàn)象、形式(失效模式),查找封裝失效原因,確定失效的物理化學過程(失效機理),為集成電路封裝糾正設計、工藝改進等預防類似封裝失效的再發(fā)生,提升
2023-06-21 08:53:40572

講一下失效分析中最常用的輔助實驗手段:亮點分析(EMMI)

EMMI:Emission microscopy 。與SEM,F(xiàn)IB,EB等一起作為最常用的失效分析手段。
2023-06-12 18:21:182310

盤點一下MLCC到底失效在了哪里

在產(chǎn)品正常使用情況下,失效的根本原因是MLCC 外部或內(nèi)部存在如開裂、孔洞、分層等各種微觀缺陷。這些缺陷直接影響到MLCC產(chǎn)品的電性能、可靠性,給產(chǎn)品質(zhì)量帶來嚴重的隱患。
2023-05-16 10:57:40639

怎樣進行芯片失效分析

失效分析為設計工程師不斷改進或者修復芯片的設計,使之與設計規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。
2023-05-13 17:16:251365

TVS二極管失效機理與失效分析

。 通過對TVS篩選和使用短路失效樣品進行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征.結(jié)合器件結(jié)構(gòu)、材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時所受的應力等。采用理論分析和試驗證明等方法分析導致7rvS器件短路失效的原因。
2023-05-12 17:25:483678

電阻、電容、電感的常見失效分析

失效模式:各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。
2023-05-11 14:39:113227

半剛性電纜組件外導體處焊縫的開裂問題分析

半剛性電纜組件外導體處焊縫的開裂問題分析
2023-05-11 10:57:12392

進口芯片失效怎么辦?做個失效分析查找源頭

芯片對于電子設備來說非常的重要,進口芯片在設計、制造和使用的過程中難免會出現(xiàn)失效的情況。于是當下,生產(chǎn)對進口芯片的質(zhì)量和可靠性的要求越來越嚴格。因此進口芯片失效分析的作用也日漸凸顯了出來,那么進口芯片失效分析常用的方法有哪些呢?下面安瑪科技小編為大家介紹。
2023-05-10 17:46:31548

車載濾波器組件焊錫開裂失效分析

案例背景 車載濾波器組件在可靠性試驗后,主板上的插件引腳焊點發(fā)生開裂異常。 分析過程 焊點外觀 說明:插件器件引腳呈現(xiàn)出明顯的焊點開裂狀態(tài)。 X-RAY檢測 針對異常焊點的X-RAY檢測: ? 說明
2023-05-03 11:05:28415

ABAQUS中的損壞與失效模型

ABAQUS為材料失效提供了一個通用建模框架,其中允許同一種材料應用多種失效機制。
2023-05-02 18:12:002842

一體成型大電流貼片電感開裂破損應該這樣解決gujing

相信很多廠商和客戶在使用一體成型大電流貼片電感的時候都遇到過一體成型大電流貼片電感開裂的問題。一體成型大電流貼片電感的開裂與粉末和設備有關,與電感線圈的電感外徑有關。 谷景告訴您一體成型大電流貼片
2023-04-28 23:20:45384

導致半導體制冷片失效的四個主要原因

系數(shù)不同,導致致冷器內(nèi)部的熱電材料與導流片、瓷片之間產(chǎn)生熱應力,長時間工作尤其是頻繁進行冷熱交變工作后導致熱電材料與導流片結(jié)合部形成缺陷甚至開裂,引發(fā)致冷器失效。2、
2023-04-28 17:54:362786

環(huán)旭電子發(fā)展先進失效分析技術

為了將制程問題降至最低,環(huán)旭電子利用高精度3D X-Ray定位異常元件的位置,利用激光去層和重植球技術提取SiP 模組中的主芯片。同時,利用X射線光電子能譜和傅立葉紅外光譜尋找元件表面有機污染物的源頭,持續(xù)強化SiP模組失效分析領域分析能力。
2023-04-24 11:31:411357

一體成型大電流貼片電感開裂破損應該這樣解決

一體成型大電流貼片電感開裂破損應該這樣解決 編輯:谷景電子 相信很多廠家以及客戶在使用一體成型電感的時候,都遇到過一體化成型電感開裂的問題。一體化電感開裂與粉末和設備有關,以及電感線圈的電感外徑
2023-04-20 17:03:16544

壓接型與焊接式IGBT的失效模式與失效機理

失效率是可靠性最重要的評價標準,所以研究IGBT的失效模式和機理對提高IGBT的可靠性有指導作用。
2023-04-20 10:27:041117

半導體集成電路失效分析原理及常見失效分析方法介紹!

失效分析(FA)是一門發(fā)展中的新興學科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術開發(fā)
2023-04-18 09:11:211360

BGA失效分析與改善對策

BGA失效分析與改善對策
2023-04-11 10:55:48577

PCB失效分析技術總結(jié)

程中出現(xiàn)了大量的失效問題。 對于這種失效問題,我們需要用到一些常用的失效分析技術,來使得PCB在制造的時候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證,本文總結(jié)了十大失效分析技術,供參考借鑒。
2023-04-10 14:16:22749

FPC失效分析,PCB應力應變測試標準!

應力測試原理:電路板在生產(chǎn)組裝過程中,容易造成形變,過大的形變會導致電路板元器件開裂、焊球開裂、線路起翹等。如何控制和監(jiān)測電路板形變量,是電路板生產(chǎn)組裝過程不可或缺的一環(huán)。
2023-04-07 15:19:171014

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